X荧光光谱法快速测定糙米中的镉

X荧光光谱法快速测定糙米中的镉

采用重金属镉富集装置对被测糙米进行先碳化后灰化的处理,使得被测糙米中的镉元素富集;将得到的被测糙米灰分放入样品杯中压制成被测样品,由X射线荧光分析装置进行测量,得到镉元素的信号强度,然后根据信号强度与浓度的比例关系自动计算样品中镉的含量。整个分析过程在15 mim以内,数据结果与AAS结果一致。 

X荧光光谱法快速检测皮制儿童用品中铅镉含量

建立了X荧光光谱法快速测定皮制儿童用品中铅镉的分析方法。样品经皮革专用切割压片装置处理后,采用X荧光光谱仪进行分析,试验了二次靶的康普顿散射线校正样品的厚度对结果的影响,该方法铅镉的检出限分别为0.35μg/g和0.45μg/g。并与微波消解-原子吸收光谱法测定的结果进行对比,两种分析方法测试结果基

X荧光光谱法快速测试纺织品中镉标准品的研究

采用X荧光光谱法(XRF),以自制纺织织物为基底的标准品,快速定性和半定量纺织品中重金属镉的含量。研究了不同种类纺织基底标准品、方法的稳定性及织物不同特性对测试方法的影响等。经过比较发现,用聚酯纤维自制的标准品准确度较高,能快速对纺织品中的镉元素进行筛查检测。

X荧光光谱法快速检测皮制儿童用品中铅镉含量的研究

方案优势       X 荧光光谱法大大节约时间，提高工作效率，将检测时间由4 h 缩短至5 min，其重复性、稳定性和准确性均能满足日常检测要求。               采用标准       相关标准           方法/原理/步骤    

刘明博：台式能量色散X射线荧光光谱法测定大米中镉

　　2014年10月20日，CCATM’2014国际冶金及材料分析测试学术报告会及展览会在京召开，在化学场上，来自国内外相关领域的专家、学者、技术人员及仪器设备厂商100余人参加。现将部分报告整理供大家参考学习。　　来自钢研纳克检测技术有限公司的刘明博工程师为大家带来题为《台式能量色散X射线荧光光谱

分析测试协会发布XRF、AFS两项稻米镉测定方法

　　分析测试百科网讯 近日，中国分析测试协会发布两项分析测试协会标准，分别为“稻米 镉的测定 X射线荧光光谱法”（CAIA/SH001-2015）和“稻米 镉的测定 固体进样电热蒸发原子荧光光谱法”（CAIA/SH002-2015）。　　其中，“稻米 镉的测定 X射线荧光光谱法”标准起草单

原子荧光光谱法测定牡蛎中的镉含量原子荧光谱仪

利用HN03-HCl04混合酸消解样品，采用氢化物发生-原子荧光光谱法测定牡蛎中镉的含量。在优化的仪器工作条件下，镉的质量浓度在0.20～1.50μg/L范围内与荧光强度呈良好的线性关系，线性相关系数为0.9992，检出限为0.10μg/L，测定结果的相对标准偏差为4.48％(n=12)，加标回收率

儿童座垫中氯、溴和磷的X射线荧光光谱法快速测定研究

随着社会经济的不断发展和人们生活水平的不断提高,人们对12岁以下儿童乘车、乘坐的安全要求开始越来越重视。为了保证儿童乘坐的舒适度,儿童座垫一般采用皮革、纺织品、塑料、海绵等材料进行制作及填充。这类物质具有保暖、抗压、柔软等特点,但同时可燃性极高。为了降低材料的可燃性,避免火灾的发生,往往会在可燃性材

利用原子荧光光谱法测定土壤中镉含量

微量元素镉作为人体非必需微量元素是毒性最强的重金属元素之一,它不易与硼氢化钾反应,在有钴离子存在的情况下可以与硼氢化钾反应生成不稳定的镉挥发组分,本文利用镉的这一特性从而建立了原子荧光法测定痕量镉的方法。本文通过试验优化了测定痕量镉时的仪器条件和反应条件。 一、原理试样用酸溶解后，在酸性介质中，试样

利用原子荧光光谱法测定土壤中镉含量

微量元素镉作为人体非必需微量元素是毒性zui强的重金属元素之一,它不易与硼氢化钾反应,在有钴离子存在的情况下可以与硼氢化钾反应生成不稳定的镉挥发组分,本文利用镉的这一特性从而建立了原子荧光法测定痕量镉的方法。本文通过试验优化了测定痕量镉时的仪器条件和反应条件。 一、原理试样用酸溶解后，在酸性介质中，

火焰原子荧光光谱法谷物中镉的测定CAIA标准

X荧光光谱法测定镍矿石中的主次元素

采用硝酸钡作为氧化剂,在预氧化阶段将低价态的S转化为硫酸盐,与其它氧化剂相比可更好将硫定量保留在硼酸盐熔剂中,27.8%的S的RSD为0.61%。Tm作为Ni的内标,Ni的分析准确度和精密度得到明显改善。采用(Li2B4O7:LiBO2=12:22)的混合熔剂,准确测定镍矿中的15中主次痕量元素,最

岛津最新推出大米中镉的快速测定方法

　　近年来，食品安全问题频发，已成为政府有关部门乃至普通百姓高度关注的焦点，其中有毒重金属超标和污染问题不容乐观，尤其是近期的大米中重金属镉超标问题格外引人注目。针对这一牵动万众人心的问题，长期关注中国食品安全问题、迅速提供食品检测解决方案的岛津公司最新推出了大米中镉的快速测定方法。 　　目前，对

高敏度x荧光光谱仪在检测大米中重金属镉中的应用

　　实验背景： 　　粮食重金属污染频发，污染源的控制等需要有更加快速和现场分析方法，且分析结果准确可靠，避免假阴性结果，如果分析仪器便携，无需样品前处理，将更有广泛的应用前景，这样执法单位就可以现场检测执法，可移动的仪器设备，能够车载，检测样品量大幅提高，提高使用效率。 　　高灵敏度X荧光光谱仪

原子荧光光谱法测定植物样品中痕量镉的含量

摘  要：建立了微波消解—原子荧光光谱法测定植物样品中的镉含量的方法。用微波消解仪器对植物样品进行消解，在最佳仪器、反应条件下测定植物样品中镉的含量。镉浓度为0.1~0.8 ng·mL-1时荧光强度与镉浓度呈显著的线性关系，r=0.99953，方法的检出限为0.0018ng·mL-1 。向植物样品中

原子荧光光谱法测定植物样品中痕量镉的含量

建立了微波消解—原子荧光光谱法测定植物样品中的镉含量的方法。用微波消解仪器对植物样品进行消解，在zui佳仪器、反应条件下测定植物样品中镉的含量。镉浓度为0.1~0.8 ng·mL-1时荧光强度与镉浓度呈显著的线性关系，r=0.99953，方法的检出限为0.0018 ng·mL-1 。向植物样品中分别

原子荧光光谱法测定植物样品中痕量镉的含量

摘  要：建立了微波消解—原子荧光光谱法测定植物样品中的镉含量的方法。用微波消解仪器对植物样品进行消解，在最佳仪器、反应条件下测定植物样品中镉的含量。镉浓度为0.1~0.8 ng·mL-1时荧光强度与镉浓度呈显著的线性关系，r=0.99953，方法的检出限为0.0018ng·mL-1 。向植物

应用X荧光光谱法测定煤中磷结果探讨

应用X荧光光谱法重复测定磷含量分别为低、中、高的3种不同量值的有证标准煤样,通过测定值的准确度和精密度对比分析可知:应用X荧光光谱法测定煤中磷时虽在试验中存在一定的误差,但测定差值的置信范围较小,精密度优于GB/T 216—2003中规定的方法精密度,即在实验室检测中可以采用X荧光光谱法测定煤中磷,

基于X射线荧光光谱法测定饰品中的有害元素

有害元素对人体的危害和环境的污染日益受到重视，世界各国都在研究制定相关法律法规对其进行控制和检测。在首饰业中，我国亦制定了相关国家强制性标准对饰品中有毒有害物质的使用做出了限量的规定。目前多采用电感耦合等离子体发射光谱法（即ICP-AES法）对首饰中的有害元素进行检测，但该方法具有破坏性，因此，建立

X荧光光谱仪中X光管的寿命问题

 经常在网上看到大家讨论X光管的寿命问题，实际上，可能每个人描述的都不是一件事情，因为X光管的功率不同，并且差别很大，从几瓦到几千瓦，各种功率X光管的设计寿命就相差很多。比如灯丝电流，50W的光管只要几安培，400W的要将近10安培，2000W的要十几安培，4000W的要几十安培，那么对灯丝的消耗就

X荧光光谱法测定玩具饰品中的重金属含量

采用X荧光光谱法测定了塑料、金属、陶瓷等多类玩具饰品表面中的重金属Cr、Cd、Pb、Hg含量。仪器预热初始化后,对不同大小,不同形状,不同属性的样品无需做任何的预处理,直接无损测定其表面重金属的含量。单个样品测定时间为2～3分钟,可连续不间断测定,检测限低,可达2mg/kg,相对标准偏差低于4.6%

X射线荧光光谱法测定钨、钼、锡矿中的成矿元素

钨、钼、锡矿产资源是我国重要的矿产资源，其矿产中常常伴生铜、铅、锌、铋等重金属元素，成矿元素钨、钼、锡经典分析方法多为单元素分析，且步骤繁琐，流程长，耗费了大量的人力、物力、财力。本文研究的主要目的是为适应当前国家矿产勘查工作的需要，缩短分析周期，提高效率，建立钨、钼、锡矿成矿元素的X射线荧光光谱分

原子吸收光谱法测定土壤中的镉

方案优势       该方法检出限为0．006mg／kg，相对标准偏差

谷物中镉的测定－稀酸提取－火焰原子荧光光谱法标准发布

　　分析测试百科网讯 2018年4月17日，中国分析测试协会标准化委员会“筛检技术标准化工作组”组织有关专家对国家粮食局科学研究院和北京金索坤技术开发有限公司共同申报的CAIA标准一一《谷物 镉的测定 稀酸提取一火焰原子荧光光谱法》进行6标委会秘书组将修改后的标准草案报批稿和标准草案编制说明用电子邮

X射线荧光光谱仪中的X射线原理科普

　　X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应。X射线初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这一类对人体有危害的

X荧光光谱的初识

XRF是一种确定各种材料化学组成的一种分析方法。被测材料可以是固体、液体、粉末或其它形式。XRF还可测定镀层和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、准确度高、不破坏样品及样品前处理简单等特点。应用范围广泛，涉及金属、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及矿物、地质和环境等领域，在医药研究方面，XRF也

X射线荧光光谱法痕量元素测定

　　在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在，基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发，向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理方法的改进，对于扩大分析含量范围，包括进一步开展痕量元素测定等工作，

X射线荧光光谱在冶金分析中的应用

 ⑴冶金分析的特点　冶金分析是指冶金生产过程中各物料的化学组成及其含量的分析。它对原料的选择，在冶炼前的炉料计算，冶炼工艺流程的控制中，产品的检验，新产品的试制，以及冶金工厂中环保分析都是必不可少的。特点是：①在保证生产质量的前提下，分析速度要快，特别是分析；②冶金分析物料种类繁多，有固体、粉末和液

X荧光光谱仪分析中的干扰分析

1、在X荧光光谱仪分析中，某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。基本参数方程要求使用没有受到谱线重叠影响的净强度。在这些方程中包含某些经验的修正。 2、在X射线光谱仪分析中，在某些元素间可能存在元素间干扰或者基体效应。来弥补这些效应的经验方式就是制备一系列校正标样的曲线，浓度范围涵盖要分析的范围。此

X荧光光谱仪分析中的误差来源

X射线荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差，提高仪器的分析准确度成为重要的课题。 X射线荧光分析过程中产生误差