环球分析测试仪器公司参加染料敏化和有机太阳电池会议

“第五届亚太染料敏化和有机太阳电池会议”(The 5th Aseanian Conference on Dye-sensitized and Organic Solar Cells)由中国科学院等离子体物理研究所承办,会议于2010年8月25日至28日在美丽的风景旅游城市黄山召开。 环球分析测试仪器有限公司在会上展示了德国ZAHNER公司的CIMPS光电化学综合测试仪、CIMPS-abs电化学吸收光谱仪,CIMPS -emit 电化学发射光谱仪,IPCE光电转化效率光谱仪,太阳能模拟器、太阳能电池I-V测试仪,德国HEKA公司 电化学扫描探针显微镜,引起了众多科学家的关注和兴趣。 德国Zahner公司一直以来以其生产的高性能的电化学工作站而著名。特别是应用于太阳能电池领域的CIMPS技术得到了广泛的采用。近日在CIMPS基础上又推出了用以太阳能电池光电转化效率测试技术(IPCE)的CIMP......阅读全文

扫描俄歇微探针(SAM)

   扫描俄歇微探针(SAM);    基本功能:   (1)可进行样品表面的微区选点分析(包括点分析,线分析和面分析);   (2)可进行深度分析;   (3)化学价态研究    用途:   纳米薄膜材料,微电子材料的表 面和界面研究及摩擦化学研究。

扫描探针显微镜概述

  扫描探针显微镜以其分辨率极高(原子级分辨率)、实时、实空间、原位成像,对样品无特殊要求(不受其导电性、干燥度、形状、硬度、纯度等限制)、可在大气、常温环境甚至是溶液中成像、同时具备纳米操纵及加工功能、系统及配套相对简单、廉价等优点,广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域,并取得

扫描俄歇微探针(SAM)

   扫描俄歇微探针(SAM);    基本功能:   (1)可进行样品表面的微区选点分析(包括点分析,线分析和面分析);   (2)可进行深度分析;   (3)化学价态研究    用途:   纳米薄膜材料,微电子材料的表 面和界面研究及摩擦化学研究。

扫描探针显微技术有哪些?

       扫描探针显微技术主要是利用顶端约1-10Å的探针来3D解析固体表面纳米尺度上的局部性质。扫描探针显微镜SPMs就是一系列的基于扫描探针显微术而发展起来的显微镜,它包括STM、AFM、LFM、MFM等等。其中STM和AFM的发明使得各种扫描探针显微技术有了长足的发展,下面我们先来看一下迄

扫描探针显微镜简介

  扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜AFM,激光力显微镜LFM,磁力显微镜MFM等等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器,是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检

一文读懂微区扫描电化学工作站

微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。扫描电化学工作站在扫描探针电化学领域中是一个全新的概念,以超高分辨率,非接触式,空间分析电化学测量的特点而设计。  微区扫描电化学工作站是集电化学分析方法于一体的电化学

一文读懂微区扫描电化学工作站

微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。扫描电化学工作站在扫描探针电化学领域中是一个全新的概念,以超高分辨率,非接触式,空间分析电化学测量的特点而设计。  微区扫描电化学工作站是集电化学分析方法于一体的电化学

微区扫描电化学可为使用者提供了强大的功能

微区扫描电化学是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。微区扫描电化学是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率,长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安

微区扫描电化学可为使用者提供了强大的功能

微区扫描电化学是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。微区扫描电化学是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率,长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安

微区扫描电化学可为使用者提供了强大的功能

微区扫描电化学是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。微区扫描电化学是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率,长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安

七大材料结构分析方法七——探针和扫描显微分析

  所谓探针,就是探测固体表面信息的针。探针射向或接近固体表面某微区,所激发的某些物理信号携带该微区的结构信息。  常用仪器:电子探针X射线显微分析仪(EPA),俄歇电子能谱(AES),X射线光电子能谱仪(XPS),扫描隧道显微镜,原子力显微镜,飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)等  应用实例

电化学阻抗分析的测试功能特点

 电化学阻抗分析具有优异的抗静电性能,织物经处理后,可获得优良的吸湿导电性和防污防尘性。能与固色剂及大部分硅油同时使用,不影响织物手感和风格。由于导湿性的增加可减少表面静电,从而可一定程度上提高织物的抗起毛起球性(与织物结构、粘度都有一定关系)。其热稳定性好,耐碱不易离解,可与阴离子型或阳离子型复合

几种常用的电化学测试方法分析

1.稳态测试:恒电流法及恒电势法所谓的稳态,即电化学参量(电极电势,电流密度,电极界面状态等)变化甚微或基本不变的状态。常用的稳态测试方法,当然就是恒电流法及恒电势法,故名思意,就是给电化学体系一个恒定不变的电流或者电极电势的条件。通常我们可以利用恒电位仪或者电化学工作站来实现这种条件。通过在电化学

几种常用的电化学测试方法分析

1.稳态测试:恒电流法及恒电势法所谓的稳态,即电化学参量(电极电势,电流密度,电极界面状态等)变化甚微或基本不变的状态。常用的稳态测试方法,当然就是恒电流法及恒电势法,故名思意,就是给电化学体系一个恒定不变的电流或者电极电势的条件。通常我们可以利用恒电位仪或者电化学工作站来实现这种条件。通过在电化学

电子探针显微分析的两种扫描方式

  电子探针分析有两种扫描方式:线扫描分析和面扫描分析。  (1)线扫面分析  使聚焦电子束在试样观察区内沿一选定直线(穿越粒子或界面)进行慢扫描。  X射线谱仪处于探测某已知元素特征X射线状态,得出反映该元素含量变化的特征X射线强度沿试样扫描线的分布。  X射线谱仪处于探测未知元素状态,得出沿扫描

扫描探针显微镜进行细胞扫描时探针对于细胞活性的影响

p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'} p.p2 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px

扫描速度对傅里叶光谱仪测试的影响

扫描速度快是傅里叶光谱仪的突出优点之一,一般比棱镜式或光栅式光谱仪快上数百倍,但同时也对测试结果也带来了一定的不确定性。 本文对应于不同的测试样品及目的,给出了扫描速度的参考设定值。图1 如图1所示为标准DTGS探测器的光电响应图(光电响应谱形从上到下扫描速率依次为2.2、3、4、5、7.5、10、

电化学工作站能做什么

电化学工作站能做什么电化学工作站是一种实验室仪器,它可以在电化学领域进行多种实验和测试。以下是电化学工作站能做的一些具体事项:电化学测试:电化学工作站可以进行多种电化学测试,如循环伏安测试、线性扫描伏安测试、交流阻抗谱测试、恒电位测试等。这些测试可以用于研究电化学反应机理、电极材料性能、电化学储能和

扫描电化学工作站有哪些模块化系统组成

扫描电化学工作站是一个模块化的系统,可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试:1、扫描电化学显微镜系统SECM370是一款精密的扫描微电极系统,具有极高空间分辨率,在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测,分析,或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。2、SV

扫描电化学工作站有哪些模块化系统组成

M370扫描电化学工作站是一个模块化的系统,可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试:1、扫描电化学显微镜系统SECM370是一款精密的扫描微电极系统,具有极高空间分辨率,在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测,分析,或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。

电化学工作站设计的优点在于?

电化学工作站是一个模块化的系统,可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试:  1)扫描电化学显微镜(SECM);  2)扫描振动电极测试(SVET); 3)扫描开尔文(Kelvin)探针测试(SKP);  4)微区电化学阻抗测试(LEIS); 5)扫描电解液微滴测试(SDS)

扫描探针显微镜(SPM)针尖

1、STM针尖:W丝、Pt-Ir丝。超高真空一般用W丝,通过电化学腐蚀、高温退火或原位处理以去除氧化层。大气中一般用Pt-Ir丝,直接剪切制成。2、AFM针尖:Si、SiN4材料,通过微加工光刻的方法制备。

扫描探针显微镜(SPM)结构

1、探针:STM金属探针,AFM微悬臂、光电二极臂2、机械控制系统:压电扫描器、粗调定位装置、振动隔离系统3、电子学控制系统:电子学线路、接口,控制软件

超高真空扫描探针显微镜

  超高真空扫描探针显微镜是一种用于材料科学、物理学领域的分析仪器,于2011年12月15日启用。  1、技术指标  工作温度为室温,样品粗定位范围>6 mm×6 mm,单管扫描范围>6 μm×6 μm×2 μm。STM模式下可实现Si(1 1 1)和Au(1 1 1)表面的原子分辨;AFM接触模式

扫描探针显微镜的原理

扫描电子显微镜的原理是由最上边电子枪发射出来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下使电子束在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用,结果产生了各种信息:二次电子、

扫描探针显微镜的优势

  SPM作为新型的显微工具与以往的各种显微镜和分析仪器相比有着其明显的优势:  首先,SPM具有极高的分辨率。它可以轻易的“看到”原子,这是一般显微镜甚至电子显微镜所难以达到的。  其次,SPM得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像。而不同于某些分析仪器是通过间接的或计算的方法来推算样品的表

扫描探针显微镜的特点

扫描探针显微镜具有极高的分辨率;得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像;使用环境宽松等特点。选择好的扫描探针显微镜推荐Park NX-Hivac。Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量

扫描探针显微镜的原理

扫描电子显微镜的原理是由最上边电子枪发射出百来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下使电子束度在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用,结果产生了各种信息:二次电

扫描探针显微镜的应用

SPM的应用领域是宽广的。无论是物理、化学、生物、医学等基础学科,还是材料、微电子等应用学科都有它的用武之地。SPM的价格相对于电子显微镜等大型仪器来讲是较低的。同其它表面分析技术相比,SPM 有着诸多优势,不仅可以得到高分辨率的表面成像,与其他类型的显微镜相比(光学显微镜,电子显微镜)相比,SPM

扫描探针显微镜的特点

扫描探针显微镜具有极高的分辨率;得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像;使用环境宽松等特点。选择好的扫描探针显微镜推荐Park NX-Hivac。Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量