二次离子质谱仪的发展历史

二次离子质谱仪的发展历史

　　自从Dunnoyer 第一次发现离子在真空中沿直线运动已经有100年的历史，自此以后，分子束的应用在二十世纪持续到二十一世纪，它为重大技术进步和基础研究奠定了基础，分子束用于溅射源是其中应用之一。　　尽管在是十九世纪中叶溅射的现象已经观察到，直到十九世纪四十年代，随着真空技术的进步，Herzog

二次离子质谱仪简介

　　二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。[1]　　在传统的SIMS实验中，高能一次

二次离子质谱仪（SIMS）

二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍美信检测 失效分析实验室 1.简介 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级 离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱仪分 析对象包括金属及合金、半导

离子的发展历史

　　1887年，28岁的 阿仑尼乌斯在前人研究的　　基础上提出了 电离理论。但他的导师，著名科学家 塔伦教授不认同他的观点，严厉抨击了他的论文，结果 电离学说在数年后才受到公认。阿仑尼乌斯荣获1903年 诺贝尔化学奖。后来物理学家 德拜对离子作了进一步研究并获得1936年 诺贝尔化学奖。 等离子态与

二次离子质谱仪原理简介

二次离子质谱仪原理简介二次离子质谱仪（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又称离子探针（Ion Microprobe），是一种利用高能离子束轰击样品产生二次离子幵迚行质谱测定的仪器，可 以对固体或薄膜样品迚行高精度的微区原位元素和同位素分析。由于地学样品的复杂

二次离子质谱仪组成介绍

　　SIMS主要包括一次离子源、进样室、质量分析器、真空系统、数据处理系统等部分，对于绝缘样品还配有电荷补偿的电子中和枪，同时根据分析目的不同，还配有不同的离子源，常见的有气体放电源（如O、Ar、Xe）、表面电离源（如Cs）、热隙源（如C60）和液态金属及团簇源（如Bin、Aun、Ga）等。　　这是

双聚焦质谱仪的历史发展详解

　　质谱的发展与核物理的早期发展紧密相连，而核物理的早期发展又是建立在真空管气体放电的技术上。克鲁克斯管是从早期用的盖斯勒管改良而来的，它是一个内部抽成较低气压的玻璃管，两端装有电极，阴极和阳极之间可以产生10-100千伏的高压。克鲁克斯管运行时的真空比0.1帕斯卡要低得多，这是射线管实验——特别是

离子色谱的发展历史

　　1975 年, Small 等人成功地解决了用电导检测器连续检测柱流出物的难题, 即采用低交换容量的阴离子或阳离子交换柱, 以强电解质作流动相分离无机离子, 流出物通过一根称为抑制柱的与分离柱填料带相反电荷的离子交换树脂柱。这样, 将流动相中被测离子的反离子除去, 使流动相背景电导降低, 从而获

扇形磁场二次离子质谱仪简介

　　　　扇形磁场二次离子质谱仪器通常使用静电和扇形磁场分析器来进行溅射二次离子的速度和质量分析。扇形磁场使离子束偏转，较轻的离子会比较重的离子偏转更多，而较重的离子则具有更大动量。因此，不同质量的离子会分离成不同的光束。静电场也应用于二次光束中，以消除色差。由于这些仪器具有更高的工作电流和持续光束，

二次离子质谱仪的质谱原理

　　Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于一次离子与样品表面互相作用现象（基本原理如图1所示）。带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面，在轰击的区域引发一系列物理及化学过程，包括一次离子散射及表面原子、原子

关于二次离子质谱仪操作模式的介绍

　　SIMS大致可以分为“动态二次离子质谱”（D-SIMS）"和“静态二次离子质谱“（S-SIMS）两大类。虽然工作原理上它们并无本质差别，但是两种模式的应用特点却有所不同。一次离子束流密度大小是划分两种模式的主要标准。一般在S-SIMS模式下，一次离子束流被控制在1013离子/cm2，常用飞行时间

二次离子质谱仪对分析物的要求

　　在二次离子的常规检测中，可以用于分析的样品可以固体，也可以是粉末、纤维、块状、片状、甚至液体（微流控装置）。如果从导电性考虑，这些样品可以是导电性好的材料，也可以是绝缘体或者半导体。从化学组成上来分，可以是有机样品，如高分子材料、生物分子，也可以是无机样品，如钢铁、玻璃、矿石等。

简述二次离子质谱仪的应用领域

　　当前二次离子质谱领域发展迅速，在半导体制造中元素掺杂，薄膜的组分测量和其他无机材料，宇宙中同位素比例，地球中微量元素等领域具有非常重要应用。　　通过二次离子质谱的深度剖析来分析材料薄膜结构是一种独特的分析手段，尤其是对于分析不同薄层中的材料，以及相邻两层之间材料的相互影响 分析亚微米尺度下的特征

离子色谱的发展历史及原理

　　发展历史　　1975 年, Small 等人成功地解决了用电导检测器连续检测柱流出物的难题, 即采用低交换容量的阴离子或阳离子交换柱, 以强电解质作流动相分离无机离子, 流出物通过一根称为抑制柱的与分离柱填料带相反电荷的离子交换树脂柱。这样, 将流动相中被测离子的反离子除去, 使流动相背景电导降

锂离子电池行业的发展历史

自上世纪80年代初以来，我国一直在发展锂离子电池。2000年，日本每年生产5亿块锂离子电池，占全球市场的90%以上，而我国为3500万块。随着技术的发展,为了满足社会发展的要,我国颁布了一系列的政策来促进锂离子电池产业的发展:在国家中长期科学和技术发展规划(2006-2020),动力锂离子电池被列为

锂离子电池的历史发展介绍

　　锂离子电池是一种类型的可再充电电池。锂离子电池通常用于便携式电子产品和电动汽车，并且在军事和航空航天应用中越来越受欢迎。吉野明在1985年根据JohnGoodenough、M.StanleyWhittingham、RachidYazami和KoichiMizushima在1970年代至1980年

关于飞行时间二次离子质谱仪的介绍

　　飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)。在此类质谱仪中，二次离子被提取到无场漂移管，二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比，因此它的飞行时间会相应不同，较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子，并具有极佳质量分辨

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术 本文简要叙述法国CAMECA公司,德国IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的 仪器部件的原理、性能及功用。关键词 二次离子质谱 飞行时间二次

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术 本文简要叙述法国CAMECA公司,德国IONTOFGmbH 公司新型的NanoSIMS50 IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV 型二次离子质谱的特色,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的 仪器部件的原理、性能及功用。关键词 二

飞行时间二次离子质谱仪（TOFSIMS）

飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次

质谱仪的历史简介

　　早期的质谱仪主要是用来进行同位素测定和无机元素分析，二十世纪四十年代以后开始用于有机物分析，六十年代出现了气相色谱-质谱联用仪，使质谱仪的应用领域大大扩展，开始成为有机物分析的重要仪器。　　计算机的应用又使质谱分析法发生了巨大变化，使其技术更加成熟，使用更加方便。　　八十年代以后又出现了一些新的

关于四级杆二次离子质谱仪器的介绍

　　　　由于这些仪器的质量分辨率相对有限（单位质量分辨率不能解决每超过一个峰值的质量），因此这些仪器越来越稀有。四级杆利用一个共振电场，其中只有特定质量的离子才能稳定通过震荡场。与扇形磁场仪器相类似的是，这些仪器需要在高一次离子电流下操作，且通常被认为是“动态二次离子质谱”仪器（比如用于溅射深度剖析

高级玩具：二次离子质谱仪器核心技术研发

二次离子质谱仪器核心技术项目通过验收

　　2011年6月21日，由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”(编号：2006BAK03A21)在京

TOFSIMS（飞行时间二次离子质谱仪）的工作原理

1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射（概率很小），也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子中有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子

一单位880万采购飞行时间二次离子质谱仪

　　某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目公开招标公告　　项目概况 某单位飞行时间二次离子质谱仪采购项目 招标项目的潜在投标人应在http://www.oitccas.com/获取招标文件，并于2023年10月30日13点30分（北京时间）前递交投标文件。　　一、项目基本情况　　项目编号：OITC-G

实验室分析仪器质谱仪的历史和发展

质谱的发展与核物理的早期发展紧密相连，而核物理的早期发展又是建立在真空管气体放电的技术上。克鲁克斯管是从早期用的盖斯勒管改良而来的，它是一个内部抽成较低气压的玻璃管，两端装有电极,阴极和阳极之间可以产生10 -100千伏的高压。克鲁克斯管运行时的真空比0.1帕斯卡要低得多,这是射线管实验——特别是阳

花落谁家？复旦大学二次离子质谱仪设备中标结果公告

2024年1月9日，中国政府采购网发布了复旦大学二次离子质谱仪设备国际中标公告，最终 Quantum Design Hong Kong Limited 以416.7万的成交额提供该设备。　　一、项目编号：1069-234Z20234470（HW2023111401）（招标文件编号：1069-234Z

1500万！辽宁材料实验室计划采购二次离子质谱仪

东方国际招标有限责任公司招标公告（招标编号：0729-244OIT270108)　　东方国际招标有限责任公司受招标人委托对下列产品及服务进行国际公开竞争性招标，于2024-04-19在中国国际招标网公告。 本次招标采用传统招标人式，现邀请合格投标人参加投标。　　1、招标条件　　项目概况：二次离子质谱

二次离子质谱仪器核心技术项目在京顺利通过验收

   由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头，联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”（编号：2006BAK03A21）在京顺利通过验收。课题验收会由“十