二次离子质谱仪组成介绍

二次离子质谱仪组成介绍

　　SIMS主要包括一次离子源、进样室、质量分析器、真空系统、数据处理系统等部分，对于绝缘样品还配有电荷补偿的电子中和枪，同时根据分析目的不同，还配有不同的离子源，常见的有气体放电源（如O、Ar、Xe）、表面电离源（如Cs）、热隙源（如C60）和液态金属及团簇源（如Bin、Aun、Ga）等。　　这是

二次离子质谱仪（SIMS）

二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍美信检测 失效分析实验室 1.简介 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级 离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱仪分 析对象包括金属及合金、半导

二次离子质谱仪简介

　　二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。[1]　　在传统的SIMS实验中，高能一次

等离子体质谱仪的组成介绍

等离子体质谱仪是一种常用的质谱仪产品，主要由等离子体发生器、雾化室、矩管、四极质谱仪和一个快速通道电子倍增管等部件组成，在多个行业中都有一定的应用。

二次离子质谱仪原理简介

二次离子质谱仪原理简介二次离子质谱仪（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又称离子探针（Ion Microprobe），是一种利用高能离子束轰击样品产生二次离子幵迚行质谱测定的仪器，可 以对固体或薄膜样品迚行高精度的微区原位元素和同位素分析。由于地学样品的复杂

关于二次离子质谱仪操作模式的介绍

　　SIMS大致可以分为“动态二次离子质谱”（D-SIMS）"和“静态二次离子质谱“（S-SIMS）两大类。虽然工作原理上它们并无本质差别，但是两种模式的应用特点却有所不同。一次离子束流密度大小是划分两种模式的主要标准。一般在S-SIMS模式下，一次离子束流被控制在1013离子/cm2，常用飞行时间

二次离子质谱仪的发展历史

　　自从Dunnoyer 第一次发现离子在真空中沿直线运动已经有100年的历史，自此以后，分子束的应用在二十世纪持续到二十一世纪，它为重大技术进步和基础研究奠定了基础，分子束用于溅射源是其中应用之一。　　尽管在是十九世纪中叶溅射的现象已经观察到，直到十九世纪四十年代，随着真空技术的进步，Herzog

扇形磁场二次离子质谱仪简介

　　　　扇形磁场二次离子质谱仪器通常使用静电和扇形磁场分析器来进行溅射二次离子的速度和质量分析。扇形磁场使离子束偏转，较轻的离子会比较重的离子偏转更多，而较重的离子则具有更大动量。因此，不同质量的离子会分离成不同的光束。静电场也应用于二次光束中，以消除色差。由于这些仪器具有更高的工作电流和持续光束，

关于飞行时间二次离子质谱仪的介绍

　　飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)。在此类质谱仪中，二次离子被提取到无场漂移管，二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比，因此它的飞行时间会相应不同，较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子，并具有极佳质量分辨

二次离子质谱仪的质谱原理

　　Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于一次离子与样品表面互相作用现象（基本原理如图1所示）。带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面，在轰击的区域引发一系列物理及化学过程，包括一次离子散射及表面原子、原子

关于四级杆二次离子质谱仪器的介绍

　　　　由于这些仪器的质量分辨率相对有限（单位质量分辨率不能解决每超过一个峰值的质量），因此这些仪器越来越稀有。四级杆利用一个共振电场，其中只有特定质量的离子才能稳定通过震荡场。与扇形磁场仪器相类似的是，这些仪器需要在高一次离子电流下操作，且通常被认为是“动态二次离子质谱”仪器（比如用于溅射深度剖析

二次离子质谱仪对分析物的要求

　　在二次离子的常规检测中，可以用于分析的样品可以固体，也可以是粉末、纤维、块状、片状、甚至液体（微流控装置）。如果从导电性考虑，这些样品可以是导电性好的材料，也可以是绝缘体或者半导体。从化学组成上来分，可以是有机样品，如高分子材料、生物分子，也可以是无机样品，如钢铁、玻璃、矿石等。

简述二次离子质谱仪的应用领域

　　当前二次离子质谱领域发展迅速，在半导体制造中元素掺杂，薄膜的组分测量和其他无机材料，宇宙中同位素比例，地球中微量元素等领域具有非常重要应用。　　通过二次离子质谱的深度剖析来分析材料薄膜结构是一种独特的分析手段，尤其是对于分析不同薄层中的材料，以及相邻两层之间材料的相互影响 分析亚微米尺度下的特征

等离子体质谱仪组成部分

等离子体质谱仪是一种常用的质谱仪产品，主要由等离子体发生器、雾化室、矩管、四极质谱仪和一个快速通道电子倍增管等部件组成，在多个行业中都有一定的应用。

质谱仪的组成及介绍

质谱仪的组成：真空系统、进样系统、离子源或电离室、质量分析器、离子检测器。1、真空系统作用，是减少离子碰撞损失。若真空度低：大量氧会烧坏离子源的灯丝；会使本底增高，干扰质谱图；引起额外的离子-分子反应，改变裂解模型，使质谱解释复杂化；干扰离子源中电子束的正常调节；用作加速离子的几千伏高压会引起放电等

锂离子二次充电电池的组成

锂离子二次充电电池的组成是这样的：电芯+保护电路板。充电电池去除保护电路板就是电芯了。他是电池中的蓄电部分。电芯的质量直接决定了充电电池的质量。手机电板拆掉外壳，再去掉电板里的保护电路板就剩下锂电芯了。

飞行时间二次离子质谱仪（TOFSIMS）

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次

质谱仪的组成部分介绍

　　质谱仪主要由真空系统、进样系统、离子源、质量分析器、检测器等部分组成。　　真空系统：离子源的真空度要保持在10-3～10-5Pa，质量分析器的真空度要保持10-6Pa。　　进样系统：可以分为直接进样和色谱进样。单组分、高沸点的液体样品可以采用直接进样。色谱进样一般是液质联用或气质联用等仪器，适用

锂离子二次充电电池的结构组成

锂离子二次充电电池的组成是这样的：电芯+保护电路板。充电电池去除保护电路板就是电芯了。他是电池中的蓄电部分。电芯的质量直接决定了充电电池的质量。　　手机电板拆掉外壳，再去掉电板里的保护电路板就剩下锂电芯了。

二次离子质谱的原理组成和结构

二次离子质谱Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:离子探针分析仪，即离子探针（Ion Probe Analyzer，IPA），又称二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加

高级玩具：二次离子质谱仪器核心技术研发

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术 本文简要叙述法国CAMECA公司,德国IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的 仪器部件的原理、性能及功用。关键词 二次离子质谱 飞行时间二次

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术 本文简要叙述法国CAMECA公司,德国IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的 仪器部件的原理、性能及功用。关键词 二

二次离子质谱仪器核心技术项目通过验收

　　2011年6月21日，由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”(编号：2006BAK03A21)在京

等离子体质谱仪有哪些部分组成？

等离子体质谱仪是一种常用的质谱仪产品，主要由等离子体发生器、雾化室、矩管、四极质谱仪和一个快速通道电子倍增管等部件组成，在多个行业中都有一定的应用。

质谱仪的组成

质谱仪一般由真空系统、进样系统、离子源、质量分析器、检测器、数据处理系统六部分组成，图 1 为质谱仪的结构示意图。

一单位880万采购飞行时间二次离子质谱仪

　　某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目公开招标公告　　项目概况 某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目 招标项目的潜在投标人应在http://www.oitccas.com/获取招标文件，并于2023年10月30日13点30分（北京时间）前递交投标文件。　　一、项目基本情况　　项目编号：OITC-G

同位素质谱仪的组成介绍

同位素质谱仪是由记录仪、检测器、质量分析器、离子源以及样品入口五个独立的系统组成。　　1、记录仪：对检测器的信号进行接收并且放大和记录，如此就使质谱图获得。同位素质谱仪的记录仪既能够为简单的带状记录纸，也能够为比较复杂的电脑系统。不管是怎样的情形。数据均应当被准确的记录，并且在之后有所需要的时候被调

离子分子反应质谱仪的介绍

技术是离子分子反应质谱IMR-MS。这是一种软电离方法，通过使用这种方法，使待分析物样品的碎片化大大减少或消除。带正电荷的原子离子与包含待分析分子的中性气流中的分子发生低能量碰撞。碰撞所产生的分子离子后续通过四极质量过滤器进行分离，通常的质量范围为7至519amu。 　　V&F也采用不同的质谱技术，

二次离子质谱仪器核心技术项目在京顺利通过验收

   由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”（编号：2006BAK03A21）在京顺利通过验收。课题验收会由“十