免疫电镜(Immuneelectronmicroscopy)原理
（一） 原理 免疫电镜技术是免疫化学技术与电镜技术结合的产物，是在超微结构水平研究和观察抗原、抗体结合定位的一种方法学。它主要分为两大类：一类是免疫凝集电镜技术，即采用抗原抗体凝集反应后，再经负染色直接在电镜下观察；另一类则是免疫电镜定位技术。该项技术是利用带有特殊标记的抗体与相应抗原相结合，在电子显微镜下观察，由于标准物形成一定的电子密度而指示出相应抗原所在的部位。免疫电镜的应用，使得抗原和抗体定位的研究进入到亚细胞的水平。（二）影响免疫电镜的一些因素1．标记物 用于电镜观察的标记物有三类：一类是电子密度致密的标记物，如铁蛋白、辣根过氧化物酶等。另一类则是放射性同位素，如135I、35S、32P、14C、3H等，第三类则是有独特形状的标记物，如血兰蛋白、噬菌体等。对标记物的要求是：具有特定的形状、不影响抗原抗体复合物的特性与形状。目前用于免疫电镜的标记物主要是铁蛋白和HRP。两者各有......阅读全文
ELECTRON－MICROSCOPY
E.M. PROCESSING SCHEDULE - EPOXY RESINFix tissue in 2.5% glutaraldehyde in 0.1M sodium cacodylate buffer at 4oC, for a minimum of 4 hours. Tissue shou
Transmission－Electron－Microscope－(TEM)
所谓TEM，就是一个放大镜叠加了一台照相机。这台放大镜的放大倍数比较高，可高达一百万倍。当然，抛开分辨率谈放大倍数都是耍流氓，那么，TEM的分辨率有多高呢？答案是 it depends。一般来说，TEM的分辨率要在1到2个纳米，STEM更高，但是STEM得成像技术类似于SEM，但用的不是二次电子。我
Generic－Fixation－for－Electron－Microscopy
Generic Fixation for Electron MicroscopyThe best way to fix a sample for electron microscopy is to follow a procedure developed and proven by others.
Use－of－Transmission－Electron－Microscopy
Use of Transmission Electron MicroscopyOverviewA protocol describing the use of Zeiss EM9-S transmission electron microscopy is presented. MaterialZe
Tetrahymena－Fixation－for－Transmission－Electron－Microscopy
Tetrahymena Fixation for Transmission Electron MicroscopyPellet Tetrahymena cells in a clinical centrifuge.OPTIONAL: Suspend cells in HNMK (50 mM HEPE
Fixation－and－Embedding－of－Microtubules－for－Electron－Microscopy
(This procedure can also be used for virtually any material that must be pelleted prior to fixation and thin sectioning)Primary fix:2% glutaraldehyde
Chlamydomonas－Fixation－for－Transmission－Electron－Microscopy
Chlamydomonas Fixation for Transmission Electron MicroscopySolutions:Chlamydomonas culture medium + 2% glutaraldehyde (5 ml medium + 0.9 ml 25% glutar
Specimen－Preparation－for－Scanning－Electron－Microscopy
Specimen Preparation for Scanning Electron MicroscopyWe recommend consultation with one of the lab directors before preparing specimens. The methods p
Negative－Stain－Electron－Microscopy－of－Microtubules
Negative staining is a rapid, qualitative method for analyzing microtubule structure at the EM level. Because negative staining involves deposition of
Preparation－Of－Ciliated－Protozoa－For－Scanning－Electron－Microscopy
Preparation Of Ciliated Protozoa For Scanning Electron MicroscopyGeneral notes: The same procedures are used to fix and stain cells for SEM and for TE
免疫电镜(Immune－electron－microscopy)原理
（一） 原理免疫电镜技术是免疫化学技术与电镜技术结合的产物，是在超微结构水平研究和观察抗原、抗体结合定位的一种方法学。它主要分为两大类：一类是免疫凝集电镜技术，即采用抗原抗体凝集反应后，再经负染色直接在电镜下观察；另一类则是免疫电镜定位技术。该项技术是利用带有特殊标记的抗体与相应抗原相结合，在电子
EPON－resin－mixture－for－transmission－electron－microscopy
EPON resin mixture for transmission electron microscopyFor Epon WPE 153:~120 ml~60 ml~30 mlMix A:Embed 81244 ml22.1 ml11.1 mlDDSA67 ml33.3 ml16.7 mlMi
免疫电镜(Immune－electron－microscopy)原理
（一） 原理 免疫电镜技术是免疫化学技术与电镜技术结合的产物，是在超微结构水平研究和观察抗原、抗体结合定位的一种方法学。它主要分为两大类：一类是免疫凝集电镜技术，即采用抗原抗体凝集反应后，再经负染色直接在电镜下观察；另一类则是免疫电镜定位技术。该项技术是利用带有特殊标记的抗体与相应抗原相结合，在电
EBSD分析（electron－backscatter－diffraction）是指
EBSD即电子背散射衍射。EBSD的原理始于20世纪50年代，技术问世于80年代。EBSD是扫描电子显微镜（SEM）的一个标准分析附件，但大大拓宽了扫描电子显微镜进行微观分析的功能。它可以与SEM的其他功能（包括EDS等配件）结合起来，原位成像、成分分析、大样品分析、粗糙表面成像等，克服了传统分析方
光合电子传递－（photosynthetic－electron－transport）
光合作用中，受光激发推动的电子从 H2 O到辅酶Ⅱ（ NADP ）的传递过程。光合色素吸收光能后，把能量聚集到反应中心——一种特殊状态的叶绿素 a分子，引起电荷分离和光化学反应。一方面将水氧化，放出氧气；另一方面把电子传递给辅酶Ⅱ（ NADP ），将它还原成 NADPH，其间经过一系列中间（电
俄歇电子能谱学（Auger－electron－spectroscopy），简称AES
俄歇电子能谱基本原理：入射电子束和物质作用，可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量，可能以X光的形式放出，即产生特征X射线，也可能又使核外另一电子激发成为自由电子，这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射：特征X射线或俄歇电子。原子序
电子捕获检测器(electron－capture－detector,ECD)原理
检测室内的放射源放出β-射线粒子(初级电子)，与通过检测室的载气碰撞产生次级电子和正离子，在电场作用下，分别向与自己极性相反的电极运动，形成检测室本底电流，当具有负电性的组分(即能捕获电子的组分)进入检测室后，捕获了检测室内的电子，变成带负电荷的离子，由于电子被组分捕获，使得检测室本底电流减少，
电子捕获检测器(electron－capture－detector,ECD)结构
检测室内有正负电极与β-射线源，目前所使用的最佳的放射源是Ni63，在衰变中没有γ辐射，产生的β射线能量低，半衰期长，可用到400℃。
透射电子显微镜(Transmission－electron－microscopy,－TEM)
透射电镜具有很高的空间分辩能力，特别适合纳米粉体材料的分析。其特点是样品使用量少，不仅可以获得样品的形貌，颗粒大小，分布以还可以获得特定区域的元素组成及物相结构信息。透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析，但颗粒大小应小于300nm，否则电子束就不能透过了。对块体样品的分析，透射电镜一般需要对样品进
显微镜技术——电子显微技术
The Transmission Electron Microscope (TEM) (HEI)An explanation of how the TEM works. TEM Specimen Preparation (HEI) Serial Sectioning (Walter Steffe
常用无机材料分析方法
Elemental Analysis 元素分析Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光谱Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇电子能谱Electron probe microanalysis (EPMA) 电子探针微分析Electro
如何通过透射电子显微镜（TEM）初步确定待测样品
束1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围最小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差的限制。现在前沿的技术是纳米电子微区衍射(Nanobea
透射电子显微镜是如何确定待测样品属于某种物质的？
在透射电子显微镜下，可以通过以下几种方式综合判断样品：1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围zui小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差
透射电子显微镜是如何确定待测样品属于某种物质的？
在透射电子显微镜下，可以通过以下几种方式综合判断样品：1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围zui小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差
透射电子显微镜是如何确定待测样品属于某种物质的？
在透射电子显微镜下，可以通过以下几种方式综合判断样品：1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围zui小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差
Malateaspartate－shuttle
Most of the energy derived from the oxidation of glucose is not extracted directly as ATP, but as reduced NADH that transfers high-energy electrons to
电子传递的定义
电子传递，electron transfer，electron transport是指生物体氧化还原反应中的电子移动。
电子天平准确度等级是怎样划分的
电子(Electron)天平按称量精度分为以下几类：1、精密(precise)电子(Electron)天平（balance）准确度级别为8级的电子天平的总称为精密电子天平。2、分析天平（balance）电子(Electron)分析(Analyse)天平，是常量天平、半微量天平、微量天平和超微量天平的
如何选择电镜：不妨看看这75篇重要文献
这是一篇有关电子显微镜的综述，是根据75篇发表使用实验的文章归纳的。可以帮助读者找到最适合的电子显微镜。日立高新Hitachi High Technologies America为研究碳酸酐酶可通过spidroin蛋白末端功能域促进蜘蛛丝的形成，采用Hitachi的H7100 electr
扫描式电子显微镜电子枪种类
扫描式，其系统设计由上而下，由电子枪 (Electron Gun) 发射电子束，经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后，通过一组控制电子束的扫描线圈，再透过物镜 (Objective