安科慧生：做受人尊重的科学仪器
近日，清华大学分析中心室邢志研究员、北矿检测技术有限公司研发部主任冯先进与分析测试百科网总经理卞利萍来到北京安科慧生科技有限公司（以下简称：安科慧生），受到安科慧生总经理滕飞亲切接待。 总经理滕飞带领一行人参观了安科慧生X射线荧光光谱仪(XRF)实验室，并介绍、讲解了安科慧生独创的水泥元素分析仪、台式高灵敏度XRF重金属分析仪和便携式高灵敏度XRF重金属分析仪。 北矿检测技术有限公司研发部主任冯先进与安科慧生总经理滕飞就新型仪器的核心技术和未来发展方向进行了讨论。总经理滕飞介绍了安科慧生的XRF分析仪器采用的两大核心技术。这两大技术可高效、准确地完成痕量重金属元素分析。同时，总经理滕飞也就安科慧生XRF荧光光谱仪的使用方法和注意事项进行了详细的讲解。此后，总经理滕飞也与冯先进就目前仪器未来的应用领域和矿石等行业的发展情况进行了讨论。 工程师介绍了安科慧生核心技术与应用领域。安科慧生自主研发拥有了高通量全聚焦型双曲面弯晶......阅读全文
WDXRF（波谱）与EDXRF(能谱)有哪些区别之处
X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。X射线荧光分析仪分为波长色散型（WD-XRF）与能量色散型（ED-XRF）两种。两者虽然同属于X射线荧光分析仪，产生信号的方法相同，后得到的波谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，两者在原理和仪器结构上有
清华慧创携手培养国际人才|清华大学英籍心理学硕士启航慧创研学之旅
2023年1月16日，清华大学英籍心理学硕士实习生富莎莎来到慧创医疗实践基地开展实习，慧创近红外创始人、清华大学博士汪待发教授对她的到来表示欢迎！汪老师与清华大学英籍硕士实习生富莎莎合影富莎莎此次参与到慧创医疗实践基地训练营中，是清华大学与慧创近红外携手培养国际人才的开端，是产学研结合的典型范本，更
中科院西安科学园将建大科学装置群
陕西省今年将开始建设该省的第一台大科学装置——高精度地基授时系统，未来这个系统的建成将有助于使我国各行各业的用时能力达到世界先进水平。这是记者9日从中科院西安分院获悉的。 高精度地基授时系统是国家重大科技基础设施“十三五”规划的十大项目之一，将建立与星基授时系统相对独立、融合公用、互补增强的地
“科技大市场”加速西安科技成果转化
“科技强、经济弱”曾困扰西安的发展。近年，西安市通过“科技大市场”统筹科技资源、创新市场化服务、推进成果转化，促进了科教优势向经济优势转化。 科技资源共享 “通过科技大市场的共享平台，我们在家门口找到了检测设备，每年为公司节省检测成本上百万元。”西安富士达科技股份有限公司质量总监丁蕊英说
赛默飞世尔（中国）新任总监到访盈安科技
2011年4月14日下午，新任总监柯里斯在陈仁甫(赛默飞世尔尼通产品中国区销售经理)陪同下，来到盈安位于 丰台总部基地的办公大楼。Mr.Christopher Knowles(柯里斯)是赛默飞世尔(中国)过程仪器部中国区商务总监，曾在赛默飞世尔供职多年，具有丰富的专业背景和销售管理经验，
清华大学仪器共享平台易安科仪－管式炉
仪器名称：管式炉仪器编号：21002033产地：中国生产厂家：易安科仪（北京）国际贸易有限公司型号：STF55433POMC出厂日期：购置日期：2021-02-04所属单位：电子系>纳米光电子综合测试平台放置地点：罗姆楼B1-304室固定电话：62796594固定手机：15910619833固定em
马涵慧博士再发CRISPR研究成果
最近在《Journal of Cell Biology》发表的一项研究中，美国麻省大学医学院的科学家，揭示了“CRISPR-Cas9机器在活细胞内如何运作”的重要新细节，对于开发使用强大基因编辑工具的治疗方法，具有重要的意义。 本文通讯作者、生物化学与分子药理学教授Thoru Pederson
百年泽慧：沿着不同的道路
何泽慧(1914~2011)，中国核物理、高能物理与高能天体物理学的奠基人之一。1914年3月5日生于江苏苏州市，1920年起就读振华女校，1932年考入清华大学物理系。1936~1940年在德国柏林高等工业大学攻读弹道学，获工程博士学位。毕业后进入德国西门子工厂弱电流实验室工作。1943年到海
朱慧兰：对光线过敏，该如何防治？
“为何都在阳光下走，别人只是晒黑了，我的皮肤却又红又痒又肿？”在日常的门诊中，广州市皮肤病医院教授朱慧兰经常遇到患者提出这样的问题，尤其在夏季。“这其实是光敏性皮肤病，简单地说就是对紫外线、可见光等过敏，皮肤发生变化。”朱慧兰（受访者供图）一年四季可发病目前，学术界认为光敏性皮肤病的病因较复杂，但最
一文了解微区XRF，及基于SEM的微区XRF技术
X射线荧光（XRF）是一种用于测定材料元素和涂层系统特性的分析方法，具有悠久的历史，在许多实验室都有应用。传统上，XRF分析大面积或体积的样品。在制备过程中，往往需要对样品材料进行变形和破坏，即制备过程是破坏性的。但很多样品需要在无损的情况下进行检测。这意味着需要将完整的样品放置在仪器中，不可能
XRF与原子吸收的区别
XRF：X射线荧光分析，检出极限~ ppb级。原子吸收，一般检出极限~ ppm.
关于XRF仪器的特点介绍
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
XRF能扫描全部元素吗
不能做全部元素扫描，因为轻质元素能量跃迁很小，不容易捕捉。最好情况下XRF能检测Na（第十一号元素）以后的元素。
XRF2000镀层测厚仪规格
儀器功能 : 測量電鍍層厚度（单镀层 双镀层 合金镀层 电镀液分析 元素定性分析）系統結構 :主機箱,專用分析電腦,,彩色打印機主機尺寸610 x 670 x 490 mm主機箱重量 : 75 公斤配件重量 : 約 35 公斤以电脑鼠标移動方式,驅動 XYZ 三軸移動,步進馬達XYZ 樣片台移動尺寸
XRF的能量相关信息介绍
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为: E=hν=h C/λ 式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。 因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外
XRF镀层测厚仪的技术介绍
XRF技术的最小检测厚度为大约1nm。如果低于这个水平，则相应的特征X射线会淹没于噪声信号中，无法对其进行识别。最大范围约为50μm左右。如果在该水平之上，则镀层厚度将导致内层发射的X射线无法穿透镀层而到达探测器。即厚度的任何进一步增加都不会导致更多的X射线到达探测器，因此厚度达到饱和无法测出变
GENIUS－XRF系列新品闪耀登场
RoHS 合金 地矿 土壤 精准检测、10秒到位 GENIUS XRF系列新品闪耀登场 经过近一年的前瞻性研发，天瑞仪器向市场正式推出GENIUS XRF系列产品，该系列是在原有手持三代基础上创新升级而成，故也被称为手持四代x荧光分析仪。 手持式产品一直是天瑞传统优势产品之一，其便携小巧
关于XRF的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子
XRF使用规程9900OXSAS
1． 开机前首先须确认电路和仪器及各辅助设备正常。 2． 打开外循环冷却水机，并将其温度设定为20℃。打开P10气体阀，并将其输出压力设定为0.025MPa。 3． 依次打开主机背后的主电源和高压发生器电源，旋开主机前面的紧急制动按钮。 4． 打开计算机，登陆OXSAS分析程序。点击弹出窗口中的In
XRF分析仪探测什么？
XRF分析仪可以探测从镁（Mg）到铀（U）的元素。XRF分析仪几乎可以指向任何样件进行检测，并获得准确的结果。使用分析仪完成的常见应用包括废料分拣、合金牌号的辨别、金属制造业的质量控制（QC）、地质勘探或采矿、工业材料的检测，如：水泥或煤炭等，以及消费产品的检测，以发现漆层中的铅或其他污染物。
选择XRF技术的优势介绍
相比其他分析技术，XRF具有许多优势。 其速度较快。能够测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度。此外，其属于非破坏性技术，仅需制备少量样品甚至完全不需要制备样品，因此，其相比其他技术成本较低。 这也就是为什么全球这么多人选择使用XRF技术进行日常的材料分析工作。
xrf国家标准有哪些？
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 在中国标准分类中，xrf与xrf涉及到润滑油、金属无损检验方法、重金属及其合金、重金属及其合金分析方法、耐火材料综合、特种
直读光谱与XRF的异同
1、两者的测试原理不同：直读光谱仪是用电弧（火花）的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长，经光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，
XRF操作问题解答
R o HS测试时，为什么记数率变化很大？ 答：由于材料不同，X荧光对不同的材料的激发效率就是不同的，所以记数率不相同的，同时，是因为金属成份比较复杂，其测量的记数率变化更大，其变化并不影响实际的测量结果。 2. 样品测试时间有多长？ 答：测试时间越长，其测量的精度会越高，一般测量的时间与样品的
关于XRF仪器的原理介绍
X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。 XRF工作
XRF分析仪检测什么？
分析仪分析可以通过探测从镁（Mg）到铀（U）的元素。XRF分析仪几乎我们可以直接指向任何样件进行系统检测，并获得更加准确的结果。使用网络分析仪完成的常见技术应用主要包括废料分拣、合金牌号的辨别、金属设备制造业的质量管理控制（QC）、地质勘探或采矿、工业建筑材料的检测，如：水泥或煤炭等，以及社会消费金
XRF原理天瑞EDX－2800
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（
关于XRF的发展历程介绍
1895年伦琴发现X射线； 1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础； 20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段； 60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅速发展，并使现场和原位X射线光谱分析成为可能
XRF仪器的基本理论
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到
关于XRF的基本分析
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据