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后FinFET时代的技术演进(二)

需要微缩助推器在6T和5T的低单元高度下,向Nanosheet器件的迁移变得最佳,因为在这种情况下,fin的减少会降低传统基于FinFET的单元中的驱动电流。但是,如果不引入结构化微缩助推器(如埋入式电源轨和环绕式接触),就无法将单元高度从6T减小到5T。电源轨为芯片的不同组件提供电源,并且一般由BEOL中Mint和M1层提供。但是,它们在那里占据了很大的空间。在嵌入式电源轨结构中,电源轨埋在芯片的前段,以帮助释放互连的布线资源。此外,它们为采用节距微缩而增加BEOL电阻的技术提供了较低的电阻局部电流分布。BEOL没有电源轨后,可以将标准单元的高度从6T进一步降低到5T。下一步:缩小p和n之间的间距随着走向更小的轨道高度的旅程的继续,单元高度的进一步减小将要求标准单元内nFET和pFET器件之间的间距更小。但是,对于FinFET和Nanosheet而言,工艺限制了这些n和p器件之间的间距。例如,在FinFET架构中,通常在n和p......阅读全文

后FinFET时代的技术演进(三)

Forksheet:性能和面积的改进IMEC的研究人员最近使用TCAD仿真来量化Forksheet架构的预期PPA潜力。所研究的器件针对IMEC的2nm技术节点,采用42nm的接触栅节距和16nm的金属间距的5T标准单元库。拟议的设计包括一些微缩助推器,例如埋入式电源轨和环绕接触。与Nano