X射线晶体学的多波长反常散射（MAD）概念
晶体衍射中有一条弗里德耳定律, 就是说不论晶体中是否存在对称中心,在晶体衍射中总存在着对称中心,也即有FHKL=FHKL。但是当使用的X射线波长与待测样品中某一元素的吸收边靠近时,就不遵从上述定律,也即FHKL≠FHKL。这是由电子的反常散射造成的, 利用这一现象可以解决待测物的相角问题。 一般, 这一方法常与重原子同晶置换法结合使用。在收得同晶置换物的衍射数据后, 改变入射线波长至靠近重原子的吸收边处，再次收集数据，这套数据是存在反常散射的,可利用这两套数据来求位相。有如多同晶置换法,如采用几个不同波长的X射线,对所含不同元素收集几套反常散射数据,则可得更正确、更完整的相位信息,是为多波长反常衍射法(MAD）。......阅读全文
X射线晶体学的多波长反常散射（MAD）概念
晶体衍射中有一条弗里德耳定律, 就是说不论晶体中是否存在对称中心,在晶体衍射中总存在着对称中心,也即有FHKL=FHKL。但是当使用的X射线波长与待测样品中某一元素的吸收边靠近时,就不遵从上述定律,也即FHKL≠FHKL。这是由电子的反常散射造成的, 利用这一现象可以解决待测物的相角问题。 一般,
X射线单晶体衍射仪的反常散射法介绍
晶体衍射中有一条弗里德耳定律，就是说不论晶体中是否存在对称中心，在晶体衍射中总存在着对称中心，也即有FHKL=FHKL。但是当使用的X射线波长与待测样品中某一元素的吸收边靠近时，就不遵从上述定律，也即FHKL≠FHKL。这是由电子的反常散射造成的，利用这一现象可以解决待测物的相角问题。一般，这一
X射线晶体学的多重同晶置换（MIR）概念
把对X射线散射能力大的重金属原子作为标识原子。这种置换入重原子的大分子应与无重原子时的原晶体有相同的晶胞参数和空间群，且绝大多数原子的位置相同，故称同晶置换。从这些含重原子晶体的衍射数据，利用基于派特逊法的方法可解出重原子的位置，据此算出其结构因子和相角，进而利用相角关系计算出没有重原子的原晶体的相
X射线晶体学的研究步骤
①蛋白或DNA样品纯化②结晶③衍射、数据收集④确定蛋白结构衍射数据→数据处理→相位解析→建模→模型修正→模型检验⑤理解结构与功能的相互关系
X射线晶体学的原理和方法
原理：蛋白质晶体内部结构为三维空间周期、有序、重复排列，要求每个结晶重复单位(分子或其复合体)的化学组成与分子构象是均一的。方法：为了获得可供衍射的单晶，就需要将纯化后的生物样品进行晶体生长。晶体生长的方法有很多，如气相扩散法、液相扩散法、温度渐变法、真空升华法、对流法等等，而目前应用最广泛的晶体生
X射线晶体学的研究对象和目的
X射线晶体学是一门利用X射线来研究晶体中原子排列的学科。更准确地说，利用电子对X射线的散射作用，X射线晶体学可以获得晶体中电子密度的分布情况，再从中分析获得原子的位置信息，即晶体结构。对很多余结构相关的问题如整体折叠、配体或底物结合、作用的原子具体信息提供可靠的答案。运用X射线晶体学可以了解大分子如
X射线的波长如何计算？
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z− s) −2式中K和S是常数。X射线的能量而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：E=h
x射线测厚仪概念
X射线测厚仪工作原理、结构特性: X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度. 适用范围：生产铝板、铜板
X射线晶体学揭示代谢调控新机制
来自普渡大学、霍华德休斯医学研究所的研究人员，运用X射线晶体学方法，揭示了大肠杆菌抑制麦芽糖转运蛋白摄入麦芽糖的机制，相关论文公布在6月16日的《自然》(Nature)杂志上。 领导这一研究的是普渡大学生物学系陈觉(Jue Chen)教授，其早年毕业于上海同济大学，2002年受聘于普渡
生物物理研究所晶体学方法合作研究取得新成果
晶体学国际权威杂志Acta Crystallographica Section A近日在线发表了中国科学院生物物理研究所刘志杰课题组题为A multi-dataset data-collection strategy produces better diffraction data
X射线的波长范围是多少nm
是一种波长范围在0.01纳米到10纳米之间（对应频率范围30 PHz到30EHz）的电磁辐射形式。原理产生X射线的最简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能会以光子形式放出，形成X光光谱的连续部分，称之为轫致辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属
多重同晶置换和多波长反常散射两种方法的差异
两者的相同点：都是利用重原子的特性来解决相角问题。两者的差别：MAD是基于MIR的基础之上的，采用多种波长完备所需的信息。
X射线的光的波长的相关介绍
自伦琴发现X射线后，人们便开始对X射线大量研究。X射线的性质往往表现为以下几个方面：能使胶片感光（X光片）、照射金属晶体等物质时能够产生荧光发射（闪烁计时器的闪烁体可进行定量计算）、电离作用（正比计算器）、折射率几乎为1（不能想普通光那样利用折射现象将X射线聚焦）、具有衍射现象（XRD基于此实现
X射线荧光光谱的概念
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
X－射线显微镜的概念
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的
关于X射线的波长和能量的相关介绍
1、X射线的波长 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下： λ=K(Z− s) −2 式中K和S是常数。 2、X射线的能量 而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或
波长色散X射线荧光光谱仪
我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，
波长干扰波长色散X射线光谱分析仪的介绍
①X射线管 由X射线管发射出来的干扰线，首先，可能来自靶材本身，包括靶元素及有关杂质（例如钨靶中的铜）的发射线，其次，在x射线管的长期使用中，可能由于灯丝及其它有关构件（包括银焊料）的升华喷溅或其它原因，造成靶面或管窗的玷污，也是产生干扰线的一种来源。再次，由于x射线管构件受激发或阴极电子束
激发X射线荧光分析法的概念
当α 、β、γ或X射线作用于样品时，由于库仑散射，轨道电子吸收其部分动能，使原子处于激发状态。由激发态返回基态时发射特征X射线，根据此特征X射线的能量和强度来分析元素的种类和含量。其灵敏度很高，用途很广。
波长色散X射线荧光光谱仪简介
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。
波长色散X射线荧光光谱仪简介
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。 优点： 不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高,样品制备简单。
单波长能量色散X射线荧光分析技术
单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术，将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降
波长色散X射线荧光光谱仪的特点
它的工作原理是：试样受X射线照射后，元素的原子内壳层电子被激发，并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线，通过探测器测量元素特征X射线的波长（能量）的强度与浓度的比例关系，便可进行定量分析 波长色散X射线荧光光谱仪的特点是什么呢？ 1.可用于固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析 2
波长色散x射线荧光光谱法的简介
波长色散x射线荧光光谱法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射线照射试样激发产生各种波长的光，通过晶体衍射进行空间色散，分别测量不同波长的x射线分析线峰值强度，进行定性和定量分析的方法。适用于原子序数4(铍)以上所有化学元素
X－射线晶体学与冷冻电镜在结构生物学上如何互补？
小刘同学的故事好感慨的题目，基本上就是小刘同学大学生活的变迁2012年，小刘同学刚刚结束了高考。满怀对生命科学的憧憬，心想，二十一世纪是生命科学的世纪。他现在也这样觉得。于是背上小小的行囊，告别了家乡和爹娘；只身来到了帝都，前去某知名985高校学一门手艺。希望能功成名就，回老家盖房子，娶媳妇。小刘同
波长色散X射线光谱分析仪的内容
在波长色散X射线光谱分析仪中，由于谱线之前互相干扰比较少，并且减少这种干扰的方法较多，在多数情况下谱线干扰现象不是影响分析结果的主要因素。但是在某些情况如稀土化合物中稀土元素的测定中，谱线重叠现象仍然是严重的。这种干扰，轻则影响强度的确定，增加分析线强度测量的统计误差，降低分析元素的测定灵敏度；
波长色散式X射线荧光光谱仪的简介
布拉格角范围：13到98度28波 分析晶体：氟化锂200，可选其他晶体 元素范围：Kα 22-48（钛到银） 元素范围：Lα 56-92（钡到铀） 准直器: 20千分之一发散 （探源） 检测器：10千分之一接收 X-射线探源：X-射线管、钨电极、铍窗 X-射线管电压：30KV连续电压 X-射线管
根据特征x射线的波长,获得靶材中什么信息
靶材是X射线灯里面的材料，一般使用电子轰击靶材产生射线，然后用射线照射样品，对样品的元素或者结构进行测试。靶材不同产生的x射线的波长就不同，其可测量的元素就不同，一般x射线仪器都采用铜靶子，还有钴靶的。特征x射线是针对测量样品而言的，并不能反映靶材信息，但是对靶材有一定的要求，如果靶材激发的x射线，
波长色散X射线荧光光谱仪的样品要求
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)，从而进行物质成分分析的仪器。 X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。 特点及应用： 波长色散X射线荧光光谱仪优点多，不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上
波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述
波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述波长色散X射线荧光光谱仪，采用了新技术设计的固态发生器、新技术设计的高电流低温X射线光管、当前电子技术新设计的电路板、新开发的高强度晶体等，使X射线荧光光谱仪对元素的分析产生了突破，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、操作简便性、可靠性、分析速度、功能完备的分析软件等