扇形磁场二次离子质谱仪简介

扇形磁场二次离子质谱仪简介

　　　　扇形磁场二次离子质谱仪器通常使用静电和扇形磁场分析器来进行溅射二次离子的速度和质量分析。扇形磁场使离子束偏转，较轻的离子会比较重的离子偏转更多，而较重的离子则具有更大动量。因此，不同质量的离子会分离成不同的光束。静电场也应用于二次光束中，以消除色差。由于这些仪器具有更高的工作电流和持续光束，

扇形磁场质谱仪

　　质谱仪由离子源、质量分析器及离子检测器三部分组成。其中 质量分析器采用扇形均匀磁场进行聚焦的单聚焦质谱仪称扇 形磁场质谱仪。它是静态仪器的一种，其磁场稳定，按偏转半 径不同而把不同质荷比的离子区分开。依据扇形磁场角度不 同分为b(>0 , 900 .120，和18f10四种。小型仪器的扫描方式采

二次离子质谱仪简介

　　二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。[1]　　在传统的SIMS实验中，高能一次

二次离子质谱仪原理简介

二次离子质谱仪原理简介二次离子质谱仪（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又称离子探针（Ion Microprobe），是一种利用高能离子束轰击样品产生二次离子幵迚行质谱测定的仪器，可 以对固体或薄膜样品迚行高精度的微区原位元素和同位素分析。由于地学样品的复杂

实验室分析仪器扇形磁场质谱仪

一个质量为m,电荷价态为z的离子经加速电压V加速后，获得动能zeV并以速度v运动。忽略加速前的热运动，则1/2 mv2=zeV 其中，e是一个电子的电荷。将该离子垂直射入扇形磁场中，在洛伦兹力作用下作圆周运动，如图所示，所受到的向心力与离心力平衡。 离子在扇形磁场中的运动所以，B zeV= mv2

扇形磁场的相关内容

　　扇形磁场是历史上最早出现的质量分析器，除了在质谱学发展史上具有重要意义外，还具有很多优点，如重现性好、分辨率与质量大小无关、能够较快地进行扫描（每秒 10 个质荷比单位）。但在目前出现的小型化质量分析器中，扇形磁场所占的比重不大，因为如果把磁场体积和重量降低将极大地影响磁场的强度，从而大大削弱其

二次离子质谱仪（SIMS）

二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍美信检测 失效分析实验室 1.简介 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级 离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱仪分 析对象包括金属及合金、半导

二次离子质谱仪组成介绍

　　SIMS主要包括一次离子源、进样室、质量分析器、真空系统、数据处理系统等部分，对于绝缘样品还配有电荷补偿的电子中和枪，同时根据分析目的不同，还配有不同的离子源，常见的有气体放电源（如O、Ar、Xe）、表面电离源（如Cs）、热隙源（如C60）和液态金属及团簇源（如Bin、Aun、Ga）等。　　这是

离子质谱仪简介

　　离子质谱仪是一种用于食品科学技术、药学、材料科学领域的分析仪器，于2019年4月25日启用。　　技术指标　　1.质谱范围：1-260amu；2.灵敏度：低质量数Li（7）：≥50Mcps/ppm；中质量数Y（89）：≥100 Mcps/ppm；高质量数Tl（205）：≥80 Mcps/ppm.

离子探针分析仪器组成

离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。① 一次离子发射系统一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、氖、氩等），

离子探针分析仪的组成结构介绍

　　离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。　　① 一次离子发射系统　　一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、

离子探针分析仪仪器组成

离子探针主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次离子的记录和显示系统。前两者处于压强〈10-7Pa的真空室内。其结构原理如图所示。① 一次离子发射系统一次离子发射系统由离子源（或称离子枪）和透镜组成。离子源是发射一次离子的装置，通常是用几百伏特的电子束轰击气体分子（如惰性气体氦、氖、氩等），

二次离子质谱仪的发展历史

　　自从Dunnoyer 第一次发现离子在真空中沿直线运动已经有100年的历史，自此以后，分子束的应用在二十世纪持续到二十一世纪，它为重大技术进步和基础研究奠定了基础，分子束用于溅射源是其中应用之一。　　尽管在是十九世纪中叶溅射的现象已经观察到，直到十九世纪四十年代，随着真空技术的进步，Herzog

二次离子质谱的结构

    近年来，二次离子质谱这一前沿的分析技术越来越多地被用在了科学研究当中，应用范围较为广泛。然而，依然有很多小白对二次离子质谱的基本结构不太了解。那么二次离子质谱的组成结构是怎样的呢？都有哪些功能和特点？今天小编就来简单盘点一下。 　　二次离子质谱主要由三部分组成：一次离子发射系统、质谱仪、二次

离子阱质谱仪简介

       在离子阱质谱仪中，可以捕获离子，因此也可以积累离子。离子阱技术具有无法比拟的高灵敏度和快速数据采集能力。将离子阱技术与数据依赖性采集技术（data-dependent acquisition）结合起来，我们就能进行高通量的质谱检测。不过，离子阱质谱仪的分辨率有限，捕获离子的能力不高，再

二次离子质谱仪的质谱原理

　　Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于一次离子与样品表面互相作用现象（基本原理如图1所示）。带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面，在轰击的区域引发一系列物理及化学过程，包括一次离子散射及表面原子、原子

关于二次离子质谱仪操作模式的介绍

　　SIMS大致可以分为“动态二次离子质谱”（D-SIMS）"和“静态二次离子质谱“（S-SIMS）两大类。虽然工作原理上它们并无本质差别，但是两种模式的应用特点却有所不同。一次离子束流密度大小是划分两种模式的主要标准。一般在S-SIMS模式下，一次离子束流被控制在1013离子/cm2，常用飞行时间

二次离子质谱仪对分析物的要求

　　在二次离子的常规检测中，可以用于分析的样品可以固体，也可以是粉末、纤维、块状、片状、甚至液体（微流控装置）。如果从导电性考虑，这些样品可以是导电性好的材料，也可以是绝缘体或者半导体。从化学组成上来分，可以是有机样品，如高分子材料、生物分子，也可以是无机样品，如钢铁、玻璃、矿石等。

简述二次离子质谱仪的应用领域

　　当前二次离子质谱领域发展迅速，在半导体制造中元素掺杂，薄膜的组分测量和其他无机材料，宇宙中同位素比例，地球中微量元素等领域具有非常重要应用。　　通过二次离子质谱的深度剖析来分析材料薄膜结构是一种独特的分析手段，尤其是对于分析不同薄层中的材料，以及相邻两层之间材料的相互影响 分析亚微米尺度下的特征

二次离子质谱法的简介

二次离子质谱法是指当初级离子束（Ar+，O2+，N2+, O-，F-，N -或Cs+等） 轰击固体试样表面时，它可以从表面溅射出各种类型的二次离子，利用离子在电场，磁场或自由空间中的运动规律，通过质量分析器，可以使不同质荷比的离子分开，经分别计数后可得到二次离子强度-质荷比关系曲线的分析方法。

等离子体质谱仪简介

等离子体质谱仪指标信息1.元素分析范围在85种以上，同时测定 2.检出限在ppf及亚ppq数量级 3.精度≤1% 4.线性范围宽在108内 5.同时测定主成分和微量成分等离子体质谱仪仪器类别0303071402 /仪器仪表 /成份分析仪器 /质谱仪等离子体质谱仪机组简介包括三大类，具体检测项目如下：

飞行时间二次离子质谱仪（TOFSIMS）

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次

二次离子谱仪的简介

中文名称二次离子谱仪英文名称secondary ion spectrometer定　　义适用于元素的表面分布、深度分布的微区分析的能谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）

高级玩具：二次离子质谱仪器核心技术研发

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术 本文简要叙述法国CAMECA公司,德国IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的 仪器部件的原理、性能及功用。关键词 二次离子质谱 飞行时间二次

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术 本文简要叙述法国CAMECA公司,德国IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的 仪器部件的原理、性能及功用。关键词 二

关于飞行时间二次离子质谱仪的介绍

　　飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)。在此类质谱仪中，二次离子被提取到无场漂移管，二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比，因此它的飞行时间会相应不同，较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子，并具有极佳质量分辨

二次离子质谱仪器核心技术项目通过验收

　　2011年6月21日，由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”(编号：2006BAK03A21)在京

一单位880万采购飞行时间二次离子质谱仪

　　某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目公开招标公告　　项目概况 某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目 招标项目的潜在投标人应在http://www.oitccas.com/获取招标文件，并于2023年10月30日13点30分（北京时间）前递交投标文件。　　一、项目基本情况　　项目编号：OITC-G

关于四级杆二次离子质谱仪器的介绍

　　　　由于这些仪器的质量分辨率相对有限（单位质量分辨率不能解决每超过一个峰值的质量），因此这些仪器越来越稀有。四级杆利用一个共振电场，其中只有特定质量的离子才能稳定通过震荡场。与扇形磁场仪器相类似的是，这些仪器需要在高一次离子电流下操作，且通常被认为是“动态二次离子质谱”仪器（比如用于溅射深度剖析