关于透射电子显微镜制备样品要求的介绍

1.粉末样品基本要求 (1)单颗粉末尺寸最好小于1μm; (2)无磁性; (3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪; 2.块状样品基本要求 (1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察; (2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察; (3)无磁性; (4)块状样品制备复杂、耗时长、工序多、需要由经验的老师指导或制备;样品的制备好坏直接影响到后面电镜的观察和分析。所以块状样品制备之前,最好与TEM的老师进行沟通和请教,或交由老师制备。......阅读全文

关于透射电子显微镜制备样品要求的介绍

  1.粉末样品基本要求  (1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;  (2)无磁性;  (3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;  2.块状样品基本要求  (1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;  (2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成

透射镜样品制备要求

  1.粉末样品基本要求  (1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;  (2)无磁性;  (3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;  2.块状样品基本要求  (1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;  (2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成

透射电子显微镜的样品制备

一、样品要求1.粉末样品基本要求(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;(2)无磁性;(3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;2.块状样品基本要求(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;(2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;(3

透射电子显微镜的样品制备

一、样品要求1.粉末样品基本要求(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;(2)无磁性;(3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;2.块状样品基本要求(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;(2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;(3

透射电子显微镜的样品制备

一、样品要求1.粉末样品基本要求(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;(2)无磁性;(3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;2.块状样品基本要求(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;(2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;(3

透射电子显微镜的样品制备

一、样品要求1.粉末样品基本要求(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;(2)无磁性;(3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;2.块状样品基本要求(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;(2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;(3

​透射电子显微镜块状样品制备

1.电解减薄方法用于金属和合金试样的制备。(1)块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片;(2)用金刚砂纸机械研磨到约120~150μm厚;(3)抛光研磨到约100μm厚;(4)冲成Ф3mm 的圆片;(5)选择合适的电解液和双喷电解仪的工作条件,将Ф3mm 的圆片中心减薄出小孔;(6)迅速取出减薄试样放入

透射电子显微镜粉末样品的制备

  1.选择高质量的微栅网(直径3mm),这是关系到能否拍摄出高质量高分辨电镜照片的第一步;(注:高质量的微栅网本实验室还不能制备,是外购的,价格20元/只;普通碳膜铜网免费提供使用。)  2.用镊子小心取出微栅网,将膜面朝上(在灯光下观察显示有光泽的面,即膜面),轻轻平放在白色滤纸上;  3.取适

​透射电子显微镜粉末样品的制备

1.选择高质量的微栅网(直径3mm),这是关系到能否拍摄出高质量高分辨电镜照片的第一步;(注:高质量的微栅网本实验室还不能制备,是外购的,价格20元/只;普通碳膜铜网免费提供使用。)2.用镊子小心取出微栅网,将膜面朝上(在灯光下观察显示有光泽的面,即膜面),轻轻平放在白色滤纸上;3.取适量的粉末和乙

透射电子显微镜的样品制备方法

一、样品要求1.粉末样品基本要求(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;(2)无磁性;(3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;2.块状样品基本要求(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;(2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;(3

扫描电子显微镜样品要求及制备-(一)--常规样品制备

样品制备对扫描电镜观察来说也至关重要,样品如果制备不好可能会对观察效果有重大影响。通常希望观察的样品有尽可能好的导电性,否则会引起荷电现象,导致电镜无法进行正常观察;另外样品还需要有较好的导热性,否则轰击点位置温度升高,使得试样中的低熔点组分挥发,形成辐照损伤,影响真实的形貌观察。如果要进行EDS/

透射电镜(TEM)样品制备原则及要求

TEM制样原则:a.简单。b.不破坏样品表面,如:避免磨样过程中产生的位错及离子减薄过程中产生的非晶现象等。c.尽可能获得大的薄区。TEM样品要求:a.对电子束透明(电子束穿透固体样品的厚度主要取决于:加速电压和样品原子序数)。b.固体、干燥、无油、无磁性。

透射电镜样品制备要求有哪些

  透射电镜样品制备步骤:  一,取材:组织块小于1立方毫米  二,固定:  2.5%戊二醛,徳酸缓冲液配制固定2小时或更长时间。  用0.1M磷酸漂洗液漂洗15分三次1%饿酸固定液固定2-3小时  用0.1M磷酸漂洗液漂洗15分三次  三,脱水:  50%乙醇15-20分  70%乙醇15-20分

关于透射电子显微镜的样品室的介绍

  样品室处在聚光镜之下,内有载放样品的样品台。样品台必须能做水平面上X、Y方向的移动,以选择、移动观察视野,相对应地配备了2个操纵杆或者旋转手轮,这是一个精密的调节机构,每一个操纵杆旋转10圈时,样品台才能沿着某个方向移动3mm左右。现代高档电镜可配有由计算机控制的马达驱动的样品台,力求样品在移动

简介透射电子显微镜对检测样品的要求

  由于受电镜高压限制,透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。  除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外,其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。  一般情况下,需要采用物理减薄法的样品制备过程,须由用户自己完成(不具备此制样条件的院系,可租用本室的相关

透射和扫描电子显微镜样品的制备及观察

实验概要本实验详细介绍了透射和扫描电子显微镜样品的制备及观察。主要试剂醋酸戊脂,浓硫酸,无水乙醇,无菌水,2%磷钨酸钠(pH6.5-8.0)水溶液,0.3%聚乙烯甲醛(溶于三氯甲烷)溶液,细胞色素c,醋酸铵,质粒pBR322。主要设备普通光学显微镜,铜网,瓷漏斗,烧杯,平皿,无菌滴管,无菌镊子,大头

透射和扫描电子显微镜样品的制备及观察

实验概要本实验详细介绍了透射和扫描电子显微镜样品的制备及观察。主要试剂醋酸戊脂,浓硫酸,无水乙醇,无菌水,2%磷钨酸钠(pH6.5-8.0)水溶液,0.3%聚乙烯甲醛(溶于三氯甲烷)溶液,细胞色素c,醋酸铵,质粒pBR322。主要设备普通光学显微镜,铜网,瓷漏斗,烧杯,平皿,无菌滴管,无菌镊子,大头

​透射电子显微镜所需块状样品基本要求

块状样品基本要求(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;(2)如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;(3)无磁性;(4)块状样品制备复杂、耗时长、工序多、需要由经验的老师指导或制备;样品的制备好坏直接影响到后面电镜的观察和分析。所以块状样品制备之前,最好与TEM

透射电子显微镜所需粉末样品基本要求

粉末样品基本要求(1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;(2)无磁性;(3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;

电子显微镜使用实验_透射电子显微镜的样品制备

实验方法原理一、电子显微镜的分辨力和放大率 电子显微镜是利用电子流代替光学显微镜的光束使物体放大成像而由此得名的。发射电子流的电子源部分称为电子枪,电子枪由发射电子的“V”形钨丝及阳极板组成,在高真空中,钨丝被加热到白炽程度,其尖端便发射出电子,发射出来的电子受到阳极很高的正电压的吸引,使电子得到很

透射电镜样品制备

  透射电镜样品制备  一、样品要求  1.粉末样品基本要求  (1)单颗粉末尺寸最好小于1μm;  (2)无磁性;  (3)以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,甚至掉高压;  2.块状样品基本要求  (1)需要双喷减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;  (2)如晶粒尺寸小于1μm,也

透射电镜的样品制备

透射电镜的样品制备是一项较复杂的技术,它对能否得到好的TEM像或衍射谱是至关重要的.透射电镜是利用样品对入射电子的散射能力的差异而形成衬度的。   电子束穿透固体样品的能力主要取决加速电压,样品的厚度以及物质的原子序数.一般来说,加速电压愈高,原子序数愈低,电子束可穿透的样品厚度就愈大.对于100~

透射镜试验粉末样品的制备

  1.选择高质量的微栅网(直径3mm),这是关系到能否拍摄出高质量高分辨电镜照片的第一步;(注:高质量的微栅网本实验室还不能制备,是外购的,价格20元/只;普通碳膜铜网免费提供使用。)  2.用镊子小心取出微栅网,将膜面朝上(在灯光下观察显示有光泽的面,即膜面),轻轻平放在白色滤纸上;  3.取适

透射镜块状样品制备离子减薄方法介绍

  用于陶瓷、半导体、以及多层膜截面等材料试样的制备。块状样制备(1)块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片;(2)均匀薄片用石蜡粘贴于超声波切割机样品座上的载玻片上;(3)用超声波切割机冲成Ф3mm 的圆片;(4)用金刚砂纸机械研磨到约100μm厚;(5)用磨坑仪在圆片中央部位磨成一个凹坑,凹坑深度约

核酸透射电镜样品制备

实验方法原理 很多球状蛋白均能在水溶液或盐溶液的表面形成不溶的变性薄膜,在适当的条件下这一薄膜可以成为单分子层,由伸展的肽链构成为一个分子网。当核酸分子与该蛋白质单分子膜作用时会由于蛋白质的氨基酸碱性侧链基团的作用,使得核酸从三维空间结构的溶液构型吸附于肽链网而转化为二维空间的构型,并从形态到结构均

透射电镜样品制备方法

透射电镜试样制备:一、实验内容及目的:了解透射电镜对试样的要求,熟悉透射电镜试样的制备过程,制备一个合格的透射 电镜试样。二、薄膜样品的制备:用于透射电镜下观察的试样厚度要求在50-200nm 之间,对于不导电的陶瓷材料和脆性材料,最终减薄可采用离子减薄法。该法是用离子束在样品的两侧以一定的倾角(5

透射电镜样品制备方法

透射电镜试样制备:一、实验内容及目的:了解透射电镜对试样的要求,熟悉透射电镜试样的制备过程,制备一个合格的透射 电镜试样。二、薄膜样品的制备:用于透射电镜下观察的试样厚度要求在50-200nm 之间,对于不导电的陶瓷材料和脆性材料,最终减薄可采用离子减薄法。该法是用离子束在样品的两侧以一定的倾角(5

透射电镜样品制备方法

透射电镜试样制备:一、实验内容及目的:了解透射电镜对试样的要求,熟悉透射电镜试样的制备过程,制备一个合格的透射 电镜试样。二、薄膜样品的制备:用于透射电镜下观察的试样厚度要求在50-200nm 之间,对于不导电的陶瓷材料和脆性材料,最终减薄可采用离子减薄法。该法是用离子束在样品的两侧以一定的倾角(5

透射电镜样品制备方法

透射电镜试样制备:一、实验内容及目的:了解透射电镜对试样的要求,熟悉透射电镜试样的制备过程,制备一个合格的透射 电镜试样。二、薄膜样品的制备:用于透射电镜下观察的试样厚度要求在50-200nm 之间,对于不导电的陶瓷材料和脆性材料,最终减薄可采用离子减薄法。该法是用离子束在样品的两侧以一定的倾角(5

如何制备透射电镜的样品?

  透射电镜样品制备方法  样品在2.5%的戊二醛溶液中4℃固定过夜,然后按下列步骤处理样品:  倒掉固定液,用0.1M,pH=7.0的磷酸缓冲液漂洗样品三次,每次15min;  用1%的锇酸溶液固定样品1-2h;  倒掉固定液,用0.1M,pH=7.0的磷酸缓冲液漂洗样品三次,每次15min;