电子探针X射线显微分析仪概述
电子探针可以对试样中微小区域微米的化学组成进行定性或定量分析，除做微区成分分析外，还能观察和研究微观形貌、晶体结构等。电子探针技术具有操作迅速简便、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点，在冶金、地质、土壤、生物、医学、考古以及其他领域中得到日益广泛应用，是土壤和矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。......阅读全文
自动X射线检测仪概述
X射线具有很强的穿透性，是最早用于各种检测场合的一种仪器。X射线透视图可显示焊点厚度、形状及质量的密度分布。这些指标能充分地反映出SMT贴片加工生产焊点的焊接质量，包括开路、短路、孔洞、内部气泡以及锡量不足，并能做到定量分析。 X射线由一个微焦点X射线管产生，穿过管壳内的一个铍窗，投射到试验样
X射线晶体衍射学的概述
X射线望远镜光学系统一般采用沃尔特Ⅰ型──抛物面焦点与双曲面的后焦点重合的同轴光学系统。其焦平面通过双曲面的前焦点。按照制作工艺来划分,X射线望远镜的研制已经历三代。第一代镜面是铝制的,效率为1％，1963年用这种望远镜拍摄到分辨率为几角分的照片,可看出太阳上存在着X射线发射区。第二代镜面是在光
概述x射线的基本特征
1 穿透性：X线波长很短，具有很强的穿透力，能穿透一般可见光不能穿透的各种不同密度的物质，并在穿透过程中受到一定程度的吸收即衰减。X线的穿透力与X线管电压密切相关，电压愈高，所产生的X线的波长愈短，穿透力也愈强；反之，电压低，所产生的X线波长愈长，其穿透力也弱。另一方面，X线的穿透力还与被照体的
电子探针的主要用途
电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。分析元素从原子序数3（锂）至92（铀）。绝对感量可
电子探针的主要用途
电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。分析元素从原子序数3（锂）至92（铀）。绝对感量可
关于电子探针X射线微区分析面分析的相关介绍
使入射电子束在样品表面选定的微区内作光栅扫描，谱仪固定接收某一元素的特征X射线信号，并以此调制荧光屏的亮度，可获得样品微区内被测元素的分布状态。元素的面分布图像可以清晰地显示与基体成分存在差别的第二相和夹杂物，能够定性地显示微区内某元素的偏析情况。在显示元素特征X射线强度的面分布图像中，较亮的区
电子探针的结构特点
电子探针X射线显微分析仪（简称电子探针）利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功
电子探针的结构特点
电子探针X射线显微分析仪（简称电子探针）利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功
X－射线显微镜的技术特点
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的
X－射线显微镜的成像原理
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有强光源及
X－射线显微镜的功能特点
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的
X－射线显微镜的成像原理
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有强光源及
X－射线显微镜的基本构造
聚焦放大元件常用的聚焦镜是多层膜反射聚焦镜和波带片，成像放大元件是波带片。1 多层膜反射聚焦镜多层膜是在基板上重复涂上两种不同的材料制成的人造一维晶体。通常，一种材料是高原子序数的重金属（H），另一种是低原子序数的非金属（L）。这两个层的厚度之和dH + dL构成这多层膜的重复周期d。dH 和dL
X射线Xray检测仪的相关概述
是在不损坏被检物品的前提下使用低能量X 光，快速检测出被检物 品的内部质量和其中的异物，并通过计算机显示被检物品图像的测试手段。 当待检品经X射线照射后，物质的密度和原子序数越大，物质吸收X射线的比率也会越大。而食品中的蛋白质、碳水化合物、脂肪、水分以及骨头（钙质）、玻璃（硅质）、金属和毛发等
矿物的成分测试方法（电子探针显微分析）
电子探针X射线显微分析仪（EPM），简称电子探针，是一种现代成分分析仪器。由于它可以获得矿物微米量级微区内的化学成分，并且无需分离和破坏样品，费用也不高，尤其是对于那些含量少、颗粒微小以及成分不均匀样品的成分分析，提供了有效的分析方法，因此目前在矿物成分研究中应用最广。它除了可以给出一个微区的成分外
电子探针X射线微区分析定点分析的相关内容
(1)全谱定性分析 驱动分光谱仪的晶体连续改变衍射角，记录X射线信号强度随波长的变化曲线。检测谱线强度峰值位置的波长，即可获得样品微区内所含元素的定性结果。电子探针分析的元素范围可从铍(序数4)到铀(序数92)，检测的最低浓度(灵敏度)大致为0.01％，空间分辨率约在微米数量级。全谱定性分析往
电子探针X射线能谱法测定黄金饰品的成色
本文介绍电子探针能谱法测定含金量５０％～９９％黄金饰品的成色，该法无损、快速、准确，对束流稳定性要求不高且操作简便。
概述X射线衍射分析的应力测试
X 射线测定 应力以衍射花样特征的变化作为应变的量度。宏观 应力均匀分布在物体中较大范围内，产生的均匀应变表现为该范围内方向相同的各 晶粒中同名 晶面间距变化相同，导致衍 射线向某方向位移，这就是X 射线测量宏观应力的基础；微观应力在各晶粒间甚至一个晶粒内各部分间彼此不同，产生的不均匀应变表现为
X射线荧光光谱仪概述
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
概述荧光X射线测厚仪的应用范围
－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用，我们将列表可测定的厚度范围－基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围
1460万！这所高校采购X射线显微成像系统、X射线衍射仪等
近日，西安建筑科技大学发布多项采购招标公告，分别招标高分辨无损X射线显微成像系统、X射线光电子能谱仪、X射线衍射仪，总预算金额1460万。 项目编号：ZX2022-07-93 项目名称：X射线光电子能谱仪、X射线衍射仪采购项目 采购方式：公开招标 预算金额：6,100,000.00元
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
X射线荧光分析仪的介绍
X射线荧光分析仪主要由激发、色散（波长和能量色散）、探测、记录和测量以及数据处理等部分组成。X射线光谱仪与X射线能谱仪两类分析仪器有其相似之处，但在色散和探测方法上却完全不同。在激发源和测量装置的要求上，两类仪器也有显著的区别。X射线荧光分析仪按其性能和应用范围，可分为实验室用的X射线荧光光谱仪
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
磁X射线显微镜的相关介绍
同步辐射中所含的辐射均是偏振光，可以是线偏振光，也可以是椭圆或圆偏振光，X 射线也不例外。如果待测物质具有磁性，则具有不成对电子，具有电子自旋磁矩和轨道磁矩。磁矩与不同方向的偏振光的作用是不同的，如用不同方向的圆( 线) 偏振光照射磁性材料，可以得到不同的吸收谱，该性质称圆( 线) 二色性。
X－射线显微镜成像与构造介绍
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有强光源及
X射线显微镜的光源的介绍
三类X 射线光源：实验室X 射线光源(X 射线管)、直线加速器和同步辐射装置。同步辐射是既近平行又高强度，且波长可调而成为最理想的光源。未见有将直线加速器用于X 射线显微镜，实验室光源有使用的，但不能用焦点在10 mm×1 mm 左右的封闭X 射线管，可以用高功率的旋转阳极X 射线管。另外，可用
X射线显微镜的成像与构造
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。 此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有