XPS能谱仪样品的制备和处理
XPS能谱仪对分析的样品有特殊的要求,所以待分析样品需要根据情况进行一定的预处理。由于在实验过程中样品必须通过传递杆,穿过超高真空隔离阀,送进样品分析室。因此对样品的尺寸有一定的大小规范,以利真空进样。通常固体薄膜或块状样品要求切割成面积大小为0.5cm×0.8cm大小,厚度小于4mm。为了不影响真空,要求样品要尽量干燥。另外,装样品不要使用纸袋,以免纸纤维污染样品表面。对于粉体样品,可以用胶带法制样,即用双面胶带直接把粉体固定在样品台上。这时要求粉末样品要研细。这种方法制样方便,样品用量少,预抽到高真空的时间较短,可缺点是可能会引进胶带的成分。另外一种制样方法是压片制样,即把粉体样品压成薄片,然后再固定在样品台上,有利于在真空中对样品进行处理,而且其信号强度也要比胶带法高得多,不过样品用量太大,抽到超高真空的时间太长。在普通的实验过程中,一般采用胶带法制样。考虑到对真空度影响,对于含有挥发性物质的样品(如单质S或P或有机挥发物......阅读全文
扫描电镜样品制备的处理方法你知道么
在进行扫描电镜观察前，要对样品作相应的处理。扫描电镜样品制备的主要要求是:尽可能使样品的表面结构保存好，没有变形和污染，样品干燥并且有良好导电性能。 一、样品的初步处理 1、取材 扫描电镜来说，样品可以稍大些，面积可达8mm×8mm，厚度可达5mm。对于扫描电镜易卷曲的样品如血管、胃肠
xps元素含量是通过全谱还是窄谱
定性分析 首先扫描全谱，由于荷电存在使结合能升高，因此要通过C结合能284.6eV对全谱进行荷电校正，然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱，将所得结果与标准图谱对照，由结合能确定元素种类，由化学位移确定元素得化学状态
xps元素含量是通过全谱还是窄谱
定性分析 首先扫描全谱，由于荷电存在使结合能升高，因此要通过C结合能284.6eV对全谱进行荷电校正，然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱，将所得结果与标准图谱对照，由结合能确定元素种类，由化学位移确定元素得化学状态
有机元素分析仪的样品制备
样品要求： 1.样品应不含吸附水分均匀固体微粒或液体； 2.挥发性样品用低熔点合金容器密封称量； 3.腐蚀性液体用低熔点玻璃毛细管密封称量，氧化时应有防爆措施； 4.禁止分析酸、碱性溶液、溶剂、爆炸物等烈性化学品； 5.含氟、磷酸盐或含重金属的样品可能会对分析结果或仪器零件的寿命产生影
ICP光谱仪的样品制备方法
样品制备 样品所采用的试剂一般为纯度不低于优级纯的酸类，如硝酸、盐酸、高氯酸、过氧化氢、氢氟酸、硫酸、王水等。一般首选酸为硝酸，因为硝酸引起的干扰最小。试剂用水为去离子水（电导率＜0.056μS/cm）。 固体样品需要采用合适的方法进行消解。常用的消解方法有湿法消解、干法消解、微波消解等。 液
液相色谱仪分析样品的制备
液相色谱仪分析样品的种类繁多、物理形态广泛、组成及其浓度复杂多变，对分析结果的干扰因素很多，为达到分析目的，样品要进行有效的制备。液相色谱仪分析样品的制备包括预处理、提取、净化和浓缩等过程。一、预处理： 1、固体样品：含水较低，粉碎过筛。含水量较高，取使用部分烘干后，粉碎过筛。 2、液体样品：搅
拉曼光谱、红外光谱、XPS的原理及应用（四）
(三)X射线光电子能谱法的应用 (1)元素定性分析 各种元素都有它的特征的电子结合能，因此，在能谱图中就出现特征谱线，可以根据这些谱线在能谱图中的位置来鉴定周期表中除H和He以外的所有元素。通过对样品进行全扫描，在一次测定中就可以检出全部或大部分元素。 (2)元素定量分折
X射线光电子能谱xps图谱分析都包括些啥？
X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er （1） 其中:hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量
食品样品检测前处理溶液制备小方法
当样品中被测组分为游离状态时——溶解法制备溶液。当样品中被测组分为结合状态时——分解法制备溶液。1. 溶解法（要全部溶解）1）水溶法:用水作为溶剂，适用于水溶性成分，如，无机盐、水溶性色素等。2）酸性水溶液浸出法:溶剂为各种酸的水溶液，适用于在酸性水溶液中溶解度增大且稳定的组分。3）碱性水溶液浸出法
样品制备的目的
样品制备的目的可以有几个：1）为某研究需要提供少量原料，可以过制取样品提供。2）新产品研发，通过制取样品，对样品进行分析判断是否为需要的产品。3）通过样品制备过程，获取制备的各种工艺参数，设备情况，从而设计生产线进行产品生产。
水果样品的制备
试验过程从打开的包装(即未经消毒)中取出样品，立即转移到具玻塞的容器中，置于低温处。为避免发酵的影响，应尽快测定乙醇、总酸、挥发性酸、固形物和糖分，尤其对于果汁和新鲜水果更应如此。(如果加入在测量中所需的略过量的中性Pb(OAc)2液，则用于测定蔗糖及还原糖的那部分样品可在称量后放置几天也不致发酵。
STM样品的制备
样品的制备：作为一种表面分析技术，STM适用于各种导电样品的表面结构研究。样品必须具有一定程度的导电性；1、对于金属、半导体的样品材料，首先要对其进行抛光处理，然后在真空或者超真空条件下，对样品进行热处理（退火）、离子溅射轰击等处理，以便获得除去表面污物的平整的原子级表面晶面。2、对于半导体，需要采
DWS实验中样品和对照品的制备
（感谢瑞士弗里堡大学阿道夫·梅克尔研究院的Kitty van Gruijthuijsen博士撰写了本应用。）DWS技术是一项用于研究少量浑浊样品动力学性质的简捷技术。而且，即便是透明的样品，在添加合适的示踪粒子之后，也能测量粘弹模量，这种应用我们通常称之为DWS微流变技术。尽管用户可以通过LSI公司
xps和eds的区别
原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；测量准确度很高，1%（3
X射线能谱仪谱峰重叠问题的探讨
针对X射线能谱仪在对样品进行定性分析时经常出现的元素谱峰重叠问题,进行机理分析和归纳总结,提出在物证检验中如何避免谱峰重叠带来定性分析偏差的方法.
比表面仪样品的预处理
将样品装入已称重的样品管，样品量是根据样品材料的比表面预期值是不同的，厂家推荐样品重量应使管内样品的总表面保持在20至50 m2之间。因此，预期的样品比表面越大，所需的样品量越少。对大多数催化剂，称样量应在0.20±0.02g 左右。将样品管放入加热包，用金属加热包夹固定好，然后再将样品管装到脱气站
样品前处理样品浓缩引言（氮吹仪）
根据相关报道，一些奶厂可能会经受不住利益在奶牛生病的情况或不孕的情况下，盲目的为了提高奶牛产奶量，会使用抗生素和激素等国家禁止的药品。婴幼儿食用含有激素的奶粉后可能产生性早熟现象，对婴幼儿身体产生严重伤害。卫生部委托北京市疾病预防控制中心、中国检验检疫科学院等检测机构，采用通行的检测方法(《动物源食
材料能谱分析
主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。随着
能谱分析
主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。随着微电子技
赛默飞2016表面分析应用交流会：全方位呈现技术进展
分析测试百科网讯 2016年4月22-26日，2016全国表面分析应用技术学术交流会在古都西安召开。交流会由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会、中国科学院化学研究所、北京师范大学、北京化工大学、广东省表面分析专业
岛津XPS喜获中科院两台大单
中国科学院山西煤炭化学研究所、中国科学院化学研究所分别在今年7月、11月与岛津签订了高端配置的X射线光电子能谱仪(XPS)的订单。两台仪器分别用于催化剂原位研究及固体表面有机/金属沉积薄膜分析。 针对科学院的高水平分析需求，配置了Ar/C24H12双模式离子枪，该离子枪的C24H12离子源
XPS测试怎么看
中国科学院山西煤炭化学研究所、中国科学院化学研究所分别在今年7月、11月与岛津签订了高端配置的X射线光电子能谱仪(XPS)的订单。两台仪器分别用于催化剂原位研究及固体表面有机/金属沉积薄膜分析。 针对科学院的高水平分析需求，配置了Ar/C24H12双模式离子枪，该离子枪的C
XPS表征的是样品的表面还是体相？
XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在于：尽管X射线可穿透样品很深, 但只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来。样品的探测深度（d）由电子的逃逸深度（λ, 受X射线波长和样品状态等因素影响）决定，通常，取样深度d = 3λ。对于金属而言λ为0.5-3 nm;无机非金属材料为2-4 nm;
扫描电镜样品形态和制备方法
样品形态和制备方法 制备合格的扫描电镜样品是能否获得扫描电镜观察预期最佳结果的先决条件，除环境扫描电镜外，其它扫描电镜的样品必须是固体，且在真空条件下能够保持长时间稳定。对于含水的样品必须进行干燥，表面被污染的样品要选择合适的溶剂进行清洗。有些样品必须用化学试剂腐蚀后才能显露显微结构，如金属样品、
样品制备技术
俄歇电子能谱仪对分析样品有特定的要求,在通常情况下只能分析固体导电样品。经过特殊处理,绝缘体固体也可以进行分析。粉体样品原则上不能进行俄歇电子能谱分析,但经特殊制样处理也可以进行分析。由于涉及到样品在真空中的传递和放置,所以待分析样品一般都需要经过一定的预处理。
TEM样品制备
样品制备由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。 ▽ 超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料 ▽ 材料薄膜制备
TEM样品制备
样品制备由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。▽超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料▽材料薄膜制备过程示意
样品制备方式
（1）无机材料溶剂清洗或长时间抽真空，以除去试样表面的污染物。如对陶瓷或金属样，用乙醇或丙酮擦洗，然后用蒸馏水洗掉溶剂，吹干或烘干。用氩离子刻蚀法除去表面污染物。擦磨、刮剥和研磨。表层与内表面的成分相同的固体样品，用SiC纸擦磨或用刀片刮剥；粉末样品采用研磨的办法使之裸露出新的表面层。真空加热法。对
GPC样品制备
样品制备 对于比较样品的好坏或者控制产品质量来说，GPC分析结果的重复性非常重要。那么从样品制备方面如何保证结果的重复性呢？一般来说，大家会认为自动进样器只是提高了分析的自动化程度，更加方便。实际上自动进样器更深层次的意义在于可以提高测试结果的重复性。传统的样品制备需要外部溶样和外部过滤，人为因
TEM样品制备
由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。