X荧光能谱分析仪中谱线处理方法的研究
本文主要讨论了能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)中对谱数据进行处理的方法。文中使用基于离散Meyer(dmey)小波方法对谱线平滑,对信号进行3层分解,保留低频部分,去除高频部分。利用剥峰的方法估计本底,在前人所做工作的基础上做了一些改变,使得运算速度更快。接着对处理好的谱定性分析(寻峰),根据峰位知道样品中所含的各元素,然后在寻峰的基础上采用非线性最小二乘原理对谱线进行进行定量分析(解谱),这样就可以求出各元素的浓度。该方法不仅提高了测量精度而且可以为以后测量多元素提供了参考。......阅读全文
X射线光电子谱
凯.西格班（Kai Manne Borje Siegbahn，1918- ）一直从事核能谱的研究。20世纪50年代，他和同事们用双聚焦磁式能谱仪研究放射性能谱。当时，往往会因为回旋加速器的原因不得不停下来等待放射性样品。能否用一种更容易掌握的代用品来激发放射性辐射呢？凯.西格班设想用X射线管使材料发
激光粒度仪如何获得颗粒的散射光能谱分布
所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器。根据激光散射原理，颗粒大小不同，散射光能量随散射角度的分布也不同，此种分布称为散射谱。激光粒度仪就是通过检测颗粒群的散射谱反演颗粒大小及其分布的。1、为什麽散射/衍射激光粒度仪必须采用激光作光源激光粒度仪是通过检测颗
XPS－谱图中有哪些重要的谱线结构？具体是什么？
XPS 谱图中有哪些重要的谱线结构?具体是什么?XPS 谱图一般包括光电子谱线,卫星峰(伴峰),俄歇电子谱线,自旋- 轨道分裂(SOS)等1)光电子谱线:每一种元素都有自己特征的光电子线,它是元素定性分析的主要依据。谱图中强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰,称为XPS 的主谱线。实例说明一:上图中
X射线能谱处理中NaI(Tl)闪烁体边界效应矩阵
用 NaI(Tl)闪烁谱仪测量 X 射线机产生的 X 射线能谱是一个较为方便的方法。在此方法的应用中应当考虑到闪烁体边界效应的影响。本文报道了在解谱中表征这一影响的两个矩阵的蒙特-卡罗计算方法和计算结果,并对计算结果作了简要讨论。
标准样品谱处理方法
1、 先根据需要配好标准样品B1（自己配置的已知浓度的样品。通常需要配标准样品的情况有三种：一是用线性法检测样品时需要配置线性系列标准溶液；二是用单点法检测样品时需要配置标准样品；三是配置检测样品） 2、 进标样B1，谱图采集完毕后“手动停止”，修改文件名，保存。 3、 调节“手动
X射线荧光光谱按分离特征谱线的方法分为哪几种
X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。
概述波长色散X射线光谱分析仪干扰谱线的来源
XRF分为波长色散和能量色散两大分支，由于激发、色散和检测方法不同，他们对谱线干扰的处理办法有所不同。这里主要讨论应用普通X光管激发的波长色散X射线光谱分析仪法中的谱线干扰问题。对于利用各种激发源的能散法，只作简单比较。为区别两种方法的谱线干扰，分为称它们为波长干扰和能谱干扰。
概述波长色散X射线光谱分析仪谱线干扰的消除
在X射线光谱法中，如上所述，谱线干扰的来源基本上可分为两方面，即发生于仪器和样品本身。属于样品中固有的干扰线除采用化学分离方法去除干扰元素外，有的也可以利用仪器方法来克服，或者进行数学上的校正，现在，对以上两种来源的干扰线，如何从仪器上克服和进行数学上的校正，分别讨论如下： 1）激发源 对
XPS图谱之俄歇电子谱线
电子电离后，芯能级出现空位，弛豫过程中若使另一电子激发成为自由电子，该电子即为俄歇电子。俄歇电子谱线总是伴随着XPS，但具有比XPS更宽更复杂的结构，多以谱线群的方式出现。特征：其动能与入射光ｈν无关。
XPS图谱之光电子谱线
每一种元素都有自己特征的光电子线，它是元素定性分析的主要依据。谱图中强度最大、峰宽最小、对称性最好的谱峰，称为XPS的主谱线。
原子吸收谱线变宽怎么回事
谱线变宽有好多种的！主要有1.自然宽度，2.多普勒变宽又叫热变宽，3.压力变宽，压力变宽又分为劳伦兹变宽和赫鲁兹马克变宽。还有场致变宽，自吸效应等等。通常情况下是多普勒变宽和劳伦兹变宽。
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
X射线能谱测量与模拟
1895年,德国科学家伦琴发现了X射线,开辟了一个崭新的、广阔的物理研究领域。其中,针对电子打靶产生的韧致辐射X射线的研究,是X射线研究领域的一个重要课题。本文在国内外针对X射线能谱测量与解析的基础上,利用高纯锗(HPGe)探测器使用直接测量法与间接测量法对钨靶X射线与钼靶X射线能谱进行了测量。工作
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
X射线能谱定性分析
X射线能谱定性分析快速有效，是电子探针和扫描电镜分析必须的组成部分。用X射线能谱仪测量试样特征X射线全谱中各谱峰的能量值，计算机释谱得出试样的元素组成。X射线能谱定性分析要注意背景的判别、峰的位移、峰的重叠、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干扰峰等问题，以免导致错误的分析结果。(1)背景的判别在使用X射线
DPF脉冲X射线能谱测量
采用滤光法对ＤＰＦ脉冲Ｘ射线源装置的Ｘ射线能谱进行了测量，取得了较好的结果，为辐射效应环境测量提供了一种手段。
高能脉冲X射线能谱测量
给出了高能脉冲X射线能谱测量的基本原理及实验结果.采用Monte-Carlo程序计算了高能光子在能谱仪中每个灵敏单元内的能量沉积,利用能谱仪测量了"强光Ⅰ号"加速器产生的高能脉冲X射线不同衰减程度下的强度,求解得到了具有时间分辨的高能脉冲X射线能谱,时间跨度57ns,时间步长5ns,光子的最高能量3
用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱
在星光激光装置上利用波长为 0 3 5 μm的激光辐照金箔靶 ,在金箔靶背侧用透射光栅配X射线chargecoupleddevice系统测量了其发射的软X射线能谱 ,并与用亚千能谱仪测量的结果进行了比较 ,获得了比较一致的结果 .测量结果表明 ,0 17μm厚度的金箔靶背侧的X射线能谱偏离平衡辐射谱
用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱
利用最新研制的小型化透射光栅谱仪在"神光Ⅲ"原型实验装置上测量了激光注入金腔靶时激光注入口的X射线能谱,首次实现了在上极点附近对柱腔注入口辐射的测量,且实现对X射线的二维空间分辨和谱分辨的测量。改进后的透射光栅谱仪成像系统首次使用一种错位排布的狭缝阵列结构来解决因谱仪尺寸减小带来的能谱分辨问题,并同
NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究
为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能
HPGe测量连续硬X射线能谱的解谱方法研究
结合数值模拟得到的单能光子在HPGe探测器上能量响应函数,用改进的剥谱法对测量得到的连续硬X射线能谱进行解谱。扣除测量谱中康普顿、反散射等效应产生的计数对测量能谱的影响,得到了仅反映探测器对光电效应的能量响应的能谱。最后,通过效率修正,完成了测量谱到实际能谱的还原,为连续硬X射线能谱解析提供了可靠方
应用Geant4模拟放疗、诊断和防护线质下的X射线能谱
目的获得放疗、诊断和防护线质下的X射线能谱。方法应用Geant4对于不同的过滤片和管电压组合进行了蒙特卡洛模拟,得到了相应条件下的X射线能谱。模拟时考虑了电子与靶碰撞发生的康普顿效应、光电效应、瑞利散射、轫致辐射和电离等物理过程。结果得到了放疗、诊断和防护线质下的X射线能谱与平均能量值。结论应用Ge
X射线机重过滤X射线能谱的测量
本文报道了用 NaI(Tl)闪烁谱仪对国产 F34-Ⅰ型 X 射线机的重过滤 X 射线能谱的测量和解谱方法,给出一组测量结果,并对测量结果进行了比较和讨论。
质谱样本前处理步骤
生物样品基质复杂，且待测目标物多为内源性的化合物，如血清样本含有蛋白质、多肽、氨基酸、脂类、糖类、无机盐、维生素、有机酸、激素等。因此为了降低基质干扰、延长色谱柱使用寿命、防止系统堵塞损坏、提高检测灵敏度和特异性，往往需要对样品进行沉淀、萃取、净化、富集等前处理。 目前常用的样本前处理方法有：蛋白沉
质谱样本前处理步骤
生物样品基质复杂，且待测目标物多为内源性的化合物，如血清样本含有蛋白质、多肽、氨基酸、脂类、糖类、无机盐、维生素、有机酸、激素等。因此为了降低基质干扰、延长色谱柱使用寿命、防止系统堵塞损坏、提高检测灵敏度和特异性，往往需要对样品进行沉淀、萃取、净化、富集等前处理。 目前常用的样本前处理方法有：蛋白沉
用钬(－Holutn)玻璃的特征谱线测试
对于光谱带宽优于2nm-的扫描型的紫外可见分光光度计，经常有人用钬玻璃来测试波长准确度。钬玻璃有很多特征谱线，如241nm、279. 4nm、333. 7nm、360. 9nm、418. 7nm、536. 2nm等1 1根特征线（随着温度的不同，这些波长值有所变化。因此，使用者要注意经常标定
影响光谱仪谱线强度的因素
1、基体效应基体效应包括吸收效应及增强效应两种效应。吸收效应包括基体对入射X射线的吸收及对荧光X射线的吸收。因为用入射X射线激发样品时，它不只是作用于样品表面而且能穿透一定的厚度进入样品内部，同样，样品内部分析元素产生的荧光X射线，也必须穿过一定厚度的样品才能射出。显然，在穿透过程中，这两种X射线都
拉曼谱线为什么有很多峰
通常一种震动模式对应一个峰，有些震动模式拉曼不激活就看不到，如果受环境束缚会改变震动频率，峰会有所移动。一种物质就可能有很多个峰，但一个基团会有特征峰，根据这些峰的位置可以确定物质的成分。
扫描型光谱仪谱线峰值定位
更为准确的方式峰值定位的测量方式是借助光电测量系统与软件相结合进行工作。尽管上述方式能精密找到谱线，同时又能对波长移动进行校正。但是由于瞬时的热变化和机械变化，峰值偏差仍然略有存在，因此不能直接对波长波峰定位测量。用上述方法搜索所需的分析线后，在其谱线附近-0.025nm距离内，按光栅驱动发动机
拉曼谱线为什么有很多峰
通常一种震动模式对应一个峰,有些震动模式拉曼不激活就看不到,如果受环境束缚会改变震动频率,峰会有所移动.一种物质就可能有很多个峰,但一个基团会有特征峰,根据这些峰的位置可以确定物质的成分.随便找本书看看吧,这只是我的理解,可能也有不对.