轻元素EDXRF分析技术研究及应用
轻元素(这里主要是指原子序数12~20之间的元素,如Al、Si、S、K、Ca等元素)是很多工业原料中元素分析的必测成分,它们有可能是有益元素也有可能是有害元素。在工业生产流程中,对于轻元素测量的准确度、精确度以及测量速度都提出了很高的要求。近年来EDXRF分析方法越来越广泛地应用于工业领域的元素分析,该分析方法具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠、易于实现自动化及在线分析等优点。但是由于轻元素特征X射线能量低、荧光产额低,激发、探测效率很低,同时由于轻元素间的K系谱线能量十分接近,基体效应影响严重等原因,大大限制了EDXRF分析技术在轻元素定性定量分析上的应用。本项研究源自国家“863”计划项目“海底原位X射线探针分析系统研制”,开展EDXRF分析技术对轻元素(主要是S、K、Ca)的分析研究,探讨轻元素测量的最佳实验条件,对S元素的检出限进行了测定,同时对不同样品中的S、K、Ca元素进行了定量分析,以此促进EDXRF技术在工......阅读全文
X射线荧光分析方法的优点介绍
①分析的元素范围广，除少数轻元素外，周期表中几乎其他所有的元素都能进行分析。随着仪器的改进，分析元素已经扩展到F，O，C等轻元素。 ②荧光X射线谱简单，谱线干扰少，对于化学性质极其相似的元素，如稀土、锆铪、铂系等，不需经过复杂的分离，就能成功地完成分析工作。 ③分析的浓度范围较宽，从常量组分
关于电子探针X射线显微分析仪的俄歇电子介绍
入射电子与样品相互作用后，元素原子内层轨道的电子轰击出来成为自由电子或二次电子，而留下空位，从而原子不稳定。则外层高能电子填充空位，释放出能量，释放的能量一方 面以辐射特征X射线的方式释放，另一方面释放的能量被该原子吸收，从而从另一轨道上轰击出电子，该电子为俄歇电子。俄歇电子发生的几率随原子序
看完这篇文章，您会喜欢进口X射线荧光光谱仪
无论是工业生产控制还是深入的材料研究，均可根据单独的带药求进行定制。进口X射线荧光光谱仪从未知物相鉴定和混合物定量，到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定，系统的应用不受任何限制，在所有领域都体现出高性能。采用第二代陶瓷X光管技术，通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位，用户在更换X光管
加速电压决定作用区域的大小
加速电压决定作用区域的大小 加速电压是电子能量的象征，它决定了电子束与样品之间的相互区大小。一般情况下，加速电压越高，电子束在样品表面穿透越深，作用区也就越大。 这意味着电子将在样品中更深入地传播，并在不同区域中产生信号。样品的化学成分也会对作用区的大小产生影响：轻元素的核外电子层数较少，电子能量较
地质地球所研究揭示地球内核体心立方结构不稳定
地球内核条件下铁及其合金究竟具有怎样的晶体结构?这是地球深部研究关注的关键问题之一，对该问题的解答将牵一发而动全身地影响到“内外核平衡温度”、“内外核轻元素分配”、“外核物质对流机制”等一系列核心科学问题。目前人们对地球内核结构存在较大争议：一方面，综合已有的高温高压实验和理论计算结果，一般认为
eds分析常见问题
Q1:能谱的缩写是EDS还是EDX？ 开始的时候能谱的缩写有很多，比如EDS，EDX，EDAX等。ED就是Energy Dispersive，后面因为X-ray Analysis和Spectrum这几个词的不同用法，导致了缩写的不同。而且相应的汉译也有很多，比如能量色散谱，能量散射谱等等。不过
X荧光光谱分析特点
由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有
磷元素分析仪的检测功能庞大是有依据的
磷元素分析仪融合轻元素分析技术，配备了轻元素检测效果较佳的智能真空系统，利用特制低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率，大大提高了磷及有害元素的检测效果。 磷元素分析仪是用于多元素分析的集光，电，计算机为一体的三通道元素分析仪，适用于对金属材料中的多种元素的分析，现已广
磷元素分析仪的检测功能庞大是有依据的
磷元素分析仪融合轻元素分析技术，配备了轻元素检测效果较佳的智能真空系统，利用特制低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率，大大提高了磷及有害元素的检测效果。 磷元素分析仪是用于多元素分析的集光，电，计算机为一体的三通道元素分析仪，适用于对金属材料中的多种元素的分析，现已广
放射分析法的特点和分析范围
放射分析化学与一般分析化学比较，有下列特点：基于测量放射性或特征辐射，分析灵敏度高（一般能达1ppm），准确度高，分析速度快，方法简便可靠，取样量小，有时还可以不破坏样品结构等。各种分析方法都具有其特点和最适分析范围。同位素稀释法要有已知比活度的放射性标准，亚化学计量法就无此需要；中子活化分析一般对
关于荧光光谱仪的选型指南介绍
早期的台式荧光光谱仪使用液氮（LN）致冷探测器Si（Li）LN，每次使用要消耗液氮，也不方便。电致冷硅漂探测器SiPIN出现后，就成为侧RoHS光谱仪探测器的主流。液氮致冷灵敏度较容易达到要求，成本比电致冷的稍微低点，所以现在个别品牌还有液氮的。但现有的电致型都能达到RoHS要求，且有的品牌用S
电子能量损失谱
电子能量损失谱（ Electron energy-loss spectroscopy, EELS）入射电子穿透样品时，与样品发生非弹性相互作用，电子将损失一部分能量。如果对出射电子按其损失的能量进行统计计数，便得到电子的能量损失谱。由于非弹性散射电子大都集中分布在一个顶角很小的圆锥内，适当地放置探头
地球内核超离子态物质研究获进展
超离子态介于固态和液态之间，在超离子态物质中一部分离子如液体一般快速运动，而另一部分离子如“骨架”一般固定在物质结构中。1988年，人们预测冰在高温高压下会转变成超离子态。超离子态冰电导率接近金属，可能存在于天王星和海王星内部并对其磁场产生影响。超离子态是地球和行星科学研究中的新物态，因特殊的性质引
X荧光仪的技术指标
分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30µm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用
X射线荧光分析法的未来展望
X射线荧光分析法同其他分析技术一样，不是完美无缺的。在物质成分分析中，它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟，只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（例如选矿流程中的自动控
X射线荧光光谱仪中的X射线原理科普
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应。X射线初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这一类对人体有危害的
EDX－4500H－X荧光光谱仪性能优势体现在哪些方面
X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以
EDX－3600K－X荧光光谱仪性能优势体现在哪些方面
X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以
了解XRF中的常用“密语”，为检测加速
查看X射线荧光（XRF）相关的内容时，您可能会留意到文章里面经常会出现很多的英文略缩术语。您可以利用这份快速指南，来了解这些您经常会在网站上看到或者在工作中听到的略缩术语。 XRF XRF = X射线荧光。一种快速的无损检测方法。用来测量材料的化学元素组成。类似的略缩术语有: EDXRF
X射线荧光光谱分析概述
X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence，XRF）是固体物质成分分析的常规检测手段，也是一种重要的表面/表层分析方法。由于整体技术和分光晶体研制发展所限，早期的X射线荧光光谱仪检测范围较窄，灵敏度较差。随着测角仪、计数器、光谱室温度稳定等新技术的进步，使现代X射线荧光光谱仪的测量精密
浅谈X射线荧光光谱仪的物理原理
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画
X射线荧光光谱法的未来展望
X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（例如选矿流程中的自动
关于XRF的缺点和不足介绍
a)难于作绝对分析，故定量分析需要标样。 b)对轻元素的灵敏度要低一些。 c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
X射线荧光光谱分析仪的缺点介绍
a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。b）对轻元素的灵敏度要低一些。c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
研究发现火星半径缩小
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/10/511262.shtm 科技日报讯 （记者张梦然）《自然》25日发表的两篇研究发现，火星的液态铁核可能被一层完全熔融的硅酸盐包裹。研究结果提出了对火星内部的新解释，提示火星核比之前认为的更小、密度更大
分析基体效应产生的原因
一、吸收-增强效应 为了叙述方便，假设样品中存在待测元素A，相邻元素B、C和轻元素。B元素的原子序数比A元素的原子序数大一些，B元素能被放射源放出的射线所激发，产生B元素的特征X射线BK,BKX射线又能激发A元素；C元素的原子序数小于待测元素A的原子序数，且能被A元素特征X射线所激发产生C元素
直读光谱仪和荧光光谱仪有什么区别？
直读光谱仪要求试样具有导电性，且只能是固体样品，简单地说就是火花直读只能分析金属固体样品中的元素。而x射线荧光光谱仪由计算机控制，自动化水平高，分析速度快，它对样品要求不高，可以分析粉末样品、固体样品、熔融样品、液体样品，不需要样品具有导电性，金属及非金属样品均可分析。 直读一般分析低含量的元
显微镜波谱分析和能谱分析的对比
波谱分析和能谱分析的对比波谱分析和能谱分析都是用于功能型电子显微镜的元素分析。波谱分析和能谱分析均能进行微区分析，波谱分析发展较早，但进展不大；近年来能谱分析成为微区分析的主要手段。两种方法比较如下： 1.通常的能谱仪对入射X射线的吸收无法探测到超轻元素的特征X射线，但近年出现的单窗口轻元素探测
牛津仪器新款XRF光谱仪－满足各种元素分析要求
牛津仪器推出了新款手持式 X 射线荧光光谱仪 可满足各种苛刻的元素分析要求 牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式 X 射线荧光光谱仪 (XRF) — X-MET5000，该仪器能够进行高精度、高可靠性的元素分析。牛津仪器的手持式 X 射线荧光光谱仪誉满全球，X-MET5000 是其第四代产品。
X荧光光谱仪分类及比较
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（