XPS能谱仪样品的制备和处理

电子能谱仪概述

　　电子能谱仪：对固体表面进行微区成份分析及元素分布。可应用于半导体材料、冶金、地质等部门。X光光电子能谱仪：对固体进行化学结构测定、元素分析、价态分析。可应用于催化、高分子、腐蚀冶金、半导体材料等部门。　　电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器

什么是能谱仪

能谱仪是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜使用。包括以下几指标：探头：一般为Si(Li)锂硅半导体探头探测面积：几平方毫米分辨率（MnKa）：～133eV探测元素范围：Be4～U92使用范围：1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；2、金属材料的相分

四道γ能谱仪

四道γ能谱仪是放射性矿产找矿勘探中常用的γ谱仪之一，目的是一次同时测量矿石、土壤中铀、钍、钾的含量。有地面四道γ能谱仪和四道γ能谱测井仪等。为了说明原理，先从基本的单道γ能谱仪的分析器说起。入射不同能量的γ射线，在探测器中产生不同幅度的脉冲电信号输出；经过线性放大器放大之后，输入到单道脉冲幅度分析器

能谱仪测试原理

当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电流脉

X射线光电子能谱技术（XPS）的系统基本原理

XPS方法的理论基础是爱因斯坦光电定律。用一束具有一定能量的X射线照射固体样品,入射光子与样品相互作用,光子被吸收而将其能量转移给原子的某一壳层上被束缚的电子,此时电子把所得能量的一部分用来克服结合能和功函数,余下的能量作为它的动能而发射出来,成为光电子,这个过程就是光电效应。该过程可用下式表示:h

石油产品样品的处理和保存

　1.样品处理　　样品处理是指在样品取出点到分析点或贮存点之间对样品的均化、转移等过程。样品处理要保证保持样品的性质和完整性。　　含有挥发性物质的油样应用初始样品容器直接送到试验室，不能随意转移到其他容器中，如必须就地转移，则要冷却和倒置样品容器;具有潜在蜡沉淀的液体在均化、转移过程中要保持一定的温

样品的处理和稀释倾注培养

　　1．操作方法：根据标准要求或对污染情况的估计，选择2~3个适宜稀释度，分别在制10倍递增稀释的同时，以吸取该稀释度的吸管移取1ml稀释液于灭菌平皿中，每个稀释度做两个平皿。　　将凉至46℃营养琼脂培养基注入平皿约15ml，并转动平皿，混合均匀。同时将营养琼脂培养基倾入加有1ml稀释液（不含样品）

岛津XPS技术研讨会—山西站成功举办

巷子深处飘香的汾酒，是时间和酒曲的奇妙融合。从每家每户窗户里飘出的陈醋香，那是时间与高粱的长久封印，分布在山西各处的古迹建筑，那是华夏五千年文明来过的痕迹。在这座时间偏爱的山西土地上，岛津走进了太原理工大学的校园里。8月30日岛津XPS技术研讨会在太原理工迎西校区圆满举行。 会议现场 岛津企业管理（

欢迎加入【“X射线光电子能谱（XPS）实验技术”】网络讲座

透射电镜粉末样品和复型样品的制备

　　粉末样品的制备　　用超声波分散器将需要观察的粉末在溶液中分散成悬浮液。用滴管滴几滴在覆盖有碳加强火棉胶支持膜的电镜铜网上。待其干燥后，再蒸上一层碳膜，即成为电镜观察用的粉末样品。　　复型样品的制备　　样品通过表面复型技术获得。所谓复型技术就是把样品表面的显微组织浮雕复制到一种很薄的膜上，然后把复

透射电镜能谱和扫描电镜能谱的区别

能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。其原理是：当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3

扫描电镜样品制备的处理方法你知道么

　在进行扫描电镜观察前，要对样品作相应的处理。扫描电镜样品制备的主要要求是:尽可能使样品的表面结构保存好，没有变形和污染，样品干燥并且有良好导电性能。 　　一、样品的初步处理 　　1、取材 　　扫描电镜来说，样品可以稍大些，面积可达8mm×8mm，厚度可达5mm。对于扫描电镜易卷曲的样品如血管、胃肠

简介X射线光电子能谱仪的技术指标

　　可实现的功能：单色化双阳极XPS、微区XPS、离子散射谱ISS、反射电子能量损失谱REELS、紫外光电子能谱UPS、氩复合团簇离子枪刻蚀、角分辨ARXPS、平行成像XPS、原位X射线荧光光谱EDXRF分析，并能进行样品台加热冷却、超高真空环境下的测量。　　能量扫描范围0～5000eV；通过能范围

液相色谱仪分析样品的制备

液相色谱仪分析样品的种类繁多、物理形态广泛、组成及其浓度复杂多变，对分析结果的干扰因素很多，为达到分析目的，样品要进行有效的制备。液相色谱仪分析样品的制备包括预处理、提取、净化和浓缩等过程。一、预处理：  1、固体样品：含水较低，粉碎过筛。含水量较高，取使用部分烘干后，粉碎过筛。  2、液体样品：搅

有机元素分析仪的样品制备

　　样品要求：　　1.样品应不含吸附水分均匀固体微粒或液体；　　2.挥发性样品用低熔点合金容器密封称量；　　3.腐蚀性液体用低熔点玻璃毛细管密封称量，氧化时应有防爆措施；　　4.禁止分析酸、碱性溶液、溶剂、爆炸物等烈性化学品；　　5.含氟、磷酸盐或含重金属的样品可能会对分析结果或仪器零件的寿命产生影

ICP光谱仪的样品制备方法

样品制备　　样品所采用的试剂一般为纯度不低于优级纯的酸类，如硝酸、盐酸、高氯酸、过氧化氢、氢氟酸、硫酸、王水等。一般首选酸为硝酸，因为硝酸引起的干扰最小。试剂用水为去离子水（电导率＜0.056μS/cm）。　　固体样品需要采用合适的方法进行消解。常用的消解方法有湿法消解、干法消解、微波消解等。　　液

食品样品检测前处理溶液制备小方法

当样品中被测组分为游离状态时——溶解法制备溶液。当样品中被测组分为结合状态时——分解法制备溶液。1. 溶解法（要全部溶解）1）水溶法:用水作为溶剂，适用于水溶性成分，如，无机盐、水溶性色素等。2）酸性水溶液浸出法:溶剂为各种酸的水溶液，适用于在酸性水溶液中溶解度增大且稳定的组分。3）碱性水溶液浸出法

ACS－AMI┃NAPXPS揭示钙钛矿薄膜后处理提高热稳定性机制

　　在过去的十多年里，有机-无机杂化钙钛矿太阳能电池（perovskite solar cells, PSCs）得到了快速发展，目前报道的认证效率已经超过了25%。但是，钙钛矿薄膜在水气、热、氧以及紫外光等条件下表现出较差的稳定性，尤其是CH3NH3PbI3（MAPbI3）钙钛矿薄膜，其在85 ℃条

xps元素含量是通过全谱还是窄谱

定性分析 首先扫描全谱，由于荷电存在使结合能升高，因此要通过C结合能284.6eV对全谱进行荷电校正，然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱，将所得结果与标准图谱对照，由结合能确定元素种类，由化学位移确定元素得化学状态

xps元素含量是通过全谱还是窄谱

定性分析 首先扫描全谱，由于荷电存在使结合能升高，因此要通过C结合能284.6eV对全谱进行荷电校正，然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱，将所得结果与标准图谱对照，由结合能确定元素种类，由化学位移确定元素得化学状态

xps和eds的区别

　　原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS）　　根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；测量准确度很高，1%（3

扫描电子显微镜X－射线能谱仪送检样品要求

　　送检样品必须为干燥固体，块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状均可。　　应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形；　　无磁性、放射性和腐蚀性。　　对含水份较多的生物软组织样品，要求用户预先进行临界点干燥前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理。　　最后再由本室进行临界点

比表面仪样品的预处理

将样品装入已称重的样品管，样品量是根据样品材料的比表面预期值是不同的，厂家推荐样品重量应使管内样品的总表面保持在20至50 m2之间。因此，预期的样品比表面越大，所需的样品量越少。对大多数催化剂，称样量应在0.20±0.02g 左右。将样品管放入加热包，用金属加热包夹固定好，然后再将样品管装到脱气站

样品前处理样品浓缩引言（氮吹仪）

根据相关报道，一些奶厂可能会经受不住利益在奶牛生病的情况或不孕的情况下，盲目的为了提高奶牛产奶量，会使用抗生素和激素等国家禁止的药品。婴幼儿食用含有激素的奶粉后可能产生性早熟现象，对婴幼儿身体产生严重伤害。卫生部委托北京市疾病预防控制中心、中国检验检疫科学院等检测机构，采用通行的检测方法(《动物源食

能谱仪是什么？能谱仪与波谱议相比有哪些优点？

　　波谱仪全称为波长分散谱仪(WDS)。在电子探针中，X射线是由样品表面以下 m数量级的作用体积中激发出来的,如果这个体积中的样品是由多种元素组成，则可激发出各个相应元素的特征X射线。　　被激发的特征X射线照射到连续转动的分光晶体上实现分光（色散），即不同波长的X射线将在各自满足布拉格方程的2方向上

DWS实验中样品和对照品的制备

（感谢瑞士弗里堡大学阿道夫·梅克尔研究院的Kitty van Gruijthuijsen博士撰写了本应用。）DWS技术是一项用于研究少量浑浊样品动力学性质的简捷技术。而且，即便是透明的样品，在添加合适的示踪粒子之后，也能测量粘弹模量，这种应用我们通常称之为DWS微流变技术。尽管用户可以通过LSI公司

XPS表征的是样品的表面还是体相？

XPS是一种典型的表面分析手段。其根本原因在于：尽管X射线可穿透样品很深, 但只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来。样品的探测深度（d）由电子的逃逸深度（λ, 受X射线波长和样品状态等因素影响）决定，通常，取样深度d = 3λ。对于金属而言λ为0.5-3 nm;无机非金属材料为2-4 nm;

能谱仪的测试原理简介

　　当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电

简述能谱仪的性质指标

　　固体角：决定了信号量的大小，该角度越大越好　　检出角：理论上该角度越大越好　　探头：新型硅漂移探测器（SDD）逐步取代锂硅Si(Li)探测器　　能量分辨力：最高级别的能谱仪分辨力可达121eV　　探测元素范围：Be4～U92

波谱仪和能谱仪的区别

　能谱仪是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线