X射线荧光技术在保温杯材质安全检测的应用
您是不是已经成为了保温杯里泡枸杞的“养生一族”？您是不是成为了蹦迪也不忘带保温杯的那个TA？不知不觉中，保温杯已经成为了生活中不可或缺的一部分。但是，您知不知道，如果没有选择正确的保温杯，不仅不能养生，甚至可能引发“杯具”？？究竟是怎么一回事呢？让我们详细了解一下。 揭开保温杯里的秘密！ 近日，北京市消费者协会的工作人员以消费者的身份在北京的商场、超市及网购平台随机购买了50种不锈钢保温杯样品，经测试，有19种保温杯样品不符合国家标准要求。此外，此次比较试验50种保温杯样品中，有15种样品标志不符合国家标准要求，而这一情况在国际品牌中尤为突出。 不锈钢保温杯在使用过程中，内胆直接接触存放的冷热水、饮料等液体，长时间浸泡碱性茶叶、水、碳酸饮料和高温液体的频率较高，这些液体容易对内胆及其焊接部位产生腐蚀，从而影响产品的使用寿命和卫生性能。因此，选用耐腐蚀性较强的不锈钢保温杯至关重要。购买保温......阅读全文
微－X－射线荧光－(µXRF)技术详解
微 X 射线荧光 (µXRF) 是一种元素分析技术，它允许检测非常小的样品区域。与传统的 XRF 仪器一样，微 X 射线荧光通过使用直接 X 射线激发来诱导来自样品的特性 X 射线荧光发射，以用于元素分析。与传统 XRF 不同（其典型空间分辨率的直径范围从几百微米到几毫米），µXRF 使用 X 射线
X射线衍射技术在锂电行业应用测试条件
XRD测试条件对于锂电材料，常见的衍射条件为（可作为参考）：Cu靶，管电压40kV，管电流30mA，衍射角度5°~80°（根据所测样品材料而定），扫描速度1°/min（不同的扫描速度对结果有一定影响）。
X射线荧光光谱分析技术的重要应用
X射线荧光光谱分析技术属于一种能够实现快速分析的无损检测技术，新型、成本更低的X射线光谱仪更容易在被检测材料或者组件的整个生命周期内进行多元测量和验证。利用摩擦效应产生X射线的低成本、移动型X射线荧光光谱仪将会和原位检测或者实验室检测实现互补。 对于质量管理部门、冶金实验室、机械工厂、金属加工
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射线荧光光谱技术的原理
所有XRF仪器都拥有两个主要成分，一个是X射线源，一般采用X射线管，另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。 比较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级
X射线荧光分析技术的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光仪器的技术优点介绍
利用XRF，元素周期表中绝大部分元素均可测量。作为一种分析手段，XRF具有其优越的地方：分析速度快、非破坏分析、分析精密度高、制样简单等。波长色散和能量色散XRF光谱仪对元素的检测范围为10-5%~100%，对水样的分析可达10-9数量级；全反射XRF的检测限已达到10-9~10-12g。同时也
X射线衍射的技术在锂电池行业应用
X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）技术在锂电行业应用极其广泛，尤其对于正极材料物相的研究。XRD可用于测试和分析材料的晶体结构和物相组成，是一种强大的非破坏性测试。
X－射线荧光仪检测晶体的介绍
分光晶体是具有把 X 射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的晶体。 晶体应该具备的条件：衍射强度大；应该适用于所测量的分析线；分辨率高；峰背比高；不产生附加发射和异常反射；热膨胀系数小、温度效应低；经受 X 射线长期照射，稳定性好；机械强度良好；容易加工等等。
X射线荧光光谱仪在翡翠鉴定中的应用
X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱仪是一种用于材料分析的科学仪器，它可以快速、准确地分析材料的化学成分和结构。 它的工作原理是利用高能X射线的能量激发物质分子中的电子，使之处于激发态，当电子回到基态时会放出特定波长的荧光光线。不同元素的荧光光线具有一定的特征性，通过检测这些特征荧光光线，可以确
X射线荧光光谱法在医药分析中的应用
药品安全与国计民生息息相关,各种化学和仪器分析方法在解决药品研发和质量控制中发挥着重要作用。ICH指导委员会于2009年10月批准了Q3D金属杂质课题。这一新指导原则建议对于药品中的金属杂质进行定性和定量限制。药品中的元素杂质可能有多个来源：可以在合成中有意添加，或可能作为污染物存在（例如，通过与生
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
X－射线衍射技术的主要应用
物相分析物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应
X射线衍射技术的应用特点
X 射线衍射技术已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段，其主要应用主要有以下几个方面：物相分析物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。
全反射X射线荧光(TXRF)应用简介
全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限（低至ppt或pg），与其它具有类似元素检出限的检测手段相比，具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。 TXRF一次可以对70多种元素进行同时分析，这是原子吸收ETAAS和FAAS方法难以完成的。与质谱仪中的ICP-MS和GDM
x射线荧光光谱仪安全事项
在分析过程中，给管通电后，分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使放射线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA（最低合理可行）原则。三个因素将有助于最大程度地减少您的辐射暴露：时间，距离和屏蔽。 尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通
x射线荧光光谱仪安全事项
在分析过程中，给管通电后，分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使放射线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA（最低合理可行）原则。三个因素将有助于最大程度地减少您的辐射暴露：时间，距离和屏蔽。 尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通
关于X射线荧光仪器的广泛应用
我国XRF分析技术的建立始于20世纪50年代末60年代初。最近三十多年来，为满足生产喝科研工作的需要，引进了众多的一流XRF谱仪，制定了大量有效的试样分析方法，有力地推动了我国X射线荧光光谱分析的发展。X射线经历了几十年的不断探索、不断进步，现已广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生
X射线荧光光谱法的应用
质成分分析 ①定性和半定量分析具有谱线简单、不破坏样品、基体的吸收和增强效应较易克服、操作简便、测定迅速等优点，较适合于作野外和现场分析,而且一般使用便携式X射线荧光分析仪，即可达到目的。如在室内使用X射线能谱仪,则可一次在荧光屏上显示出全谱，对物质的主次成分一目了然，有其独到之处。 ② 定量
X射线荧光分析法的应用特点
X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达3-10～10-6克/克(g/g)，对许多元素可测到10-7～10-9g/g，用质子激发时 ，检出可达10-12g/g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原
X射线投射检测技术的检测方法
X射线检测的方法很多，以下简要介绍三种： X射线小角散射 当X射线照射到试样上时，如果试样内部存在纳米尺寸的密度不均匀区，则会在入射束周围的小角度区域内出现散射X射线，这种现象称为X射线小角散射或小角X射线散射。根据电磁波散射的反比定律，相对于波长来说，散射体的有效尺寸越大则散射角越小。因此
X射线荧光岩屑识别技术研究
在石油钻井施工中,准确获取岩性资料是录井的基本任务,是及时建立地层剖面、准确评价油气层性质、正确预测下部地层的前提,也是指导钻井生产正常运行的最基础的工作。然而,目前PDC钻头的使用、空气钻井等钻井工程工艺发展,使常规的录井方法难以准确识别岩性,水平井地质导向给录井的岩性识别和地层划分提出了更高的要
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线投射检测技术的介绍
X射线检测技术是无损检测技术的一种。 X射线透射检查法可提供铸件检测部位有无缺陷及缺陷尺寸的照片。X射线透照法主要应用在铸件和机器部件中出现的诸如裂纹、孔洞和夹杂等缺陷的辨识和评价。 X射线不能直接测量，在测量前必须把它转化为可测量的量，有照相法和电信号法两种X射线检测技术。照相法是把X射线
X射线投射检测技术的原理
在X-Ray检测的过程中， X-Ray穿过待检样品，然后在图像探测器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由分辨率及对比度决定。 成像系统的分辨率(清晰度) 决定于X射线源焦斑的大小、X光路的几何放大率和探测器像素大小。微焦点X光管的焦斑可小到几个微米。X
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
影响X－射线荧光仪检测晶体的因素
（1）温度变化：温度变化能改变分子间距； （2）湿度变化：有些晶体如果湿度太高表面就易模糊了； （3）酸碱影响：有些晶体会由于对强酸或强碱的吸附作用而大大降低其衍射强度。
X－射线衍射技术的主要应用介绍
X 射线衍射技术已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段，其主要应用主要有以下几个方面：物相分析物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。