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最常用的,人们一般采用外来污染碳的C1s 作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ) 来矫正谱中其他元素的结合能。具体操作:1) 求取荷电校正值:C 单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)- 实际测得的C 单质峰位= 荷电校正值Δ;2) 采用荷电校正值对其他谱图进行校正:将要分析元素的XPS 图谱的结合能加上Δ,即得到校正后的峰位(整个过程中XPS 谱图强度不变)。将校正后的峰位和强度作图得到的就是校正后的XPS 谱图。......阅读全文
最常用的,人们一般采用外来污染碳的C1s 作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ) 来矫正谱中其他元素的结合能。具体操作:1) 求取荷电校正值:C 单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)- 实际测得的C 单质峰位= 荷电校正值Δ;2) 采用荷电校正值对其
最常用的，人们一般采用外来污染碳的C1s作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ)来矫正谱中其他元素的结合能。具体操作：1) 求取荷电校正值：C单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ；2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正
当用XPS 测量绝缘体或者半导体时,由于光电子的连续发射而得不到电子补充,使得样品表面出现电子亏损,这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs,对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移,使得测量的结合能偏离真实值,造成测试结果的偏差。在用XPS 测量绝缘体或者
当用XPS测量绝缘体或者半导体时，由于光电子的连续发射而得不到电子补充，使得样品表面出现电子亏损，这种现象称为“荷电效应”。荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs，对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移，使得测量的结合能偏离真实值，造成测试结果的偏差。在用XPS测量绝缘体或者半导
对于绝缘体样品或导电性能不好的样品,光电离后将在表面积累正电荷,在表面区内形成附加势垒,会使出射光电子的动能减小,亦即荷电效应的结果,使得测得光电子的结合能比正常的要高。样品荷电问题非常复杂,一般难以用某一种方法彻底消除。在实际的XPS分析中,一般采用内标法进行校准。最常用的方法是用真空系统中最常见
对于导电性能不好的样品如半导体材料,绝缘体薄膜,在电子束的作用下,其表面会产生一定的负电荷积累,这就是俄歇电子能谱中的荷电效应.样品表面荷电相当于给表面自由的俄歇电子增加了一定的额外电压, 使得测得的俄歇动能比正常的要高.在俄歇电子能谱中,由于电子束的束流密度很高,样品荷电是一个很严重的问题.有些导
在扫描电镜(SEM)中,通过记录和实时处理电子束辐照样品过程中产生的吸收电流La,评价非导电样品的荷电效应.对于非导电样品,La的绝对值很小,且变化幅度很大,这是电荷在非导电样品表面被捕获、积累和释放过程的直接反映.此外,La还可用来评价荷电补偿(改变环境压力、改变成像参数及对样品表面进行导电处理
为了精--确使用精密仪器，应进行一些校正工作，例如流量计和工业pH计。而且校正工作也应该非常仔细地完成，那么这个过程应该如何进行？ 1.如果仪器连续使用，则应每天校准一次。 2.拔下电极插座上的短路插头，并用复合电极更换；如果不需要更换，则插入电极转换器插头。 3
拉力计跟天平一样也要定期对它进行校正，确保测量的准确性，下面我们就来说说如何对弹簧拉力计校正： 1.在竖直方向测量向下的力时弹簧拉力计的校零,在竖直方向上，弹簧拉力计向上拉物体，测量物体的重力或其它测力时，应手拿弹簧拉力计的外壳，使弹簧拉力计的弹簧在竖直方向上受钩和金属杆的重力作用下自然伸
任何机械设备使用旧了，在精度和测试结果上面，难免会出出现不准确的现象。拉力试验机也不例外，现在很多工厂实验室都会购买单柱或者双柱的拉力试验机，一般我们规定自己内部是一个月进行校正一次。一年之后要请第三方计量机构进行校正。 今天给大家介绍拉力试验机如何进行内部校正，具体分为两个部分：