x荧光光谱仪的分析对象主要有哪些
X荧光光谱仪是由X射线制作，元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z-s)-2 式中K和S是常数。 主要用途：仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm。 x荧光光谱仪 指标信息：1.发射源是Rh靶X光管，大......阅读全文
x荧光光谱仪的分析对象主要有哪些
X荧光光谱仪是由X射线制作，元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z-s)-2 式中K和S是常数。 主要用途：仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好
x荧光光谱仪的分析对象
x荧光光谱仪的分析对象主要有各种磁性材料、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，x荧光光谱仪还可以对各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，x荧光光谱仪检测的结果接近于定量分析的准确度。X荧光光谱仪分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。x荧光光谱仪适合用于课题研
X荧光光谱仪拥有哪些特点？
1.操作界面简单，测量方便，快捷。2.采用独特双峰位快速自动校准。3.能够检测卤族元素的精确含量。4.无损检测，在无标准样品时亦可准确分析。5.同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位。6.设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。7.X荧光光谱仪采用127±5eV的高精度分辨率，保证数据测量的
X荧光光谱仪的优点有哪些
X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品
X荧光光谱仪的优点有哪些
X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品
X荧光光谱仪的优点有哪些？
1、 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特
X荧光光谱仪的优点有哪些
X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品
X荧光光谱仪分析中的干扰分析
1、在X荧光光谱仪分析中，某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。基本参数方程要求使用没有受到谱线重叠影响的净强度。在这些方程中包含某些经验的修正。 2、在X射线光谱仪分析中，在某些元素间可能存在元素间干扰或者基体效应。来弥补这些效应的经验方式就是制备一系列校正标样的曲线，浓度范围涵盖要分析的范围。此
X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律
X荧光光谱仪能够对生活中不同元素形成的各式各样的导体及非导体材料进行分析。那么X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律呢？ 1、莫塞莱定律 莫塞莱定律是反应各个元素X射线特征光谱规律的一种实验定律，依靠莫塞莱定律进行分析的方式也是可靠的方法之一。X荧光光谱仪在对材料进行分析时也会使用到这一定
X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律？
1、莫塞莱定律 台式光谱仪发生故障时，尤其是发生比较复杂的综合性故障，对于解决这种故障应该先从比较容易解决的故障入手。 2、布拉格定律 该定律是一种可以反映晶体衍射基本关系的理论推导定律，同时，布拉格定律是波长色散型X荧光光谱仪所使用的分光原理，在进行材料检测分析的时候能够让不同元素不同波长的
X射线荧光光谱仪原理分析
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
X荧光光谱仪分析技术误区
不管任何分析仪器，分析技术是获得正确结果的保证。分析技术贯穿于仪器应用的全过程。分析方法的选择必须满足仪器应用的需要。 误区1：标样制备太麻烦，最好用无标样法。 X荧光光谱仪分析法和其它大部分分析仪器一样，是相对分析法。在X荧光光谱仪分析中，测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样
分析X荧光光谱仪的测试方法
X荧光光谱仪是目前zui常用的分析仪器之一，下面来了解下关于X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱仪样品制备 进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
X荧光光谱仪对人体有哪些危害
应该是使用X-射线（X-Ray）的机器吧，在慢性小剂量连续照射的情况下，会造成慢性放射损伤，主要由于X线职业人员平日不注意防护，较长时间接受超允许剂量所引起的。电离辐射不仅能引起全身性急慢性放射损伤，而且也能引起局部的皮肤损害。在发现X线后第二年，X线管的制造者格鲁贝的手就发生了特异性皮炎。1899
X射线荧光光谱仪的产品原理有哪些？
X射线荧光光谱仪的产品原理有哪些？X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被
X射线荧光光谱仪X射线防护系统的故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合
X荧光光谱仪的优劣势分析
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线荧光光谱仪的分析原理概括
X射线荧光光谱仪的分析原理概括X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元
分析X射线荧光光谱仪的产品特点
X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪分析误差的来源
X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1． 采样误差：非均质材料样品的代表性2． 样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3． 不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4． 仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5． 不适当的
X荧光光谱仪分析中的误差来源
X射线荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差，提高仪器的分析准确度成为重要的课题。 X射线荧光分析过程中产生误差
X荧光光谱仪分析模式及优点
X荧光光谱仪可以应用于水泥、钢铁、建材、石化、有色、硅酸盐、煤炭、高岭土、耐火材料、科研、环保等行业，是一种中型、经济、高性能的光谱仪。采用固定通道，减少测量时间；固定通道尤其适用于荧光产额较低的轻元素和微量元素的测定，以提高分析精度和灵敏度。X荧光光谱仪采用操作方便，用户习惯的智能化软件，提供全自
X射线荧光光谱仪检测分析原理
X射线荧光光谱分析仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。 X射线荧光光谱分析仪物理原理 当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生
X射线荧光光谱仪中X射线的由来和性质分析
X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线荧光光谱仪X射线防护系统故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合上
考古检测X荧光光谱仪的标准配置包括哪些
考古检测X荧光光谱仪利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn