X光荧光分析的应用
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀、感光材料、磁性录音带薄膜厚度和组成：可用于动态分析上，测定某一体系在物理化学作用过程中组成的变化情况．如相变产生的金属问的扩散，固体从溶液中沉淀的速度，固体在同体中的扩散和同体在溶液中溶解的速度等。......阅读全文
新型X射线荧光技术的的应用
第一个受益于这种新型X射线荧光技术的无疑是制造业、机械加工、金属加工、废品回收以及钢铁回收等行业中的质量管理部门，对于这几个行业，几乎所有人都会非常关心他们产品的质量问题。此外，一些先前因为成本高昂而从未考虑过使用X射线光谱分析技术的领域也能受益于此并开始使用XRF，包括航空航天、汽车和医疗仪器
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线荧光光谱仪高压发生器及X射线光管本身的故障分析
高压发生器和X射线光管是仪器内最贵重的部件，一般不会出问题。检查高压发生器，可将高压发生器打开，根据电路图，检查各个开关是否在正常位置，看一下保险丝有没有熔断，再进一步的检查最好由专业维修工程师来做。X射线光管是个封闭的部件，一旦损坏，只能更换，不能修理。检查X射线光管，可检查X射线光管与高压电
X射线荧光分析的基本介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
关于X射线荧光分析的简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
X射线荧光分析的技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
X荧光分析仪的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色
X射线荧光分析方法的简介
X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时，除发生散射现象和吸收现象外，还能产生次级X射线，即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此，根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分；再根据该荧光X射线的强度，还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展，6
X射线荧光分析的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
电子激发X荧光分析的介绍
电子激发X荧光分析的轫致辐射本底比PIXE高二个量级以上，因此分析灵敏度低得多。但是，用聚焦的电子束激发样品表面1微米的区域,使产生元素的特征X 射线，可以观察样品表面组成的局部变化。用这种方法能测定合金、矿物、陶瓷等样品中的夹杂物和析出物，决定合金元素的局部富集区等。
概述荧光X射线测厚仪的应用范围
－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用，我们将列表可测定的厚度范围－基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围
X荧光光谱仪的应用
初从事近红外光谱分析的人员常常会提出这样的问题：什么样的近红外光谱仪器zui好? 如何选择一台合适的近红外光谱仪器?实际上，“zui好”仪器的定义是很难确定的， “zui好”的仪器也是不存在的。因为对某一特定的仪器所提出的各项要求是随着所需要解决的具体问题的不同而有所差异的。为了帮助使用者根据特定
X光管的使用寿命分析
X光管有多种分类形式，按照封装形式可分为玻璃封装和金属陶瓷封装。玻璃封装X光管，具有结构简单价格低廉的优势，功率一般较小，多用于荧光分析仪器。近些年随着荧光分析仪器在中国的普及，越来越多的客户开始关注玻璃封装X光管的寿命问题。那么一个X光管到底能使用多长时间呢?最佳的回答是：“这得看情况而定”
X荧光分析仪的光源是“荧光”吗？
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。
X射线荧光分析技术介绍
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
X射线荧光分析法
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。 X- 射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。 X 射线是伦琴于 1895 年发现的一种电磁辐射，其波长为 0.01 ～ 10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞
X荧光分析仪简介
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。
简述－X－射线荧光分析技术
X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关部门提供了一种可行的、低成本的并且及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。相对于其他分析方法（例如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理，快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适
同步辐射x荧光分析简介
同步辐射x荧光分析:（synchrotron-basedX-ray fluorescence）采用由加速器产生的同步辐射作光源进行x射线荧光分析的方法。 与常规x射线荧光分析相比，由于同步辐射光通量大、频谱宽、偏振性好等优点，因此分析灵敏度显著增高，此外取样量少，分析速度快，可作微区三维扫描分
X荧光分析仪简介
EDX 60a X荧光仪是一种新型的采用纯物理分析方法的微机化台式仪器,用于水泥厂，能够30秒快速分析旋窑、机立窑、窑外分解旋窑厂家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、 Fe2O3的百分含量，为配料成分控制及时提供数据。由于它的分析速度快（30秒），因此可实时监控生产过程中成份变化的
X射线荧光分析技术分类
X射线荧光分析技术可以分为两大类型：波长色散X射线荧光分析(WDXRF)和能量色散X射线荧光分析(EDXRF)；而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。目前，X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一
X射线荧光分析技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
x光机在医学领域的应用介绍
(一)X射线诊断 X射线应用于医学诊断，主要依据X射线的穿透作用、差别吸收、感光作用和荧光作用。由于X射线穿过人体时，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射线量比肌肉吸收的量要多，那么通过人体后的X射线量就不一样，这样便携带了人体各部密度分布的信息，在荧光屏上或摄影胶片上引起的荧光作用或感光作用
X荧光光谱技术在石油产品硫分析中的应用
选择标准曲线定量,在能量色散X荧光光谱仪上建立原油、重油、柴油、汽油、润滑油基础油中硫分析方法,方法重复性、再现性符合国家标准要求,分析效率高。
单波长X荧光硫含量分析仪的应用介绍
在石油加工过程中，各种含硫化合物受高温影响均能分解产生H2S，H2S与水共存时，对金属设备造成严重腐蚀，如常减压装置中，高温重油部位的腐蚀主要集中在常压塔底。如果石油中既含硫又含盐，则对金属设备的腐蚀就更为严重。 石油产品中的硫化物，在使用及储存过程中同样会腐蚀金属；同时含硫燃料燃烧产生的二氧化硫
小波分析在X荧光光谱去噪声中的应用
核辐射探测器中固有统计涨落、电子学噪声,使X射线荧光光谱中带有噪声,主要表现为出现假峰或丢失弱峰。论文探讨使用Mallat算法对X射线荧光光谱信号进行小波分解,采用阈值滤波算法在小波域内将噪声抑制或消除,最后重构除去噪声后的能谱信号。通过与多项式最小二乘拟合光滑除去噪声的光谱做定性和定量分析的比较,
X射线荧光光谱法在医药分析中的应用
药品安全与国计民生息息相关,各种化学和仪器分析方法在解决药品研发和质量控制中发挥着重要作用。ICH指导委员会于2009年10月批准了Q3D金属杂质课题。这一新指导原则建议对于药品中的金属杂质进行定性和定量限制。药品中的元素杂质可能有多个来源：可以在合成中有意添加，或可能作为污染物存在（例如，通过与生
简介X射线荧光分析的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
关于X射线荧光分析的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干