关于X射线管的故障分析介绍

故障一 :旋转阳极转子的故障 (1)现象 ① 电路正常,但转速明显下降;静转时间短;曝光时阳极不转动 ; ② 曝光时,管电流剧增,电源保险丝熔断 ;阳极靶面某点被熔化。 (2)分析 长期工作后导致轴承磨损变形及间隙改变,固体润滑剂分子结构也会改变。 故障二 :X 射线管阳极靶面损坏 (1)现象 ① X 射线输出量显著下降,X 射线胶片感光度不足 ; ② 由于阳极金属被高温蒸发,可见玻璃壁镀有薄薄的金属层 ; ③ 通过放大镜,可见靶面有龟裂、裂纹及熔蚀等现象 ; ④ 焦点严重熔化时溅落的金属钨可能使 X 射线管爆裂损坏。 (2)分析 ① 过负荷使用。有两种可能 :一种是过载保护电路失灵使一次曝光过载 ;另一种是多次曝光,造成累积性过载而熔化蒸发 ; ② 旋转阳极 X 射线管转子卡死或启动保护电路出现故障,在阳极不转动或转速过低的情况下曝光,导致阳极靶面瞬间熔化蒸发 ; ③ 散热不良。如散热体与阳极......阅读全文

掠射软X射线荧光分析技术研究

掠射X射线分析是近年来迅速发展的一门分析技术,在科学研究以及分析检测和质量控制等生产领域都有着广泛的应用。X射线分析技术具有试样无损分析、制样经济方便、操作简单、分析结果重现性好及精度高等优点,使得这项技术在薄膜特性分析、半导体材料及磁铁材料表面检测方面受到特别的青睐。本文在综述了国内外掠射X射线荧

简述x射线测厚仪射线管的更换

  射线管损坏或使用一定年限老化后 ,测厚仪厂家通常建议将射线源返厂更换射线管 ,费用很高 ,周期也较长。实际上 ,只要细心操作 ,完全可以现场更换射线管。更换射线管应着重注意 :  1)紧固射线管的安装螺丝时用力要适度 ,既要安装牢固 ,更要防止紧固过度导致管子破裂。  2)高压线的焊接要求较高

X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响

利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低

简述X射线管的基本原理

  X 射线管包含有阳极和阴极两个电极,分别用于用于接受电子轰击的靶材和发射电子的灯丝。两极均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。X 射线管供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。当钨丝通过足够的电流使其产生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间,使得

如果改变x射线管的电压和电流

X射线谱2113,波长大致介于700~0.1埃范围内的电磁辐射,X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成,标识谱重叠在连续谱背景上5261,连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的轫致辐射,其短波极限λ由加速电压V决定:λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数,e为电子电量,c为真空中的光速。标识谱是由

全面解析X射线管道爬行器

X射线管道爬行器基本原理主要由机械行走部分、射线发生部分、定位传感器、逻辑控制器、电源及管道外部的遥控定位用指令源等组成,它是一种自动化射线产生装置,由机械行走部分带动射线发生装置在管道内部行走,在管道外对接焊缝处贴X射线专用胶片和标记,通过管道外部遥控装置的配合,可以在管道内定位及曝光,从而对管道

影响X射线管寿命的因素与保养方法

  温度因素:  温度是影响X射线管寿命的重要因素。X射线管在使用过程中会产生大量的热量。为使产品稳定工作,阳极应加散热装置,确保阳极温度不超过55℃,必要时可采用风冷冷却。建议客户使用温度传感器控制温度。  环境因素:  环境温度5-30℃,空气相对湿度小于80%。  保管与存放:  产品存放环境

掠射X射线望远镜的分类

  X射线望远镜光学系统一般采用沃尔特Ⅰ型──抛物面焦点与双曲面的后焦点重合的同轴光学系统。其焦平面通过双曲面的前焦点。按照制作工艺来划分,X射线望远镜的研制已经历三代。第一代镜面是铝制的,效率为1%,1963年用这种望远镜拍摄到分辨率为几角分的照片,可看出太阳上存在着X射线发射区。第二代镜面是在光

掠射X射线望远镜的简介

  一种使天体X辐射成像的仪器。X射线很易被介质吸收﹐且在介质中其折射率近于1。这表明﹐折射系统不可能用在X射线波段﹐而X射线在非常倾斜的掠射角下将产生全反射。掠射 X射线望远镜就是利用这种全反射原理设计而成的。1952年﹐沃尔特首先建议利用X射线掠射的全反射现象来进行光学聚焦﹐使用两个同轴共焦旋转

X射线管激发X荧光光谱连续本底扣除方法研究

X射线管是目前X射线荧光光谱分析中最常采用的激发源,它所产生的原级谱成为了X荧光光谱中本底成分的主要来源,在对这种光谱进行进一步的分析处理之前需要对其本底进行扣除,对本底估计的准确性直接影响后续处理步骤的效果。对射线管激发X荧光光谱的成分进行了分析,针对其本底特点构造了一种本底强度的估计方法,并根据

关于X射线荧光分析的分类介绍

  1、根据分光方式的不同,X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类,也就是通常所说的能谱仪和波谱仪,缩写为EDXRF和WDXRF。  通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为能谱仪,通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长

X射线管结构和各部分作用

X射线管构成:阴极:灯丝:发射电子。阴极头:灯丝支座,聚焦电子。阳极:靶,遏制电子,发出X射线。阳极体:支承靶,传递靶热量。按照产生电子的方式,X射线管可分为充气管和真空管两类。根据密封材质不同,可分为玻璃管、陶瓷管和金属陶瓷管。根据用途不同,可分为医疗X射线管和工业X射线管。根据密封方式不同,可分

关于X射线衍射分析的样品要求介绍

  1、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面,面积不小于10X10毫米,如果面积太小可以用几块粘贴一起。  2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常。因此要求测试时合 理选择响应的方向平面。  3、对于测量金属样品的微观 应力( 晶格畸变),测量残余奥氏体,要求样品不能简单

关于X射线荧光分析的定量分析的介绍

  X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比:  Ii=IsWi(10.2)  X射线荧光分析  X射线荧光分析  式中,Is为Wi=100%时,该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2),可以采用标准曲线法,增量法,内标法等进行定量分析。但是这些

单波长能量色散X射线荧光分析技术

  单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence),就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术,将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点,激发样品中元素荧光,这样极大降

X射线管的维护对X荧光光谱仪的使用有重要意义

    X荧光光谱仪中X射线管灯丝烧断原因有:灯丝本身损耗、X射线管的高压真空破坏、铍窗漏气。使用与维护中注意,超过lh不用仪器时,将X射线管设置为待机状态;超过两星期不用仪器时,将X射线管高压关闭;超过十星期不用仪器时,将X射线管拆下,千万不要通过关闭冷却水去关闭X射线管高压。探讨延长X射线管使用

X射线荧光光谱仪X射线防护系统的故障分析

  为了防止X射线泄漏,高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否,主要检查以下二部分:  1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统,面板是最外层的射线防护装置,如果有一块面板不到位,仪器就有射线泄漏的可能。因此,每块面板上都有位置接触传感器,面板没有完全合

X射单晶末衍射仪对检测样品的要求

  送检样品必须为单晶,选择晶体时要注意所选晶体表面光洁、颜色和透明度一致。  不附着小晶体,没有缺损重叠、解理破坏、裂缝等缺陷。  晶体长、宽、高的尺寸均为0.1~0.4mm ,即晶体对角线长度不超过0.5mm(大晶体可用切割方法取样,小晶体则要考虑其衍射能力)。

关于X射线荧光分析的理论基础的介绍

  荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。  从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子

关于环境分析方法——X射线荧光分析法的介绍

  X射线荧光分析的基本原理是以高能X射线(一次X射线)轰击样品,将待测元素原子内壳层的电子逐出,使原子处于受激状态,10-12~10-15秒后,原子内的原子重新配位,内层电子的空位由较外层的电子补充,同时放射出特征X射线(二次X射线)。特征X射线波长λ和原子序数Z有一定关系:λ ∝1/Z2。测定这

什么是单波长X射线荧光光谱仪

通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪(ED XRF)和波长色散X射线荧光光谱仪(WD XRF),其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测(ED XRF)或是经分光晶体分光后探测器探测(WD XRF)为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前

什么是单波长X射线荧光光谱仪

通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪(ED XRF)和波长色散X射线荧光光谱仪(WD XRF),其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测(ED XRF)或是经分光晶体分光后探测器探测(WD XRF)为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前

关于荧光显微镜的落射光装置介绍

  新型的落射光装置是从光源来的光射到干涉分光滤镜后,波长短的部分(紫外和紫蓝)由于滤镜上镀膜的性质而反射,当滤镜对向光源呈45。倾斜时,则垂直射向物镜,经物镜射向标本,使标本受到激发,这时物镜直接起聚光器的作用。同时,滤长长的部分(绿、黄、红等),对滤镜是可透的,因此,不向物镜方向反射,滤镜起了激

单波长X射线荧光光谱仪原理与应用

  一、 概述  单波长X射线荧光光谱仪(Monochromatic Excitation X-ray Fluorescence Spectrometer: ME XRF),也可称为单色化激发X射线荧光光谱仪,其通过单色化光学器件将X射线管出射谱某单一波长(对应单一能量)衍射取出并照射样品,由于消除

X射线荧光分析的介绍

  X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。  1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir

磁透镜螺线管相关介绍

  在物理学里,术语螺线管指的是多重卷绕的导线,卷绕内部可以是空心的,或者有一个金属芯。当有电流通过导线时,螺线管内部会产生均匀磁场。螺线管是很重要的元件·。很多物理实验的正确操作需要有均匀磁场。螺线管也可以用为电磁铁或电感器。  通电螺线管的极性跟电流方向间的关系,可以用右手螺旋定则来判断。就是用

关于x光机的X射线发现的介绍

  X射线发现  1895年德国物理学家伦琴(W.C.RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面套上一层黑色纸板。

X射线荧光光谱仪X射线防护系统故障分析

  为了防止X射线泄漏,高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否,主要检查以下二部分: 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统,面板是最外层的射线防护装置,如果有一块面板不到位,仪器就有射线泄漏的可能。因此,每块面板上都有位置接触传感器,面板没有完全合上

关于X射线荧光分析的简介

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。

关于X射线荧光分析的定性分析

  不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长,因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分。事实上,在定性分析时,可以靠计算机自动识别谱线,给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干