德祥成功参加国际薄膜材料大会ThinFilm2010

德祥参展“第二届国防装备维修与诊断技术交流展示会”

　　 2011年6月23-25日，由中国军工项目研究会、中国航空航天工具协会、北京航空航天学会、航空维修专业委员会、航空工程专业委员会、航空材料专业委员会等单位联合发起“2011第二届中国国防装备维修与诊断技术交流展示会”。　　 德祥，作为国防检测设备的领导供应商，此次展位位于8号馆，为军队及各军工

德祥将参展“2010中国国际环保废弃物及资源利用展览会”

德祥顺利参加第八届全国超临界流体技术学术及应用研讨会

德祥顺利参加第八届全国超临界流体技术学术及应用研讨会 暨第一届海峡两岸超临界流体技术研讨会    “江南忆，最忆是杭州！”      2010年9月25日至29日德祥在美丽的杭州西湖畔参加了“第八届全国超临界流体技术学术及应用研讨会暨第一届海峡两岸超临界流体技术研讨会”，会议由中国

基于关联电子材料的p型透明导电薄膜研究取得进展

　　近期，中国科学院合肥物质科学研究院固体物理研究所功能材料研究室在基于关联电子材料的p型透明导电薄膜研究中发现：关联氧化物中电子关联强度的调节是探索高性能p型TCO材料的有效途径。相关研究成果发表在Physical Review Applied 上，并被选为编辑推荐(Editors’suggest

纳米级铌酸锂晶体薄膜材料研发获财政支持

　　济南晶正电子科技有限公司自主研发生产的国家重点鼓励发展的新材料——纳米级铌酸锂晶体薄膜材料，得到济南市政府的高度重视和支持，并由此获批了济南综合保税区的黄金地块和3000万元的财政支持。近日，山东省委常委、济南市委书记王敏到济南市高新区调研时重点关注了济南晶正项目建设情况，对其世界首创的纳米级铌

用X射线能谱仪测定衬底材料上的薄膜厚度

本文利用薄膜对入射电子束流的衰减作用和薄膜对衬底的x射线的吸收,提出了一种直接利用衬底的x射线的强度比来测量薄膜厚度的方法。并在各种实验条件下,对Cu薄膜的厚度进行了测量,得到了较为满意的结果。 

新型超薄薄膜材料助力下一代石墨烯

　　由美国加州大学河滨分校(UC-Riverside)的三名工程师以及其他研究人员们组成的团队最近获得了美国国家科学基金会(NSF)一笔170万美元的经费赞助，将致力于研究、分析以及合成一款新型态的超薄薄膜材料，以期改善个人电子产品、光电元件以及能量转换系统的性能。　　该团队是由加州大学(

镀铝薄膜材料正反两面透湿性能测试研究

  镀铝类薄膜在软塑包装材料领域占有举足轻重的地位，是一种具有较高阻隔性的包装材料。镀铝类薄膜是采用真空镀铝等特殊工艺在塑料薄膜表面镀上一层极薄的氧化铝而形成的一种软塑包装材料。镀铝类薄膜的阻隔性与镀铝层的致密程度、镀铝层的厚度、镀铝工艺等因素有关。部分镀铝类薄膜处于高湿度的环境时阻隔性会降低，这很

德祥携荷兰DVE参展四川省第十六届色谱技术交流会

    10月28日，由四川省分析测试学会色谱专业委员会和四川省化学化工学会分析化学专业委员会共同承办的“第十六届四川省色谱技术交流会暨仪器展览会和2011年度化学化工分析技术交流会”在四川大学华西医学中心“华西苑”宾馆顺利召开。     会上，最新加盟德祥石化产品线的公司产品，得

德祥亮相第八届山东国际分析测试仪器及实验室装备展览会

德祥亮相“第八届山东国际分析测试仪器及实验室装备展览会暨2010分析测试学术交流大会”         2010年7月22日—24日，由山东省科学技术厅主办，山东省理化分析测试协会、青岛市分析测试学会、山东省分析测试中心、山东新丞华展览有限公司共同承办的“2010第八届山东

德祥将参展第八届山东国际科学仪器及实验室装备展览会

德祥将参展“第八届山东国际科学仪器及实验室装备展览会”

科学家成功制备重堆叠的二硫化钽超导薄膜材料

　　中科院上海硅酸盐研究所黄富强研究团队与中科院上海微系统所、北京大学等合作，通过化学剥离成单层二硫化钽纳米片并将纳米片抽滤自组装而重新堆叠成二硫化钽薄膜。重新组装的二硫化钽薄膜打破了原母体的晶体结构，形成了丰富的均质界面，并获得了比母体材料更高的超导转变温度和更大的上临界场。相关研究成果日前发表于

双电四探针测试仪如何测试导电橡胶及薄膜材料

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。标准要求：该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方

俄歇电子能谱在薄膜催化剂材料研究中的应用

俄歇电子能谱具有很高的表面灵敏度,适用于表面元素定性和定量分析及表面元素化学价态的研究,具有很强的深度分析和界面分析能力。因此,对研究薄膜材料与基底的界面化学状态和相互作用起到了关键作用。目前,对于利用俄歇电子能谱研究TiO2薄膜光催化剂、Gd2CuO4薄膜与基底界面作用情况的尚未见报道。

研究发现空位诱导的二维材料薄膜超快离子传输

　　10月30日，中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家研究中心先进炭材料研究部在二维材料物性研究方面取得新进展，相关研究成果以CdPS3 nanosheets-based membrane with high proton conductivity enabled by Cd vacancies为题

电子材料展|2025深圳国际薄膜电子浆料展览会「官网」

2025深圳国际电子化学与新材料展览会2025 China (Shenzhen) International Electronic Chemistry and New Materials Exhibition地点：深圳会展中心展览时间：2025年4月9-11日参展咨询：021-54163212大会负

科学家成功制备重堆叠的二硫化钽超导薄膜材料

　　中科院上海硅酸盐研究所黄富强研究团队与中科院上海微系统所、北京大学等合作，通过化学剥离成单层二硫化钽纳米片并将纳米片抽滤自组装而重新堆叠成二硫化钽薄膜。重新组装的二硫化钽薄膜打破了原母体的晶体结构，形成了丰富的均质界面，并获得了比母体材料更高的超导转变温度和更大的上临界场。相关研究成果日前发表于

薄膜厚度测量的涂层测厚仪，是材料保护专业必备的仪器

涂层测厚仪是便携式涂（镀）层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂层（如油漆、防腐层）、镀层厚度的测量，也可进行薄膜厚度测量。 可应用于 电镀层 ，油漆层，搪瓷层，铝瓦，铜瓦，巴氏合金瓦，磷化层，纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构的附着物的厚度测量。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化

宁波材料所在无结薄膜晶体管领域取得重要进展

　　最近，国外科研人员报道了一种新型的无结纳米线晶体管(Nature Nanotechnology. 5, 225 (2010)）。这种晶体管源极和漏极与沟道区之间没有结的存在。相比传统的结型晶体管，无结晶体管的源极、漏极与沟道共用一根重掺杂的硅纳米线，从而大大简化了传统器件的制备工

973计划部署高性能聚酰亚胺薄膜和纤维材料结构研究

　　聚酰亚胺(Polyimide，PI)不但具有耐高/低温、高电绝缘、低介电常数和损耗、高强高韧、耐辐照和耐腐蚀等优异的性能，而且可加工成薄膜、纤维、复合材料、工程塑料、泡沫等多种形式的材料。高性能PI薄膜是微电子封装与制造、电气绝缘等领域不可或缺的关键材料，高性能PI纤维因具有芳纶无法比拟的耐紫外

二维共价有机框架/石墨烯复合薄膜材料制备获进展

研究析氢反应（HER）催化剂用于高效产氢有助于缓解能源危机、实现碳达峰和碳中和的战略目标。Pt/C被认为是高效的HER催化剂，然而，由于资源稀缺、成本高以及可能引起重金属污染，限制了其大规模应用。因此，开发可替代的非金属催化剂成为该领域的研究热点。二维有机框架薄膜材料是有机化合物通过共价键或配位键形

氧化亚铜新能源材料研究获进展－提高薄膜光电性能

　　氧化亚铜（Cu2O）是一种性能优异的半导体材料，它具有2.1eV（590nm）的直接帯隙以及很高的可见光吸收系数，再加上它具有无毒、低价、原料丰富等优点，已成为太阳能转化与利用研究领域的重要材料。理论预计基于Cu2O的太阳能电池效率可达20%，通过掺杂引入合适的中间带（intermediate

德研制出较强延展性非晶体金属材料

　　德国莱布尼茨固态与材料研究所15日发表公报说，该所研究人员成功改造了一种非晶体金属材料，使其既保持了原本的优点，又具有较强的可延展性。 　　金属通常是晶体。如果使金属熔体在瞬间冷凝，使金属原子来不及排列整齐就被“冻结”，就能产生具有玻璃性质的非晶体金属，俗称“金属玻璃”。这种材

薄膜测量

薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi

薄膜测量

薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi

薄膜测厚仪

薄膜测厚仪 型号：CHY-CACHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。   ◆ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持用户的各种非标定制   ◆ 测试过程

日祥检测分享复合材料碳纤维自行车无损检测检测解决方案

从传统的45MG超声波测厚仪设备到我们先进的相控阵OmniScan SX和OmniScan™ X3探伤仪，有效检测复合材料碳纤维自行车的裂纹损伤等情况

xrd薄膜法能够测定薄膜什么性质

不知道你所说的薄膜法指什么.一般对于薄膜材料,XRD能够做:掠入射(GIXRD):    分析晶态薄膜物相,残余应力反射率测量(XRR):    对膜质量要求较高,晶态非晶皆可.一般分析纳米级别薄膜的厚度,深入一点可通过拟合的方法来分析密度,表面界面的粗糙度掠入射小角散射(GISAXS):    分

薄膜拉力试验薄膜拉伸测试仪

薄膜拉力试验薄膜拉伸测试仪拉伸、撕裂、剥离等力学性能，当使用反向器时，可进行材料的压缩试验。 本机是一种新型经济性电子拉力试验机，配备力传感器,在试验过程中，微机不断采集力传感器的信号，并根据试验要求，进行格式化数据处理，其特点是使用简单，性能稳定，技术先进，自动化水平高，测试精度高。 2 主要技术

中瑞祥简介－萃取器

　　萃取器，一般指液液萃取的设备。 　　有搅拌萃取塔、脉动萃取塔、喷淋萃取塔、填料萃取塔等。 　　基本要求 　　①选择系数要大，可使产品的纯度提高。 　　②对溶质的溶解度要大，即萃取剂用量就少。 　　③与原溶剂的互溶度要小，即分离效果好。 　　④粘度要少，界面张力适度，对料液有较大的密度