XRF是什么东西
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光. 利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素 （Na）到92号元素（U）。RoHS指令限制使用以下六类有害物质 ：RHOS指令核心内......阅读全文
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
XRF光谱仪的主要技术要点
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin, SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。2.光管的选型（功率，靶材，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）3.设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线
关于XRF的基本原理介绍
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃
XRF熔融制片方法的相关介绍
X射线荧光分析法是一种现代仪器分析方法，具有分析迅速、非破坏性分析、光谱不受化学状态的影响、分析精度高、分析范围广（4Be～92U）、定性定量分析、样品制备简单等优点。 仪器装置分为X射线发生装置、分光装置、计数记录装置。
XRF镀层测厚仪的基本原理
XRF指X射线荧光，是一种识别样品中元素类型和数量的技术。用于在整个电镀行业范围内验证镀层的厚度和成分。其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。 对于镀层分析，XRF镀层测厚仪将此信息转换为厚度测量值。在进行测量时，X射线管产生的高能量x射线通过
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
金属元素分析XRF检测技术解析
1895年，伦琴在研究阴极射线时偶然发现一种能穿透物质产生荧光的未知射线，并将它命名为X射线， 这一发现引起了许多物理学家的关注。1908年，物理学家Barkla发现物质被激发产生的X射线中含有两种成分，除了原入射X射线外，还含有一种与元素有关的标识谱线成分，又称为特征X射线。随后，Barkla
XRF在矿物加工领域中的应用
5.1 XRF在矿物加工领域中的应用 X射线荧光（XRF)分析技术主要用于元素成份分析，具有现场快速、无损和多元素同时分析的特点。目前，该技术已广泛应用于地质、环境、工业产品、半成品及原料的质量检测，特别是在矿冶领域中，对矿石品位的检测有着良好的经济和社会效益。 近年来，随着新一代基于高分辨率电致冷
xrf测试依据的标准是什么？
涉及xrf测试什么的的标准有8条。国际标准分类中，xrf测试什么的涉及到核能工程、润滑剂、工业油及相关产品、水质、无机化学。在中国标准分类中，xrf测试什么的涉及到氧化物、单质。美国材料与试验协会，关于xrf测试什么的的标准ASTM C1456-13(2018) 用于测定钆/钆（或两者）在氧化钆 -
XRF与ICP的不同在哪里？
XRF测试作为常用测试之一，但仍有许多同学不太了解其具体内容，本篇文章详细给大家介绍XRF与ICP比较的差异。ICPXRF说 明说明1. 分析方式及样品形态化学分析法：利用电浆激发液体样品， 产生放射光谱。物理分析法：利用 X射线激发样品产生 X-Ray能谱。1.ICP 样品必须为液态，为破坏式检测
XRF检测的理论影响系数法介绍
对多数类型的样品，总有一些XRF无法探测到的元素（H-F）存在，往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度，是样品中基体组成部分，而其它元素的峰强度与基体组成直接相关，X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点，这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。 理论影响
XRF－分析污泥中的重金属
能量色散X 射线荧光 (EDXRF) 适合于对污泥中的重元素进行筛查和监控。这项技术依赖于高灵敏度的探测器，能够测量从钠(Na, Z=11) 到铀(U, Z=92)所有元素的发射谱线，测量浓度可从几个ppm到百分含量，且样品制备非常简单，一次完整的样品分析所需的时间不超过15 mi
xrf测试的基本原理介绍
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比
XRF岩芯扫描仪的功能
该仪器设备集成了X光扫描成像技术、XRF元素分析技术及光学扫描成像技术等，可以对海底/湖底沉积样芯、地质岩芯、地球土壤样芯、树木样芯等芯体（或样芯板片）进行同步的X-光数码成像、样芯密度和元素分布分析，广泛应用于环境科学、海洋湖泊科学、地球科学等研究领域。
影响XRF定量精度的因素有哪些？
1) 样品制备 XRF样品制备简单，但并非无需样品处理，XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求，这些方面都会不同程度影响分析精度，使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响，譬如：研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法
XRF常见故障及解决方法
S4 EXPLORER X 射线荧光光谱仪是德国布鲁克公司生产的顺序式波长色散X射线荧光光谱分析仪器，能用于直接分析固体和液体样品，具有智能化程度高、稳定性很好、常规操作简单、检出限低的优点。近几年推广应用范围相当宽。S4 EXPLORER X射线荧光光谱仪属扫描型分析仪器，工作过程中，许多部件协调
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
XRF仪器X光管坏了有什么现象？
没有图谱、有少量的计数率或无计数率及漏油等现象。
如何选择X荧光光谱仪（XRF）
应选择历史悠久，技术过硬，故障率低，日常运行成本低，使用年限长，性价比高，品牌过硬的仪器。Niton公司成立超过20年，其便携式光谱仪在世界上处于ling先地位，在世界各地已安装超过12000台，可快捷测试元素周期表中从22号元素钛(Ti)至83号元素铋(Bi)中的23个标准合金成分元素，辅助氦
简述便携式XRF仪器的相关概念
便携式XRF仪器为能量型X射线荧光光谱仪，是元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光仪器之一，与波长型XRF不同的是，便携式XRF仪器通过特征X射线的能量来分析组成物质的元素种类及含量。 元素是一类原子的总称，原子有原子核和电子组成，电子离原子核越近,受到的束缚作用越强,能级越低。越往外层,电子
天瑞仪器SUPER系列登陆XRF市场
2011年4月25日，天瑞仪器年度新品SUPER XRF2400现身“中国国际科学仪器及实验室装备展览会”(CISILE)。作为天瑞SUPER XRF系列的新品，SUPER 2400首次亮相便引来众多目光。“与普通XRF产品相比，SUPER系列有哪些特别之处?”、“SUPER系列的稳定性如何?”
ICPOES与XRF的差异在哪里
ICP-OES属于定量分析仪器，测试结果准确性高，其检出限较低，可以达到1ppm；而XRF属于半定量仪器，测试结果准确性较差，其检查限较高，一般含量需要0.1%以上的才能检测的出。
质量控制影响XRF定量精度的介绍
在分析目标样品过程中，采用其它实验室分析方法进行定量精度的控制是必要的，不同分析方法存在偏差是必然的，当偏差较大时，应进一步充分验证两种分析方法的精度，目标是提升XRF定量精度。
XRF分析仪的相关分析因素介绍
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。 c) 根据各元素的特征X射线的强
概述XRF分析仪的主要环境应用
过去，对环境的评估只能依赖于在实验室对从现场采集并运送到实验室的样件所做的分析，这种方法既浪费金钱又耗用时间。如今有了便携式XRF分析仪，检测人员可以在现场直接对环境进行评估。DELTA手持式XRF分析仪可进行经济、有效、及时的实时数据分析，并快速得出全面的调查结论，从而决定所要采取的下一步措施
xrf测试的基本原理是什么
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比如表
国产化高端XRF仪器实现零突破
近日，由国家地质实验测试中心牵头承担的国家重大科学仪器设备开发专项“波谱—能谱复合型X射线荧光光谱仪（CNX-808 XRF）的研发与产业化”项目通过了由科学技术部资源配置与管理司委托科技部科技评估中心组织的综合验收。 国家重大仪器开发专项“波谱—能谱复合型X射线荧光光谱仪的研发与产业化”项目
韩国_XRF2000L_荧光金属镀层测厚仪
产品介绍 XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪产品描述： 应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。 行业 : 五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。 特色 : 非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 可测量高达六层的
如何使用自动对焦节省XRF镀层分析时间？
利用镀层XRF（X射线荧光）进行测量涉及多项步骤，但是对焦（即正确设置X射线管、零件和检测器之间的几何位置）是最关键的步骤，因为它直接影响结果的准确性。在操作员找到测量位置后，需要对焦零件。传统仪器通过激光对焦或视频对焦完成上述对焦。日立的XRF镀层分析仪FT230可以使用激光对焦，但也提供两种自动
布鲁克发布新款手持XRF－TRACER－5I
分析测试百科网讯 近日，布鲁克发布了其新的手持式X射线荧光光谱仪（XRF）TRACER™5I。 据布鲁克介绍，新的TRACER 5I更敏感、灵活和适用于现场，同时保留以前独特的TRACER模型和全面的分析软件。 新TRACER 5I采用了更强大的球管和探测器，一个自动滤光片轮和一个手动过滤槽