布鲁克新品媒体见面会在京成功举行
2013年10月21日布鲁克公司新品媒体发布会在布鲁克北京公司举行，来自布鲁克公司CALID部门全球总裁Juergen Srega 先生、产品部门负责人、布鲁克相关工作人员共40余人参加了此次活动。发布会由布鲁克公司光谱事业部总经理陈晴先生主持，分析测试百科网等几家媒体应邀参加了此次活动。会议现场 CALID部门全球总裁Juergen Srega 先生布鲁克公司光谱事业部总经理陈晴先生 见面会上，来自CALID部门全球总裁Juergen Srega 先生首先发言。Juergen Srega 先生主要向媒体介绍布鲁克公司的发展概况及近期的战略动向。 Juergen Srega 先生介绍道：布鲁克公司的核心竞争力是产品、公司架构、销售渠道、研发投入以及组织运营。自1960年成立至今，布鲁克公司已经发展......阅读全文
布鲁克收购质谱软件企业SCiLS－GmbH
分析测试百科网讯 2017年1月4日，布鲁克宣布对德国不来梅SCiLS GmbH进行收购，本次收购的具体财务细节未披露。 据介绍，SCiLS的主要业务是开发软件工具，如统计分析软件、复杂的可视化观察，并为复杂的质谱成像（MSI）的数据集提供基于云的安全服务。 SCiLS的创始人来自于不来梅大
高能脉冲X射线能谱测量
给出了高能脉冲X射线能谱测量的基本原理及实验结果.采用Monte-Carlo程序计算了高能光子在能谱仪中每个灵敏单元内的能量沉积,利用能谱仪测量了"强光Ⅰ号"加速器产生的高能脉冲X射线不同衰减程度下的强度,求解得到了具有时间分辨的高能脉冲X射线能谱,时间跨度57ns,时间步长5ns,光子的最高能量3
DPF脉冲X射线能谱测量
采用滤光法对ＤＰＦ脉冲Ｘ射线源装置的Ｘ射线能谱进行了测量，取得了较好的结果，为辐射效应环境测量提供了一种手段。
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
X射线能谱数据处理
本文提出运用FFT,对双路实测能谱信息在变换域中加以滤波修正,同时完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并与诸元素特征峰及背底的谱分析相比较,获取滤波修正频窗。文中编制了双路能谱同时作滤波修正程序。试验表明:此法实现了数据压缩及零相位校正,增快了滤波速度,减小了相位滞移量,提高了分
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
X射线能谱定性分析
X射线能谱定性分析快速有效，是电子探针和扫描电镜分析必须的组成部分。用X射线能谱仪测量试样特征X射线全谱中各谱峰的能量值，计算机释谱得出试样的元素组成。X射线能谱定性分析要注意背景的判别、峰的位移、峰的重叠、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干扰峰等问题，以免导致错误的分析结果。(1)背景的判别在使用X射线
X射线能谱测量与模拟
1895年,德国科学家伦琴发现了X射线,开辟了一个崭新的、广阔的物理研究领域。其中,针对电子打靶产生的韧致辐射X射线的研究,是X射线研究领域的一个重要课题。本文在国内外针对X射线能谱测量与解析的基础上,利用高纯锗(HPGe)探测器使用直接测量法与间接测量法对钨靶X射线与钼靶X射线能谱进行了测量。工作
核磁检测分子结构的方法和质谱有什么区别
测定分子结构和化学键可以用红外光谱仪和核磁共振氢谱。 红外光谱仪用于测定有机物的官能团；核磁共振氢谱用于测定有机物分子中氢原子的种类和数目；质谱法用于测定有机物的相对分子质量，紫外光谱鉴别一个有机物是否含有共轭体系或芳香结构，所以核磁共振谱、红外光谱、紫外光谱和质谱法的综合运用，可用于分析
核磁检测分子结构的方法和质谱有什么区别
测定分子结构和化学键可以用红外光谱仪和核磁共振氢谱。 红外光谱仪用于测定有机物的官能团；核磁共振氢谱用于测定有机物分子中氢原子的种类和数目；质谱法用于测定有机物的相对分子质量，紫外光谱鉴别一个有机物是否含有共轭体系或芳香结构，所以核磁共振谱、红外光谱、紫外光谱和质谱法的综合运用，可用于分析
核磁检测分子结构的方法和质谱有什么区别
这两个东西都玩过，应该是两种不同的仪器。虽然都可以用作结构鉴定。首先核磁共振无法测定分子量，这个是先要纠正的。核磁共振主要分为两种，核磁共振氢谱和碳谱，都是通过氢原子和碳原子的化学环境不同进行分辨的。不同的氢在核磁谱里面出不同的峰，比如甲基的峰一般出在化学位移在2ppm左右的地方，羟基出在低场。根据
核磁检测分子结构的方法和质谱有什么区别
测定分子结构和化学键可以用红外光谱仪和核磁共振氢谱。 红外光谱仪用于测定有机物的官能团；核磁共振氢谱用于测定有机物分子中氢原子的种类和数目；质谱法用于测定有机物的相对分子质量，紫外光谱鉴别一个有机物是否含有共轭体系或芳香结构，所以核磁共振谱、红外光谱、紫外光谱和质谱法的综合运用，可用于分析
有机质谱、X射线荧光、电感耦合等离子体质谱培训会召开
为促进西部地区分析测试科学技术的进步，提高西部地区分析测试技术人员的专业技能，2015年7月13日-14日，由中国分析测试协会委托中国分析测试协会青年学术委员会主办，宁夏分析测试中心承办，宁夏回族自治区地质矿产中心实验室协办的中国分析测试协会第六届青年学术委员会全体学术委员会议暨学术交流会议和
核磁碳谱数据快速比对技巧
1.直接在word文档中显示：单独新建一个文献数据待处理文档。将文献中的C谱数据复制，然后粘贴到这个新建的word中。选中逗号与其后面的空格，替换为“^p”；在本文档中新建一个9x2的表格，分别全选样品、文献C谱数据，然后粘贴至表格中。结果如下图所示：2.1在excel中显示：单独新建一个文献数据待
打核磁氢谱样品最少量多少
这个是依具体情况而定的，j如果谱图出来就是三种氢，那说明苯环上的氢之间的耦合常数很小，没有分开，就表现出是一种氢。但苯环上确实是三种氢。共轭会影响化学位移。对核磁谱图一般会有自己的一个推断的谱图，但还是以实际打出来的谱图为准。
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
总结：核磁、红外、质谱、色谱等常见16种仪器对样品的要求
1.核磁共振波谱仪 (1)送检样品纯度一般应>95% ，无铁屑、灰尘、滤纸毛等杂质。一般有机物须提供的样品量：1H谱>5mg，13C谱>15mg，对聚合物所需的样品量应适当增加。 (2)本仪器配置仅能进行液体样品分析，要求样品在某种氘代溶剂中有良好的溶解性能，送样者应先选好所用溶剂。本室常备
布鲁克·道尔顿：追求卓越—领先的质谱技术
Bruker公司在今年完成了对Varian公司ICP-MS、GC和GC/MS三条产品线的收购，在2010年全国质谱大会上Bruker公司展出其最新的质谱产品线，包括MALDI-TOF/TOF、amaZon系列离子阱质谱、四极杆傅立叶变换串联质谱（Qq-FTMS）以及新收购的GC/MS和ICP-M
参会邀请－|－布鲁克质谱新技术午餐会@中国质谱学术大会
值此中国质谱学术大会召开之际，布鲁克携 ASMS 2025 最新发布的前沿质谱技术，特此举办午餐交流会。我们很荣幸邀请到了中国科学院化学研究所聂宗秀研究员和中山大学李惠琳教授，将就蛋白质组学和质谱成像技术面临的机遇、挑战和发展进行报告。我们诚挚邀请您出席本次午餐交流会！9月20日 12:25-13:
布鲁克：新品云游ASMS－2020
分析测试百科网讯 近日，布鲁克对外宣布其在ASNS 2020期间的会议日程： Sunday, May 31, 2020, 8:30 am – 12:00 pm CDT 演讲嘉宾： 《What‘s New with Bruker》 Rohan Thakur, PhD, Managing D
X射线能谱定量分析
随着探头制造技术水平的提高、电子学技术的发展,以及对脉冲处理技术和重叠峰处理方法的改进,能谱定量分析的精度得到不断提高。目前,对原子序数在11～30之间的常用元素,其分析精度大体上可以达到波长谱仪的水平。由于能谱定量分析的方法简单、操作方便,它既能进行大试样的平均成份分析,也能进行微粒、薄板、镀层、
X射线能谱仪的原理介绍
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。 其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法
复杂X射线能谱构造方法研究
本文提出了基于最小二乘法的复杂X射线能谱构造方法,介绍了其构造原理,设计了由35~100kV加速电压条件下的14个X射线过滤谱组成的构造子谱组。目标能谱模拟构造结果表明,构造能谱与目标能谱总体的相对偏差基本控制在10%以内;影响其偏差的主要因素包括构造子谱数量与形态,目标能谱的非连续可微以及射线源特
X射线晶体谱仪研发获进展
近期，中国科学院近代物理研究所原子物理中心科研人员自主研发了用于内壳多空穴离子X射线精细结构测量的宽带高分辨晶体谱仪，相关成果于4月3日发表在光谱学期刊Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy上。解析内壳多空穴离子的X射线精细结构不仅是研究量子电
X射线能谱重叠峰的识别
提出了一种通过谱线权重来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法。应用该方法 ,成功地分析了Ti合金微区中能量差为 2 0eV的Ti和V的重叠峰。实验表明 ,该方法简便、可靠 ,并可适用于K Zn之间元素的分析
X射线光电子能谱
X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技术也被称作用于化学分析的电子能谱(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS属表面分析法,它可以给出固体样品表面所含的元素种类、化学组成以及有
掺钴氧化锌稀磁半导体的SEM及X射线能谱微分析
采用水热法,以CoCl2.6H2O为前驱物,KOH作为矿化剂合成了掺钴氧化锌稀磁半导体晶体。利用扫描电子显微镜(SEM)及X射线能谱仪(XREDS)对合成晶体的微观形貌、表面及内部掺杂元素Co的相对含量和分布的均匀性进行了研究。研究结果表明:水热法合成的掺Co氧化锌晶体具有多种微观形貌,较大的晶体具
X射线能谱仪谱峰重叠问题的探讨
针对X射线能谱仪在对样品进行定性分析时经常出现的元素谱峰重叠问题,进行机理分析和归纳总结,提出在物证检验中如何避免谱峰重叠带来定性分析偏差的方法.
X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响
利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低
磁质谱的优缺点相关介绍
优点： 技术经典、成熟，NIST等MS库采用的仪器； 分辨力非常好（100k，m/&Delta m FWHM），干扰少； 灵敏度高，定量能力是各种质谱中最好的。 缺点： 体积、重量大； 售价很高； 速度慢； 维护复杂，很费电。