实验室光学仪器X荧光光谱仪导致不确定度的主要因素
1)分析样品的准备过程中不确定度来源分析样品的准备过程包括取样、制样和将样品提供给分析仪器。所取样品是否具有代表性对于所有基于取样或抽样的分析都是非常重要的。用于Ⅹ射线荧光光谱定量分析的样品通常只有几十毫克到几克,但它们代表的对象的量却往往要大得多。所以,取样必须遵照一定的规范。为了适于测量和进行定量分析往往需要对样品进行某些处理,即所谓样品制备,如抛光、粉碎、压片、溶解或者熔融等,在此过程中又往往需要加入一些添加剂如助磨剂、黏结剂、溶剂或熔剂、氧化剂、脱模剂等等。必须保证提供给分析仪器测量的样品符合均匀性的要求,因为真正被X射线激发并用于分析的体积只是提供给分析仪器测量的样品的部分。例如,提供的直径为40mm厚度为5mm的样品,真正用于分析的可能是直径为二十几毫米厚度仅为数微米的样品表面部分(厚度将与激发源的能量、样品本身的组成和密度等有关)。在样品制备过程中由于使用工具和添加剂可能会引入杂质,甚至样品制备过程中的环境,如空气......阅读全文
实验室光学仪器X荧光光谱仪导致不确定度的主要因素
1)分析样品的准备过程中不确定度来源分析样品的准备过程包括取样、制样和将样品提供给分析仪器。所取样品是否具有代表性对于所有基于取样或抽样的分析都是非常重要的。用于Ⅹ射线荧光光谱定量分析的样品通常只有几十毫克到几克,但它们代表的对象的量却往往要大得多。所以,取样必须遵照一定的规范。为了适于测量和进行定
实验室光学仪器X荧光光谱仪定量分析中的不确定度来源
在X射线荧光光谱定量分析中,导致分析结果具有一定不确定度的因素很多。多数情况下,很难直接计算出每一种因素所引起的不确定度分量。但在实际分析过程中,所有不确定度分量中,往往其中的某个或者某几个分量就决定了合成不确定度的大小,因此,对于这几个不确定度分量必须仔细分析其来源,并正确估计其对合成标准不确定度
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪的优点
①由于不需要晶体及测角仪系统,检测器的位置可以紧接样品位置,接收幅度的立体角增大,检测灵敏度可提高2~3个数量级。②不存在高次衍射谱线的干扰,可以一次同时测定样品中几乎所有的元素,分析物件不受限制。③能量色散X射线荧光光谱仪已发展成系列仪器,有便携式或在线型、台式和通用的高性能谱仪等三种类型。类型区
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪的原理
现代X射线荧光光谱仪已发展成一个大家族,可分为同步辐射X射线荧光光谱、质子X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、波长色散X射线荧光光谱和能量色散X射线荧光光谱等。同步辐射X射线荧光光谱、质子X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱基本上是用Si(Li)半导体探测器进行检测的。波长色散X射线荧光光谱还可进
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪常用的荧光激发方法
一、用放射性同位素源激发源激发是将少量的放射性同位素,如55Fe(铁)、109Cd(镉)等物质固封在密封的留有小孔的铅罐中,连续发射出低能γ射线,经准直后照射到被测物质上产生X荧光。同位素源发出的X射线强度是非常稳定的,但是X射线强度小,能力分布不可调。优点:单色性好、信噪比高、体积小、重量轻。适
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪结构及原理
一、分光晶体分光晶体是晶体分光系统的核心部件,为了获得最佳的分析效果,晶体的选择是十分重要的。分光晶体相当于光学光谱仪中棱镜和光栅,X射线区域之所以不能使用棱镜或光栅作为的分光单元,是因为X射线的波长短、能量大、穿透力强、几乎不发生折射。晶体分光的原理是根据布拉格衍射定律2dsinθ=mλ,当波长为
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪的的结构及原理
记录系统由放大器,脉冲高度分析器和记录、显示装置组成。其中脉冲高度分析器是关键性部件。由检测器将光信号转换成电脉冲信号输送到前置放大器,经前置放大器预放大后再送至主放大器,经放大后送入脉冲高度分析器,再显示记录或送入计算机。主放大器输出的脉冲信号包括待测元素脉冲信号、噪声及高次线脉冲信号。每一个电脉
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪的定性分析原理及步骤
一、定性分析的基础——Moseley定律X射线荧光的波长随着原子序数的增加有规律地向波长变短方向移动。Moseley(莫塞莱)根据谱线移动规律,建立了X射线波长与元素原子序数的定律。数学表达式为:(1/λ)1/2=K(Z-S)其中,K , S为常数,随不同谱线系列(K , L)而定;Z是原子序数。由
实验室光学仪器X射线荧光光谱仪的检测器的种类及原理
X射线检测器又称探测器,是种能量转换器,能对光子进行计数。在与光电子作用时,它可以储存每次入射光子的全部能量。光子流越弱,检测器工作的精度越高。目前常用的Ⅹ射线检测器有气体能量转化器、半导体能量转换器和闪烁计数器。 一、气体能量转化器气体能量转化器也称充气型正比计数器(gas proportion
实验室光学仪器X荧光分析仪的应用及概况
一、XRF在物质成分分析上的应用XRF应用主要取决于仪器技术和理论方法的发展。X射线荧光分析仪器有三种主要类型:实验室用的、采用各种不同激发源的荧光X射线光谱仪和非色散的荧光分析仪;小型便携式的X射线荧光分析仪;工业上的专门仪器如多光路的X射线量子仪等。这些仪器和方法分别在工业上如冶金、地质、化工、
实验室光学仪器X荧光分析仪液体样品的制备方法
液体样品可直接放在液体样品杯中进行直接测定,所用液体体积尽可能达到无限厚,体积应保持恒定。样品杯由不锈钢、聚四氟乙烯等材料制成,并用厚度为几个微米的聚酯、聚乙烯、聚丙烯等薄膜作为支撑保护。液体样品也可以经富集,再将其转移到滤纸片、 Mylar膜或聚四氟乙烯基片上,经物理浓缩,使分析物成固体残留物用于
实验室光学仪器X荧光光谱的定量分析方法
在X射线光谱分析中,由于现代仪器的改进,主要的误差来源已不在仪器方面,而是在分析方法与制样技术上。不管是偶然误差,或是系统误差,现代仪器均有可能予以克服,使之减少到可以忽略的地步。因此,提高测定结果的准确度和精密度,必须着重从分析方法和操作技术上去努力。分析方法,可以划分为实验校正法和数学校正法两大
实验室光学仪器X荧光分析仪－固体样品的制备方法
1)压片法粉末压片法制作步骤一般包括干燥、焙烧、研磨、混合、压片。各个步骤的目的各不相同,分工明细。干燥的目的是除去附着水;焙烧的目的是出去结晶水和碳酸根,也可以改变矿物的化学结构或微观晶体状态来克服由于矿物效应引起对X射线荧光强度的影响。而混合和研磨是为了使试样的不均一性和颗粒度效应减小到最低程度
实验室X荧光光谱仪的特点介绍
实验室能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。 实验室能量
影响X荧光光谱仪准确度的因素（一）
X荧光光谱仅的样品制备简单，能够非破坏性地快速进行多元素分析，可以迅速筛查多种类样品基质如固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其它很多基质样品中的未知成分，已成为电子行业有害物质初步筛选普遍采用的检测方法。分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素，正确使用X荧光光谱仪。对电子产品中有害物质的准确
影响X荧光光谱仪准确度的因素（二）
3、样品表面的影响、样品表面暴露在空气中被氧化，而X荧光光谱仪为表面分析方法，可能会导致样品分析结果随时间增长呈不断增高的趋势。测量前应先将氧化膜磨掉，样品表面的光泽程度对分析结果的影响也较大，样品表面不光滑，凸凹不平，都会影响测量结果，所以应尽量将表面磨平整。 4、干扰元素的影响虽然X射线荧光光谱
高灵敏度X射线荧光光谱仪的特点
高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 1、单色化聚集激发技术 高灵敏度X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射
XRF光谱仪分析中的不确定度
在这里，数据处理过程是指从测量的谱线强度计算样品中元素浓度的过程，包括根据标准样品建立校正曲线和根据校正曲线计算未知样的浓度。在采用多重线性回归方法确定校正曲线的过程中，校正模型的选用、基体校正方法、谱线重叠的校正方法、标准数据的准确性至分析浓度的范围等都对分析结果的准确度产生影响。要对这些因素
实验室计量测量不确定度
测量不确定度是表征合理地赋予被测量值的分散性,与测量结果相联系的参数。
实验室光学仪器X荧光分析仪的基体效应的种类与分析
在X射线荧光分析中,随着高度精密、稳定仪器的出现与发展,基体效应已成为元素定量测定中分析误差的主要来源。所谓基体效应,全面说来,是指样品的基本化学组成和物理-化学状态的变化,对分析射线强度所造成的影响。样品的基本化学组成,通常指包括分析元素在内的主量元素;样品的物理-化学状态,则应包括固体粉末的粒度
X荧光光谱仪的优点
X荧光光谱仪优点: a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可
X荧光光谱仪的优点
1、 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特
X荧光光谱仪的优点
X荧光光谱仪是一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12～92的所有元素，选择性高，分析微量组分时受基体的影响小，在地质、采矿和冶金等部门应用很广。X荧光光谱仪的原理：元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，
X荧光光谱仪的保养
X荧光光谱仪工作的外部环境 1、周围强磁场干扰 设备合理的工作环境，要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装，否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。 2、环境温度，湿度的影响 应保持室温20～25℃为宜，气温过高或过低都会影响设备的正常运作，所以配有
X荧光光谱仪的保养
X荧光光谱仪工作的外部环境 1、周围强磁场干扰 设备合理的工作环境，要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装，否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。 2、环境温度，湿度的影响 应保持室温20～25℃为宜，气温过高或过低都会
X荧光光谱仪的保养
X荧光光谱仪工作的外部环境 1、周围强磁场干扰 设备合理的工作环境，要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装，否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。 2、环境温度，湿度的影响 应保持室温20～25℃为宜，气温过高或过低都会
X荧光光谱仪的原理
X射线是一种电磁波，波长比紫外线还要短，为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后，从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线，Atomray CX-5500产品使用的是通过对第一种荧光X射线的测定，从物质中获取元素信息（成分和膜厚）的荧光X射线法原
X荧光光谱仪的应用
初从事近红外光谱分析的人员常常会提出这样的问题：什么样的近红外光谱仪器zui好? 如何选择一台合适的近红外光谱仪器?实际上，“zui好”仪器的定义是很难确定的， “zui好”的仪器也是不存在的。因为对某一特定的仪器所提出的各项要求是随着所需要解决的具体问题的不同而有所差异的。为了帮助使用者根据特定
X荧光光谱仪的使用
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X荧光光谱仪能将探测系统所收集到的信息转换成
x荧光光谱仪原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自