高精度薄膜真空计的压力测量范围
压力测量中，除极少数直接测量外，绝大多数是间接测量。就是先在被测气体中引起一定的物理现象，然后再测量这一过程中与压力有关的物理量，进而设法确定压力值。这是真空测量的特点，亦会造成某些问题。 任何具体物理现象与压力的关系，都是在某一压力范围内才好，超出这个范围，关系变得弱了。因此，任何方法都有其一定的测量范围，这个范围就是高精度薄膜真空计的“量程”。尽可能扩展每一种方法的量程，是真空科学研究的重要内容之一。近代真空技术所涉及到的压力范围宽达19个数级(105～10-14pa)，没有任何一种高精度薄膜真空计能测量如此宽的压力范围，因此总是用几种高精度薄膜真空计分别管辖一定的区域。但由于各种高精度薄膜真空计在原理上的差异．在相互衔接的区域，往往要造成较大的误差。 在被测空间引起一定物理现象，还会出现这样的问题，即从测量的角度出发，本需要一种单纯的物理现象，但有时却不可避免地带来一系列寄生现象，这些寄生现象不但给测量量带来误差，......阅读全文
高精度薄膜真空计的压力测量范围
压力测量中，除极少数直接测量外，绝大多数是间接测量。就是先在被测气体中引起一定的物理现象，然后再测量这一过程中与压力有关的物理量，进而设法确定压力值。这是真空测量的特点，亦会造成某些问题。 任何具体物理现象与压力的关系，都是在某一压力范围内才好，超出这个范围，关系变得弱了。因此，任何方法都有其
薄膜真空计介绍
PBS-510xx-C1型薄膜真空计属于高精度计量器具，应定期计量检定。用于检定的标准器其精度应高于被检定仪器的一个精度等级以上。使用中若需调校零点，必须要有较高真空度的真空源。建议平时尽量不要随便自行调校，可送（具有该项目CNAS检定资质的）当地行政计量技术机构检定调校和校准。建议的计量检定周
真空计的压力测量范围和特点以及真空计选用原则
真空计测量范围 压力测量中，除极少数直接测量外，绝大多数是间接测量。就是先在被测气体中引起一定的物理现象，然后再测量这一过程中与压力有关的物理量，进而设法确定压力值。这是真空测量的特点，亦会造成某些问题。 任何具体物理现象与压力的关系，都是在某一压力范围内才最显著，超出这个范围，关系变得弱了
薄膜真空计怎么用？
电容薄膜bai真空计是一种绝压、全压测量的真空计，原du理是把加于电容薄zhi膜上的压力变dao化产生膜片间距离的变化，即产生了电容的变化，再通过鉴频器把电容变化转换成为电流或电压的变化，组成为输出信号，所以，它的测量是直接反映了真空压力的变化值，而且只与压力有关，与气体成分无关，即：薄膜真空计
电容薄膜真空计的概述
属弹性元件真空计，弹性薄膜将规管真空室分为两个小室，即参考压强室和测量室。测量低压强 (P
薄膜测量
薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi
薄膜测量
薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi
薄膜电容规真空计相关叙述
如图所示，在不同压力下金属膜片受力不同会有不同尺度的变形，使得金属膜片和电极之间的电容变化，通过测量电容的变化量，即可知道金属膜片上气压的变化。 这种规的测量范围一般横跨4个量级，比如可能是0.01Pa至100Pa、0.1Pa至1000Pa等。 这种规的优点是灵敏度很高。缺点是必须在高于环境
真空计常见的几种类型
真空计常见的几种类型如下： 1、绝对真空计：直接读取气体压力，其压力响应(刻度)可通过自身几何尺寸计算出来或由测力确定。绝对真空计对所有气体都是准确的且与气体种类无关，属于绝对真空计的有U型镑压力计、压缩式真空计和热辐射真空计等。 2、相对真空计：由一些气体压力有函数关系的量来确定压力，不能
薄膜测量配置
薄膜测量常用配置 光谱仪 AvaSpec-2048光谱仪，UA光栅（200-1100 nm），DUV镀膜，DCL-UV/VIS灵敏度增强透镜， 100 µm狭缝，OSC-UA消二阶衍射效应镀膜 测量膜厚范围 10 nm - 50 µm，1 nm分辨率
简单讲讲选择真空计原则
电容薄膜真空计是一种绝压、全压测量的真空计，原理是把加于电容薄膜上的压力变化产生膜片间距离的变化，即产生了电容的变化，再通过鉴频器把电容变化转换成为电流或电压的变化，组成为输出信号，所以，它的测量是直接反映了真空压力的变化值，而且只与压力有关，与气体成分无关，即薄膜真空计是一种直接测量式的、
leybold活塞式压力真空计说明
真空泵的泵体的布置结构决定了泵的总体结构。立式结构的进、排气口水平设置，装配和连接管路都比较方便。但泵的重心较高，在高速运转时稳定性差，故这种型式多用于小泵。卧式泵的进气口在上，排气口在下。有时为了真空系统管道安装连接方便，可将排气口从水平方向接出，即进、排气方向是相互垂直的。此时，排气口可以从左或
薄膜电容在真空计的原理是什么？
薄膜电容又称CBB电容，它有聚丙烯膜和聚酯膜两种介质分类，聚丙烯膜的特性是高频损耗极低、电容量稳定性很高、负温度系数较小、绝缘电阻极高、介质吸收系数极低、自愈性好、介电强度，如CBB11，CBB13，CBB21，CBB62，CBB81等 电容薄膜真空计是一种绝压、全压测量的真空计，原理是把加于
电离真空计的分类和结构
真空计按测量性质可分为绝对真空计和相对真空计。所谓绝对真空计就是通过测量物理量本身确定压力的一种真空计,例如u型压力计、压缩式真空计就是绝对真空计。通过测量与压力有关的物理量并与绝对真空计比较来确定压力的真空计称为相对真空计。我们校准的电离真空计、电容薄膜真空计、热传导真空计,都是相对真空计。
真空设备真空计的的相关内容
真空镀膜设备真空装置自动控制中，往往要进行真空测量，由于真空装置种类繁多、工作压力范围也不尽相同，因此，从105Pa—10-5Pa各真空区域的真空测量坞会遇到。通常使用的真空计有电阻真空计、热偶真空计、电容薄膜真空计、电离真空计、超高真空计等。为了拓展真空计的功能，真空仪器厂家还生产包括遥控遥测
真空计按原理可以分哪几类
真空计是按照真空计测量原理所利用的不同的物理机制，可将主要的真空计分为三大类，分别是利用力学性能、利用气体动力学效应和利用带电粒子效应的真空计。利用力学性能的真空计典型的有波尔登规（Bourdon）和薄膜电容规；利用气体动力学效应的典型真空计有皮拉尼（Pirani）电阻规和热电偶规；利用带电粒子
真空计的量程范围
在较高压力时(10～1Pa)利用压力差U型管压力计，麦克劳真空计，薄膜计，弹簧管压力计等。 在10～10Pa的中间压力范围，利用气体性质(热传导，粘性)的变化而做成的皮氏计、粘性真空计。 在低压力时，使用将气体分子电离而测量的电离真空计。 表1 真空计的适用压力范围真空计的名称可测的压力范
真空测量与常见的真空计
真空测量 气体的稀薄程度也可以用气体分子密度（单位容积中气体分子数）n来描述。对于完全平衡态的理想气体分子,P=nkT,k为玻耳兹曼常数,T为绝对温度。测量真空度的装置称为真空计，真空计的压强敏感元件称为规头。某些真空计可直接测量气体总压强，某些真空计虽然也给出压强读数，而实际测量的是气体分子
薄膜厚度测量仪原理和薄膜测厚测量仪应用介绍
国际标准分类中，薄膜厚度的测量涉及到分析化学、长度和角度测量、罐、听、管、无损检测、涂料和清漆、非金属矿。 在中国标准分类中，薄膜厚度的测量涉及到工业技术玻璃、材料防护、包装材料与容器、金属理化性能试验方法综合、金属无损检验方法、长度计量、涂料、建材原料矿。薄膜厚度测量仪 济南三泉中石实验仪器有限
吸附比表面分析仪的压力简介
压力测量：采用原装进口的硅薄膜电容式压力传感器测量压力，显著提高 P/Po点测试精度，2支0-1000 Torr（0-133Kpa）；可选0-1 Torr （0-133pa） ，压力传感器必须提供相应进口检测证书 压力精度：高精度进口硅薄膜电容式压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量
AvaSoftThinfilm－薄膜测量软件
AvaSoft-Thinfilm 薄膜测量软件AvaSoft-Thinfilm软件是个独立的软件包，与AvaThinfilm薄膜测量系统相配套。AvaThinfilm系统在本手册应用章节里有详细介绍。 AvaSoft-Thinfilm应用软件通过已知光学参数的透光膜层的上下表面反射所形成的干涉光谱来
薄膜测厚仪－塑料薄片厚度测量仪－薄膜厚度仪
薄膜测厚仪 塑料薄片厚度测量仪 薄膜厚度仪型号：LT/CHY-C2薄膜测厚仪/薄膜厚度仪特 征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计、打印显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块
GB/T6672－薄膜测厚仪－薄膜厚度测量仪
Labthink兰光CHY-C2 薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪满足多项国家和国际标准：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、
真空计的读数和绝对压力之间有什么关系？
一般压力计上显示的气压并不代表实际气压，而是超过大气压的压力值，这意味着不包括大气压。表压由大气压为零计算得出，称为压力指示或表压。表压加上大气压力是绝对压力，它是在绝对真空为零的情况下计算得出的。当密闭容器中的气体压力低于大气压时，就会产生真空，也称为负压。通常将760mm（0度）的汞柱用作标
麦氏真空计测量精度和技术指标
·真空计的检定周期为壹年（时间检验校准看使用情况而定）。 型号 测量范围 精度误差 采用的标准 PM-2 10kPa-0.2kPa 350Pa-0.1Pa U型计为2.5级麦氏计为±40% JJG540-88 Q/SSUPC01-2001 PM-3 650Pa-0.1Pa ±40% Q/S
真空行业应用都有哪些？
1、显示器制造业 随着显示器从 LCD 到 LED 到 OLED 过渡，准确测量和精密的控制是必需的要求。 正是基于这个原因，不断投资于的技术和功能，将薄膜控制器和 QCM 推向新的水平。 针对各种应用提供数百种石英晶体和传感器头，是面向显示器制造业提供薄膜控制器的市场领头羊。 还
涂层测厚仪可进行薄膜厚度测量
涂层测厚仪是便携式涂（镀）层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂层（如油漆、防腐层）、镀层厚度的测量，也可进行薄膜厚度测量。 可应用于 电镀层 ，油漆层，搪瓷层，铝瓦，铜瓦，巴氏合金瓦，磷化层，纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构的附着物的厚度测量。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化
AvaSoftThinfilm－薄膜测量软件优点
该软件集成了一个包括各种基底和膜层材料的光学参数n和k值的数据库，该数据库涵盖了很多重要应用领域（如半导体和镀膜）的材料的参数。 AvaSoft-Thinfilm软件支持多通道和8个时间序列控制，可以用来测量膜层厚度和监控拟合质量。 AvaSoft-Thinfilm软件可以和AvaSoft-PROC
NanoCalc光学薄膜厚度测量系统
NanoCalc 光学薄膜厚度测量系统NanoCalc是一种用户可配置的膜厚测量系统，它利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度，可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。利用白光干涉测量法的原理，NanoCalc用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随膜厚的不同而变化，
薄膜表面摩擦系数的测量
薄膜表面的摩擦力和摩擦系数对复合和制袋有较大的影响，当两个相互接触的物体之间有相对运动或相对运动趋势时，其接触表面上产生的阻碍相对运动的机械作用力就是摩擦力。 某种材料的摩擦性能可以通过材料的动、静摩擦系数来表征。静摩擦力是两接触表面在相对移动开始时的最大阻力，其与法向力之比就是静