XRF元素干扰一览表
分析元素能量（cps/μA）干扰元素能量（cps/μA）CrKa5.41VKb5.43FeKbESC5.32CrKb5.95MnKa5.90BrKa11.91HgLb111.82BrKb13.29RbKa13.38FeSUM13.46CdKa23.11RhKb/RhKb1/BrKaSUM23.84PbSUM23.16CdKb26.10SbKb26.28HgLa9.99ZnKb9.57GeKa9.87HgLb111.82BrKa11.97分析元素能量（cps/μA）干扰元素能量（cps/μA）PbLa10.55AsKa10.53BiLa10.84CrKaSUM10.82BrKaESC10.17PbLb112.61BrKa,Kb/SeKb12.50......阅读全文
使用集成式XRF元素分析仪和采样技术自动测量活性炭中的金含量
碳浸法（CIL）和碳浆法（CIP）回路都是氰化取金法工艺，这项工艺通过将金转化为水溶性复合物来从矿石中提取金（Au）。然后，利用活性炭从氰化工艺产生的碳浆或溶液中吸附含黄金的水溶性复合物，从而实现黄金的回收。之后，将吸附在活性碳上的黄金剥离下来，对黄金进行电解沉积处理，再对黄金进行熔炼，制成金条
单波长X射线荧光光谱仪原理与应用
一、 概述 单波长X射线荧光光谱仪（Monochromatic Excitation X-ray Fluorescence Spectrometer: ME XRF），也可称为单色化激发X射线荧光光谱仪，其通过单色化光学器件将X射线管出射谱某单一波长（对应单一能量）衍射取出并照射样品，由于消除
XRF的两大类型，波长色散型和能谱色散型区别何在？
X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后
概述X荧光光谱仪的优缺点
优点: a)分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等
赛默飞召开采矿和勘探的便携式元素分析仪研讨会
赛默飞召开采矿和勘探的便携式元素分析仪研讨会 —— 卓越的XRF分析解决方案 2011年11月15日，中国上海 - 科学服务领域的世界领导者赛默飞世尔科技于11月5日在天津召开了用于采矿和勘探的便携式元素分析仪客户研讨会。作为全球便携式X射线荧光光谱分析仪(XRF)的领导厂商，在会上同与
XRF问题汇总（八）
71.铁基中PB的LA线除了因为AS的干扰，还有什么因素干扰？ Pb的La线除了因为As的干扰外，还会受到BiLa或者CrKaSUM的干扰。 72.x荧光光谱报24v故障是怎么回事？ (1) 应该是提供24V的电路板有故障， 测一下24V输出，， 有问题赶快换电路板。 (2) X射线荧光谱仪的各
手持XRF的应用
手持XRF是一种使用X射线荧光(XRF)技术进行元素分析的设备,具有快速、无损、高精度等特点,被广泛应用于各个领域。下面将详细介绍手持XRF的应用。 一、合金材料检测 手持XRF仪器在合金材料检测领域应用广泛,主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域的金属材料中元素成分的现场测定。这
WDXRF（波谱）与EDXRF(能谱)有哪些区别之处
X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。X射线荧光分析仪分为波长色散型（WD-XRF）与能量色散型（ED-XRF）两种。两者虽然同属于X射线荧光分析仪，产生信号的方法相同，后得到的波谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，两者在原理和仪器结构上有
XRF仪器选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测
XRF的优缺点
优点 a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
XRF问题汇总（一）
1. 用压片法做Ｌａ２Ｏ３，用淀粉做黏结剂，压好片后在空气中放置１５分钟后，原来很好的样品在样杯中膨胀破碎了，为什么?还有什么好的方法？ (1) 一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力，导致样品破碎。 我的建议是： A 压样之后在破碎之前进行分析。（不得已而为之） B 增加压样的时间，减小压样的压力
XRF问题汇总（二）
1.请问做黄金，白金测定一定要标样吗？黄金就是普通用户的手饰什么的. (1) 做黄金，白金测定一定要标样，除非测定结果不算数 (2) 项链类的应先去污 12.用XRF测磁芯材料中的铅,要求是100PPM以下,可以测吗? 100PPM以下的铅含量完全可以测，当然不能太小，比如几个PPM就比较难测了，
XRF问题汇总（三）
21.X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？ (1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。 (2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。 22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？ (1) 原子序数较低
XRF问题汇总（四）
31.在用Ｘ－ray测Ｐb的时候有ＰbLb1分析线．请问有没有ＰbLb2分析线？ (1) Pb的La、Lb1是两条最灵敏线。其他线的灵敏度很低，不便于常规使用。 (2) 有ＰbLb2分析线，但其强度太弱，也就是说相对灵敏度很低，一般情况下都选用Pb的Lb1线。 32.怎么结合谱线的峰值看EDX的测
XRF问题汇总（五）
41.我们公司最近刚购一台ARL9800X荧光议，长期稳定性一直都不能达到指标。测角仪和固定道的强度变化都很大。这都和那些因素有关呢？存在空间干扰吗？ (1) 稳定住室内温度，不要关闭仪器自身的恒温机构（即使关机），每次分析样品前作PHA调整以及阿尔法校正，采取上述措施后，情况可能会有所改善。 (2
XRF问题汇总（七）
61.最近在以EDXRF仪器检测电镀产品时,测出Pb含量在同一零件上不同测点有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 样本:SUM24L快削钢镀Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每个零件测三点),为什么会有如此大之差距,相关对比测试也做过,还是找不到问题所在. 根据你所说得情况，应该是X
XRF破译矿物成分
本文以国家标准物质作为参照物，采用熔融制样X 射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料（镁石、菱镁矿）中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5 含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
什么是xrf测试？
XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或WD
XRF问题汇总（六）
51.生铁中 的 Si分析与化学分析 误差比较大,C和S 与碳硫分析仪 对不上C的差距最大，S的分析有时候差距比较大 一般 正负2 左右.分析标样还可以 为什么会这样? (1) 我分析可能是制样导致的差距,可以多分析几个标样,看看怎样,如果标样分析不相差,只是样品分析存在差距,可以从制样过程中找原因
XRF问题汇总（十）
我以ＥＤＸ７２０测定铁基镀Ｎi层（层厚５um左右），保证同材质同镀槽的前提下，测出的结果有的在３０００ＰＰＭ有的却在３００～５００ＰＰＭ 甚至没有检出，问题出在哪?基材为ＳＵＭ２４Ｌ快削钢（Ｐb＜３５００ＰＰＭ） (1) FP法测定镀层 通常我的做法是 1. FP镀层法 先做定性，根据经验分析镀层成
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
什么是xrf测试
XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或WDX，
XRF问题汇总（九）
81.为什么长石的玻璃熔片成片后放在ＸＲＦ检测室里会破裂呢？已经是冷却的了，如果说是关系到钾钠的膨胀系数的话，那样也应该是在成片的过程中因 为系数高而应力增大才破裂，究竟是什么原因呢？检测室的温度是２５度，湿度在４５左右，环境的影响我想应该不是主要的．片子没气泡没不熔物 A.可能是玻璃片中的各组分含
XRF光谱仪的主要技术要点
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin, SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。2.光管的选型（功率，靶材，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）3.设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线
XRF光谱仪的选购要素
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin, SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。2.光管的选型（功率，靶材，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）3.设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线