X射线荧光分析法
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。 X- 射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。 X 射线是伦琴于 1895 年发现的一种电磁辐射，其波长为 0.01 ～ 10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞击到金属 Mo ， Cu ， Fe ， Cr ， Rh 等材料制成的阳极靶上，电子运动突然停止，电子动能部分转变成 X 射线辐射出来，它包含有高强度的单色 X 射线——特征 X 射线外，还有连续的 X 射线。高能粒子（电子或连续 X 射线等）与靶材料......阅读全文
X射线荧光分析法
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。 X- 射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。 X 射线是伦琴于 1895 年发现的一种电磁辐射，其波长为 0.01 ～ 10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞
X射线荧光分析法简介
X射线荧光分析法（X-ray fluorescence analysis），是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依据。
X射线荧光分析法的应用
X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达3-10～10-6克/克(g/g)，对许多元素可测到10-7～10-9g/g，用质子激发时 ，检出可达10-12g/g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用
X射线荧光分析法的简介
中文名称X射线荧光分析法英文名称X-ray fluorescence analysis定 义对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依
X射线荧光分析法的未来展望
X射线荧光分析法同其他分析技术一样，不是完美无缺的。在物质成分分析中，它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟，只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（例如选矿流程中的自动控
激发X射线荧光分析法的概念
当α 、β、γ或X射线作用于样品时，由于库仑散射，轨道电子吸收其部分动能，使原子处于激发状态。由激发态返回基态时发射特征X射线，根据此特征X射线的能量和强度来分析元素的种类和含量。其灵敏度很高，用途很广。
X射线荧光分析法的应用特点
X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达3-10～10-6克/克(g/g)，对许多元素可测到10-7～10-9g/g，用质子激发时 ，检出可达10-12g/g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原
X射线荧光光谱分析法
利用原级 X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。在成分分析方面,X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。 简史 20世纪20年代瑞典的G.C.de赫维西和R.格洛克尔曾先后试图应用此法从事定量分析，但由于当时记录
X射线荧光分析法的基本信息介绍
X射线荧光分析法（X-ray fluorescence analysis），是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依据。
X射线荧光分析法的特点与适应范围
（1）适应范围广 除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 （2）操作快速方便 在短时间内可同时完成多种元素的分析。 （3）不受试样形状和大小的限制，不破坏试样，分析的试样应该均匀。 （4）灵敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01%的
X射线荧光分析法的特点与适应范围
(1)适应范围广 除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 (2)操作快速方便 在短时间内可同时完成多种元素的分析。 (3)不受试样形状和大小的限制，不破坏试样，分析的试样应该均匀。 (4)灵敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01%的
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
X射线荧光光谱分析法的特点
(1）分析速度快。 (2）X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态及物理状态无关。 (3）非破坏分析。 (4）X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对化学性质上属于同一族的元素也能进行分析。 (5）分析精密度高。 (6) X射线光谱比发射光谱简单,故易于解析。 (7）制样简单。 (8）X射线
利用X射线荧光分析法分析质量和干扰源
如今，化学和医药产品的质量稳定有着非常重要的意义。一些干扰性的影响因素，例如生产设备中出现有害沉积物，不仅会影响产品质量，还会损坏生产设备的零部件。而在现代化分析技术的帮助下，用户在几分钟内即可完成故障的分析诊断。 在流程工艺设备中总是不断出现由有害沉积物在生产设备中的沉积而带来的故障和干
X射线荧光光谱分析法的简介
X射线荧光光谱分析法，利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。 [1] 在成分分析方面，X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。
关于环境分析方法——X射线荧光分析法的介绍
X射线荧光分析的基本原理是以高能X射线（一次X射线）轰击样品，将待测元素原子内壳层的电子逐出，使原子处于受激状态，10-12～10-15秒后，原子内的原子重新配位，内层电子的空位由较外层的电子补充，同时放射出特征X射线（二次X射线）。特征X射线波长λ和原子序数Z有一定关系：λ ∝1/Z2。测定这
X射线分析法的简介
中文名称X射线分析法英文名称X-ray analysis定 义测量试样在各种条件下所发射的特征X射线，或者是测定试样的X射线衍射图形，包括X射线衍射分析法、发射X射线谱法和吸收X射线谱法三类。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
关于X射线荧光光谱分析法的简史介绍
20世纪20年代瑞典的G.C.de赫维西和R.格洛克尔曾先后试图应用此法从事定量分析，但由于当时记录和探测仪器水平的限制，无法实现。 40年代末，随着核物理探测器的改进，各种计数器相继应用在X射线的探测上，此法的实际应用才成为现实。 1948年H.弗里德曼和L.S.伯克斯制成了一台波长色散的
X射线荧光光谱分析法的应用领域
X射线荧光分析法可用于冶金、地质、化工、机械、石油、建材等工业部门，以及物理、化学、生物、地学、环境科学、考古学等。还可用于测定涂层和金属薄膜的厚度和组成以及动态分析等。在常规分析和某些特殊分析方面，包括工业上的开环单机控制和闭环联机控制，本法均能发挥重大作用。分析范围包括原子序数Z≥3（锂）的
X射线荧光分析法与其它分析方法比较的优点介绍
（a）分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 （b）X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
什么是X射线衍射分析法？
X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大
X射线衍射分析法的简介
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和
X射线衍射分析法的简介
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强
什么是X射线衍射分析法？
X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量
x射线衍射、x荧光、直读光谱区别
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原