“完美的探测器设计”：探索正反物质差异有了灵敏探针
北京正负电子对撞机上的北京谱仪III（BESIII）实验实现了一种全新方法，为研究物质和反物质之间的差异提供了极其灵敏的探针。6月2日，相关研究成果刊发于《自然》杂志。 论文所有匿名评审都对这一成果大加赞赏：“创新的测量方法”“很重要”“很新颖”“吸引人”“非常有前景”……到底是什么成果，竟让匿名评审们如此兴奋？ 不好好“组CP”的反物质 “正反物质不对称性”是困扰科学界半个多世纪的问题，也是粒子物理学家一直在寻找的现象。他们常会提到一个词——“CP破坏”。 “CP破坏”里的“CP”，和我们平时常说的“组CP”里的“CP”（情侣档）并不是一码事。 130亿年前，宇宙在发生大爆炸之后迅速膨胀、冷却，大量正反粒子彼此结合、湮没。然而，就像闹了别扭的情侣一样，正反粒子在结合湮没的过程中，行为出现了一些不同。每十亿个正反粒子湮没的过程中，就有一个正物质粒子被留了下来，并最终组成了当今宇宙中所有的物质。 科学家将正粒子和反......阅读全文
电子探针谱仪概述
原理：利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线，得到X射线谱。根据特征X射线的波长（或能量）进行元素定性分析；根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。 适合分析材料:金属及合金，高分子材料、陶瓷、混
基于扫描探针电子能谱仪的表面谱学成像研究
电子能谱技术广泛用于固体表面元素分析、化学环境分析及形貌测量等,在表面物理研究中发挥着重要的作用。近年来,对单个纳米粒子的等离激元激发和单个生物大分子的激发能谱等研究均需要具有一定空间分辨能力的表面电子能谱测量(或表面谱学成像)技术。虽然现阶段快速发展的扫描透射电子显微镜(Scanning Tran
扫描探针电子能谱仪控制系统的研制
报道了自行搭建的扫描探针电子能谱仪(SPEES)控制系统的硬件及软件实现。该系统包括探针三维扫描控制、谱仪通过能电压扫描控制及样品电流反馈控制,在针尖控制上能够实现x、yz、三个方向上的定位以及恒高模式与恒流模式的扫描,在电子能谱测量上能够实现能量定点模式和能量扫描模式。对石墨表面Ag岛及石墨表面A
北京谱仪完成Y（2175）数据获取
从5月1日至6月17日，北京正负电子对撞机与北京谱仪实验人员通力合作，克服了低能区运行的种种困难，保证对撞机和谱仪高效稳定运行。短短一个半月时间内，累计采集100pb-1数据，按计划完成了在质心系能量2.125 GeV的数据采集任务，为研究Y（2175）粒子及其衰变奠定了良好基础。
扫描探针电子能谱仪的研制及相关实验研究
随着表面科学的蓬勃发展和表面分析技术的快速进步,人们不再满足于一种分析技术获得一种表面信息的状况,更加希望能够用一种多功能分析系统较为完备地表征固体表面。将扫描隧道显微镜(STM)和电子能谱技术的结合组建的扫描探针电子能谱仪(Scanning Probe electron energy spectr
扫描探针电子能谱仪的数据获取系统的研制
报道了我们自行搭建的扫描探针电子能谱仪的数据获取系统的物理实现.该系统包括二维位置灵敏电信号的编码、读出以及后续的在线数据采集和离线数据处理.对惰性气体Ar的初步测量充分验证了该系统的可靠性与稳定性.
电子探针能谱仪分析结果受哪些因素
X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，广泛应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。它是当今国内
北京离子探针中心离子探针质谱仪器研发进入攻坚阶段
2010年1月16-17日，由北京离子探针中心主办的“2009北京SHRIMP成果报告会”在京隆重举行。中国科学院多位院士、政府相关部门负责人以及来自全国各地的地学界同仁等约100人出席了开幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流会”已经成为中国地学界同仁们进行学术交
电子探针X射线微区分析能谱仪分析特点
具有以下优点（与波谱仪相比） 能谱仪探测X射线的效率高。 在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动），不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
北京谱仪实验发现新的Zc结构
北京谱仪III（BESIII）实验国际合作组于2013年3月宣布发现了一个新的共振结构Zc(3900)，该发现引起国际广泛关注，《物理评 论快报》、《自然》等杂志做了热点报道。因为其中含有一对正反粲夸克且带有和电子相同或相反的电荷，提示其中至少含有四个夸克，极有可能是科学家们长期寻 找的介子分
北京谱仪Ⅲ获取世界最大数据样本
记者近日从中科院高能物理研究所获悉，自2009年北京正负电子对撞机完成重大改造投入运行后，大型粒子探测器——北京谱仪Ⅲ获取物理事例有了极大提高。目前，实验的国际合作组已拥有世界最大直接产生的J/psi、psi"、psi(3770)数据样本，“已经进入高能物理研究的‘丰收季节’”。 高
北京正负电子对撞机/北京谱仪完成ψ(3770)数据获取
6月26日，北京正负电子对撞机（BEPCII）和北京谱仪(BESIII)圆满完成本年度实验数据获取，获取约530万ψ(3770)事例，这是目前世界上最大的ψ(3770)样本，超过了此前CLEO-c两年的积分亮度样本。这些数据可以用来精确测量D介子的衰变常数、粲介子半轻衰变形状
北京离子探针中心仪器共享结硕果
本报讯 北京离子探针中心近日被科技部和财政部正式认定为首批国家级科技基础条件平台之一。10年来，该中心两台高分辨二次离子探针质谱仪平均每年运行266.8昼夜，对外开放机时比例达76%；自2007年起，单台仪器科研论文产出量已连续位居世界同类仪器的第一位。 高分辨二次离子探针质谱仪（英文
北京谱仪Ⅲ首次观测到单卡比玻压低过程
近日，兰州大学稀有同位素前沿科学中心、兰州大学核科学与技术学院李培荣青年研究员与中山大学、中国科学技术大学、中国科学院大学以及高能物理研究所合作，在北京谱仪Ⅲ实验上，利用4.612至4.699Gev能区之间的实验数据首次观测到单卡比玻压低过程公式到nπ+。相关成果在《物理评论快报》上发表。 作
四探针－四探针测试仪－薄膜电阻测定仪
1．SZT-2A 主机采用的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。2．屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示）。3．匹配电脑接口及软件，让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑进行自动运算根据输入指定厚度，自动比照并修正系数，使被
北京离子探针中心：争创世界一流
坚持科学发展 争创世界一流 地球科学的探索与实践，为世界经济的蓬勃发展和人类的文明与进步做出了卓越贡献。北京离子探针中心就是其中的杰出代表。 北京离子探针中心(以下简称“中心”)成立于2001年12月18日，是由科技部、国土资源部和中科院共同出资，以共建共享方式建立，按出资比例分配机时的国家大型
电子探针分析的X射线能谱法
本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学
Cameca1280型离子探针质谱“寻觅”宝藏
初冬的早晨，记者二人走进了中国科学院地质与地球物理研究所，几经打听寻觅，才找到了岩石圈演化国家重点实验室所在的新办公楼。在该实验室李献华研究员的详细介绍下，记者见识了目前国内引进的最先进的Cameca1280型离子探针质谱。 走进摆放这台“体型”颇大、“份量”很沉的离子探针质谱实验室时，一名法国的
北京谱仪揭开光子核子相互作用之谜
北京谱仪III(BESIII)作为北京正负电子对撞机核心科研装置之一，其国际合作组最近已实现对中子电磁结构精确测量，从而揭开困扰学界20多年的光子-核子相互作用之谜。 北京谱仪III国际合作组最新完成的对中子的类时电磁形状因子进行精确测量，实验结果不仅解决了长期存在的光子-核子耦合反常的问题，还
基于LabVIEW的扫描探针电子能谱仪离线数据处理系统
报道了自行搭建的扫描探针电子能谱仪(SPEES)的离线数据处理系统。该系统是由国家仪器公司(National Instrument,NI)开发的图形化语言LabVIEW(Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench)来实现的,能够根据我们SP
俄歇电子能谱仪AES（PHI700Xi）扫描俄歇纳米探针
PHI的700Xi扫描俄歇电子能谱仪(AES) 提供高性能的扫描俄歇电子(AES) 频谱分析，俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括：纳米材料，催化剂，金属和电子设备。维持基于PHI CMA的核心俄歇仪器性能，和响应了用户所要求以提高二次电子（SE）成像性能和高能量分辨率光谱。PHI的同轴镜分析仪（C
基于环形电子能量分析器的扫描探针电子能谱仪的性能
表面科学中,扫描隧道显微镜(STM)己成为一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量和费米面附近电子态的探测。但是它无法直接识别表面原子的种类。结合扫描探针技术与电子能谱测量技术是实现表面原子识别的一种方案,该方案中,STM针尖作为场发射源激发表面原子,通过探测次级电子的能谱而实现表面原子
北京谱仪实验组：打开寻找奇特态粒子的大门
编者按：近年来，在国家自然科学基金委员会的资助下，一大批在国内外具有重要影响的科研成果脱颖而出。本报从今天起开设“走基层 看创新——重大科研成果见闻”栏目，报道介绍一批2013年在国家自然科学基金资助下产生的重大成果。 人们对于构成物质世界的基本粒子的探索，总是永无止境。 在很长一
2024北京测试探针台展|2024第21届北京半导体展览会
2024第二十一届中国国际半导体博览会（IC China）时 间：2024 年 9 月 5 一 7 日地 点：中国·北京 · 北人亦创国际会展中心参展咨询：021-5416 3212大会负责人：李经理 136 5198 3978（同微）（IC China）自2003年起已连续成功举办二十届，是我国半
高温四探针测试仪
高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备1
离子探针分析仪应用
离子探针分析仪应用由于SISM的特点，目前可以应用于下列五个方面的分析研究：1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同
离子探针分析仪应用
目前可以应用于下列五个方面的分析研究：1. 表面分析（包括单分子层的分析），诸如催化、腐蚀、吸附、和扩散等一些表面现象均通过SISM获得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、扩散和离子诸如等有关研究中，SISM是测定杂质和同位素的深度浓度 分布最有效的表面分析工
离子探针分析仪简介
离子探针分析仪，即离子探针（Ion Probe Analyzer，IPA），又称二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚焦成细小的高能离子束轰击样品表面，使之激发和溅射二次离子，经过加速和质谱分析，分析区域可
离子探针分析仪特点
离子探针分析仪有以下几个特点：1. 由于离子束在固体表面的穿透深度（几个原子层的深度）比电子束浅，可对这样的极薄表层进行成份分析。2. 可分析包括氢、锂元素在内的轻元素，特别是氢元素，这种功能是其它仪器不具备的。3. 可探测痕量元素（～50×10-9，电子探针的极限为～0.01%）。4. 可作同位素
四探针测试仪原理
四探针测试技术，是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。对于厚度为W（远小于长和宽）的薄半导体片，得到电阻率为ρ=ηW(V/I)，式中η是修正系数。特别，对于直径比探针间距大得多的薄半