Antpedia LOGO WIKI资讯

Si1xGex:C合金薄膜的EDS元素深度分析

俄歇电子能谱(AES)、x 光电子能谱(XPS)、x 射线能量色散谱(EDS)是目前应用最广泛的显微分析方法。与 AES 和 XPS 相比,EDS 有诸多优点,如测试方便、不损坏试样、分析速度快;但缺点是分辨率和定量分析准确度不够高,这主要是由于大的加速电压和束流导致大的分析面积和表面效应。 ......阅读全文

赛默飞2016表面分析应用交流会:全方位呈现技术进展

  分析测试百科网讯 2016年4月22-26日,2016全国表面分析应用技术学术交流会在古都西安召开。交流会由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会、中国科学院化学研究所、北京师范大学、北京化工大学、广东省表面分析专业