日立发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪XStrata920
英国牛津：日立分析仪器公司（日立分析仪器），是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。 日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920可确保镀层符合规格要求，并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费减至最少。随着X-Strata功能的扩展，用户可以通过该仪器进行更多工作。 这一款新型X-Strata意味着可选择高分辨率硅漂移探测器（SDD）或正比计数器定制仪器，以优化其性能。此外，它现在拥有四个腔室和基座配置，可处理各种形状和尺寸的样品，包括汽车行业中的复杂几何形状。 对于复杂的镀层结构，SDD可以提供优于正比计数器的优势，因为它更易分析具有类似XRF特征的元素，例如镍和铜。这扩大了可以用于分......阅读全文
日立分析发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪
2018年6月19日，英国牛津：日立分析仪器公司（日立分析仪器），是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。 日立分析仪器XR
日立发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪－XStrata920
英国牛津：日立分析仪器公司（日立分析仪器），是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。 日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子
日立凭借新型XRF仪器FT230掀起镀层分析改革浪潮
2022年4月28日，日立高新技术集团旗下的全球性公司日立分析仪器推出了革命性的XRF仪器FT230，扩大了电镀和镀层分析范围。FT230的设计大幅简化和加快了部件和组件的测试流程，助力电子产品和组件制造商、一般金属表面处理厂和塑料电镀厂实现全方位镀层检测并符合严格的规范要求。FT230 消除了
FT160－XRF横空出世应对晶片级材料分析极限挑战
分析测试百科网讯 芯片已经超过原油，成为我国第一进口商品大类，年进口超3000亿美元，芯片对于我国的重要性不言而喻。芯片数量如此之多，面积越做越小，如何快速、精确测定芯片表面纳米级厚度的镀层？难度可想而知。今年2月，日立推出FT160 XRF分析仪，专门针对晶片级封装检测。近日，分析测试百科网小
日立分析仪器推出新型FT160－XRF镀层分析仪
日立高新技术公司（TSE：8036）的全资子公司日立分析仪器（HitachiHigh-Tech Analytical Science）致力于分析和测量仪器的制造和销售，现推出新型FT160XRF光谱仪，该分析仪提供三种基座配置选择方案用于纳米级镀层分析。 随着新型FT160系列在日本的推出，日
XRF分析在锂电池回收利用行业的应用
废旧锂离子电池回收是缓解资源短缺的重要手段。X射线荧光（XRF）分析为有价值材料的评估和回收带来了一种经济有效的方法。 在锂离子电池回收利用过程中，准确分析各种各样的黑粉样品具有很大的挑战性。日立的X-MET8000手持式XRF分析仪，如果用于快速筛选和测定Mn、Ni和Co的百分比含量，10-
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF镀层测厚仪的组成介绍
XRF光谱仪的主要部件组成为X射线管、光圈、探测器、对焦系统、相机以及样品台。如上图所示。X射线管是仪器的一部分，产生照射样品的X射线。光圈是引导X射线指向样品的装置的第一部分。XRF仪器中的光圈将决光斑尺寸，正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。探测器与相关电子设备一并处理从样品中激发出的
XRF2000镀层测厚仪规格
儀器功能 : 測量電鍍層厚度（单镀层 双镀层 合金镀层 电镀液分析 元素定性分析）系統結構 :主機箱,專用分析電腦,,彩色打印機主機尺寸610 x 670 x 490 mm主機箱重量 : 75 公斤配件重量 : 約 35 公斤以电脑鼠标移動方式,驅動 XYZ 三軸移動,步進馬達XYZ 樣片台移動尺寸
XRF镀层测厚仪的技术介绍
XRF技术的最小检测厚度为大约1nm。如果低于这个水平，则相应的特征X射线会淹没于噪声信号中，无法对其进行识别。最大范围约为50μm左右。如果在该水平之上，则镀层厚度将导致内层发射的X射线无法穿透镀层而到达探测器。即厚度的任何进一步增加都不会导致更多的X射线到达探测器，因此厚度达到饱和无法测出变
XRF镀层测厚仪的相关介绍
XRF镀层测厚仪对焦系统确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续一致；否则会导致结果不准确。XRF镀层测厚仪相机帮助用户精确定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以精确定位需要测量的区域。样品可放置于固定或可移动的XRF镀层测厚仪样
选择镀层测厚仪XStrata920的几大原因
准确、可靠的XRF分析对全球各行各业生产工艺至关重要。无论是确保焊接合金符合质量控制标准还是评估金饰价值，选择合适的XRF分析仪将对您的生产工艺和盈利率产生深远影响。日立分析仪器X-Strata920是一种高科技解决方案，能够应对各种镀层厚度和材料分析挑战。它将大面积正比计数探测器和微聚焦X射线管相
XRF镀层测厚仪的原理是什么
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD
仪器介绍： XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作，它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点： 1. 真正实现了快速，准确的检测，直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
XRF镀层测厚仪的基本原理
XRF指X射线荧光，是一种识别样品中元素类型和数量的技术。用于在整个电镀行业范围内验证镀层的厚度和成分。其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。 对于镀层分析，XRF镀层测厚仪将此信息转换为厚度测量值。在进行测量时，X射线管产生的高能量x射线通过
美国博曼高性能XRF镀层测厚仪
膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。鼎极天代理的美国博曼高性能XRF镀层测厚仪,多年深耕镀层测厚事业经历不断创新、追求卓越、获得广泛好评最广
韩国_XRF2000L_荧光金属镀层测厚仪
产品介绍 XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪产品描述： 应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。 行业 : 五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。 特色 : 非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 可测量高达六层的
如何使用自动对焦节省XRF镀层分析时间？
利用镀层XRF（X射线荧光）进行测量涉及多项步骤，但是对焦（即正确设置X射线管、零件和检测器之间的几何位置）是最关键的步骤，因为它直接影响结果的准确性。在操作员找到测量位置后，需要对焦零件。传统仪器通过激光对焦或视频对焦完成上述对焦。日立的XRF镀层分析仪FT230可以使用激光对焦，但也提供两种自动
日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪和最新版FT－Connect软件
2023年12月，中国 — 日立分析仪器是日立高新技术公司旗下的全资子公司，主要从事分析和测量仪器的制造与销售，通过推出 FT210 新型XRF镀层测厚仪，日立分析仪器扩大了其镀层和材料分析仪器产品系列。 FT210 包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器，并集成先进且易于使用的功能，旨在增
膜厚仪厂家供应
美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪，为您提供准确、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。Bowman BA-100 Optics 机型采用先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。Bowman BA-100 Optics 机型配备
日立分析仪器在上海迁址新生产基地
中国上海，2021年5月18日—日立分析仪器（日立高新技术集团全资子公司）致力于从事分析和测量仪器的制造和销售，如今其在中国上海迁址新生产基地。 这家先进的制造厂位于上海市闵行区涞港芯湾科创园，占地4118平方米，旨在支持高科技分析设备开发和生产的快速升级，以满足全球不断增长的需求。 新工厂
值得收藏！一文了解XRF前世今生及主流产品
主要厂商及产品XRF中便携式X射线荧光是主要类型，约占40%。本文对主要手持式 XRF产品（均为EDXRF）制造商及拳头产品进行总结，以供读者参考。更多XRF产品的介绍请见续篇。品牌型号特点赛默飞Niton™ XL5 Plus2021年发布，重2.8磅，1~2秒牌号鉴别，可靠的元素分析（包括轻元素）
日立推出XMET8000－Geo－Optimum手持XRF－－用于地矿分析
2019年3月6日，日立分析仪器，系日立高新技术公司(TSE：8036)旗下的一家全资子公司推出了一款全新X-MET8000 Geo手持式XRF分析仪，这种分析仪针对土壤和采矿品级控制应用进行了优化。其提供无与伦比的性价比，且投资回报(ROI)快，允许立即进行现场决策，而不必发送样品进行实验室分析。
日立分析仪器:扩大在中国的业务,以支持材料分析的未来
日立分析仪器在徐汇开设新的应用中心，以更好地满足客户的需求，并通过改善协作来提供更具创新性的定制服务。分析测试百科网采访了日立分析仪器销售服务总经理郑艺花女士，讨论业务扩展、对互联材料分析仪未来发展和未来趋势的展望，这对每个人都很有启发性。日立分析仪器销售服务总经理郑艺花开设徐汇分公司 贴近客户
XRF镀层测厚仪中的毛细聚焦管光学元件的技术优势
更小的点位测量 更薄的镀层测量 更高的测试量和更高的置信度 更符合测试方法标准 无疑这些优势将为镀层测试的能力带大的提升。
首饰镀层检测的解决方案——浅谈XRF仪器FP算法的优势
首饰电镀通常比较复杂，可能有多个镀层，且镀层包含合金，要检测得到准确的厚度和成分，通常来说经验算法的偏差都较大，而且样品在未知组成的情况下无法得到正确的结果；而FP(Foundational parameters:基本参数法)就可以很好的解决这类问题，我们从以下两个案例来展开来描述。 1.
日立收购牛津仪器工业分析部后首次亮相BCEIA
分析测试百科网讯 2017年7月日立高新技术（HHT）成功收购牛津仪器工业分析部，成立日立分析仪器（HHA）（相关报道：牛津仪器工业分析部成为日立新技术分析科学）。2017 BCEIA展会上，两家公司以全新的形象首次亮相。来自日立分析仪器亚太区销售与服务副总裁 Adrian Smith先生，日
韩国XRF2000X射线镀层测厚仪测量样品高度达到20cm
国XRF-2000X射线镀金层测厚仪检测电镀层厚度，可检测镀金，镀银，镀镍，镀锡，镀锌，镀铬，镀钯等可测量单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层单镀层：如铜上镀镍，铜上镀银，铜上镀锡，铁上镀镍等，不限底材双镀层：铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍等多镀层：铁上镀铜镀镍镀银，铜上镀镍镀钯镀金等合金镀层：铜上镀锌镍等
X荧光光谱仪XRF的性能特点和技术优势
X荧光光谱仪XRF是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体