XRF光谱仪简介
X光谱计简称：XRF光谱仪，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。......阅读全文
XRF光谱仪简介
X光谱计简称：XRF光谱仪，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，
X射线荧光光谱仪(XRF)－简介
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
XRF光谱仪的选购要素
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin, SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。2.光管的选型（功率，靶材，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）3.设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线
XRF光谱仪的使用型态介绍
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析
XRF光谱仪的主要部件介绍
1、X射线管：仪器的一部分，产生照射样品的X射线。2、光圈：光圈是引导X射线指向样品的装置的第一部分。XRF仪器中的光圈将决定光斑尺寸——正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。3、探测器：与相关电子设备一并处理从样品中激发出的X射线：探测X射线的能量和强度。4、对焦系统：确保每次测量中X射线管、
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
XRF光谱仪的主要技术要点
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin, SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。2.光管的选型（功率，靶材，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）3.设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线
XRF合金分析仪简介
合金分析仪是基于X射线理论而诞生的，它主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和军事制造领域必不可少的快速成份鉴定工具。
X荧光光谱仪XRF的概述
是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分
关于XRF光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
如何选择X荧光光谱仪（XRF）
应选择历史悠久，技术过硬，故障率低，日常运行成本低，使用年限长，性价比高，品牌过硬的仪器。Niton公司成立超过20年，其便携式光谱仪在世界上处于ling先地位，在世界各地已安装超过12000台，可快捷测试元素周期表中从22号元素钛(Ti)至83号元素铋(Bi)中的23个标准合金成分元素，辅助氦
XRF芯体扫描仪简介
一、XRF芯体扫描仪简介 Itrax芯体扫描仪是瑞典COX公司提供的一种平直束X射线扫描仪，2013年开始正式运行，主要用于湖芯、岩石等柱样剖面的原位、无损、快速、高分辨表面分析。 二、仪器主要功能和技术指标 1、RGB光学图像，反映样品表面形貌。 2、显微X光图像，可以反映样品的密
X荧光光谱仪XRF的性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。 超薄窗大面积的进口SDD探测器。 内置信噪比25倍。 抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程
奥林巴斯XRF光谱仪助力化工管道腐蚀问题
近些年来，随着经济大力发展，我国已经成为了设备使用大国，在承压类特种设备方面的数量激增，随着高强度的使用，运行也有一定风险，一些寿命本来较长的压力管道，很快出现了腐蚀、泄露等安全问题。手持 运行安全隐患问题亟待解决，在试过许多检测方法和仪器后，选择使用奥林巴斯XRF光谱仪，来对这类问题进行解决，奥林
X荧光光谱仪XRF的优势介绍
1、采用独特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）； 2、具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化； 3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求； 4、大容量的样品腔和高清摄像头，样品测量更灵活方便； 5、配备功能齐全的
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成；X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
XRF光谱仪在ROHS检测中的作用
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势： 1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。 2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。 3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求；
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
XRF光谱仪分析中的不确定度
在这里，数据处理过程是指从测量的谱线强度计算样品中元素浓度的过程，包括根据标准样品建立校正曲线和根据校正曲线计算未知样的浓度。在采用多重线性回归方法确定校正曲线的过程中，校正模型的选用、基体校正方法、谱线重叠的校正方法、标准数据的准确性至分析浓度的范围等都对分析结果的准确度产生影响。要对这些因素
X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
XRF光谱仪在ROHS检测中的作用
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势： 1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。 2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。 3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求； 4.对样品测试要
XRF荧光光谱仪样品的制备方法
无论采用哪种方法，都只能用均质样品获得物理和化学分析方法（尤其是X射线荧光（XRF）分析）中的高精度。满足该要求的一种简单方法是将样品溶解在溶剂中，通用且快速的技术是将其与碱性硼酸盐融合。在XRF分析中，硼酸盐熔融特别有利，因为获得的结果是固体玻璃。在其他物理化学方法（AA和ICP分析）中，硼酸盐
XRF(X射线荧光光谱仪)选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测仪检测，能通过的就算合
色散型与能量型x射线光谱仪各有什么优缺点
一、X一射线荧光分析仪(XRF)简介X一射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理I.波长色徽型X射线荧光光诺仪(WD-XRF)是
关于XRF光谱仪的化学分析介绍
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪
简述X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
手持XRF光谱仪操作使用的注意事项
1.一定不要把手持光谱仪长时间放在阳光下，那是由于这样会比较容易损坏它的液晶显示器，环境湿度在0-95％之间更好。不要将其放置在有液体或腐蚀性溶剂的环境中，这也会对手持光谱仪造成很大的损坏。2.在我们更换手持式光谱仪检测窗口的时候，一定要在无尘环境中清洁，避免灰尘侵入其中。还应覆盖检测器窗口，以避免
以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD
仪器介绍： XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作，它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点： 1. 真正实现了快速，准确的检测，直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm 4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，请提前说明