衰减全反射光谱的原理
红外光谱是分析化合物结构的重要手段。常规的透射法使用压片或涂膜进行测量，对某些特殊样品( 如难溶、难熔、难粉碎等的试样) 的测试存在困难。为克服其不足，20世纪60年代初出现了衰减全反射(Attenuated Total Refraction,ATR) 红外附件，但由于受当时色散型红外光谱仪性能的限制， 技术的应用研究领域比较局限。80年代初将ATR技术开始应用到傅里叶变换红外光谱仪上，产生了傅里叶变换衰减全反射红外光谱仪(Attenuated Total internal Reflectance Fourier Transform Infrared spectroscopy,简称ATR-FTIR).ATR的应用极大地简化了一些特殊样品的测试，使微区成分的分析变得方便而快捷，检测灵敏度可达10-9g数量级，测量显微区直径达数微米［1，2］。ATR附件基于光内反射原理而设计。从光源发出的红外光经过折射率大的晶体再投射到折射率小的试......阅读全文
衰减全反射光谱的原理
红外光谱是分析化合物结构的重要手段。常规的透射法使用压片或涂膜进行测量，对某些特殊样品( 如难溶、难熔、难粉碎等的试样) 的测试存在困难。为克服其不足，20世纪60年代初出现了衰减全反射(Attenuated Total Refraction,ATR) 红外附件，但由于受当时色散型红外光谱仪性能的限
全反射傅里叶变换红外(ATRFTIR－)－光谱仪的衰减全反射特点
1) 不破坏样品, 不需要象透射红外光谱那样要将样品进行分离和制样。对样品的大小, 形状没有特殊要求, 属于样品表面无损测量。 2) 可测量含水和潮湿的样品。 3) 检测灵敏度高, 测量区域小, 检测点可为数微米。 4) 能得到测量位置处物质分子的结构信息、某化合物或官能团空间分布的红外光
傅里叶红外光谱仪ATR衰减全反射法
ATR衰减全反射法常规的透射光谱可用压片或液体池法进行测量，但是对于某些特殊样品，难熔、难溶及难粉碎的试样（如塑料聚合物、橡胶等），透射光谱存在制样困难的问题。衰减全反射（Attenuated Total Refraction，ATR）红外附件可以完美的解决这些问题。它具有制样简单、无破坏性、检测灵
位移型光衰减器的衰减原理简介
光衰减器是一种非常重要的纤维光学无源器件，是光纤CATV中的一个不可缺少的器件。到目前为止市场上已经形成了固定式、步进可调式、连续可调式及智能型光衰减器四种系列。 衰减器的衰减原理。光衰减器的类型很多，不同类型的衰减器分别采用不同的工作原理。 位移型光衰减器。 众所周知，当两段光纤进行
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)原理及结构简述
X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时，受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测，与样品内待测元素的含量相关，此为XRF光谱仪的理论依据。 根据分光系统的不同，XRF光谱仪主要有波长色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)两种，二者结构示
全反射荧光光谱仪基本介绍
全反射荧光光谱仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的分析仪器，于2014年12月1日启用。 技术指标 检出限可以达到 ppb 和 ppm 级别，S2 PICOFOX 非常适用于痕量元素分析。在样品数量较少、液体样品含有高基质以及样品种类经常变化的情况下，优势十分明显。 主要功能 便
X射线荧光光谱仪的全反射荧光
如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1
全反射X荧光光谱仪的特点介绍
1、单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响； 2、对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； 3、多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； 4、不受样品的类型和不同应用需求影响； 5、的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； 6、优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；
全反射X荧光光谱仪的基本介绍
全反射荧光光谱仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的分析仪器，于2014年12月1日启用。 1、技术指标 检出限可以达到 ppb 和 ppm 级别，S2 PICOFOX 非常适用于痕量元素分析。在样品数量较少、液体样品含有高基质以及样品种类经常变化的情况下，优势十分明显。 2、主要功
光纤衰减器的工作原理
光纤衰减器也称光衰减器，是一种用来降低自由空间或光纤中光功率的装置，它可以运用各种技术调试光功率、降低光信号能量，从而把光功率调整到需要的水平，是光纤通信系统中运用较普遍的一种光学器件光纤衰减器作为一种光无源器件。光纤衰减器主要用于调试光通信系统当中的光功率性能、光纤仪表的定标校正以及光纤信号衰
光纤衰减器的工作原理
光纤衰减器也称光衰减器，是一种用来降低自由空间或光纤中光功率的装置，它可以运用各种技术调试光功率、降低光信号能量，从而把光功率调整到需要的水平，是光纤通信系统中运用较普遍的一种光学器件光纤衰减器作为一种光无源器件。光纤衰减器主要用于调试光通信系统当中的光功率性能、光纤仪表的定标校正以
红外光谱－橡胶鉴定分析中发挥的价值港东科技测试技术
在傅立叶变换红外光谱法分析橡胶的方法中，有两种方法，一种是按照GB/T7764-2001《橡胶鉴定—红外光谱法》国家标准对橡胶进行鉴定分析的常规方法，另一种是利用红外漫反射和衰减全反射法（ATR）对橡胶进行分析鉴定的方法。 1.GB/T 7764-2001常规方法 此法适用于测试异戊
红外光谱法在橡胶鉴定分析中的应用
红外光谱法（IR ）通常是分析各种高聚物材料的最佳技术，随着红外仪器的不断完善和发展，特别是计算机技术的发展，傅立叶变换红外光谱法已成为橡胶分析的有利工具和常用手段。本文以实际样品测试为例，介绍了FT IR -650傅立叶红外光谱仪测试丁腈橡胶的方法。 在傅立叶变换红外光谱法分析橡胶的方法中，有
全反射的定义
光由相对光密介质射向相对光疏介质，且入射角大于等于临界角C，即可发生全反射。临界角即使折射角等于90°时的入射角。根据折射定律， 。因为空气的折射率n=1,所以由某介质向空气入射则简化为n=1/sinC.
光纤衰减器工作原理概述
衰减器就像太阳镜，通过吸收多余的光能量，保护您的眼睛免受强光刺激。光纤衰减器可以像太阳镜一样，通过在特定波长范围下工作，保护光纤。好的光纤衰减器的标准是：通过吸收额外的光纤来代替反射光纤。因为在光纤通信中，需要在不损坏光纤衰减器的前提下，使用较低的光功率。
红外光谱法在粘合剂（胶粘剂）定性鉴别的应用
红外光谱法在粘合剂（胶粘剂）定性鉴别的应用摘要：粘合剂（胶黏剂）一般为多组分体系，其配方复杂。配料分为两部分，起基本粘接作用的物质，称为基料，另外为了满足工艺和生产上各种不同的要求，尚需加入各种添加剂，以更好地发挥粘接效益。经常应用的添加剂有固化剂与硫化剂、硫化促进剂、防老剂、增塑剂和增韧剂、稀释剂
光纤光谱仪FVA－|－光纤衰减器
FVA | 光纤衰减器产品介绍：本产品中间有一个可调狭缝，两端平行位置各有一个光纤准直镜。光纤可变衰减器FVA-UV光纤可变衰减器是一种光学机械装置，用于帮助控制两跟光纤之间的光通量，FVA-UV通过SMA 905连接件连接光纤，在UV-VIS至近红外波段一致性衰减所有波长的光。FVA-ADP-UV
TXRF全反射X射线荧光光谱仪的相关介绍
TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体
全反射X射线荧光光谱仪技术相关介绍
全反射现象由Compton于1923年发现，1971年Yoneda等首次提出利用全反射现象来激发被测元素的特征谱线。这是一种超衡量检测XRF技术。 XRF于1981年在德国问世,实质上是EDXRF的拓展,与常规EDXRF所具有的关键区别就在于其反射系统：TXRF通常有一级、二级或三级反射系
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)组成结构
反射X射线荧光光谱仪(TXRF)主要包括：X射线源、光路系统、进样系统、探测器、数据处理系统及其他附件，下文主要介绍前四部分。 一、X射线源：由高压发生器及射线管组成。提供初级X射线，对样品中待测元素进行激发得到X射线荧光，其强度正比于初级X射线的强度。通常，XRD或XRF发生器便可满足TXR
什么是全反射X射线荧光光谱仪技术？
全反射现象由Compton于1923年发现，1971年Yoneda等首次提出利用全反射现象来激发被测元素的特征谱线。这是一种超衡量检测XRF技术。 XRF于1981年在德国问世,实质上是EDXRF的拓展,与常规EDXRF所具有的关键区别就在于其反射系统：TXRF通常有一级、二级或三级反射系统
概述锂电池的工作原理及衰减
如果把正极比作“工厂”，负极比作“公寓”，Li+(锂离子)比作“员工”。那么放电就是员工从公寓去工厂上班释放能量的过程，充电就是员工下班回公寓休息补充能量的过程。从这个比喻中我们可以想象无论是工厂岗位的减少，或是公寓的年久失修，以及员工的流失，最终都会导致了整体的衰减。 1、 容量衰减 相当
ATR采样技术
在红外光谱中有一特殊的成员，他的存在解决了一般红外光谱仪所不能解的难题，没错他就是衰减全反射红外光谱仪。今天就让我们实验与分析的特约作者带你全析ATR。衰减全反射(attenuated total reflectance, ATR)，是分子光谱尤其是红外光谱重要的采样技术之一。同传统的透射方法相比
红外显微镜测量方式你还不知道吗
红外显微镜是将红外光谱仪与光学显微镜联用的系统。主要由红外主机、显微镜系统和计算机组成。由于其精密性，多采用干涉原理，主要部件包括干涉仪、显微镜光学系统、检测器等。由红外光源发出的光经分束器分为两束光，一束由动镜经分束器反射到样品后进入检测器；另一束由定镜反射经分束器、样品后到检测器，两束光作用于
红外光谱实验技术
红外光谱实验技术一. 实验目的1. 掌握固体和液体样品的常规制样方法2. 了解傅里叶变换红外光谱仪的工作原理和使用方法3. 了解ATR光谱附件的工作原理并掌握其使用方法 二. 实验内容1.固体样品的制备方法：压片法将固体样品与金属卤化物（KBr）按适当比例混合，于玛瑙研钵中快速研磨成极细的粉末(～2
红外光谱仪atr使用方法
氯化钠窗片抛光。红外光谱实验技术一. 实验目的1. 掌握固体和液体样品的常规制样方法2. 了解傅里叶变换红外光谱仪的工作原理和使用方法3. 了解ATR光谱附件的工作原理并掌握其使用方法 二. 实验内容1.固体样品的制备方法：压片法将固体样品与金属卤化物（KBr）按适当比例混合，于玛瑙研钵中快速研磨成
全反射X射线荧光分析仪原理及特点
全反射X荧光光谱仪原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是“传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以zui大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体
带您详细分析赛默飞红外显微镜的原理
红外显微镜几经更新换代，已由最早的普通红外显微镜发展到了逐点扫描红外显微镜，又发展到现在应用的线扫描或面扫描红外显微镜。由于红外显微镜具有放大和聚焦作用，所以它照射到样品上的有效红外光斑直径可以小到100～200微米，这就为采集微量样品或样品表面微区的红外光谱提供了可能，而且能够得到高质量的红外光谱
Nicolet系列傅立叶变换红外光谱仪的几种附件
Nicolet系列傅立叶变换红外光谱仪有以下6种附件：KBr透射附件、衰减全反射附件、智能漫反射附件、镜面反射附件、气体检测附件、ESP透射变温附件基本的KBr透射附件 载体材料的选择：目前以中红外区（4000～400cm-1）应用最广泛，一般的光学材料为 NaCl (4000
光致发光谱的衰减时间常数有什么物理意义
光致发光谱的衰减时间常数的物理意义在于：在实验测试中，荧光发光光谱包括激发谱和发射谱两种。激发谱是使用不同波长激发光测试发光材料在某一波长处荧光强度的变化情况，即不同波长激发光的相对效率；发射谱则是在某一固定波长激发光作用下的荧光强度在不同波长处的分布情况，即荧光中不同波长的光成分的相对强度。一般情