电子探针X射线显微分析仪概述
电子探针可以对试样中微小区域微米的化学组成进行定性或定量分析，除做微区成分分析外，还能观察和研究微观形貌、晶体结构等。电子探针技术具有操作迅速简便、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点，在冶金、地质、土壤、生物、医学、考古以及其他领域中得到日益广泛应用，是土壤和矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。......阅读全文
X射线荧光分析显微镜的用途
可以快速、无损地对样品（固体、粉末、液体、多层镀膜等）的元素组成进行定性、定量分析，还可以通过面扫描功能获得样品的元素面分布图（扫描区域最大可达10 cm×10 cm）。仪器配备的双真空式设计可以在高灵敏度模式或大气氛围模式分析从Na到U的所有元素。可应用于地质矿物、电子电器、生物医药、环境、考
X射线应力测定仪的用途概述
X-350A型X射线应力测定仪[1]依据中华人民共和国标准 GB7704--87《X射线应力测定方法》，能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力（用“ + ”、“ － ”号分别表示拉、压应力）, 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代
X射线荧光光谱仪的概述
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
X射线荧光光谱分析概述
X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence，XRF）是固体物质成分分析的常规检测手段，也是一种重要的表面/表层分析方法。由于整体技术和分光晶体研制发展所限，早期的X射线荧光光谱仪检测范围较窄，灵敏度较差。随着测角仪、计数器、光谱室温度稳定等新技术的进步，使现代X射线荧光光谱仪的测量精密
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
X射线显微镜的透射式X相关内容
用波带片作为聚光镜、显微波带片作为成像放大物镜、CCD 为探测器, 分辨力可达10 nm。将样品连上了制冷装置( 氦气)、转动机构，并使CCD 与计算机连接，则可做断层扫描(CT)，并从屏幕上直接观察CT 图。 水窗： 水窗是指从波长2.3 nm 至4.4 nm的一个波段范围。用此范围的X 射
概述波长色散X射线光谱分析仪谱线干扰的消除
在X射线光谱法中，如上所述，谱线干扰的来源基本上可分为两方面，即发生于仪器和样品本身。属于样品中固有的干扰线除采用化学分离方法去除干扰元素外，有的也可以利用仪器方法来克服，或者进行数学上的校正，现在，对以上两种来源的干扰线，如何从仪器上克服和进行数学上的校正，分别讨论如下： 1）激发源 对
概述波长色散X射线光谱分析仪干扰谱线的来源
XRF分为波长色散和能量色散两大分支，由于激发、色散和检测方法不同，他们对谱线干扰的处理办法有所不同。这里主要讨论应用普通X光管激发的波长色散X射线光谱分析仪法中的谱线干扰问题。对于利用各种激发源的能散法，只作简单比较。为区别两种方法的谱线干扰，分为称它们为波长干扰和能谱干扰。
选择X射线荧光分析仪的误区
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。 源激发和管激发各有优缺点。
X射线荧光分析仪的主要分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波
X射线荧光分析仪的发展历程
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
选购X射线荧光分析仪的误区
听别人多，看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察，一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况，作一些相互比较；另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如:以全厂质量控制为主要目的，样品种类多，需要做全分析，准确度要
激光小孔法X射线应力分析仪
激光小孔法X射线应力分析仪是用于残余应力测量的高级钻孔系统。 棱镜利用电子散斑图干涉法（ESPI）来确定表面位移和计算压力。 钻孔是最常用的应力释放技术测量残余应力的方法。 通过在材料感兴趣区域钻一个小盲孔，小孔周围会自发地建立一个新的应力平衡。 这导致了孔附近表面的位移，通常要使用应变计测量
微区X射线光谱分析仪的分析应用
电子探针全称电子探针X 射线显微分析仪，又称微区X射线光谱分析仪，是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，英文简称为EPMA。 可用来分析薄片中矿物微区的化学组成，分析对象是固体物质表面细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，
豚鼠脊髓腹角神经元线状溶酶体酶电子探针X射线能谱
为探讨豚鼠脊髓腹角神经元是否存在线状溶酶体及其酶细胞化学活性分布特点，用偏磷酸酶（Ｍｅｔａｐｈｏｓｐｈａｔａｓｅ，ＭＰａｓｅ）和酸性磷酸酶（Ａｃｉｄｐｈｏｓｐｈａｔａｓｅ，ＡＣＰａｓｅ）电镜细胞化学方法和电子探针Ｘ射线能谱分析技术，证实豚鼠脊髓腹角神经元存在线状溶酶体（Ｎｅｍａｔｏｌｙｓｏｓｏｍｅ，
X－射线显微镜的功能结构特点
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的
x射线显微成像原理是光的衍射吗
X射线成像不新鲜， 医院的X光机，CT, 都是X射线成像设备。作为x射线显微成像装置，其成像原理和X光机没有差别，--光散射原理。但X光不能聚焦，只能采用扫描X光线束微区光栅扫描。但X光束也不能聚焦很细，所以有效放大倍数极低。TEM的普通成像模式和X射线显微镜相似。
为什么X射线不能制出显微镜
有X射线显微镜的，X射线显微镜在生物样品的研究中，应用X射线进行样品观察的有三类：（1）用软X射线的接触式显微射线摄影（contact micro－radiography），（2）用两个磁透镜系统的投影式显微射线摄影（projection mic-ro－radiography），（3）用细的X射线流
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
电子探针谱仪概述
原理：利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线，得到X射线谱。根据特征X射线的波长（或能量）进行元素定性分析；根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。 适合分析材料:金属及合金，高分子材料、陶瓷、混
岛津应对超轻元素分析的科研利器
导读电子探针作为显微形貌观察和微区成分分析一体化的分析仪器，具有不损坏样品、分析方式多样（点、线、面及状态分析）、简单快速、准确度高等特点，被广泛应用在材料学、地质学等研究领域。超轻元素是指原子序数小于10的元素（Be、B、C、N、O、F），一直是电子探针分析中的难点和重点。目前，超轻元素分析测试，
HORIBA携全新X射线显微分析仪XGT9000亮相慕尼黑生化展
分析测试百科网讯 2018年10月31日，慕尼黑上海分析生化展（analytica China）在上海新国际博览中心正式开幕（相关报道：行业盛宴 2018慕尼黑上海分析生化展开幕 近千家公司参展）。其中，HORIBA Scientific携全新XGT-9000 X射线显微分析仪亮相慕尼黑上海分析
X射线管中X射线的产生原理
实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）.用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.
电子探针射线显微分析和场发射扫描电镜有什么不同？
简单说说，可能不规范。所谓的场发射扫描电镜是指，相较于传统的钨灯丝光源而言，其采用更了为先进的肖脱基场发射光源。采用场发射光源后电子束能量更强，二次电子相（也就是我们平时所说的扫描照片）更加清晰，放大倍数在理想的情况下可以达到10万倍以上。同时，在进行EBSD的测试中也具有相当的优势。电子探针，即E
概述x射线荧光光谱仪安全事项
在分析过程中，给管通电后，分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使放射线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA（最低合理可行）原则。三个因素将有助于最大程度地减少您的辐射暴露：时间，距离和屏蔽。 尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通
输送式X射线异物检测仪的概述
分类：5830 高清晰X射线异物检测仪 最小检查体积：0.2*0.2*0.2mm X射线发生器最大80KV/100W X射线探测器：0.4/0.8mm像素 X光线长度：112/234/148mm传送带：速度：25/min 宽度：58cm 限高：29cm 最大负荷：10/20/4
电子探针显微分析的原理
用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征x射线。 分析特征x射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)。 分析x射线的强度，则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分析)。 电子探针仪镜筒部分的构造大体上和扫描电子显微镜相同，只是在检测器部分使用的是x射线谱仪，
简述X射线荧光分析仪的产品特点
1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从
选购X射线荧光分析仪的注意点
重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素，但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大，并且直接决定了仪器的售价，单纯追求价格便宜，很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说，服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等，更重要的是应用技术服务。对于大
X射线散射
美国物理学家康普顿（Arthur Holy Compton，1892～1962）在大学生时期就跟随其兄卡尔·康普顿开始X射线的研究。后来他到了卡文迪什实验室，主要从事g射线的实验研究。他用精湛的实验技术精确测定了γ射线的波长，并确定γ射线在散射后波长会变得更长。但他没能从理论上解释这个实验事实。他到