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X射线显微镜的基本构造

聚焦放大元件常用的聚焦镜是多层膜反射聚焦镜和波带片,成像放大元件是波带片。1 多层膜反射聚焦镜多层膜是在基板上重复涂上两种不同的材料制成的人造一维晶体。通常,一种材料是高原子序数的重金属(H),另一种是低原子序数的非金属(L)。这两个层的厚度之和dH + dL构成这多层膜的重复周期d。dH 和dL 的大小与其比值及多层膜的性质有关。需按实验的要求来设计、制造,因此品种很多。最简单的是膜厚d 均匀的镜子,但也有膜厚d 是逐渐变化的镜子。镜面可以是曲面,可以是一维弯曲的(如圆筒面、抛物面或椭圆面等),也可以二维弯曲的(如球面或椭球面等)。发散光源放在椭圆的一个焦点上,反射光聚焦在另一个焦点上。这种一维弯曲的聚焦镜只能在一个平面内起聚焦作用,得到的是线焦点,与此平面垂直的方向,射线仍保持原发散情况。若要两个方向都聚焦获得焦点可用两种方法:一是在两个方向上做二维弯曲;另一是将两块聚焦镜转过90° 先后放置,构成所谓的Kikpatrick......阅读全文

X 射线显微镜的基本构造

聚焦放大元件常用的聚焦镜是多层膜反射聚焦镜和波带片,成像放大元件是波带片。1 多层膜反射聚焦镜多层膜是在基板上重复涂上两种不同的材料制成的人造一维晶体。通常,一种材料是高原子序数的重金属(H),另一种是低原子序数的非金属(L)。这两个层的厚度之和dH + dL构成这多层膜的重复周期d。dH 和dL

X射线衍射仪基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、

x射线衍射仪的基本构造

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

X射线衍射仪的基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、

X射线衍射仪的基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、

x射线衍射仪的基本构造

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

x射线衍射仪的基本构造

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

X射线衍射仪的基本构造介绍

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

多晶X射线衍射仪的基本构造

多晶X射线衍射仪,也称粉末衍射仪,通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成:1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等)

X射线显微镜的成像与构造

  X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。  此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有

X 射线显微镜成像与构造介绍

X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有强光源及

概述X射线显微镜的成像与构造

  X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。  此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有

精简解析X射线衍射仪的​基本构造

  X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。下面本文就给大家介绍下X射线衍射仪的基本构造!   X射线衍射仪的基本构造:   X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, 图4为X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要

多晶X射线衍射仪(XRD)的基本构造

多晶X射线衍射仪,也称粉末衍射仪,通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成:1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等)

X射线衍射仪构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1)高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2)样品及样品位置取向的调整机构系统  样品须是单晶、粉

x射线衍射仪的基本构造及技术参数

  基本构造  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构

X射线衍射仪的基本原理和构造

 X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样,主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。基本原理:在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线(如Cu的Kα辐射)射到一粒单晶体上会发生衍射,由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律,也即解出晶体的结构。   

X射线机原理及构造

  X射线机原理及构造、X射线的发现1895年德国物理学家伦琴(W.C.RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面

x射线衍射仪的原理及构造

  原理  x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是19

复杂X射线能谱构造方法研究

本文提出了基于最小二乘法的复杂X射线能谱构造方法,介绍了其构造原理,设计了由35~100kV加速电压条件下的14个X射线过滤谱组成的构造子谱组。目标能谱模拟构造结果表明,构造能谱与目标能谱总体的相对偏差基本控制在10%以内;影响其偏差的主要因素包括构造子谱数量与形态,目标能谱的非连续可微以及射线源特

X射线显微镜的简介

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X 射线显微镜的概念

X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的

X射线显微镜的定义

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X射线显微镜原理

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X射线测厚仪的基本结构

、放射源基本结构    放射源主要由X射线管、阴极丝、变压器、高压倍压电路组成。X射线管是密封真空的,它的阴极是钨丝,阳极是钨制成的目标靶。当阴极通电时,阴极钨丝由于发热而产生热电子,热电子在高压作用下产生动能,并以很高的加速度射向阳极目标靶形成管电流。当热电子撞到阳极靶时.它的动能就转换成热和X射

X 射线显微镜的成像原理

X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有强光源及

X 射线显微镜的功能特点

X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的

X 射线显微镜的技术特点

X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的

X 射线显微镜的成像原理

X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有强光源及

X射线荧光仪器的基本介绍

  X射线荧光仪器(X Ray Fluorescence,XRF)又称为X射线荧光光谱法,是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它是指根据原子在原级X射线或粒子的激发下发射出的次级的特征X射线(X射线荧光)的波长和长度,对元素进行定性和定量的分析方法。