XRF检测定性原理的相关介绍
X射线荧光光谱分析是指试样中的元素受到足够能量的激发后发射出特征X射线(荧光)，根据特征X射线的波长及其强度进行定性、定量分析的方法。 众所周知，原子是由原子核和核外电子构成的，电子处在核外不同能级的壳层上，这些壳层自内向外依次称为K(n＝1)层，L(n＝2)层，M(n＝3)层……当用具有足够高能量的微观粒子(电子、质子或x射线光子等)照射样品时，即可驱出原子内部某个壳层上的电子，使它跳到能级较高的未被电子填满的外部壳层或离开此原于体系而使原子电离，这时此原子中的内部壳层即出现了空位，使整个原子体系的能量升高而处于不稳定的激发态或电离态，随后在大约10-7至10-14秒极短时间内，根据能量最低原理，受激原子发生外层电子自高能态向低能态的跃迁过程，从而使该体系的能量又降到最低而重新回到了稳定的态。根据波尔原理，原子中发生这种电子跃迁的同时将辐射出带有一定频率或能量的谱线，这种谱线对各种不同原子是特征的，因而叫做标识谱线。比如......阅读全文
XRF检测定性原理的相关介绍
X射线荧光光谱分析是指试样中的元素受到足够能量的激发后发射出特征X射线(荧光)，根据特征X射线的波长及其强度进行定性、定量分析的方法。 众所周知，原子是由原子核和核外电子构成的，电子处在核外不同能级的壳层上，这些壳层自内向外依次称为K(n＝1)层，L(n＝2)层，M(n＝3)层……当用具有足够
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
XRF的能量相关信息介绍
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为: E=hν=h C/λ 式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。 因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外
XRF分析技术的相关介绍
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
XRF镀层测厚仪的相关介绍
XRF镀层测厚仪对焦系统确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续一致；否则会导致结果不准确。XRF镀层测厚仪相机帮助用户精确定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以精确定位需要测量的区域。样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样
关于XRF的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
无损检测的渗透检测原理相关介绍
原理：零件表面被施涂含有荧光染料或着色染料的渗透剂后，在毛细管作用下，经过一段时间，渗透液可以渗透进表面开口缺陷中；经去除零件表面多余的渗透液后，再在零件表面施涂显像剂，同样，在毛细管的作用下，显像剂将吸引缺陷中保留的渗透液，渗透液回渗到显像剂中，在一定的光源下（紫外线光或白光），缺陷处的渗透液
XRF熔融制片方法的相关介绍
X射线荧光分析法是一种现代仪器分析方法，具有分析迅速、非破坏性分析、光谱不受化学状态的影响、分析精度高、分析范围广（4Be～92U）、定性定量分析、样品制备简单等优点。 仪器装置分为X射线发生装置、分光装置、计数记录装置。
XRF的基本原理介绍
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量(单位:千电子伏特，keV)和波长(单位:nm)描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱
涂层测厚仪的相关检测原理介绍
喷涂；管道防腐；铝型材；钢结构；印刷线路版、及丝网印刷等。 电镀、喷涂：这个行业是使用我们仪器*多的，占每年销量相当大的比例，是我们主要用户群体，需要精力去不断挖掘。 管道防腐：主要以石化方面的用户比较多，一般防腐层比较厚； 铝型材：今年以来受国家实施强制标准，型材企业换
XRF分析仪的相关分析因素介绍
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。 c) 根据各元素的特征X射线的强
XRF合金分析仪的原理介绍
合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。 每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道
关于XRF的基本原理介绍
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃
xrf测试的基本原理介绍
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比
实时成像的检测原理的相关介绍
同传统胶片照相法相比，实时成像的检测原理有很大的不同。传统照相法是将穿过工件的X射线在 胶片上累计 感光而形成潜影图像，再经暗室处理形成可见的透照影像，根据其影像来评估工件的内部质量情况，得到的图像是静态影像，是不可调整的。实时成像系统是将穿过工件的X射线经图像探测器接收并转换为数字图像信号（早
XRF检测的理论影响系数法介绍
对多数类型的样品，总有一些XRF无法探测到的元素（H-F）存在，往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度，是样品中基体组成部分，而其它元素的峰强度与基体组成直接相关，X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点，这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。 理论影响
无损检测的超声波检测的原理相关介绍
原理：通过超声波与试件相互作用，就反射、透射和散射的波进行研究，对试件进行宏观缺陷检测、几何特性测量、组织结构和力学性能变化的检测和表征，并进而对其特定应用性进行评价的技术。 适用于金属、非金属和复合材料等多种试件的无损检测；可对较大厚度范围内的试件内部缺陷进行检测。如对金属材料，可检测厚度为
关于XRF光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF的基本工作原理
1、提到XRF，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样
XRF快速检测仪功能特点的介绍
1、激发源测试管压高，元素测试范围更宽，重元素激发效果更好，重元素的检测限更低。 2、大面积探测器，输入计数率高，分析速度更快，测试结果精度更高，稳定性更好。分辨率更低，元素分辨能力更强，有限降低元素间的谱线干扰。（如Cu对Zn元素的谱线干扰， Fe元素逃逸峰对Ti元素的干扰） 3、仪器响应
能量色散－X－射线荧光－(ED－XRF)的相关介绍
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中，样品中的所有元素都被同时激发，而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合，用于同时收集从样品发射的荧光辐射，然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决
X射线用于XRD物相和XRF元素定性分析的基本原理
根据元素的原子模型，原子核外电子在不同层之间发生跃迁时会释放出能量，这份能量以光电子的形式可以被捕捉到。而不同元素的核外电子跃迁时释放的能量是不同的，每个元素有自己的特征能量值。根据XRD XRF探测到的数值，可以进行分析，得出样品中各种元素的种类。里面应用到的物理原理，有玻尔原子模型，以及布拉格衍
X射线用于XRD物相和XRF元素定性分析的基本原理
根据元素的原子模型，原子核外电子在不同层之间发生跃迁时会释放出能量，这份能量以光电子的形式可以被捕捉到。而不同元素的核外电子跃迁时释放的能量是不同的，每个元素有自己的特征能量值。根据XRD XRF探测到的数值，可以进行分析，得出样品中各种元素的种类。里面应用到的物理原理，有玻尔原子模型，以及布拉格衍
X射线用于XRD物相和XRF元素定性分析的基本原理
根据元素的原子模型，原子核外电子在不同层之间发生跃迁时会释放出能量，这份能量以光电子的形式可以被捕捉到。而不同元素的核外电子跃迁时释放的能量是不同的，每个元素有自己的特征能量值。根据XRD XRF探测到的数值，可以进行分析，得出样品中各种元素的种类。里面应用到的物理原理，有玻尔原子模型，以及布拉格衍
XRF测试仪的定性及定量分析
主要是指测试的精确度，一般来说XRF的测试精度比较低，一般测试结果做得比较理想的情况都有10%以上的误差，同时看在应用在哪些方面的测试，测什么基材的什么元素，本底的影响等。一般是定性分析，现在XRF应用在ROHS比较多，它主要来进行定性分析，看看是否达到ROHS标准要求。当然如果要求不高的百分比的含
XRF测试仪的定性及定量分析
主要是指测试的精确度，一般来说XRF的测试精度比较低，一般测试结果做得比较理想的情况都有10%以上的误差，同时看在应用在哪些方面的测试，测什么基材的什么元素，本底的影响等。一般是定性分析，现在XRF应用在ROHS比较多，它主要来进行定性分析，看看是否达到ROHS标准要求。当然如果要求不高的百分比的含