基于模拟退火法的医用电子加速器6MVX射线能谱重建

根据测量的中轴百分深度剂量(PDD)以及Monte-Carlo模拟的单能光子PDD,研究基于模拟退火(SA)算法重建医用电子加速器6MV X射线能谱的方法。在优化过程中,选择60个能量间隔,对应不同的相对权重,选择目标函数为重建PDD(即各相对权重与Monte-Carlo模拟单能光子PDD的乘积)与实测PDD之间的相关系数,运用模拟退火进行优化得到的最优解就是加速器的能谱。为了验证算法的有效性,对加速器治疗头进行Monte-Carlo模拟,得到从治疗头出射的6 MV光子能谱。实验结果表明,计算能谱与Monte-Carlo模拟能谱在能谱形状、峰值能量方面一致;同时,根据重建能谱获得的PDD与实测PDD保持高度一致,均方根误差为1.56×10-4。上述实验结果表明,基于模拟退火算法重建光子能谱有效可靠。......阅读全文

X射线光电子能谱(-XPS)

XPS:X射线光电子能谱分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量,而EDS不能测价态,且测试的深度为几十纳米到几微米,基本上只能定性分析,不好做定量分析表面的元素含量。 原理:用X射线去辐射样品,使原子或分子

扫描电镜X射线能谱法在镀层分析中的应用

以测定人民币壹元和伍角硬币的镀层成分为例子来说明扫描电镜-X射线能谱法在镀层分析中的应用。这种无损、检测速率快的分析方法,必将在电镀工艺研究和开发等方面发挥更大的作用。 

扫描电镜X射线能谱法检验汽车轮胎橡胶

目的用扫描电子显微镜-X射线能谱法检验汽车轮胎橡胶样品中无机成分并进行比对分析。方法将汽车轮胎橡胶样品置于体视显微镜下,用无水乙醇清洗,用手术刀分离,将分离后的样品置样品台上,用扫描电子显微镜-X射线能谱法分析。结果同一汽车轮胎不同层次橡胶元素种类及含量有差异,不同种类汽车轮胎橡胶元素种类及含量有差

X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响

利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低

快脉冲硬X射线能谱测量实验研究

研究设计了以解析吸收片后的透射率来测量快脉冲硬X射线辐射场能谱的实验方法。对实验方案进行了理论模拟设计,并获得了解谱必要的理论数据,通过测量不同吸收片后光强的实验方法获得了透射系数,用微扰的数学方法完成了测量谱的解析,复现了测量位置处快脉冲硬X射线辐射场能谱,最后对该方法的可靠性进行了验证。 

氚钛靶的X射线能谱初步研究

采用超低能锗探测X射线技术和βIXS方法,研究了在Ar气、空气介质中钼材料中氚和氚钛靶中氚产生的X射线能谱。Ar气介质与空气介质相比,钼材料中氚产生的X射线能谱除了与空气介质在同样的峰位能量2.2keV位置产生谱峰外,还增加了一个峰位能量为3.0keV的谱峰。

12MVX射线能谱的实验测定

对于流体物理研究所的12MV脉冲X射线装置,其光子能谱是一个重要的物理参量。当用12MV脉冲射线作为相关实验研究的辐射源时,得到的实验结果的物理解释也需要足够的谱的数据。但由于高能高注量轫致辐射的光子谱难以用通常的在线式γ谱仪测量,所以用透射系数数值分析的方法对12MV-X射线谱作了初步的实验测定。

6MV-X-射线能谱的实验测定

用穿透系数数值分析的叠代最小二乘法对稳态加速器的X射线能谱进行了实验测定,编写了叠代最小二乘法的计算程序。 

X射线能谱测量的蒙特卡罗成像模拟

针对高能强流电子束轰击高Z靶产生的X射线的能谱测量问题,采用蒙特卡罗方法进行成像模拟研究。高能X射线能谱通常由对X射线经过衰减体的直穿透射率曲线进行解谱获得。设计了带多准直孔的截锥体模型,在单次模拟成像中获得完整的衰减透射率曲线,有效避免了散射光子对透射率曲线以及X射线能谱重建的影响。成像面采用非均

多层镜软X射线能谱仪的研制

软X射线能谱测量是ICF实验中的重要内容,测量意义重大。软X射线能诊断通过光谱分析,可以得到X射线总的通量,辐射温度,转换效率以及反照率。这些都是间接驱动黑腔热力学的重要参数。作为黑体腔特征诊断系统,软X射线能诊断系统测量黑体腔中发射出的X射线,可得出黑腔中辐射温度的时间变化图。针对目前常用的谱仪往

X射线能谱仪的工作原理和应用

  1 X射线能谱仪的工作原理  当电子枪发射的高能电子束进入样品后,与样品原子相互作用,原子内壳层电子被电离后,由较外层电子向内壳层跃迁产生具有特定能量的电磁辐射光子,即特征X射线。X射线能谱仪就是通过探测样品产生的特征X射线能量来确定其相对应的元素,并对其进行相应的定性、定量分析。  2 扫描电

Z箍缩软X射线连续能谱测量

诊断Z箍缩等离子体不同时刻的空间分布及状态是认识等离子体运动规律进而控制其箍缩过程以便加以利用的必经环节。在箍缩过程中,离子、电子和光子发生强烈的相互作用,探测出射的X光可不破坏等离子体原有状态而获取三者运动信息。通过测量X光能谱可以探知辐射场温度、离子密度、辐射冲击过程等等。受现有装置驱动能力的限

X射线能谱仪的使用原理及应用

在许多材料的研究与应用中,需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。其中,X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。   X射线能谱仪的简介   X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法是在

基于MARS系统的X射线能谱CT研究

X射线是19世纪末物理学的三大发现(X射线1895年、放射性1896年、电子1897年)之一,这一发现标志着现代物理学的诞生。由于X射线是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射,因而它具有很高的穿透本领,能穿透许多对可见光不透明的物质,基于此,可用来帮助人们进行医学诊断和治疗,或者用于工业等领域的非破

软X射线能谱定量测量技术研究

采用每毫米 10 0 0线的自支撑透射光栅配上背照射软X射线CCD(charge coupleddevice)组成了透射光栅谱仪 ,利用北京同步辐射装置 (BSRF) 3W1B光束线软X射线实验站上X射线源分别对透射光栅的衍射效率和软X射线CCD的响应灵敏度进行了准确的实验标定 ,获得了 15 0e

X射线能谱仪和波谱仪的优缺点

  能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。  目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪,其关键部件是Si(Li)检测器,即锂漂移硅固态检测器,它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。  Si(Li)能谱仪的优点  分析速度快  能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号,故可在几分

X射线光电子能谱仪原理

X射线光子的能量在1000~1500ev之间,不仅可使分子的价电子电离而且也可以把内层电子激发出来,内层电子的能级受分子环境的影响很小。 同一原子的内层电子结合能在不同分子中相差很小,故它是特征的。光子入射到固体表面激发出光电子,利用能量分析器对光电子进行分析的实验技术称为光电子能谱。 XPS的原理

X射线能谱仪和波谱仪的优缺点

能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。  目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪,其关键部件是Si(Li)检测器,即锂漂移硅固态检测器,它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。Si(Li)能谱仪的优点  分析速度快 能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号,故可在几分钟内分析和

美国KEVEX公司8000型x射线能谱仪

 8000型X射线能谱仪主要做能量分散X射线分析,可用于冶金、电子、地球化学勘探、化工、石油、生物医学等许多领域。仪器由X射线探测器,分析仪,小型计算机、大容量存贮器,显示器,键盘和软件构成。 

X射线能谱分析中谱线重叠问题

扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较

用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱

在星光激光装置上利用波长为 0 3 5 μm的激光辐照金箔靶 ,在金箔靶背侧用透射光栅配X射线chargecoupleddevice系统测量了其发射的软X射线能谱 ,并与用亚千能谱仪测量的结果进行了比较 ,获得了比较一致的结果 .测量结果表明 ,0 17μm厚度的金箔靶背侧的X射线能谱偏离平衡辐射谱

用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱

利用最新研制的小型化透射光栅谱仪在"神光Ⅲ"原型实验装置上测量了激光注入金腔靶时激光注入口的X射线能谱,首次实现了在上极点附近对柱腔注入口辐射的测量,且实现对X射线的二维空间分辨和谱分辨的测量。改进后的透射光栅谱仪成像系统首次使用一种错位排布的狭缝阵列结构来解决因谱仪尺寸减小带来的能谱分辨问题,并同

NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究

为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能

HPGe测量连续硬X射线能谱的解谱方法研究

结合数值模拟得到的单能光子在HPGe探测器上能量响应函数,用改进的剥谱法对测量得到的连续硬X射线能谱进行解谱。扣除测量谱中康普顿、反散射等效应产生的计数对测量能谱的影响,得到了仅反映探测器对光电效应的能量响应的能谱。最后,通过效率修正,完成了测量谱到实际能谱的还原,为连续硬X射线能谱解析提供了可靠方

X射线光电子能谱仪的发现

  1895年11月8日晚,德国维尔茨堡大学校长兼物理研究所所长伦琴在实验室研究阴极射线。  为了防止外界光线对放电管的影响,也为了不使管内可见光漏出管外,他把房间全部弄黑,创造伸手不见五指的环境,他还用黑色硬纸给放电管做了个封套。为了检查封套是否漏光,他给放电管接上电源,发现没有漏光。但他切断电源

X射线光电子能谱仪的介绍

X-射线光电子能谱仪,是一种表面分析技术,主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线,如Al Ka =1486.6eV,与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能(K.E),根据B.E=hv-K.E-W.F,进而得到激发电子的结合能(

X射线光电子能谱仪的介绍

X-射线光电子能谱仪,是一种表面分析技术,主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线,如Al Ka =1486.6eV,与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能(K.E),根据B.E=hv-K.E-W.F,进而得到激发电子的结合能(

X射线光电子能谱仪的简介

  X-射线光电子能谱仪,是一种表面分析技术,主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线,如Al Ka =1486.6eV,与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能(K.E),根据B.E=hv-K.E-W.F,进而得到激发电子的结合

X射线光电子能谱仪的简介

X-射线光电子能谱仪,是一种表面分析技术,主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线,如Al Ka =1486.6eV,与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能(K.E),根据B.E=hv-K.E-W.F,进而得到激发电子的结合能(

HPGe测量连续硬X射线能谱的方法研究

采用数值模拟与实验测量相结合的方法,完成了探测系统刻度,得到了该探测器对单能光子的能量全响应函数,在此基础上探索出改进的剥谱法,对测量得到的连续硬X射线能谱进行解析,扣除了测量谱中非光电效应对每道计数的贡献,复现了测量位置处的实际能谱,并对该能谱测量方法进行了误差分析,提出了进一步完善措施。