JeolUSA推出新型扫描电子显微镜JSMIT300HR
分析测试百科网讯 近日，Jeol USA推出了一种新的扫描电子显微镜（SEM），其将场致发射扫描仪的性能与Jeol InTouchScope SEM系列的简单性相结合。新的JSM-IT300HR在高亮度，长寿命发射器的任何kV下具有出色的图像保真度。在这个系列中，提供比以往更高的分辨率和放大倍数，IT300HR大大增强了表面形貌和对比度。JSM-IT300HR 坚固的室内样品台和大型腔室可容纳不同形状，尺寸和重量的各种样品，使用户能够在排空室之前，在台架上固定大型，重型和异型物体，并具有清晰的定位。 样品室的十二个几何优化的分析端口允许多个检测器，在SEM内部创建虚拟纳米实验室。低真空能力是标准功能，可以对其原生状态下的所有类型样品进行成像和分析。配置Jeol EDS检测器时，可以在SEM软件界面内直接进行快速分析。 InTouchScope™系列SEM旨在操作直观，并通过触摸屏界面使用多点触控手势和/或传统的键盘/鼠......阅读全文
Jeol－USA推出新型扫描电子显微镜JSMIT300HR
分析测试百科网讯 近日，Jeol USA推出了一种新的扫描电子显微镜（SEM），其将场致发射扫描仪的性能与Jeol InTouchScope SEM系列的简单性相结合。新的JSM-IT300HR在高亮度，长寿命发射器的任何kV下具有出色的图像保真度。在这个系列中，提供比以往更高的分辨率和放大倍数
JEOL在Pittcon－2019展出下一代台式扫描电子显微镜JCM7000
分析测试百科网讯2019年3月17日至21日，Pittcon 2019在美国宾夕法尼亚州费城会议中心举行。在本届展会上，日本电子（JEOL）不仅推出了JMS-TQ4000GC三重四极杆质谱仪系统（相关链接：JEOL在Pittcon 2019推出三重四极杆质谱仪JMS-TQ4000GC），还展示了
SEM结构
结构1．镜筒镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。其作用是产生很细的电子束（直径约几个nm），并且使该电子束在样品表面扫描，同时激发出各种信号。2．电子信号的收集与处理系统在样品室中，扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号，其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇（Auger）电子
SEM特点
特点（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。（二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。（三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。（四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍
新一代JEOL－NMR出世，部署小型数字高频核磁市场
JEOL USA 自豪地宣布推出下一代 JEOL NMR 波谱仪：ECZ Luminous 系列。该产品是波谱仪小型化和通过最先进的数字和高频技术提高性能的下一步。 JEOL USA 是 JEOL Ltd 的子公司，JEOL Ltd 是一家备受推崇的尖端科学设备制造商，在生产先进 NMR 系统方
日本电子发布截至3月31日的2020年财报：收入1172亿日元
分析测试百科网讯，日本电子（JEOL）发布截止到2020年3月31日的2020年财报，销售收入1172.43亿日元，相比去年1112.89亿日元增长5.4%。2019年毛利润448.65亿日元，毛利率为38.27%，运营利润7.03亿日元，相比去年增5.4%，净利润为5.389亿日元，净利润率为4.
JEOL携最新科技亮相ASMS－2024，展示前沿分析解决方案
作为ASMS 2024的一部分，JEOL携最新的科学仪器和解决方案再次登场，引发了与会者的极大兴趣。JEOL将在展位218号展示其最新的分析仪器，包括质谱仪、电子显微镜和核磁共振光谱仪，为科研人员提供了解决方案。JEOL 展台JEOL的质谱仪产品系列包括MassWorks软件、AccuTOF-DAR
日本电子2022财年营收1627亿日元增18％创新高
截至2023年3月31日的2022-2023财年，JEOL日本电子收入1626.89亿日元（12.2亿美元），较上年的1384.08亿日元增长17.5%；净利润为178.3亿日元（1.3亿美元），利润率为11%。销售额、营业利润刷新最高纪录，订单和积压订单也创下历史新高。
SEM关机程序
关机程序（1）关灯丝电流（FILAMENT）。（2）关高压（ACCELERATION POTENTIAL）。（3）反时针调节显示器对比度（CONTRAST）、亮度（BRIGHTNESS）到底.（4）关闭镜筒真空隔阀。（5）关主机电源开关。（6）关真空开关。（7）20分钟后，关循环水和电子交流稳压器开
SEM衬－度
衬 度衬度包括：表面形貌衬度和原子序数衬度。表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大，图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大；所以只有—些特殊的高
SEM灯丝选择
01.电子源大小电子源大小为电子枪发射出电子后经韦氏帽汇聚后所形成的电子束斑，六硼化镧和六硼化铈灯丝明显小于钨灯丝，更有利于经过聚光镜和物镜汇聚后形成更小的电子束斑，从而得到更好的分辨率； 02.亮度亮度为灯丝单位面积内的电子流强度，亮度越高，越有利于得到更充足的信号，提高图片的信噪比和清晰度。六硼
SEM景－深
景 深景深是指焦点前后的一个距离范围，该范围内所有物点所成的图像符合分辨率要求，可以成清晰的图像；也即，景深是可以被看清的距离范围。扫描电子显微镜的景深比透射电子显微镜大10倍，比光学显微镜大几百倍。由于图像景深大，所得扫描电子像富有立体感。电子束的景深取决于临界分辨本领d0和电子束入射半角αc。其
SEM工作程序
工作程序（1）开启试样室进气阀控制开关（CHAMB VENT），将试样放入试样室后将试样室进气阀控制开关（CHAMB VENT）关闭抽真空。（2）开启镜筒真空隔阀。（3）加高压（ACCELERATION POTENTIAL）至25KV.（4）加灯丝电流（FILAMENT）至7.5-8.（5）调节显示
SEM相关应用
扫描电镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器．它可以进行如下基本分析： 1、观察纳米材料：其具有很高的分辨率，可以观察组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。2、材料断口的分析：其景深大，图象富立体感，具有三维形
SEM真空系统
SEM真空系统 不同的灯丝，SEM真空系统的设计有所不同。在钨灯丝系统中，灯丝的真空度受到运行状态影响。例如，每次加载或卸载样品时，都会有空气进入真空柱，影响灯丝的使用寿命。观察不导电样品时，通常需要低真空，也会缩短灯丝寿命。对于CeB6系统，比如飞纳电镜，内置涡轮分子泵，采用分级真空系统，通过压差
SEM放大倍数
放大倍数扫描电镜的放大倍数可表示为M =Ac/As式中，Ac—荧光屏上图像的边长；As—电子束在样品上的扫描振幅。一般地，Ac 是固定的(通常为100 mm)，则可通过改变As 来改变放大倍数。目前，大多数商品扫描电镜放大倍数为20～20,000倍，介于光学显微镜和透射电镜之间，即扫描电镜弥补了光学
尼康和日本电子联手，Pittcon推出NeoScope台式扫描电镜
2008年3月3日，Pittcon 2008，新奥尔良，路易斯安那州 尼康Nikon和日本电子JEOL，世界上两大成像设备供应商，联手向市场推出台式SEM扫描电镜。两家公司将在Pittcon 2008联合推出NeoScope。 “对两家公司来说，NeoScope的合作伙伴关系是一个自然的进展。”
Park－Systems与JOEL签订原子力显微镜在日分销协议
分析测试百科网讯 2015年10月6日，Park Systems宣布其子公司Park Systems Japan 与日本电子签订Park Systems原子力显微镜产品在日本市场的分销协议。日本电子与Park Systems Japan的合作伙伴关系将为客户更方便地提供扫描电子显微镜（
日本电子在Pittcon－2011展会上推出质谱和电镜新品
2011年3月13日～3月18日，在美国亚特兰大举办的Pittcon 2011展会上， 日本电子JEOL推出其Spiral Tof-Tof 和 InTouch Scope SEM。 Spiral Tof-Tof Spiral Tof-Tof 有15m的飞行时间，比常规的MALDI
SEM相关应用二
6、在大视场、低放大倍数下观察样品，用扫描电镜观察试样的视场大：大视场、低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的，如刑事侦察和考古。 7、进行从高倍到低倍的连续观察：扫描电镜的放大倍数范围很宽（从5到20万倍连续可调），且一次聚焦好后即可从高倍到低倍、从低倍到高倍连续观察，不用重新聚焦，这对进行分析
SEM－和AFM对比
SEM 和AFM 是两种类型的显微镜,它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。SEM 需要真空环境中进行,而AFM 是在空气中或液体环境中操作。环境问题有时对解决具体样品显得尤为重要。首先,我们经常遇到的是像生物材料这一类含水试样的研究问题。这两种技术通过不同的方法互为补偿,SEM 需要环境室,而A
sem如何调清晰
关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是要看你的技术咯，电子束对中，像散调节，wobble，最后就是f
SEM解决方案
解决方案 随着用户数量的增长，phenom飞纳电镜不同的应用也在增长。除了纳米纤维，其他方面的应用案例如下： 1. 活体实验之后的药物释放系统成像2. 反应物颗粒形貌3. 摩擦和划痕测试-包含残渣水平-关于涂层、合成树脂和玻璃4. 处理和应用对于Dyneema纱线和胶带形貌的影响5. 复合材料内部填
SEM图像分析软件
SEM图片是电子扫面的图片，把微观世界放大到几千甚至上万倍，这个图片是需要你结合自身的知识背景加以专业的判断才能得出的结论的，而不是有什么软件会告诉你什么图片能说明啥。
JEOL日本电子场发射扫描电镜共享
仪器名称：JEOL日本电子场发射扫描电镜仪器编号：A14000001产地：生产厂家：型号：出厂日期：购置日期：所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>扫描电子显微镜（SEM）分室放置地点：逸夫科技楼B112室固定电话：62773810固定手机：固定email：联系人：付惟琛（010-627711
JEOL发布新的扫描电镜IT500
分析测试百科网讯 近日，JEOL宣布发布新的扫描电子显微镜（SEM）JSM-IT500。 JSM-IT500系列在吞吐量方面突破了传统的通用型SEM，比其InTouchScope™系列高出约35％，实现了更快，更容易的分析。 JSM-IT500 产品主要特点 1.SEM和EDS系统的积分
如何选择电镜：不妨看看这75篇重要文献
这是一篇有关电子显微镜的综述，是根据75篇发表使用实验的文章归纳的。可以帮助读者找到最适合的电子显微镜。日立高新Hitachi High Technologies America为研究碳酸酐酶可通过spidroin蛋白末端功能域促进蜘蛛丝的形成，采用Hitachi的H7100 electr
SEM对样品的要求
对样品的要求1、不会被电子束分解2、在电子束扫描下热稳定性要好3、能提供导电和导热通道4、大小与厚度要适于样品台的安装5、观察面应该清洁，无污染物6、进行微区成分分析的表面应平整7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响
SEM灯丝寿命的终结
SEM灯丝寿命的终结 如何判断灯丝寿命的尽头？对于钨灯丝，你根本看不到它的到来。这意味着灯丝可能在成像或分析过程断裂，这会带来很多不便。来自灯丝的碎片也可能污染真空柱的其他部件，这不仅需要换灯丝，还要清理、甚至更换其他部件，如韦氏帽。 当然，可以在使用寿命结束前更换灯丝，但它没有得到充分利用，因此需
SEM镀碳还是镀金
对于导电性较差或绝缘的样品若采用常规扫描电镜来观察，则必须通过喷镀金、银等重金属或碳真空蒸镀等手段进行导电性处理。所有的样品均必须无油污，无腐蚀等，以免对镜筒和探测器的污染。