X荧光分析基体效应校正研究及在水泥工业中的应用
水泥生产企业需要对原材料、燃料、生料、半成品、熟料及水泥成品的化学成份进行分析,确保水泥生产的质量要求。X射线荧光分析技术具有分析速度快、检测元素广、分析精确度高、操作简便等优点,正好满足水泥生产过程中化学成份快速准确分析的要求,是现代化水泥生产企业最重要的成份分析仪器。在X射线荧光分析中,由于基体效应的存在,使得分析元素的浓度和实测计数率并不严格成正比,这就需要对基体效应进行校正后才能准确定量分析。传统的经验系数法需要较多的基体相似的系列标样,已不能满足水泥生产过程中对熟料样品的分析的需要,其它生产、科研上也对少标样、无标样分析有了更大的需求。国外一些著名的企业生产的荧光仪已经可以选配少标样、无标样分析软件,本人参考了国外众多相关资料,在深入研究传统的基体效应校正方法的基础上,根据水泥工业分析的特点,独创性的提出变动理论影响系数法。采用C++语言开发了三种基体效应校正方法软件(基本参数法、单标理论影响系数法和变动理论影响系数法......阅读全文
X荧光分析基体效应校正研究及在水泥工业中的应用
水泥生产企业需要对原材料、燃料、生料、半成品、熟料及水泥成品的化学成份进行分析,确保水泥生产的质量要求。X射线荧光分析技术具有分析速度快、检测元素广、分析精确度高、操作简便等优点,正好满足水泥生产过程中化学成份快速准确分析的要求,是现代化水泥生产企业最重要的成份分析仪器。在X射线荧光分析中,由于基体
水泥、钢铁等行业的X荧光分析标准物质首选
德国Fluxana公司作为X荧光前处理分析领域的全球领先的提供商，为X荧光分析客户提供包括熔样炉、压片机、固体标准物质等。Fluxana公司凭借其专业的精神为水泥工业、玻璃工业、钢铁工业及原材料等领域提供全套解决方案。 ·样品制备设备：熔样炉、压片机和液
北京东西分析推出我国第二代水泥X荧光新品
中国建筑材料科学研究总院、中国建材检验认证集团研究中心 刘玉兵教授 另外，中国建筑材料科学研究总院、中国建材检验认证集团研究中心刘玉兵教授介绍了一种新方法《X射线荧光分析技术（MLD方法）在水泥实验室中的应用》。 MLD方法是个全新的技术，其技
X荧光钙铁分析仪主要用于水泥生料，煤矸石，砖坯料
X荧光钙铁分析仪是一种微机化的新型台式分析仪器，主要用于水泥生料，煤矸石，砖坯料中CaO、 Fe2O3百分含量的快速（30秒）定量分析。它根据元素特征射线的X荧光能量色散原理，采用低能小功率X光管激发（不用放射源）、正比计数管探测、核电子学及微机等组成，采用先进的物理测量方法，符合节能、环保、安
水泥中铬元素的X射线荧光光谱分析方法研究及其应用
本课题的目的是利用X射线荧光分析方法建立一套水泥中总铬、水溶性六价铬离子的测试方法，并利用水泥企业化验室现有的条件替代标准方法完成测试工作。本方法与标准方法相比具有测定速度快、操作简单、试料量少的优点，为研究水泥中可溶性六价铬离子的来源及存在形态提供了参考依据，对于研究降低水泥中水溶性六价铬离子含量
X荧光硫钙铁分析仪－水泥石灰石检测仪器
KL3300型X荧光硫钙铁分析仪是一种新型的采用纯物理分析方法的微机化台式仪器。用于水泥厂，能够30秒快速测量生料、熟料、水泥、石膏等中的SO3、CaO、Fe2O3百分含量，由于它的分析速度快，因此可实时监控生产过程中此三成份变化的情况，便于及时调整原料配比，为生产合格熟料、水泥打下坚实的基础
水泥中铬元素的X射线荧光光谱分析方法研究及其应用
本课题的目的是利用X射线荧光分析方法建立一套水泥中总铬、水溶性六价铬离子的测试方法，并利用水泥企业化验室现有的条件替代标准方法完成测试工作。本方法与标准方法相比具有测定速度快、操作简单、试料量少的优点，为研究水泥中可溶性六价铬离子的来源及存在形态提供了参考依据，对于研究降低水泥中水溶性六价铬离子含量
X射线荧光分析技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X光荧光分析的应用
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
简述－X－射线荧光分析技术
X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关部门提供了一种可行的、低成本的并且及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。相对于其他分析方法（例如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理，快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适
X荧光分析仪简介
EDX 60a X荧光仪是一种新型的采用纯物理分析方法的微机化台式仪器,用于水泥厂，能够30秒快速分析旋窑、机立窑、窑外分解旋窑厂家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、 Fe2O3的百分含量，为配料成分控制及时提供数据。由于它的分析速度快（30秒），因此可实时监控生产过程中成份变化的
X射线荧光分析法
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。 X- 射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。 X 射线是伦琴于 1895 年发现的一种电磁辐射，其波长为 0.01 ～ 10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞
X荧光分析仪简介
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。
X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射线荧光分析技术介绍
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
X射线荧光分析技术分类
X射线荧光分析技术可以分为两大类型：波长色散X射线荧光分析(WDXRF)和能量色散X射线荧光分析(EDXRF)；而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。目前，X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一
X光荧光分析的概述
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。c) 根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。 c) 根据各元素的特征X射线的强
X射线荧光应用及分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量。 c) 根据各元素的特征X射线的强度，
同步辐射x荧光分析简介
同步辐射x荧光分析:（synchrotron-basedX-ray fluorescence）采用由加速器产生的同步辐射作光源进行x射线荧光分析的方法。 与常规x射线荧光分析相比，由于同步辐射光通量大、频谱宽、偏振性好等优点，因此分析灵敏度显著增高，此外取样量少，分析速度快，可作微区三维扫描分
X光荧光分析的特点
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
电子激发X荧光分析的介绍
电子激发X荧光分析的轫致辐射本底比PIXE高二个量级以上，因此分析灵敏度低得多。但是，用聚焦的电子束激发样品表面1微米的区域,使产生元素的特征X 射线，可以观察样品表面组成的局部变化。用这种方法能测定合金、矿物、陶瓷等样品中的夹杂物和析出物，决定合金元素的局部富集区等。
X射线荧光分析的基本介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
关于X射线荧光分析的简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
X射线荧光分析技术的应用
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
X射线荧光分析的技术简介
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
X荧光分析仪的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色