XRF检测的理论影响系数法介绍
对多数类型的样品，总有一些XRF无法探测到的元素（H-F）存在，往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度，是样品中基体组成部分，而其它元素的峰强度与基体组成直接相关，X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点，这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。 理论影响系数法也称为理论α系数法，其在利用基本参数方程推导基础上，选取特定浓度范围的标准样品或定值样品，建立二元或三元体系，应用一定的数学模型建立元素间的理论校正系数，具备了标样需求少、适用范围宽、准确度提升等优点。已经建立的理论影响系数在随着样品组成的变化而改变，需要实时适应这种变化的计算方法或计算机程序。......阅读全文
XRF检测的理论影响系数法介绍
对多数类型的样品，总有一些XRF无法探测到的元素（H-F）存在，往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度，是样品中基体组成部分，而其它元素的峰强度与基体组成直接相关，X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点，这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。 理论影响
X射线荧光光谱仪理论影响系数法介绍
对多数类型的样品，总有一些XRF无法探测到的元素（H-F）存在，往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度，是样品中基体组成部分，而其它元素的峰强度与基体组成直接相关，X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点，这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。 理论影响
XRF元素定量分析的经验系数法介绍
经验系数法不可避免的问题是离不开标准样品，如果存在元素之间的吸收增强效应，为了通过最优化算法得到元素之间互相的影响系数，需要的标准样品的个数会更多。即使有足够多的合格标准样品（通常是比较难的），得到的数学模型的适用范围也会受限，通常不能超出标样涵盖的范围。之所以多数X射线荧光分析仪分析的元素种类
XRF分析中MLD系数的理论计算与应用研究
在X射线荧光光谱分析中,用熔融法制样分析无机材料的化学成分是较普遍的做法。在制作未知样熔片时,通常要保证其熔剂与样品质量之比(稀释比)与制作校准曲线时校准样品熔片的稀释比相等,以使强度具有可比性。若对强度做稀释比校正,则不再需要未知样稀释比与校准样严格一致,可以显著提高分析效率。本文的目的是根据稀释
激光闪光法检测导热系数方法介绍
激光闪光法 1961年，Parker等开始了利用激光脉冲技术测量材料的热物理性能的研究，由于这种技术具有测量精度高、测试周期短和测试温度范围宽等优点，得到广泛的研究和应用，经过不断发展和完善，目前激光闪射法已经成为一种成熟的材料热物理性能测试方法。 激光闪射法是目前世界上最先进的材料热物理性
XRF仪器的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自
XRF仪器的基本理论
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到
关于XRF的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子
定量模型影响XRF定量精度的介绍
XRF定量模型的建立要充分考虑标准样品的选择、基体的匹配、校正算法的建立、目标样品的适用性等，这些方面都会影响到定量精度，往往这些方面需要分析工作者有丰富的经验。
样品制备影响XRF定量精度的介绍
XRF样品制备简单，但并非无需样品处理，XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求，这些方面都会不同程度影响分析精度，使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响，譬如：研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法。
XRF中白云鄂博矿元素间基体效应及影响系数的研究
白云鄂博矿在我国稀土产业的发展过程中具有十分重要的地位。因此，以不破坏白云鄂博矿的形态为前提条件下，对其进行快速、准确的分析是非常重要的。X射线荧光光谱分析技术具有可直接对块状、粉末状样品进行分析的特点，同时其还具有分析准确度高、分析元素范围广（Na-U）、分析速度快、操作简便等优点，正好能满足快速
质量控制影响XRF定量精度的介绍
在分析目标样品过程中，采用其它实验室分析方法进行定量精度的控制是必要的，不同分析方法存在偏差是必然的，当偏差较大时，应进一步充分验证两种分析方法的精度，目标是提升XRF定量精度。
样品适应性影响XRF定量精度的介绍
即使建立可靠的定量模型，但对目标样品适应性也非一劳永逸，也要充分考虑目标样品的物理形态、元素含量范围、基体与标准样品一致性等条件，这些条件与建立定量模型采用的标准样品不一致，会一定程度造成定量误差。
XRF检测定性原理的相关介绍
X射线荧光光谱分析是指试样中的元素受到足够能量的激发后发射出特征X射线(荧光)，根据特征X射线的波长及其强度进行定性、定量分析的方法。 众所周知，原子是由原子核和核外电子构成的，电子处在核外不同能级的壳层上，这些壳层自内向外依次称为K(n＝1)层，L(n＝2)层，M(n＝3)层……当用具有足够
XRF元素测量的基本参数法介绍
X射线管出射谱（或测量得到）； X射线光与物质相互作用，即产生元素荧光射线的过程； 采用迭代求解算法对探测器采集谱和计算谱拟合计算，得到元素含量； 基本参数法是对X射线的产生入射、X射线与物质相互作用、探测器的采集谱，根据已经掌握的数据库和物理理论进行计算，将计算谱与实测谱进行对比，通过迭
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
氧化还原反应待定系数法介绍
待定系数法 1．配平原理 质量守恒定律说明，在发生化学反应时，反应体系的各个物质的每一种元素的原子在反应前后个数相等。通过设出未知数（如x、y、z等均大于零）把所有物质的计量数配平，再根据每一种元素的原子个数前后相等列出方程式，解方程式（组）。计量数有相同的未知数，可以通过约分化简。 2．
影响分配系数的因素
微量元素的分配受体系总成分、温度和压力等因素的影响。
分配系数的影响因素
微量元素分配系数受体系成分、温度、压力、氧逸度等因素影响。1.体系化学成分的影响分析微量元素分配系数的资料可以发现：不同成分体系中，某一微量元素对同一种矿物的分配系数有较大的差别。实际上，体系成分对微量元素分配系数的影响包括两个方面：既有矿物自身成分的影响，也有与其平衡的熔体成分的影响。研究证明，S
分配系数的影响因素
为了使微量元素的行为定量化,必须确定控制分配系数的所有因素。大多数情况下,由于微量元素类质同象进入矿物的晶格,因此晶格应变能 (lattice strain energy)在决定(矿物的亨利定律常数)对于分配系数Di的贡献上是重要的(Blundy et al.,2003)。应变能随“正常”和替代离子
摩尔吸光系数的影响因素
摩尔吸光系数的大小与待测物、溶剂的性质及光的波长有关。待测物不同，则摩尔吸光系数也不同，所以，摩尔吸光系数可作为物质的特征常数。溶剂不同时，同一物质的摩尔吸光系数也不同，因此，在说明摩尔吸光系数时，应注明溶剂。光的波长不同，其吸光系数也不同。单色光的纯度越高，摩尔吸光系数越大。
摩擦系数检测仪的介绍
名称：摩擦系数检测仪 英文名称：Coefficient of Friction Tester 学术别名：摩擦系数仪、摩擦系数试验仪、摩擦系数测定仪、薄膜摩擦系数试验机、滑爽性测试仪、摩擦系数测试仪、摩擦性测试仪 设备用途：适用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、输送带、轮胎等材料滑动时
XRF定量精度的影响有哪些？
1) 样品制备 XRF样品制备简单，但并非无需样品处理，XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求，这些方面都会不同程度影响分析精度，使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响，譬如：研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法
XRF快速检测仪功能特点的介绍
1、激发源测试管压高，元素测试范围更宽，重元素激发效果更好，重元素的检测限更低。 2、大面积探测器，输入计数率高，分析速度更快，测试结果精度更高，稳定性更好。分辨率更低，元素分辨能力更强，有限降低元素间的谱线干扰。（如Cu对Zn元素的谱线干扰， Fe元素逃逸峰对Ti元素的干扰） 3、仪器响应
XRF分析仪样品制备化学富集法的介绍
1）沉淀法 螯合物沉淀法（DDTC法）是使溶液中的各金属阳离子与螯合物试剂反应后沉淀过滤，鳌合物沉淀剂常用的有DDTC（铜试剂）、PAN（1-（2-吡啶偶氮）-2-萘酚），8-羟基喹啉，其特点是均可与近20种元素产生螯合物沉淀。 沉淀法是加入适合于溶液中各元素的沉淀剂和共沉淀剂使之反应，然
XRF分析的熔片法程序
1.加热样品和硼酸盐助熔剂的混合物，直到助熔剂融化；2.继续加热直到样品溶解到助熔剂中，并搅拌以使熔体均匀化；3.将熔融玻璃倒入热模中；4.冷却以获得坚固的玻璃盘，无需任何其他处理即可进行X射线测量。要进行融合实验，必须了解使用的工具，融合混合物的成分，融合前的准备工作以及融合程序。将考虑所有这些，
影响XRF定量精度的因素有哪些？
1) 样品制备 XRF样品制备简单，但并非无需样品处理，XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求，这些方面都会不同程度影响分析精度，使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响，譬如：研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法
平面摩擦系数检测仪器介绍
以Labthink兰光的MXD-02摩擦系数仪为例介绍，设备符合GB10006、ASTM D1894等多种测试标准，测试精度高达0.5级，可进行各种平面材料的动、静摩擦系数的精确测量；同时可根据客户测试需求进行特殊定制，满足不同条件的试验。【技术特征】一次试验便可同时测定试样的动、静摩擦系数试验速度
消光系数的测定（Scopes－法)－实验
试剂、试剂盒透析缓冲液牛血清白蛋白（BSA) 或σ32 溶液仪器、耗材干净的石英比色皿分光光度计实验步骤材料与设备牛血清白蛋白（BSA) 或σ32 溶液，浓度约为 1mg/ml干净的石英比色皿分光光度计，可在 205nm 和 280nm 读数的试剂透析缓冲液(配方，见"试剂的配制"，PP.184~1
消光系数的测定（Scopes－法)－实验
试剂、试剂盒 透析缓冲液 牛血清白蛋白（BSA) 或σ32 溶液 仪器、耗材 干净的石英比色皿 分