太阳光谱反射仪
太阳光谱反射仪是一种用于能源科学技术领域的分析仪器，于2014年12月31日启用。 技术指标 分辨率：LCD显示反射比、吸收比和透射比精确至0.001；重复性：±0.003；准确性：±0.002； 温度：电子组件最高操作温度60 ℃，测量头最高50 ℃； 湿度：最大80%； 光源：插拔式可换钨丝灯。 主要功能 太阳能领域（吸收涂层、反射涂层1956、镜面和反射镜），控制领域（镀膜、涂层），航空领域（热控制涂层）。......阅读全文
太阳光谱反射仪
太阳光谱反射仪是一种用于能源科学技术领域的分析仪器，于2014年12月31日启用。 技术指标 分辨率：LCD显示反射比、吸收比和透射比精确至0.001；重复性：±0.003；准确性：±0.002； 温度：电子组件最高操作温度60 ℃，测量头最高50 ℃； 湿度：最大80%； 光源：插拔式可换
AvaSR96便携式太阳光谱反射仪
AvaSR-96便携式太阳光谱反射仪 AvaSR-96便携式太阳光谱反射仪是专门针对国家行业标准JGJ/T 287-2014《建筑热反射涂料节能检测标准》开发的最新产品，波长范围350-2500 nm，主要用于建筑节能领域外墙热反射涂料、节能玻璃、油漆、金属等材料的工程
AvaSR96便携式太阳光谱反射仪
摘 要 建筑领域是我国社会耗能大户，能源危机明显加剧，国家对建筑节能领域非常重视，太阳反射比是建筑反射隔热涂料评价中的重要参数指标，也关系到建筑物的节能效果，因此对于建筑热反射隔热涂料的反射隔热机理的研究显得非常重要。本文以荷兰Avantes公司的AvaSR-96便携式太阳光谱反射仪
AvaSR96便携式太阳光谱反射仪－－－特点
仪器特点热反射涂料太阳反射比测量专用光谱分析软件，软件具有计算建筑太阳反射比、反射颜色、建筑节能效果和出具测试报告的功能，可以智能提示测试天气和采样个数，可实时查看原始数据点和96个标准数据点，并可载入测试记录与当前测试结果相比较，独有管理员功能可确保数据安全支持国家标准、行业标准和国际标准：GB/
AvaSR96便携式太阳光谱反射仪－－－规格
技术规格 ● 探测器类型：2048像素薄型背照式CCD阵列， 256像素InGaAs阵列（TE制冷） ● 探测器线性：优于99.8% ● 光谱范围：350-2500 nm ● 波长精度：350-1100nm
AvaSR96便携式太阳光谱反射仪－－设备清单
设备清单AvaSR-96便携式光谱反射仪主机1台手柄式光纤探头（内置D65光源积分球，阻燃工程保护电缆连接）1根标准白板 1块（带中国计量院校准证书）、白参考校准专用定位适配器1个积分球定位片一组（4个）耐冲击仪器箱（拉杆式）和便携式背包各 1个设备操作手册和软件操作手册各1本光谱分析软件1套
AvaSR96便携式太阳光谱反射仪－－－手柄光纤探头
手柄式光纤探头 AvaSR-96手柄式光纤探头采用人体工程学设计，可以单手掌握，内置光源积分球的光源稳定性可达每小时偏差
AvaSR96便携式太阳光谱反射仪－－－积分球
积分球定位片 根据最新国家标准JGJ/T 287-2014《建筑热反射涂料节能检测标准》制定，一共4种规格，边牙高度分别为0.5mm，1.0mm，1.5mm和2.0mm，满足用户对不同粗糙度墙面的测试需求，采用SU304不锈钢制作，质地坚硬，耐腐蚀，适合对各种化学性质涂料的测试 标准白板
光纤光谱仪FT－|－透/反射支架
FT | 透/反射支架FT系列 反射与透射支架台FT-RT 系列平台是一种新型采样系统，适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。此平台与闻奕光电的光谱仪和光源有多种组合方式，配合进行反射和传输测量FT-RT 型平台使用非常广泛：可以将探头放置在样品上或样品下（从下部测量时样品和探头要保持一个固定
光谱反射比介绍
室内建筑物表面的光谱反射率比和透射比，表示在全光谱波段内材料对于不同波长光的发射比，由于其中包含了光谱的信息，使得它比普通的不考虑光谱信息的单一测量材料表面反射比或透射比的方法更能准确描述材料对于光和颜色的反射特性。
光纤光谱仪FS－|－反射测量支架系列
上海闻奕光电科技有限公司生产的微型光学反射率测试平台具有中心稳，多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。 闻奕光电的反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量，通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这
全反射荧光光谱仪基本介绍
全反射荧光光谱仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的分析仪器，于2014年12月1日启用。 技术指标 检出限可以达到 ppb 和 ppm 级别，S2 PICOFOX 非常适用于痕量元素分析。在样品数量较少、液体样品含有高基质以及样品种类经常变化的情况下，优势十分明显。 主要功能 便
光谱反射比的特性
室内建筑物表面的光谱反射率比和透射比，表示在全光谱波段内材料对于不同波长光的发射比，由于其中包含了光谱的信息，使得它比普通的不考虑光谱信息的单一测量材料表面反射比或透射比的方法更能准确描述材料对于光和颜色的反射特性。
光纤光谱仪PTIP－|－漫反射探头
P-TIP | 漫反射探头 漫反射探头 P-TIPP-TIP是闻奕光电的光纤探头系列产品,本产品试用简单,易于操作,可以加载滤光片,对测量漫反射是经济实惠、易操作的良好选择。本产品包含2个准直镜，每个准直镜前端可加载一个或2个滤光片，滤光片自行加载或更换。P-TIP是闻奕光电的光纤探头系列产品，涵盖
全反射傅里叶变换红外(ATRFTIR－)－光谱仪的衰减全反射特点
1) 不破坏样品, 不需要象透射红外光谱那样要将样品进行分离和制样。对样品的大小, 形状没有特殊要求, 属于样品表面无损测量。 2) 可测量含水和潮湿的样品。 3) 检测灵敏度高, 测量区域小, 检测点可为数微米。 4) 能得到测量位置处物质分子的结构信息、某化合物或官能团空间分布的红外光
太阳辐射光谱
太阳光是一种波长很宽的电磁波，由0.1 nm～10 m以上。辐射强度主要集中在0.3～4μm波长范围（图2.4.1）占太阳光辐射的99%，0.2～0.38 μm是紫外光区，占日光能量的3%；0.38～0.78 μm是可见光区，占44%；0.78～4 μm是红外光区，占53%，所以太阳辐射不仅给地球送
太阳能辐射光谱仪相关介绍
太阳分光辐射计又称为太阳能辐射光谱测定仪或太阳能辐射光谱仪，简称也可以叫做太阳能光谱仪。它是用来检测太阳辐射光谱仪定性分析的系统设备，目前主要研究的领域包括： 1. 自然太阳光光谱测试 2. 用于室外不同天气条件下太阳光谱分布研究， 3. 室外发电系统共同进行高效组件性能差异分析。 4.
太阳能辐射光谱仪的瞬态光谱采集和光谱匹配度
1、 瞬态光谱采集 基于复享isolar光谱仪特有的快速采集功能，也可应用在瞬态模拟器的光谱检测中。其最多可实现每秒钟450幅光谱的采集，不管模拟器的工作模式是单次脉冲、多次频闪，无论脉冲弛豫时间是小到2ms，还是较长的6s，复享系统均可得到真实可靠的辐照度数据。 2、光谱匹配度 太阳模
模块化光谱仪反射应用解决方案
模块化光谱仪为不同物质的测试提供简单、易操作、易更换的样品测试系统，可以帮助客户实现实验室、现场的一体化解决方案。 使用光谱仪进行反射测量，就类似于人眼对所看到的物体反映一样（红色还是绿色呢？），但是更具量化和客观性。通过反射光谱测量我们可以对两个颜色相近或者不同质地的物体进行对比分析。
X射线荧光光谱仪的全反射荧光
如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1
全反射X荧光光谱仪的特点介绍
1、单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响； 2、对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析； 3、多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析； 4、不受样品的类型和不同应用需求影响； 5、的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小； 6、优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；
全反射X荧光光谱仪的基本介绍
全反射荧光光谱仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的分析仪器，于2014年12月1日启用。 1、技术指标 检出限可以达到 ppb 和 ppm 级别，S2 PICOFOX 非常适用于痕量元素分析。在样品数量较少、液体样品含有高基质以及样品种类经常变化的情况下，优势十分明显。 2、主要功
关于太阳能辐射光谱仪的稳态光谱采集介绍
根据IEC60694-9标准要求，太阳模拟器有效光谱范围是400-1100nm，这就需要光谱测试设备可同时采集到400-1100nm范围的绝对光谱数据，并且在整个波段范围内都具有较高的信噪比，以保证测试数据的可靠性。市场上通用的波段为200-1100nm均具有良好的光谱响应，如果能够做到200-
简述太阳能辐射光谱仪的原理
太阳能光谱仪系统（太阳能辐射光谱测定仪&太阳能辐射光谱仪）主要由光纤光谱仪，显示终端，支架，探头组成。 测试对象为太阳能模拟器或者自然界中的太阳。太阳能模拟器又分为稳态和动态两种。太阳模拟器作为光源，在某种意义上说，可以等同于太阳光源，可以模拟太阳光照射。太阳模拟器广泛应用于太阳能电池特性测试，
太阳光栅光谱仪方案设计
引 言太阳与人类的生活息息相关，它是地球能量的最主要来源。为了获得太阳爆发活动的清晰物理图像，解释太阳剧烈活动爆发的物理机制，对空间天气预报，特别是空间灾害性天气进行预警，需要对太阳光谱进行分析。在我国制定的“十二五”科学技术长期发展规划中，明确将空间灾害天气的预警和预报列为亟待攻克的科学难题。同时
近红外光谱仪哪些类型是属于漫反射
因为红外压片要求颗粒尽量细小，这样压出来的片才能够光洁而且透明，对光线的透过性好，打红外的时候就不会有光的折射或者散射出现了。如果你经常打红外，磨KBr的时候你会发现，粗的KBr在光线下可以看到闪闪发光，说明粗的KBr对于光线有很强的折射作用，这些都是对红外不利的。而磨得很细的KBr则是白色不反光的
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)组成结构
反射X射线荧光光谱仪(TXRF)主要包括：X射线源、光路系统、进样系统、探测器、数据处理系统及其他附件，下文主要介绍前四部分。 一、X射线源：由高压发生器及射线管组成。提供初级X射线，对样品中待测元素进行激发得到X射线荧光，其强度正比于初级X射线的强度。通常，XRD或XRF发生器便可满足TXR
全反射X射线荧光光谱仪技术相关介绍
全反射现象由Compton于1923年发现，1971年Yoneda等首次提出利用全反射现象来激发被测元素的特征谱线。这是一种超衡量检测XRF技术。 XRF于1981年在德国问世,实质上是EDXRF的拓展,与常规EDXRF所具有的关键区别就在于其反射系统：TXRF通常有一级、二级或三级反射系
什么是全反射X射线荧光光谱仪技术？
全反射现象由Compton于1923年发现，1971年Yoneda等首次提出利用全反射现象来激发被测元素的特征谱线。这是一种超衡量检测XRF技术。 XRF于1981年在德国问世,实质上是EDXRF的拓展,与常规EDXRF所具有的关键区别就在于其反射系统：TXRF通常有一级、二级或三级反射系统
近红外光谱的反射技术
近红外光照射时，频率相同的光线和基团发生共振现象，光的能量通过分子偶极矩的变化传递给分子。近红外光的频率和样品的振动频率不相同，该频率的光就不会被吸收。因此，选用连续改变频率的近红外光照射某样品时，由于试样对不同频率近红外光的选择性吸收，通过试样后的近红外光线在某些波长范围内减弱，而且另外一些波长范