电子探针仪与扫描电镜有何异同
二者最主要的不同是其工作原理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形貌像，这是其中的一个工作方式，还有针尖位置不变，电压变化的工作方式等。另外STM发展的非常蓬勃，衍生出很多其他类似的分支电镜，如AFM等。扫描电子显微镜（scanning electron microscopy,SEM),是通过电子束对样品表面进行反复的扫射，通过探头收集反射回来的二次电子和背散射电子来进行成像。二者相同的地方则是主要用作测样品表面形貌的仪器......阅读全文
电子探针的主要用途
电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。分析元素从原子序数3（锂）至92（铀）。绝对感量可
电子探针显微分析的原理
用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征x射线。 分析特征x射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)。 分析x射线的强度，则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分析)。 电子探针仪镜筒部分的构造大体上和扫描电子显微镜相同，只是在检测器部分使用的是x射线谱仪，
电子探针测试前需要准备什么
电子探针一般对样品表面抛光质量要求较高，在尺寸方面也有要求。具体制样要求如下：（1）光、薄片尺寸：薄片大小为 48.0±5mm x 26.0±5mm，光片大小为直径≤29mm的圆形光片（2）表面平整洁净。对表面不清洁的样品，需进行精细抛光。（3）抛光后或不需抛光的薄片，需要送样人用炭素笔在薄片上圈定
电子探针的工作原理及构造
工作原理分析由莫塞莱定律可知，各种元素的特征X射线都具有各自确定的波长，并满足以下关系：通过探测这些不同波长的X射线来确定样品中所含有的元素，这就是电子探针定性分析的依据。而将被测样品与标准样品中元素Y的衍射强度进行对比，即:就能进行电子探针的定量分析。 当然利用电子束激发的X射线进行元素分析，其
电子探针的功能和应用特点
电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线
关于电子探针X射线显微分析仪的结构特点介绍
电子探针X射线显微分析仪(简称电子探针)利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
液氮罐的日常保存 1、液氮罐的放置 液氮罐要存放在通风良好的阴凉处，不能在太阳光下直晒，且无论在使用或存放时，液氮罐均不能倾斜、横放、倒置、堆压、相互撞击或与其他物件碰撞，要做到轻拿轻放，并始终保持直立。严禁在容器盖上放置物体和密封颈口。用于长期贮存时，则需要定期补充液氮，补充时机一般为液氮剩余
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。 电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针图像系统的微机接口设计
前,世界上仍然使用着很多模拟图像系统的旧型电子探针和扫描电镜,仅国内就有数百台。它们的主机性能仍然良好,但使用单色CRT显示,没有图 像处理能力,图像质量不高,灰度分辨率不超过40级。基于这一缺陷,我们在地质矿产部科学技术司的资助下,研制了电子探针和扫描电镜的模拟图像系统与微形 计算机的接口,以实现
简介电子探针显微分析的特点
1.显微结构分析 电子探针是利用0.5μm－1μm的高能电子束激发待分析的样品，通过电子与样品的相互作用产生的特征X射线、二次电子、吸收电子、 背散射电子及阴极荧光等信息来分析样品的微区内(μm范围内)成份、形貌和化学结合状态等特征。电子探针是几个μm范围内的微区分析， 微区分析是它的一个重要
扫描电镜与电子探针的区别
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形貌像
电子探针可以用于汽车制造吗？
众所周知，用于汽车制造的材料不仅有金属等无机材料，还包括塑料等有机材料。而且金属材料也要经过喷涂、热处理等多种不同的表面处理方法。电子产品也需要在耐热耐震等安全方面的可靠性保证。近年来随着环境保护意识的提高，也引起了汽车尾气催化剂、混合动力车的锂离子二次电池等的研发热潮。因此汽车行业是一个涉及多
电子探针显微分析的方法介绍
电子探针分析有两种基本分析方法：定性分析和定量分析。 （1）定性分析 定性分析是对试样某一选定点（区域） 进行定性成分分析，以确定点区域内存在的元素。 定性分析的原理：用光学显微镜或在荧光屏显示的图像上选定需要分析的点，使聚焦电子束照射在该点上，激发该点试样元素的特征X射线。用X射线谱仪探
扫描电镜与电子探针的区别
扫描电镜和电子探针的根本区别在于电子束流:电子探针的束流(指打在样品表面的电流)要比扫描电镜大几个数量级.由此造成:电子探针的空间分辨率差,二次电子和背散射电子分辨率差.如果要求不高, 电子探针可以当作扫描来用.
为什么电子探针要使用抛光样品
简单来说 就是电子束从样品里面岀射时会被样品吸收一部分能量，对应一定的吸收距离，样品表面平整的话就有统一的吸收距离，则可统一修正，简单的如ZAF修正。如果样品表面不平整，则打在不同地方电子束的吸收距离不同，那么原来统一的修正显然不再适合。
关于电子探针X射线显微分析仪的俄歇电子介绍
入射电子与样品相互作用后，元素原子内层轨道的电子轰击出来成为自由电子或二次电子，而留下空位，从而原子不稳定。则外层高能电子填充空位，释放出能量，释放的能量一方 面以辐射特征X射线的方式释放，另一方面释放的能量被该原子吸收，从而从另一轨道上轰击出电子，该电子为俄歇电子。俄歇电子发生的几率随原子序
电子探针X射线微区分析仪的工作原理是怎样的呢？
电子探针X射线微区分析仪简称电子探针。利用髙能电子束与物质相互作用时产生的特征X射线来分析试样微区化学组成的一种显微仪器。其工作原理为：聚焦得很细的电子束照射在试样某微区，使该微区原子受激产生特征X射线，通过已知晶面间距的分光晶体对不同波长的X射线分光，来测量它的波长与强度，从而对微
电子探针X射线显微分析仪的特征X射线和吸收电子
特征X射线 高能电子入射到样品时，样品中元素的原子内壳层(如K、L壳层) 处于激发态原子较外层电子将迅速跃迁到有空位的内壳层，以填补空位降低原子系统的总能量，并以特征X射线释放出多余的能量。 吸收电子 入射电子与样品相互作用后，能量耗尽的电子称吸收电子。吸收电子的信号强度与背散射电子的信号
关于电子探针的定性分析方法介绍
1. 定点分析： 将电子束固定在要分析的微区上，用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线。 镁合金中的析出相CaMgSi的鉴别 Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元
电子探针分析的X射线能谱法
本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学
1330万！湖南大学采购红外光谱、电子探针显微分析仪等
近日，湖南大学发布《湖南大学JY-2022011货物采购项目公开招标公告》，欲花费1330万元采购电子探针显微分析仪、在线红外光谱等设备。具体详情如下：一、项目基本情况项目编号：JYCZ202201199项目名称：湖南大学企业信息JY-2022011货物采购项目预算金额：1330.0000000 万
电子探针仪的二次电子及二次电子像介绍
入射电子与样品相互作用后，使样品原子较外层电子(价带或导带电子)电离产生的电子，称二次电子。二次电子能量比较低，习惯上把能量小于50 eV电子统称为二次电子，仅在样品表面5 nm-10 nm的深度内才能逸出表面，这是二次电子分辨率高的重要原因之一。 当入射电子与样品相互作用时，入射电子与核外电
扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结
一、EPMA相对于SEM，(平台方面)：1.可以大束流，计数率与束流成正比；2.束流控制和稳定性更好；3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS，(EPMA标配WDS，SEM选配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级；2.EPMA的灵敏度优于EDS，测试微量元素时
电子探针X射线微区分析的工作原理
电子探针（Electron Probe Microanalysis-EPMA）的主要功能是进行微区成分分析。它是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。 其原理是：用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征X射线，分析特征X射线的波长（或能量）可知元素种类；分析
扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结
一、EPMA相对于SEM，(平台方面)：1.可以大束流，计数率与束流成正比；2.束流控制和稳定性更好；3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS，(EPMA标配WDS，SEM选配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级；2.EPMA的灵敏度优于EDS，测试微量元素时
清华大学仪器共享平台JEOL－电子探针（EPMA）
仪器名称：电子探针（EPMA）仪器编号：13010514产地：日本生产厂家：JEOL型号：JXA8230出厂日期：2010.1购置日期：201306所属单位：材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>电子探针、X射线荧光分室放置地点：逸夫技科楼A306室固定电话：固定手机：固定email：联系人：朱彦洁（0
电子探针显微镜之元素分析范围广
电子探针所分析的元素范围从硼(B)——铀(Ｕ)，因为电子探针成份分析是利用元素的特 征 X 射线，而氢和氦原子只有 K 层电子，不能产生特征 X 射线， 所以无法进行电子探针 成分分析。锂(Li)和铍(Be)虽然能产生 X 射线，但产生的特征 X 射线波长太长，通常无法进 行检测，少数电子探针