二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。中文名 二次离子质谱 外文名 secondary ion mass spectroscopy(SIMS)别称：次级离子质谱、离子探针 原理：用一次离子束轰击表面用途：材料检测与表征、医药研究等二次离子质谱仪二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。 [1] 在传统的SIMS实验中，高能一次离子束，如Ga, Cs, 或 Ar......阅读全文
SIMS介绍
当固体样品被几keV能量的一次离子溅射时，从靶发射出来的一部分颗粒被电离。二次离子质谱法是使用质谱仪分析这些二次离子。离子轰击下固体表面的二次离子发射提供了有关其最上面的原子层的元素、同位素和分子组成的信息。根据化学环境和溅射条件（离子、能量、角度），二次离子产生率会有很大的变化。这会增加该技术的量
SIMS是什么
次级离子质谱
二次离子质谱仪（SIMS）
二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍美信检测 失效分析实验室 1.简介 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级 离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱仪分 析对象包括金属及合金、半导
结合锡铋合金，SIMS有了新用途
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不
结合锡铋合金，SIMS有了新用途
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不均匀性而导致
2026年国际SIMS会议定于广州举行
10月14日，记者从香港科技大学（广州）获悉，中国广州已成功获得2026年国际SIMS会议的举办权。这将是国际SIMS会议首次由中国主办，大会将在香港科技大学（广州）举行。 据介绍，香港科技大学（广州）材料表征与制备中心主任、先进材料学域兼任教授翁禄涛是申办此次国际会议中国团队中的核心成员，他同
动态二次离子质谱分析（DSIMS）
动态二次离子质谱分析（D-SIMS）1. 飞行时间二次离子质谱技术二次离子质谱技术（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，D-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子的质量来测定元素种类，具有极
飞行时间二次离子质谱仪（TOFSIMS）
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次
ToFSIMS助力研究人员解开“塔利怪物”之谜
分析测试百科网讯 莱斯特大学的研究团队最近解开了一块3亿年前的化石“塔利怪物”之谜，利用独有的眼部表征技术，确定古老的“塔利怪物”为古代脊椎动物。 被俗称为“塔里怪物”的古老生物化石，是在北美洲的伊利诺伊州煤炭采石场被发现的， “塔利怪物”化石具有一个条纹状的身体，一条长长的尾巴，在其头部还具
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。
SIMS(secondary－ion－mass－spectroscopy)二次离子质谱图文
1.仪器介绍二次离子质谱（SIMS）是一种用于通过用聚焦的一次离子束溅射样品表面并收集和分析喷射的二次离子来分析固体表面和薄膜的组成的技术。SIMS是最灵敏的表面分析技术，元素检测限为百万分之几到十亿分之一。Schematic of a typical dynamic SIMS instrument
SIMS、MALDI、DESI三种质谱成像技术对比
在我们日常生活中，拍照是记录生活的常用手段，我们的日常拍照设备也从老式的“傻瓜”相机逐渐发展成为了轻巧实用的数码相机。相片所反映出来的是我们所生活的客观世界的一草一木、一人一景，我们可以看见轮廓和外在，却看不到内部的结构，为了更好地探索世界，也为了更好地了解生物体的奥秘，科学家在漫长的历史中发明出了
二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。中文名 二次离子
飞行时间二次离子质谱（TOFSIMS）研究
一、二次离子峰位归属煤及烃源岩中的有机组分的二次离子谱非常复杂，再加上目前对SIMS裂分机理掌握不够，因此，对煤及源岩有机质的SIMS谱图解释存在很多问题。目前对TOF-SIMS常见碎片离子峰认识程度综合于表7-7。本节研究重点是根据对现有峰位的认识，建立与13CNMR,Mirco-FT·IR可以类
硅中氧、碳的二次离子质谱(SIMS)分析
硅中氧、碳的二次离子质谱（SIMS）分析何友琴马农农王东雪（电子材料研究所 天津 300192）摘 要 本文采用相对灵敏度因子法，对硅中氧、碳含量的SIMS定量分析方法进行研究。通过对样品进行预溅射的方法，氧、碳的的检测限分别可达到6.0e16atoms/cm3、2.0e16atoms/cm3。关
TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的工作原理
1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子
等离子体分析飞行时间质谱将现身国际SIMS大会
分析测试百科网讯 在2015年9月14号星期一，日本堀场将在美国西雅图举办的“第二十届二次离子质谱国际会议”中作报告，报告的题目为《结合等离子体分析飞行时间质谱和飞行时间二次离子质谱在微电子中的应用》，此文由A. Tempez, J.-P. Barnes与Emmanuel Nolot, S. L
TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的主要用途
1. 掺杂剂与杂质的深度剖析2. 薄膜的成份及杂质测定 （金属、电介质、锗化硅 、III-V族、II-V族）3. 超薄薄膜、浅植入的超高深度辨析率剖析4. 硅材料整体分析，包含B, C, O,以及N5. 工艺工具（离子植入）的高精度分析
二次离子质谱SIMS应用：从半导体材料到生命科学
在2012年以前，汪福意研究员一直带领团队通过有机质谱，如电喷雾电离质谱(ESI-MS)、基质辅助激光解析电离质谱(MALDI-MS)等进行药物相互作用组学研究、抗肿瘤药物的研究和开发等工作。一次与生物学家偶然的讨论给汪福意带来了启发，他萌生了使用高空间分辨率的二次离子质谱成像进行化
“同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”项目启动会召开
3月22日，科技部国家重大科学仪器设备开发专项“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器”项目启动会在北京召开。该项目由中国地质科学院地质研究所牵头，中科院大连化学物理研究所、吉林大学、中国地质科学院矿产资源研究所参与。大连化物所李海洋研究员和王利研究员分别承担了“精度及高分辨飞行
LAICPMS和SIMS硫化物微量元素和硫同位素原位分析
硫化物(特别是黄铁矿)可形成于各类地质环境中，在金属矿床的成矿早期一直延续到成矿后期。在观察原生硫化物及其在成岩后的变质作用、热液交代作用下生成的增生边、重结晶的次生硫化物时，通过光学显微镜和背散射图像，根据矿化、蚀变期次及矿物共生组合，可将不同结构的硫化物划分为不同期次的产物，再与LA-ICP
二次离子质谱技术的分析和应用
二次离子质谱是一种具有超高分辨率和灵敏度的固体表面分析技术。它可以分析氢元素到铀元素在内的所有元素和同位素，还可以得到固体表面官能团和分子结构等信息。SIMS可以分为静态SIMS（SSIMS）和动态SIMS（DSIMS）两种类型，通过不同扫描类型，得到二次离子质谱图、化学成像、动态深度剖析曲线等
“同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”开发专项获新进展
2015年1月27日，国土资源部科技与国际合作司组织有关专家在北京对中国地调局地科院地质所牵头，中国科学院大连化学物理研究所、吉林大学和中国地调局地科院资源所所等单位参加的“国家重大科学仪器设备开发专项”项目《同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器》（编号：2011YQ050069）
不忘其志，先生千古——沉痛悼念查良镇教授
我国二次离子质谱(SIMS)的开拓者，国际著名的SIMS专家，清华大学教授，查良镇先生因病医治无效，于2022年12月24日2点18分在北京逝世，享年八十五岁。查良镇教授的逝世，不仅是中国SIMS界的损失，也是世界SIMS界的损失！查良镇教授是清华大学“千字号”毕业生，留校任教后成为清华大学表面物理
二次离子质谱仪的发展历史
自从Dunnoyer 第一次发现离子在真空中沿直线运动已经有100年的历史，自此以后，分子束的应用在二十世纪持续到二十一世纪，它为重大技术进步和基础研究奠定了基础，分子束用于溅射源是其中应用之一。 尽管在是十九世纪中叶溅射的现象已经观察到，直到十九世纪四十年代，随着真空技术的进步，Herzog
二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素
二次离子质谱（sims）和溅射中性粒子质谱（snms）是表面分析科学和材料科学中广泛应用的分析技术。使用离子溅射固体表面能够引起光子、电子、中性粒子和二次离子的发射。sims技术探测溅射产生二次离子，snms技术探测溅射产生中性粒子。由于二次离子的产率和基体相关，sims技术具有显著的基体效应，
3D成像——二次离子质谱技术
质谱成像技术能将基质辅助激光解吸电离质谱的离子扫描与图像重建技术结合，直接分析生物组织切片，产生任意质荷比(m/z)化合物的二维或三维分布图。其中三维成像图是由获得的质谱数据，通过质谱数据分析处理软件自动标峰，并生成该切片的全部峰值列表文件，然后成像软件读取峰值列表文件，给出每个质荷比在全部质谱图中
关于二次离子质谱仪操作模式的介绍
SIMS大致可以分为“动态二次离子质谱”（D-SIMS）"和“静态二次离子质谱“（S-SIMS）两大类。虽然工作原理上它们并无本质差别，但是两种模式的应用特点却有所不同。一次离子束流密度大小是划分两种模式的主要标准。一般在S-SIMS模式下，一次离子束流被控制在1013离子/cm2，常用飞行时间
3D成像二次离子质谱技术的相关介绍
质谱成像技术能将基质辅助激光解吸电离质谱的离子扫描与图像重建技术结合，直接分析生物组织切片，产生任意质荷比(m/z)化合物的二维或三维分布图。其中三维成像图是由获得的质谱数据，通过质谱数据分析处理软件自动标峰，并生成该切片的全部峰值列表文件，然后成像软件读取峰值列表文件，给出每个质荷比在全部质谱
研究发现锆石水含量和氧同位素同时测定新方法
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不均匀性而导致