HORIBA携全新X射线显微分析仪XGT9000亮相慕尼黑生化展
分析测试百科网讯 2018年10月31日，慕尼黑上海分析生化展（analytica China）在上海新国际博览中心正式开幕（相关报道：行业盛宴 2018慕尼黑上海分析生化展开幕 近千家公司参展）。其中，HORIBA Scientific携全新XGT-9000 X射线显微分析仪亮相慕尼黑上海分析生化展。分析测试百科网作为本次活动的合作媒体，全程参与并跟踪报道。HORIBA Scientific展台XGT-9000 X射线显微分析仪 在此次展会上，HORIBA Scientific展出了两款X射线荧光产品，一个是全新的X射线显微分析仪，另一款是能量散射X荧光光谱仪。X射线显微分析仪，即采用X荧光的方法分析微区元素分布。此次最新发布的XGT-9000分析仪是HORIBA Scientific应对外来物质分析和元素分布检测的最新解决方案。HORIBA为其配备新型X射线源，最小光斑直径达10um，可大幅提高空间分辨率。对于元素定量......阅读全文
HORIBA携全新X射线显微分析仪XGT9000亮相慕尼黑生化展
分析测试百科网讯 2018年10月31日，慕尼黑上海分析生化展（analytica China）在上海新国际博览中心正式开幕（相关报道：行业盛宴 2018慕尼黑上海分析生化展开幕 近千家公司参展）。其中，HORIBA Scientific携全新XGT-9000 X射线显微分析仪亮相慕尼黑上海分析
探秘小行星“龙宫”的秘密武器——微区XGT9000－X射线荧光分析仪
“龙宫”是一颗携带太阳系形成初期信息的小行星，分析从“龙宫”带回的样本可帮助我们发现太阳系和生命的起源与演变。HORIBA微区X射线荧光分析仪XGT-9000是应对星际物质分析和元素分布检测的新型解决方案。 图1 微区XGT-9000 X射线荧光分析仪 XGT-9000拥有强大的“快速分析模
电子探针X射线显微分析仪的特征X射线和吸收电子
特征X射线 高能电子入射到样品时，样品中元素的原子内壳层(如K、L壳层) 处于激发态原子较外层电子将迅速跃迁到有空位的内壳层，以填补空位降低原子系统的总能量，并以特征X射线释放出多余的能量。 吸收电子 入射电子与样品相互作用后，能量耗尽的电子称吸收电子。吸收电子的信号强度与背散射电子的信号
X射线显微分析
中文名称X射线显微分析英文名称X-ray microanalysis定 义应用X射线显微分析器探测细胞或组织的微小区域内元素成分的技术。应用学科细胞生物学（一级学科），细胞生物学技术（二级学科）
电子探针X射线显微分析仪概述
电子探针可以对试样中微小区域微米的化学组成进行定性或定量分析，除做微区成分分析外，还能观察和研究微观形貌、晶体结构等。电子探针技术具有操作迅速简便、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点，在冶金、地质、土壤、生物、医学、考古以及其他领域中得到日益广泛应用，是土壤和矿物测
电子探针X射线显微分析仪概述
电子探针X射线显微分析仪(Electron probe X-raymicroanalyser , EPMA )的简称为电子探针 。在众多样品化学成分分析的仪器中，电子探针分析技术(EPMA)是一种应用较早、且至今仍具有独特魅力的多元素分析技术。 二战以来，世界经济和社会的迅猛发展极大的促进了科
电子探针X射线显微分析仪简介
电子探针X射线显微分析仪，简称电子探针。是指以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线，并根据X射线的波长和强度，对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理仪器。电子探针分析的原理是以电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从
X射线显微镜原理
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出
X射线显微镜的全息显微术
已经知道，像是依靠吸收衬度( 光的振幅)或位相衬度一种信息来显现的。而所谓全息，是指同时含有振幅与位相两种信息。这是Gabor在1948 年提出的。由于记录介质实际可记录的信息只能是光强，也即振幅，故需将位相信息转换成强度来记录。把光照射到试样上，试样以球面波形式将其散射，如有另一束已知振幅与位
X射线显微分析技术介绍
中文名称X射线显微分析英文名称X-ray microanalysis定 义应用X射线显微分析器探测细胞或组织的微小区域内元素成分的技术。应用学科细胞生物学（一级学科），细胞生物学技术（二级学科）
X－射线显微镜的概念
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的
X射线显微镜的定义
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出
X射线显微镜的简介
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出
电子探针X射线显微分析仪的阴极发光介绍
阴极发光是指晶体物质在高能电子的照射下，发射出可见光红外或紫外光的现像。阴极发光现象和发光能力、波长等均与材料基体物质种类和含量有关。阴极发光效应对样品中少量元素分布非常敏感，可以作为电子探针微区分析的一个补充，根据发光颜色或分光后检测波长即可进行元素分析。从阴极发光的强度差异还可以判断一些矿物
X－射线显微镜的功能特点
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的
X－射线显微镜的技术特点
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的
X－射线显微镜的基本构造
聚焦放大元件常用的聚焦镜是多层膜反射聚焦镜和波带片，成像放大元件是波带片。1 多层膜反射聚焦镜多层膜是在基板上重复涂上两种不同的材料制成的人造一维晶体。通常，一种材料是高原子序数的重金属（H），另一种是低原子序数的非金属（L）。这两个层的厚度之和dH + dL构成这多层膜的重复周期d。dH 和dL
X－射线显微镜的成像原理
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有强光源及
X－射线显微镜的成像原理
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有强光源及
1460万！这所高校采购X射线显微成像系统、X射线衍射仪等
近日，西安建筑科技大学发布多项采购招标公告，分别招标高分辨无损X射线显微成像系统、X射线光电子能谱仪、X射线衍射仪，总预算金额1460万。 项目编号：ZX2022-07-93 项目名称：X射线光电子能谱仪、X射线衍射仪采购项目 采购方式：公开招标 预算金额：6,100,000.00元
关于电子探针X射线显微分析仪的结构特点介绍
电子探针X射线显微分析仪(简称电子探针)利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
X射线荧光分析仪的介绍
X射线荧光分析仪主要由激发、色散（波长和能量色散）、探测、记录和测量以及数据处理等部分组成。X射线光谱仪与X射线能谱仪两类分析仪器有其相似之处，但在色散和探测方法上却完全不同。在激发源和测量装置的要求上，两类仪器也有显著的区别。X射线荧光分析仪按其性能和应用范围，可分为实验室用的X射线荧光光谱仪
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
磁X射线显微镜的相关介绍
同步辐射中所含的辐射均是偏振光，可以是线偏振光，也可以是椭圆或圆偏振光，X 射线也不例外。如果待测物质具有磁性，则具有不成对电子，具有电子自旋磁矩和轨道磁矩。磁矩与不同方向的偏振光的作用是不同的，如用不同方向的圆( 线) 偏振光照射磁性材料，可以得到不同的吸收谱，该性质称圆( 线) 二色性。
X射线荧光分析显微镜的用途
可以快速、无损地对样品（固体、粉末、液体、多层镀膜等）的元素组成进行定性、定量分析，还可以通过面扫描功能获得样品的元素面分布图（扫描区域最大可达10 cm×10 cm）。仪器配备的双真空式设计可以在高灵敏度模式或大气氛围模式分析从Na到U的所有元素。可应用于地质矿物、电子电器、生物医药、环境、考
X射线显微镜的成像与构造
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。 此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有
X－射线显微镜成像与构造介绍
X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有强光源及