实验室光学仪器X荧光分析仪的基体效应的种类与分析
在X射线荧光分析中,随着高度精密、稳定仪器的出现与发展,基体效应已成为元素定量测定中分析误差的主要来源。所谓基体效应,全面说来,是指样品的基本化学组成和物理-化学状态的变化,对分析射线强度所造成的影响。样品的基本化学组成,通常指包括分析元素在内的主量元素;样品的物理-化学状态,则应包括固体粉末的粒度、样品表面的光洁度或粗糙度、样品的均匀性以及元素在样品中存在的化学态等。因此,基体效应大致上可以分为两类: 1)吸收与激发(增强)效应① 原级入射线进人样品时所受的吸收效应;② 荧光谱线出射时受样品的吸收或分析元素受样品中其它元素的激发效应;③ 第三级的激发效应。以上各级吸收和激发效应,都随着样品基体化学组成的差异而发生变化。 2)其它物理化学效应① 样品的均匀性、粒度和表面效应;② 化学态的变化对分析线强度的影响。以上两类物理-化学效应,尤其是前者,时常也会给分析线强度的测量带来重大误差。 一、吸收与激......阅读全文
X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X光荧光分析的应用
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
X光荧光分析的特点
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
实验室光学仪器X射线衍射仪应用
英国物理学家布拉格(Bragg)父子在1912年提出了著名的布拉格定律。该定律对X射线衍射的方向做出了精确的表述。布拉格方程:nλ=2dsinθ(λ为X射线波长,n为衍射级数,d为晶面间距,θ为衍射半角。)其推导过程为:当一束平行X射线射入晶体后,晶体内部的不同晶面将使散射线具有不同的光程。设一组晶
X射线荧光分析法的特点与适应范围
(1)适应范围广 除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 (2)操作快速方便 在短时间内可同时完成多种元素的分析。 (3)不受试样形状和大小的限制，不破坏试样，分析的试样应该均匀。 (4)灵敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01%的
X射线荧光分析法的特点与适应范围
（1）适应范围广 除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 （2）操作快速方便 在短时间内可同时完成多种元素的分析。 （3）不受试样形状和大小的限制，不破坏试样，分析的试样应该均匀。 （4）灵敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01%的
气体分析仪的种类
热磁式氧分析仪其原理是利用烟气组分中氧气的磁化率特别高这一物理特性来测定烟气中含氧量。氧气为顺磁性气体（气体能被磁场所吸引的称为顺磁性气体），在不均匀磁场中受到吸引而流向磁场较强处。在该处设有加热丝，使此处氧的温度升高而磁化率下降，因而磁场吸引力减小，受后面磁化率较高的未被加热的氧气分子推挤而排出磁
元素分析仪的种类
主要元素分析仪器1.紫外\可见光分光光度计（UV）；2.原子吸收分光光度计（AAS）；3.原子荧光分光光度计（AFS）；4.原子发射分光光度计（AES）；5.质谱（MS）；6.X射线分光光度计（XRF ）；
气体分析仪的种类
热导式 一种物理类的气体分析仪表。它根据不同气体具有不同热传导能力的原理，通过测定混合气体导热系数来推算其中某些组分的含量。这种分析仪表简单可靠,适用的气体种类较多,是一种基本的分析仪表。但直接测量气体的导热系数比较困难，所以实际上常把气体导热系数的变化转换为电阻的变化，再用电桥来测定。热导式
氧分析仪的种类
OX600型氧化锆氧量分析仪 功能特点： ◆ 传感器与 变送器采用一体化结构，铝合金机箱较同类仪器重量轻体积最小 ◆大屏幕 液晶点阵显示，人机对话 ◆中文菜单式功能选择 ◆测量数据自动储存，具有无纸记录仪功能 ◆测量值上下限报警输出任意设定 ◆量程自动切换 ◆通讯RS232 产
实验室光学仪器X荧光光谱仪导致不确定度的主要因素
1)分析样品的准备过程中不确定度来源分析样品的准备过程包括取样、制样和将样品提供给分析仪器。所取样品是否具有代表性对于所有基于取样或抽样的分析都是非常重要的。用于Ⅹ射线荧光光谱定量分析的样品通常只有几十毫克到几克,但它们代表的对象的量却往往要大得多。所以,取样必须遵照一定的规范。为了适于测量和进行定
X射线荧光光谱分析仪的优点介绍
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理
由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集由硅元素激发出的波长为0.713nm的KαX射线荧光，并被
X荧光光谱分析仪的发展趋势
之前说过了X荧光光谱分析的发展，主要是从X射线发现到现今X荧光光谱分析技术的应用之间的发展历程。而在将来，X荧光光谱分析仪的发展又是会怎么样的趋势呢？ 在未来的数年，由于材料科学、空间技术、生物医学、环境化工等学科的发展，X射线荧光分析技术将更加深入和广泛。随着新仪器、新技术的不断出现，XRF
现代X射线荧光光谱分析仪的组成
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成：X射线发生器（X射线管、高压电源及稳定稳流装置）、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器）、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器）。不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线
x射线荧光光谱分析仪的优缺点
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以
单波长X荧光硫含量分析仪的应用介绍
在石油加工过程中，各种含硫化合物受高温影响均能分解产生H2S，H2S与水共存时，对金属设备造成严重腐蚀，如常减压装置中，高温重油部位的腐蚀主要集中在常压塔底。如果石油中既含硫又含盐，则对金属设备的腐蚀就更为严重。 石油产品中的硫化物，在使用及储存过程中同样会腐蚀金属；同时含硫燃料燃烧产生的二氧化硫
关于X射线荧光分析仪的基本原理介绍
X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪和能量（energy）色散X射线荧光光谱仪； 波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关(related)电子与控制部件，相对简单。 X射线荧光分析仪基本原理
能量色散型X射线荧光分析仪的性能特点
ROHS Validator 能量色散型X射线荧光分析仪——高灵敏度高精度测定有害物质 第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪来自于中国仪器超市（www.cimart.com.cn），采用世界上最先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自
x射线衍射仪和荧光分析仪的卫生防护标准
1 范围 本标准规定了X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的放射防护标准和放射防护安全操作要求。 本标准适用于X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的生产和使用。 2 规范性引用文件 下列标准中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订
x射线衍射仪和荧光分析仪的卫生防护标准
1 范围 本标准规定了X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的放射防护标准和放射防护安全操作要求。 本标准适用于X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的生产和使用。 2 规范性引用文件 下列标准中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订
x射线荧光光谱分析仪的优缺点
x射线荧光光谱分析仪的优缺点：1、优点 a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没关系（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有
x射线荧光分析仪的辐射对人体危害大吗
X射线荧光分析仪目前主要有两种，一种是能量色散型，一种是波长色散型。第一:能量色散型的X射线有低功率X射线管或者放射源产生，现在一般不会有什么问题的，特别是X光管产生X射线的，不会有问题，但是用放射源的要注意防护第二:波长色散X荧光光谱仪，特别是现在几千瓦的仪器，在安装、维修中要注意点，平时使用中不
X射线荧光光谱分析仪的缺点介绍
a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。b）对轻元素的灵敏度要低一些。c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
X射线荧光光谱分析仪的定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比： Ii=IsWi 式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据上式，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试
TXRF8全反射X射线荧光分析仪
全反射X荧光（TXRF）分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术，使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪（EDXRF）本底降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏度，避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应；同时TXRF技术又继承了EDXRF方法的优越
X荧光钙铁元素分析仪技术指标
X荧光钙铁元素分析仪技术指标1. 分析范围: CaO、Fe2O3: 0.01%~99%；2. 分析宽度： (CaO、Fe2O3) %max~ (CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%, CaO：38%~43%，Fe2O3:1%~6%，通过标定工作曲线选定；3. 分析精
TXRF8全反射X射线荧光分析仪
产品介绍 全反射X荧光（TXRF）分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术，使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪（EDXRF）本底降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏度，避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应；同时TXRF技术又继承了ED
全反射X射线荧光分析仪原理及特点
全反射X荧光光谱仪原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是“传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以zui大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体
X荧光硫钙铁元素分析仪仪器特点
X荧光硫钙铁元素分析仪是热电厂石灰石脱硫脱硝工艺研发的一种微机化的新型台式分析仪器。它根据元素特征射线的X荧光能量色散原理，采用低能小功率X光管激发（不用放射源）、正比计数管探测、核电子学及微机等组成，采用物理测量方法，能（60秒）分析出铁矿石、煤矸石、生料、熟料、水泥中CaO、Fe2O3含量，且符