这种分析方法可同时测定锆石水含量和氧同位素
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不均匀性而导致的数据解耦，保证实验数据正确的科学解释。 SIMS虽被广泛应用于名义上无水矿物的水含量分析，但此前仅限于CAMECA IMS 3-7f系列、NanoSIMS等小型仪器，因为水在真空中极难去除，只有极高的真空才能将水的背景值降低到10ppm以下。这类仪器腔体小，较易获得高真空，但无法获得高精度氧同位素信息。大型SIMS具有同时测量矿物水含量和氧同位素的能力，但腔体大，真空度难以跟小型SIMS相比。国际上以往利用大型高精度SIMS测试水含量的背景值高达40ppm，难以满足低水含量样品测试要求。 锆石是地球科学研究中应用最广泛的一种名义......阅读全文
研究发现锆石水含量和氧同位素同时测定新方法
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不均匀性而导致
结合锡铋合金，SIMS有了新用途
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不均匀性而导致
这种分析方法可同时测定锆石水含量和氧同位素
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不均匀性而导致
结合锡铋合金，SIMS有了新用途
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不
二次离子质谱仪——锆石水含量和氧同位素同时测定新方法
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不均匀性而导致
硅中氧、碳的二次离子质谱(SIMS)分析
硅中氧、碳的二次离子质谱（SIMS）分析何友琴马农农王东雪（电子材料研究所 天津 300192）摘 要 本文采用相对灵敏度因子法，对硅中氧、碳含量的SIMS定量分析方法进行研究。通过对样品进行预溅射的方法，氧、碳的的检测限分别可达到6.0e16atoms/cm3、2.0e16atoms/cm3。关
地质地球所研发出锆石微区原位OHf同位素分析标样
锆石作为副矿物广泛存在于各类岩石中，锆石微区原位U-Pb年龄、Hf-O和元素地球化学组成可以提供有关岩石形成年龄、成因和演化的丰富信息，而这些信息的获得依赖于分析仪器和分析技术的进步，如离子探针（SIMS）和激光探针等离子体质谱（LA-ICPMS和LA-MC-ICPMS）。由于微区
地质地球所揭示锂同位素在锆石中的分馏规律
Li同位素是一种新兴的非传统稳定同位素示踪工具，在示踪花岗岩源区上有潜在的优势。迄今为止，对锆石Li同位素的研究非常有限，对锆石中Li同位素的变化究竟是反映了扩散分馏还是熔体-锆石分馏并没有确切的结论。 针对这一问题，中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化研究室博士研究生高钰涯与导师李献华等
地球所高精度离子探针斜锆石PbPb和UPb定年方法获突破
斜锆石分子式为ZrO2，一般出现在硅不饱和岩石中，如金伯利岩、碳酸岩、碱性岩、基性-超基性侵入体和一些陨石中。斜锆石通常含有较高的U而普通Pb含量极低，因而是硅不饱和岩石最为重要的U-Pb定年矿物。但是斜锆石在岩石中含量非常低，且非常细小，晶体多为板状，不易于常规的矿物分选，也不易
刘敦一：奉献质谱60年－中国需长期支持质谱研发
导读：2020-2023年中国质谱学术大会将于2023年6月9-13日在杭州举办，本次大会是中国质谱界的一次盛会，旨在促进学界团结进步、和谐发展、共赢未来，提高学术交流水平，推动质谱技术在各大科技领域的广泛应用。大会由中国物理学会质谱分会联合中国化学会质谱分析专业委员会和中国仪器仪表学会分析仪器分会
地质地球所运用离子探针分析建立锆石Li同位素标准样品
Li是自然界最轻的金属元素，有6Li和7Li两个同位素（天然丰度分别为7.5%和92.5%），是自然界相对质量差异最大的金属元素。自然界中7Li/6Li同位素比值的差异可高达80‰，地球上不同的岩石储库具有不同的Li同位素组成。作为一种快速发展的新兴非传统稳定同位素地球化学方
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。
SIMS(secondary－ion－mass－spectroscopy)二次离子质谱图文
1.仪器介绍二次离子质谱（SIMS）是一种用于通过用聚焦的一次离子束溅射样品表面并收集和分析喷射的二次离子来分析固体表面和薄膜的组成的技术。SIMS是最灵敏的表面分析技术，元素检测限为百万分之几到十亿分之一。Schematic of a typical dynamic SIMS instrument
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。中文名 二次离子
飞行时间二次离子质谱（TOFSIMS）研究
一、二次离子峰位归属煤及烃源岩中的有机组分的二次离子谱非常复杂，再加上目前对SIMS裂分机理掌握不够，因此，对煤及源岩有机质的SIMS谱图解释存在很多问题。目前对TOF-SIMS常见碎片离子峰认识程度综合于表7-7。本节研究重点是根据对现有峰位的认识，建立与13CNMR,Mirco-FT·IR可以类
刘敦一：仪器应用全球共享－中国的仪器研发要从高端入手
造自己的仪器从高端入手、紧跟应用需求 地质学研究需要高精尖的仪器，刘敦一教授领导的团队不只是在使用最先进的仪器，同时也在研发我国自己的仪器，自主研发了二次离子质谱和串联飞行时间质谱的关键部件和关键技术、新产品、新装置和计算机软件等19项，申报了18项ZL，已获2项国内发明ZL和1项国外发明
激光烧蚀(多接收器)等离子体质谱锆石UPb定年技术
近年来，副矿物如锆石、独居石、金红石的LA-(MC)-ICP-MSU-Pb定年技术的分析精度有了很大的进步。相对于其他定年方法，LA-(MC)-ICP-MSU-Pb定年技术的优点为:①制样流程简单;②空间分辨率高(10～100μm);③分析速度快，每个点只需几分钟;④相对于离子微探针和同位素稀释-热
质谱流式的同位素是原子还是离子
晚上好，这是不可以的，你把概念搞混了。同位素是针对原子的，指的是相同质子数，不同中子数的原子之间互称同位素。而离子说的是原子或原子团失去或获得电子的事情，两者是不相关的。当然，即使构成氧原子和氧离子的原子钟含有的中子数目不同，也不能互称同位素。
AS专辑I：微区微束新技术助推嫦娥五号月壤研究
2020年12月17日凌晨，中国嫦娥五号返回器在内蒙古四子王旗着陆，这是继美国阿波罗(Apollo)和前苏联月球号(Lunar)计划后，时隔44年人类再次从月球带回珍贵样品，举国欢腾，举世瞩目！ 2021年7月12日，首批嫦娥五号月壤样品正式发放，拉开返回样品精细研究的序幕！截至目前，月壤样品
氧化锆氧量分析仪氧含量监测
随着人们环保和节能意识的逐渐提高，众多大中型企业如钢铁冶金、石油化工、火力发电厂等，已将提高燃烧效率、降低能源消耗、降低污染物排放、保护环境等作为提高产品质量和增强产品竞争能力的重要途径。钢铁行业的轧钢加热炉、电力行业的锅炉等燃烧装置和热工设备，是各行业的能源消耗大户。因此，如何测量和提高燃烧装
二次离子质谱SIMS应用：从半导体材料到生命科学
在2012年以前，汪福意研究员一直带领团队通过有机质谱，如电喷雾电离质谱(ESI-MS)、基质辅助激光解析电离质谱(MALDI-MS)等进行药物相互作用组学研究、抗肿瘤药物的研究和开发等工作。一次与生物学家偶然的讨论给汪福意带来了启发，他萌生了使用高空间分辨率的二次离子质谱成像进行化
7400万－刘敦一团队入选重大科学仪器设备项目
由中国地质科学院地质所北京离子探针中心牵头(刘敦一研究员担任项目负责人)，联合中国科学院大连化学物理研究所、吉林大学和中国地质科学院矿产资源研究所共同申请的国家重大科学仪器设备开发专项项目“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器”于近日通过科技部组织的专家评审并正式启动，获得7400万元的专项
“同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”项目启动会召开
3月22日，科技部国家重大科学仪器设备开发专项“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器”项目启动会在北京召开。该项目由中国地质科学院地质研究所牵头，中科院大连化学物理研究所、吉林大学、中国地质科学院矿产资源研究所参与。大连化物所李海洋研究员和王利研究员分别承担了“精度及高分辨飞行
氧化锆氧含量分析仪氧含量对应电流大小
氧化锆氧含量分析仪在正常调试过程中，很多时候我们不知道分析仪所显示的氧含量传输至DCS后电流应该显示多少，根据多年的生产调试和现场应用经验，下面为广大用户总结了一张表，仅供参考：量程20.6%量程25.0%量程20.6%量程25.0%氧含量电流mA氧含量电流mA氧含量电流mA氧含量电流mA0.14.
氧化锆氧含量分析仪探头调试氧含量与氧电势的对照
氧化锆氧含量分析仪探头在正常使用过程中难免会出现氧量输出不准或者是无氧量输出，我们在维修的过程中，厂家会建议我们用万用表去量一下氧探头的氧电势。那么此时问题来了，我们量出的氧电势到底对应多和氧含量呢？根据本公司多年的生产调试和现场应用经验，下面为广大用户总结了一张表，仅供参考：氧电势与氧含量对照表(
动态二次离子质谱分析（DSIMS）
动态二次离子质谱分析（D-SIMS）1. 飞行时间二次离子质谱技术二次离子质谱技术（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，D-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子的质量来测定元素种类，具有极
氧化锆氧分析仪的氧含量监测和应用
氧化锆氧量分析仪广泛应用于多种行业的燃烧监视与控制过程，并且帮助各行业领域取得了相当可观的节能效果。应用领域包括能耗行业，如钢铁业、电子电力业、石油化工业、制陶业、造纸业、食品业、纺织品业，还包括各种燃烧设备，如焚烧炉、中小型锅炉等。 随着人们环保和节能意识的逐渐提高，众多大中型企业如钢铁冶金
广州地化所在示踪印度板块北向俯冲过程研究中取得进展
地球物理探测揭示，印度板块和欧亚大陆碰撞后，印度大陆岩石圈目前已经俯冲到达拉萨地块中北部之下。但是，俯冲的印度大陆何时已经到达现今的位置并不清楚。拉萨地块后碰撞幔源超钾质岩具有特别富集的同位素组成，其源区被广泛认为受到了俯冲印度陆壳物质的交代富集。相应地，超钾质岩浆作用被应用到追踪印度板块的俯冲
Cameca1280型离子探针质谱“寻觅”宝藏
初冬的早晨，记者二人走进了中国科学院地质与地球物理研究所，几经打听寻觅，才找到了岩石圈演化国家重点实验室所在的新办公楼。在该实验室李献华研究员的详细介绍下，记者见识了目前国内引进的最先进的Cameca1280型离子探针质谱。 走进摆放这台“体型”颇大、“份量”很沉的离子探针质谱实验室时，一名法国的
质谱干扰离子
质谱仪种类很多，不同类型的质谱仪主要差别在于离子源。离子源的不同决定了对被测样品的不同要求，同时，所得信息也不同。质谱仪的分辨率同样十分重要，高分辨质谱仪可给出化合物的组成式，对于未知物定性至关重要。因此，在进行质谱分析前，要根据样品状况和分析要求选择合适的质谱仪。 目前，