固定化青霉素G酰化酶活性的X射线微分析Ⅰ
筛选了能捕捉固定化青霉素 G酰化酶活性部位的捕捉剂 ;底物经固定化青霉素 G酰化酶水解 ,捕捉剂与水解产物反应生成沉淀 ,沉积在固定化青霉素 G酰化酶的催化活性部位。排除了载体、底物、固定化青霉素 G酰化酶对捕捉剂的干扰 ,Fe Cl3能用于固定化青霉素 G酰化酶 X射线微区活性定位的捕捉剂。......阅读全文
X射线光谱
1914年，英国物理学家莫塞莱（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射线光谱仪研究不同元素的X射线，取得了重大成果。莫塞莱发现，以不同元素作为产生X射线的靶时，所产生的特征X射线的波长不同。他把各种元素按所产生的特征X射线的波长排列后，发现其次序与元素周期表中的次序一致，他称这
X射线诊断
X射线应用于医学诊断[6]，主要依据X射线的穿透作用、差别吸收、感光作用和荧光作用。由于X射线穿过人体时，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射线量比肌肉吸收的量要多，那么通过人体后的X射线量就不一样，这样便携带了人体各部密度分布的信息，在荧光屏上或摄影胶片上引起的荧光作用或感光作用的强弱就有较大
X射线散射
美国物理学家康普顿（Arthur Holy Compton，1892～1962）在大学生时期就跟随其兄卡尔·康普顿开始X射线的研究。后来他到了卡文迪什实验室，主要从事g射线的实验研究。他用精湛的实验技术精确测定了γ射线的波长，并确定γ射线在散射后波长会变得更长。但他没能从理论上解释这个实验事实。他到
X射线原理
X射线定义X射线是由于原子中的电子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的粒子流，是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁波。其波长很短约介于0.01~100埃之间。X射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片
解析MFX（微焦点X射线源）的基本原理
X射线是高速运动的电子在与物质相互作用中产生的。在X射线管中，从阴极发射的电子，经阴极、阳极间的电场加速后，轰击X射线管靶（Target），将其动能传递给靶上的原子。其中约有1%左右的能量转化为X射线，并从X射线照射窗（Output Window）中射出。在MFX中，阴极发射的电子会被聚焦到靶上
微区X射线衍射在矿物鉴定中的应用实例
介绍了微区X射线衍射仪发展的现状,给出了微区X射线衍射仪鉴定物相的研究实例,并讨论了微区X射线衍射法的优、缺点。通过配置有封闭3kWX射线光管、单毛细管透镜、Pixcel探测器和普通CCD视频的Panalytical X’Pert PRO MPDX射线衍射仪,对光片上的铍矿物进行了微区X射线
x射线衍射仪和x射线机有什么不同
X射线衍射仪和X射线机有什么不同我觉得X射线机是用来照射X光线X射线衍射线一他是用来衍射的他俩不同
什么是连续X射线和特征X射线谱
连续X射线，是电子跑着跑着突然被原子核拉住，能量没地儿放，于是放出X射线，这里放出的能量是连续的。特征X射线是处于特定能级的电子吸收光子，处于激发态，跑到低能级上放出的能量，故是一份一份的，具有明显衍射峰。介绍阴极射线的电子流轰击到靶面，如果能量足够高，靶内一些原子的内层电子会被轰出，使原子处于能级
X－射线荧光光谱分析
本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。 更多还原
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
关于荧光X射线的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
X射线荧光分析法的应用
X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达3-10～10-6克/克(g/g)，对许多元素可测到10-7～10-9g/g，用质子激发时 ，检出可达10-12g/g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用
X射线荧光分析的理论基础
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子
X射线荧光光谱分析
XRF的原理：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照
X射线衍射分析法的简介
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和
X射线荧光分析的基体效应
试样内部产生的X荧光射线，在到达试样表面前，走位的共存元素会产生吸收（吸收效应）。同事还会产生X荧光射线并对共存元素二次激发（二次激发效应）。因此即使含量一样，由于共存元素的不同，荧光射线强度也会有所差别，这就是基体效应。在定量分析时，尤其要注意基体效应的影响。
X射线衍射分析的理论发展介绍
发现衍射现象 1912年劳埃等人根据理论预见，并用实验证实了 X射线与晶体相遇时能发生 衍射现象，证明了X射线具有 电磁波的性质，成为X射线衍射学的第一个里程碑。当一束单色X 射线入射到晶体时，由 于晶体是由原子规则排列成的 晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线 波长有 相同数量级
X射线衍射分析法的简介
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强
X射线荧光分析仪的介绍
X射线荧光分析仪主要由激发、色散（波长和能量色散）、探测、记录和测量以及数据处理等部分组成。X射线光谱仪与X射线能谱仪两类分析仪器有其相似之处，但在色散和探测方法上却完全不同。在激发源和测量装置的要求上，两类仪器也有显著的区别。X射线荧光分析仪按其性能和应用范围，可分为实验室用的X射线荧光光谱仪
X射线衍射仪可以进行哪些分析？
X射线衍射分析建立在X射线与晶体物质相遇时能发生衍射现象的基础上的一种分析方法。应用这种方法可进行物相定性分析和定量分析、宏观和微观应力分析。 （1）物相定性分析： 每种晶体物相都有一定的衍射花样，故可根据不同的衍射花样鉴别出相应的物相类别。由于这种方法能确定被测物相的组成，在机械工程材料特
EDX能谱分析：X射线如何工作
与BSE，SE和TE不同，X射线是电磁辐射，就像光一样，由光子组成。为了检测它们，zui新的系统使用了硅漂移探测器（SDD）。由于其具有更高的计数率、更好的分辨率和更快的分析能力，都优于传统的Si（Li）探测器。这些探测器被置于一个特定角度，非常接近样品，并且有能力测量X射线的光子能量。探测器与样品
X射线荧光仪器分析误差的来源
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几
X射线荧光分析技术的应用介绍
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
关于X射线荧光分析的分类介绍
1、根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长
X射线管的常见故障分析
故障一 ：旋转阳极转子的故障（1）现象① 电路正常，但转速明显下降；静转时间短；曝光时阳极不转动 ；② 曝光时，管电流剧增，电源保险丝熔断 ；阳极靶面某点被熔化。（2）分析长期工作后导致轴承磨损变形及间隙改变，固体润滑剂分子结构也会改变。故障二 ：X 射线管阳极靶面损坏（1）现象① X 射线输出量显
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线能谱定量分析
随着探头制造技术水平的提高、电子学技术的发展,以及对脉冲处理技术和重叠峰处理方法的改进,能谱定量分析的精度得到不断提高。目前,对原子序数在11～30之间的常用元素,其分析精度大体上可以达到波长谱仪的水平。由于能谱定量分析的方法简单、操作方便,它既能进行大试样的平均成份分析,也能进行微粒、薄板、镀层、
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S