SpecimenPreparationforScanningElectronMicroscopy
Specimen Preparation for Scanning Electron MicroscopyWe recommend consultation with one of the lab directors before preparing specimens. The methods presented here provide an overview of preparation techniques for a variety of specimens.Conductive Specimens (such as metallic objects):Usually, these specimens do not have to be sputter coated. Simply mount the specimen on a SEM stub using conductive paint or putty......阅读全文
Specimen－Preparation－for－Scanning－Electron－Microscopy
Specimen Preparation for Scanning Electron MicroscopyWe recommend consultation with one of the lab directors before preparing specimens. The methods p
Preparation－Of－Ciliated－Protozoa－For－Scanning－Electron－Microscopy
Preparation Of Ciliated Protozoa For Scanning Electron MicroscopyGeneral notes: The same procedures are used to fix and stain cells for SEM and for TE
显微镜技术——电子显微技术
The Transmission Electron Microscope (TEM) (HEI)An explanation of how the TEM works. TEM Specimen Preparation (HEI) Serial Sectioning (Walter Steffe
ELECTRON－MICROSCOPY
E.M. PROCESSING SCHEDULE - EPOXY RESINFix tissue in 2.5% glutaraldehyde in 0.1M sodium cacodylate buffer at 4oC, for a minimum of 4 hours. Tissue shou
Generic－Fixation－for－Electron－Microscopy
Generic Fixation for Electron MicroscopyThe best way to fix a sample for electron microscopy is to follow a procedure developed and proven by others.
Use－of－Transmission－Electron－Microscopy
Use of Transmission Electron MicroscopyOverviewA protocol describing the use of Zeiss EM9-S transmission electron microscopy is presented. MaterialZe
Chlamydomonas－Fixation－for－Transmission－Electron－Microscopy
Chlamydomonas Fixation for Transmission Electron MicroscopySolutions:Chlamydomonas culture medium + 2% glutaraldehyde (5 ml medium + 0.9 ml 25% glutar
Tetrahymena－Fixation－for－Transmission－Electron－Microscopy
Tetrahymena Fixation for Transmission Electron MicroscopyPellet Tetrahymena cells in a clinical centrifuge.OPTIONAL: Suspend cells in HNMK (50 mM HEPE
Negative－Stain－Electron－Microscopy－of－Microtubules
Negative staining is a rapid, qualitative method for analyzing microtubule structure at the EM level. Because negative staining involves deposition of
Fixation－and－Embedding－of－Microtubules－for－Electron－Microscopy
(This procedure can also be used for virtually any material that must be pelleted prior to fixation and thin sectioning)Primary fix:2% glutaraldehyde
TEM－Specimen－Preparation：Preparative－Techniques－for－the－TEM
For routine transmission electron microscopy (TEM), it is generally accepted that specimens should be thin, dry and contain molecules which diffract e
免疫电镜(Immune－electron－microscopy)原理
（一） 原理免疫电镜技术是免疫化学技术与电镜技术结合的产物，是在超微结构水平研究和观察抗原、抗体结合定位的一种方法学。它主要分为两大类：一类是免疫凝集电镜技术，即采用抗原抗体凝集反应后，再经负染色直接在电镜下观察；另一类则是免疫电镜定位技术。该项技术是利用带有特殊标记的抗体与相应抗原相结合，在电子
免疫电镜(Immune－electron－microscopy)原理
（一） 原理 免疫电镜技术是免疫化学技术与电镜技术结合的产物，是在超微结构水平研究和观察抗原、抗体结合定位的一种方法学。它主要分为两大类：一类是免疫凝集电镜技术，即采用抗原抗体凝集反应后，再经负染色直接在电镜下观察；另一类则是免疫电镜定位技术。该项技术是利用带有特殊标记的抗体与相应抗原相结合，在电
EPON－resin－mixture－for－transmission－electron－microscopy
EPON resin mixture for transmission electron microscopyFor Epon WPE 153:~120 ml~60 ml~30 mlMix A:Embed 81244 ml22.1 ml11.1 mlDDSA67 ml33.3 ml16.7 mlMi
透射电子显微镜(Transmission－electron－microscopy,－TEM)
透射电镜具有很高的空间分辩能力，特别适合纳米粉体材料的分析。其特点是样品使用量少，不仅可以获得样品的形貌，颗粒大小，分布以还可以获得特定区域的元素组成及物相结构信息。透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析，但颗粒大小应小于300nm，否则电子束就不能透过了。对块体样品的分析，透射电镜一般需要对样品进
常用无机材料分析方法
Elemental Analysis 元素分析Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光谱Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇电子能谱Electron probe microanalysis (EPMA) 电子探针微分析Electro
形貌分析
形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌，材料的颗粒度，及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。形貌分析方法主要有：光学显微镜(Opticalmicroscopy,OM)、扫描电子显微镜(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射电子显微镜(Transmissi
DAPI－Counterstaining－Protocols
实验概要The blue-fluorescent DAPI nucleic acid stain preferentially stains dsDNA; it appears to associate with AT clusters in the minor groove. Binding
电子探针仪与扫描电镜有何异同？
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形
Microscopy－with－Oil－Immersion
Microscopy with Oil ImmersionPrincipleWhen light passes from a material of one refractive index to material of another, as from glass to air or from a
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电镜有何异同
二者最主要的不同是其工作原理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。 电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，
Isolation－of－kidney－glomeruli－from－mice
Isolation of mice glomeruli1. Mice were anesthetized by an intraperitoneal injection of Avertin (2,2,2-tribromoethyl and tertiary amyl alcohol; 17
扫描透射电子显微镜的技术特点
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
扫描透射电子显微镜简介
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
扫描透射电子显微镜的功能介绍
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
stem是什么仪器？
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。