标准委发布年度第26号公告，涉及AAS、ICP、IR和TEM等
分析测试百科网讯 近日，国家标准化管理委员会发布关于批准发布《智慧城市 技术参考模型》等425项国家标准的公告，据统计，此次发布的标准涉及电位滴定法、分光光度法、卡尔费休法、光电发射光谱法、AAS、ICP、IR和TEM等，现付全文如下：中华人民共和国国家标准公告2017年第26号关于批准发布《智慧城市 技术参考模型》等425项国家标准的公告 国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会批准《智慧城市 技术参考模型》等425项国家标准，现予以公布（见附件）。 国家质检总局 国家标准委 2017年10月14日 附件文件下载 : 2017年第26号......阅读全文
美国SPEX－元素分析标物之王－助力完美分析实验
【导言】 美国SPEX CertiPrep公司是一家有60多年生产经验的专业标准溶液的生产厂家，SPEX公司通过了UL-DQS认证的国际ISO9001：2008质量保证体系和A2LA美国实验室认可协会认可的ISO/IEC17025:2005和ISO/IECGuide34:2009规范，满足生产
Leister－Process－Tech.收购IR－Microsystems
Leister Process Technologies宣布收购瑞士传感器公司IR Microsystems SA，该公司是用于气体检测单元的二极管激发器的优秀供应商。此次收购在Leister公司长期发展策略上是一个重要的里程碑，公司的长期发展战略集中在传感器、光学和激光技术。 “以IR M
HPLC、GC、IR、UV－什么意思
HPLC，即高效液相色谱法，是以液体为流动相，采用高压输液系统，将具有不同极性的单一溶剂或不同比例的混合溶剂、缓冲液等流动相泵入装有固定相的色谱柱，在柱内各成分被分离后，进入检测器进行检测，从而实现对试样的分析。GC，即气相色谱，可分为气固色谱和气液色谱。气固色谱，流动相是气体，固定相是固体物质；气
市场总局发布国家标准修改公告－涉及3种物质4项检测方法
分析测试百科网讯 近日，国家市场监督管理总局批准《石油产品术语》等177项国家标准和9项国家标准修改单。据统计，本次标准中共有四项标准涉及使用AAS、EDS、ICP-OES和IC。具体统计如下： #aabbccdd1 td{border:1px solid #666666}
有哪些常见的用于优化阳离子型絮凝剂处理效果评价标准的检测技术？
以下是一些常见的用于优化阳离子型絮凝剂处理效果评价标准的检测技术：原子吸收光谱（AAS）和原子发射光谱（AES）：用于准确测定废水中各种金属离子的含量。高效液相色谱（HPLC）：能够分离和定量分析废水中的有机污染物，如多环芳烃、农药、药物等。气相色谱 - 质谱联用（GC-MS）：对挥发性和半挥发性有
原子吸收光谱法和ICP―AES测定矿物中铷的比较探索
摘 要：铷在矿物中是一种稀有的碱性元素，它在矿物中的含量微小，对于这种微量元素的含量测定，对测定方法的精密度和准确性要求很高。本文分别从检出限，测量范围，精密度，准确度以及回收率对原子吸收光谱法和ICP-AES两种方法测定矿物中铷的含量进行了比较探索，结果证明，原子吸收光谱法测定矿物中的铷时其检
土壤重金属检测仪的相关检测仪器－简介
土壤中固体的基本组成主要是各种硅铝酸盐，各种微量元素含量差别随土壤形成条件和环境等差异很大，常见的用于做土壤金属分析的仪器主要是：原子吸收分光光度计（AAS），X射线荧光光谱仪（XRF）和电感耦合等离子体分析（ICP）。 原子吸收分光光度法是土壤萃取物分析所选择的国家标准方法，精密度非常高。石
乳品国家标准“重金属污染物”限量要求及检测方案
我国乳品标准有66项，包括产品标准及检验标准。产品标准中对乳品中某些“重金属污染物”含量有明确的限量要求，并针对这些限量要求发布了一系列“重金属污染物”含量检验的国家标准。 国家标准GB 2762-2005《食品中污染物限量》对鲜乳中汞元素的限量要求为0.01mg/kg，铬元素的限量要求为
工信部发布161项行业标准公示－5项涉及使用AAS、ICPOES等
分析测试百科网讯 近日，工信部发布了《161项机械、汽车、制药装备、船舶、化工、石化、冶金、有色、建材、轻工、包装行业标准报批公示》。据分析测试百科网统计，在这份公示中，共有5项新增标准涉及使用AAS、ICP-OES和电位滴定分析方法，另有3项为新增物质的试验方法、检验规则等。具体统
XRF法测试化探样品中24种元素的研究与应用v
随着地球勘查工作的发展和区域地球化学调查工作的启动，对地质实验测试分析工作提出很多针对性要求，同时也面临着复杂的分析检测任务。地质实验室分测试析的对象和任务要求分析测试方法具有检出限低、检测范围宽、较高的准确度和精密度。地球化学样品的成分分析方法有传统的化学分析法、电感耦合等离子体原子发射光谱法（I
TEM操作程序
操作程序1)开机准备(1) 合上总电源闸刀，开启电子交流稳压器，电压指示应为220V。开启循环水，温度指示应为15-20℃。(2) 开启主机真空开关。(3) 约20分钟后，待高真空指示灯及照相室指示灯亮。2)工作程序(1)开启主机电源开关，待荧光屏显示操作数据后再进行下一步。(2)逐级加高压致所需电
TEM衍射测晶体
方法：有三种指数直接标定法、比值法(偿试－校核法)、标准衍射图法选择靠近中心透射斑且不在一条直线上的斑点，测量它们的R，利用R2比值的递增规律确定点阵类型和这几个斑点所属的晶面族指数(hkl)等。(1)、指数直接标定法：(已知样品和相机 常数L?)可分别计算产生这几个斑点的晶面间距d=L? /R并与
TEM样品的要求
根据透射电镜的成像原理可知，电子束需要穿透试样才能成像，这就要求被观察的样品对于入射电子束是“透明的”。电子束对薄膜样品的穿透能力和加速电压有关。当电子束的加速电压为200kV时，就可以穿透厚度为500nm的铁膜，如果加速电压增至l000kV，则可以穿透厚度大致为1500nm的铁膜。从图像分析的角度
什么是TEM测定
TEM = Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜，简称：透射电镜。透射电镜是研究材料的重要仪器之一，在纳米技术的基础研究及开发应用中也不例外。但是用透射电镜研究材料微观结构时，试样必须是透射电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。单体的纳米颗粒或纳米纤维一般是
TEM观察记录系统
观察记录系统观察记录系统主要由荧光屏和照相底片室组成。因为人眼不能直接看到电子射线，所以必须利用电子在荧光屏上激发出可见光成像来进行观察。若需要记录图象，可移开荧光屏，使置于荧光屏下的照相底片暴光成像，再经冲洗，即可得到一幅所需的照片，以便永久保存。电镜结构中，电子光学系统是电镜的主体。若将电镜的电
TEM的相衬技术
相衬技术 晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究，这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源的时候，观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏幕上的电子的数量，对相衬图像的识别更加复杂。然而，这种成像方法的优势在于可以提供有关
TEM块状样品制备
块状样品制备电解减薄方法用于金属和合金试样的制备。（1）块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片；（2）用金刚砂纸机械研磨到约120~150μm厚；（3）抛光研磨到约100μm厚；（4）冲成Ф3mm 的圆片；（5）选择合适的电解液和双喷电解仪的工作条件，将Ф3mm 的圆片中心减薄出小孔；（6）迅速取出减薄
Transmission－Electron－Microscope－(TEM)
所谓TEM，就是一个放大镜叠加了一台照相机。这台放大镜的放大倍数比较高，可高达一百万倍。当然，抛开分辨率谈放大倍数都是耍流氓，那么，TEM的分辨率有多高呢？答案是 it depends。一般来说，TEM的分辨率要在1到2个纳米，STEM更高，但是STEM得成像技术类似于SEM，但用的不是二次电子。我
高分辨TEM答疑
1.TEM-EDS与XPS测试时采样深度的差别? XPS采样深度为2-5nm，我想知道EDS采样深度大约1um。 2.Z衬度像是利用STEM的高角度暗场探测器成像，即HAADF。能否利用普通ADF得到Z衬度像? 原子分辨率STEM并不是HAADF的ZL，ADF或明场探头也可以做到，只是可
高分辨TEM答疑
1.TEM-EDS与XPS测试时采样深度的差别? XPS采样深度为2-5nm，我想知道EDS采样深度大约1um。 1.jpg 2.Z衬度像是利用STEM的高角度暗场探测器成像，即HAADF。能否利用普通ADF得到Z衬度像? 原子分辨率STEM并不
什么是TEM测定
TEM = Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜，简称：透射电镜。透射电镜是研究材料的重要仪器之一，在纳米技术的基础研究及开发应用中也不例外。但是用透射电镜研究材料微观结构时，试样必须是透射电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。单体的纳米颗粒或纳米纤维一般是
什么是TEM测定
TEM = Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜，简称：透射电镜。透射电镜是研究材料的重要仪器之一，在纳米技术的基础研究及开发应用中也不例外。但是用透射电镜研究材料微观结构时，试样必须是透射电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。单体的纳米颗粒或纳米纤维一般是
TEM的载网
载网透射电镜用载网均为直径为3mm、厚度为10-30μm的圆片，适用于所有厂家的各种型号的透射电镜，其主要作用是负载样品且在透射电镜观察时电子束能透过样品，因此基本为网格结构，表面未负载膜的载网称为“裸网”，按照不同的分类方法，主要包括：1)按孔的形状结构：如图1所示，一般分为圆孔裸网、方孔裸网等,
电子能量损失TEM
电子能量损失 通过使用采用电子能量损失光谱学这种先进技术的光谱仪，适当的电子可以根据他们的电压被分离出来。这些设备允许选择具有特定能量的电子，由于电子带有的电荷相同，特定能量也就意味着特定的电压。这样，这些特定能量的电子可以与样品发生特定的影响。例如，样品中不同的元素可以导致射出样品的
什么是TEM测定
TEM = Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜，简称：透射电镜。透射电镜是研究材料的重要仪器之一，在纳米技术的基础研究及开发应用中也不例外。但是用透射电镜研究材料微观结构时，试样必须是透射电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。单体的纳米颗粒或纳米纤维一般是
TEM观察室
观察室 透射电镜的最终成像结果，显现在观察室内的荧光屏上，观察室处于投影镜下，空间较大，开有1～3个铅玻璃窗，可供操作者从外部观察分析用。对铅玻璃的要求是既有良好的透光特性，又能阻断X线散射和其他有害射线的逸出，还要能可靠地耐受极高的压力差以隔离真空。 由于电子束的成像波
土壤重金属检测仪的重金属污染
土壤中固体的基本组成主要是各种硅铝酸盐，各种微量元素含量差别随土壤形成条件和环境等差异很大，常见的用于做土壤金属分析的仪器主要是:原子吸收分光光度计(AAS)，X射线荧光光谱仪(XRF)和电感耦合等离子体分析(ICP)重金属污染土壤无机污染物中以重金属比较突出，主要是由于重金属不能为土壤微生物所分解
气溶胶光度计测定新冠病毒在手术室等洁净空间检漏
ICP光谱仪即电感耦合等离子体发射光谱仪，简单来算，就是以电感耦合高频等离子体为激发光源，利用每种元素的原子或离子发射特征光谱来判断物质的组成，而进行元素的定性与定量分析仪器。 全谱直读ICP可以检测的元素范围B～U，原子吸收同样是这个范围，二者各自的优势在哪些元素的检测上? ICP
分析全谱直读ICP与原子吸收的不同之处
ICP光谱仪即电感耦合等离子体发射光谱仪，简单来算，就是以电感耦合高频等离子体为激发光源，利用每种元素的原子或离子发射特征光谱来判断物质的组成，而进行元素的定性与定量分析仪器。 全谱直读ICP可以检测的元素范围B～U，原子吸收同样是这个范围，二者各自的优势在哪些元素的检测上? ICP
常用实验仪器名称中英文对照表（一）
仪器中文名称 仪器英文名称(缩写) 原子发射光谱仪 Atomic Emission Spectrometer(AES) 电感偶合等离子体发射光谱仪 Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer(ICP) 直流等离子体发射光谱仪 Dir