离子束的离子源的主要参数
①离子掺杂与离子束改性。从20世纪60年代开始，人们将一定能量的硼、磷或其他元素的离子注入到半导体材料中，形成掺杂。掺杂的深度可用改变离子的能量来控制；掺杂的浓度可通过积分离子流强度来控制。离子注入方法的重复性、可靠性比扩散法好。离子注入掺杂在半导体大规模集成电路的生产中已成为重要环节，用离子注入法取代旧的扩散等工艺在有些器件中已成为必然趋势。离子注入在金属材料的改性中获得的结果十分引人注目。在常用金属的离子注入改性中，可以提高金属的硬度、抗腐蚀性能和抗疲劳强度，降低金属的磨损率。某些绝缘材料如陶器、玻璃、有机材料经离子束照射以后，性质发生重要的变化，获得新的用途。离子束照射和掺杂的过程是非热平衡过程，因此用这种方法可以获得用一般冶金和化工方法无法得到的新材料。能量较低(50～400keV)的专门用于离子注入的小型加速器“离子注入机”，已成为一种专门设备，体积相当于一台电子显微镜或高压示波器，使用维护都很方便（见彩图[通用的20......阅读全文
合肥研究院在微生物油脂产业化方面取得新成果
近期，以离子束生物工程学重点实验室余增亮、黄青研究员为通讯作者的论文“微生物油脂花生四烯酸产生菌离子束诱变和发酵调控”作为“特邀论文”，发表在《科学通报》2012年第11期上。文章介绍说，余增亮研究团队利用离子束诱变获得了富含花生四烯酸油脂的新菌株，并实现工业规模的生产，为微生物油脂产业发展探索
中国科学家揭示减少冷冻切片损伤新方法
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/8/505874.shtm7月31日，中国科学院生物物理研究所章新政课题组在国际期刊《结构》发表新研究成果，使用定量分析方法，揭示降低聚焦离子束电压减少其对冷冻切片的损伤。在这项研究中，研究人员建立了一个新方法
两台“特殊”质谱仪落户核工业北京地质研究院
核工业北京地质研究院分析测试研究中心是以核能材料、放射性标准物质的制备、地质矿产和环境分析测试技术研究与服务为主的综合性检测实验室技术机构，也是核工业地质行业的仲裁分析测试实验室，是地质行业同位素分析、微束分析等领域的权威机构。 核工业北京地质研究院分析测试研究中心采购了两台特殊的质谱仪，今年
氩离子抛光在石油地质中的应用
氩离子抛光是一种精细抛光制样技术，在材料科学、石油地质学等领域有着非常广泛的应用，尤其对于成分、软硬度不均匀的样品有着非常好的抛光效果，且具有加工速度快、可以选择我们需要观察的位置进行定点抛光等优点。获得的纳米级的抛光截面和平面样品以便进行电子显微学的观察和分析。本次讲座，展示了氩离子抛光技术在石油
欧洲核子研究中心新线性加速器落成
欧洲核子研究中心9日在日内瓦正式揭幕了最新“Linac 4”线性加速器，该加速器的落成将为该机构包括大型强子对撞机在内的加速器组合注入更高能量的离子束，帮助大型强子对撞机在未来实现更高亮度。 欧洲核子研究中心表示，新线性加速器的作用在于产生更高能量的粒子与预加速，形成所需的离子束密度与强度。新
徕卡微电子类样品电镜制样方法
电子类样品检测手段多种多样，其中扫描电子显微镜检测不仅观察样品表观形貌，通过制样设备可实现对内部指定点或区域的观察分析，就目前来说电镜观察手段及观察方法渐趋成熟，但制样手段及手法仍有许多值得探究，在这里简单介绍下简单易操作的制样方法。下图是经常遇到的几个电子类材料的类型，线路板PCB,LED,OLE
简介双等离子体离子源
在非均匀磁场中工作的一种弧放电离子源它的电极系统和磁系统都经过精心安排,使得放电产生的等离子体发生两次收缩（几何箍缩和磁箍缩）。由于引出的离子流强度大、亮度高、而主体结构又比较紧凑，使用十分普遍。 大功率的双等离子体离子源能产生安培级以上的正离子束，是一种有效的强流离子源。正离子被中和以后，就
兰州重离子加速器首次实现离子源脉冲束注入运行
1月17日至22日，中国科学院近代物理研究所加速器运行团队，利用超导离子源SECRAL首次为兰州重离子加速器（HIRFL）提供了约120电子微安的40Ar12+脉冲束（图1），并成功注入HIRFL储存环CSR（图2），实现了束流的加速和累积（图3），累计运行超过48小时。 Afterglow工
天美成功举办日立新一代钨灯丝扫描电镜SU3500产品发布会
发布会同期还举行了关于日立IM4000离子研磨系统的技术介绍与现场指导。日立推出的IM4000离子研磨仪既可以对样品进行氩离子截面切割，又可以进行氩离子平面研磨，是截面样品制备和平面样品无应力抛光的理想工具。天美(中国)科学仪器有限公司应用工程师 高敞先生 天美(
研究人员调试成功最高磁刚度的慢引出束流
2020年元旦，中国科学院近代物理研究所首次在冷却储存环（CSRm）上储存加速150MeV/u的209Bi36+束流，成功实现最高磁刚度的束流慢引出。这将为我国科学实验研究，特别是空间科学研究提供良好的实验研究平台。 为了进一步提升兰州重离子加速器（HIRFL）的供束能力，拓展CSR提供离子束
你知道赛默飞同位素质谱仪是如何进行测量的吗？
根据原子（分子）质量的顺序进行排列的图谱，叫做质谱。通过微波吸收法、核感应法或者光谱法均能够使得试验验装置构成，从而进行质谱研究。历史上，质谱仪是以电磁学原理作为基础设计而成的仪器。由于这种仪器中采用的质量分析器仅可以对带电粒子起分离作用，因此将研究的原子（分子）转变成离子是基本要求，而离子的质量
实验室分析仪器电感耦合等离子体质谱非质谱干扰
一、抑制或增强型干扰空间电荷效应是 ICP-MS中的基体干扰干扰主要原因。通常表现为分析信号的受到抑制或增强。 在等离子体和超声射流中，离子电流被相等的电子流所平衡，因此，整个离子束基本上呈现出电中性。而当离子束离开截取锥后，由透镜建立起的电场将收集离子而排斥电子。以使离子被束缚在一个很窄的离子束中
什么是离子源
离子源是使中性原子或分子电离，并从中引出离子束流的装置。它是各种类型的离子加速器、质谱仪、电磁同位素分离器、离子注入机、离子束刻蚀装置、离子推进器以及受控聚变装置中的中性束注入器等设备的不可缺少的部件。
质谱分析法术语同位素丰度
同位素丰度（isotope abundance）某元素的任一同位素占有该元素总核素的百分比，它是用检测器检测的该元素任一同位素离子束强度除以同一检测器检测到的该元素所有同位素离子束强度集合的百分数度量。
二次离子质谱仪简介
二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。[1] 在传统的SIMS实验中，高能一次
冷冻细胞精准减薄技术路线：细胞原位研究新进展
细胞内部的纳米机器与超微结构是参与生命活动的基本单元，通过彼此之间的紧密协作执行特定的生理功能。在细胞原位研究这些复杂精密的纳米结构的组装与功能是生命科学的前沿热点。冷冻电子断层扫描成像（cryo-ET）是目前主要的原位结构解析技术，但受电子束穿透能力限制，需要利用聚焦离子束将细胞和组织样品减薄
氩离子抛光仪在抛光页岩中是否需要冷冻
徕卡的氩离子束抛光仪通常是不需要进行冷冻的，主要是因为它的三离子束效率比较高，在抛光的时候样品台可以不摆动以保证有效的热传导；还有就是自动控制设置里面可以进行高低高压交替抛光，减少受热变形。当然，如果需要，徕卡的氩离子抛光设备也是可以配备冷冻台的，-150℃下工作更好。
重离子诱变植物新种质创制通过可行性论证
“重离子诱变植物新种质创制及机理研究”通过可行性论证论证会现场 中科院近代物理研究所依托兰州重离子加速器大科学工程，联合中科院相关研究所共同提出的中科院知识创新工程重要方向性项目“重离子诱变植物新种质创制及机理研究”，11月15日通过了中科院基础科学局主持的可行性论证。 来自兰州
近物所重离子深层治疗终端实现主动点扫描技术
近日，中国科学院近代物理研究所科研人员利用兰州重离子研究装置（HIRFL）提供的高能碳离子束，在该装置的深部肿瘤重离子治疗终端对实现适形调强重离子治疗的主动式点扫描束流配送技术进行了测试，取得了重要进展。 测试中，利用兰州重离子加速器冷却储存环（HIRFL-CSR）提供的80-
SECRALII超导离子源为重离子加速器稳定供束超过1000小时
2018年12月11日至2019年1月24日，中国科学院近代物理研究所新投入运行的全超导ECR离子源SECRAL-II（图1）为兰州重离子加速器HIRFL-CSR上核物理实验提供了高流强高电荷态86Kr25+离子束，SECRAL-II本次供束不间断连续稳定运行时间超过1000小时（图2），展示了
二次离子质谱原理是什么？应用哪些方面？
二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,这些带电粒子经过质量分析器后就可以得到关于样品表面信息的图谱。 在传统的SIMS实验中，高能一次离子束
碳材料的高效检测：拉曼光谱扫描电镜的联动操作－(二）
5集拉曼光谱、扫描电镜及聚焦离子束于一体：图1：将共聚焦显微拉曼光谱仪安装到聚焦离子束扫描电镜上，两种分析之间的切换只需通过单击鼠标即可完成将共聚焦显微拉曼光谱仪安装到聚焦离子束扫描电镜上，由此产生的一种新型分析工具能够更加轻易、方便的对待分析区域进行扫描电镜分析或者拉曼光谱分析，两者之间的切换也更
物理所在三维纳米结构的加工与应用研究中取得进展
三维纳米结构既可具有纳米材料与结构所赋予的量子效应、尺寸效应与表面效应等新奇物性，又可通过三维几何结构实现电声子输运与耦合、自旋极化、激子行为、波阵面调控等物性的协同调制，获得平面器件不具有的功能。目前，三维纳米结构的可控加工方法明显不足，阻碍了三维纳米器件的发展，并制约着高端纳米产业化技术的形
关于二次离子质谱仪操作模式的介绍
SIMS大致可以分为“动态二次离子质谱”（D-SIMS）"和“静态二次离子质谱“（S-SIMS）两大类。虽然工作原理上它们并无本质差别，但是两种模式的应用特点却有所不同。一次离子束流密度大小是划分两种模式的主要标准。一般在S-SIMS模式下，一次离子束流被控制在1013离子/cm2，常用飞行时间
质谱离子源的作用
离子源是使中性原子或分子电离，并从中引出离子束流的装置。它是 一种流强大产额高的离子源各种类型的离子加速器、质谱仪、电磁同位素分离器、离子注入机、离子束刻蚀装置、离子推进器以及受控聚变装置中的中性束注入器等设备的不可缺少的部件。 气体放电、电子束对气体原子(或分子)的碰撞，带电粒子束使工作物质溅
质谱离子源的作用
离子源是使中性原子或分子电离，并从中引出离子束流的装置。它是 一种流强大产额高的离子源各种类型的离子加速器、质谱仪、电磁同位素分离器、离子注入机、离子束刻蚀装置、离子推进器以及受控聚变装置中的中性束注入器等设备的不可缺少的部件。 气体放电、电子束对气体原子(或分子)的碰撞，带电粒子束使工作物质溅
1180万元|北师大珠海校区采购这家冷冻电镜
近日，北京师范大学珠海校区发布“北京师范大学珠海校区理工实验平台场发射透射电子显微镜（生物电镜）、等离子体聚焦离子束扫描电镜采购（包二）”中标，花费1180万元采购赛默飞冷冻聚焦离子束主机和Santek不间断电源。详细信息如下： 一、项目编号：XHTC-HW-2022-1769（招标文件编号：XH
离子探针方法
离子探针方法是将质谱测定技术与离子发射显微镜技术相结合的现代仪器分析方法。能提供一般质谱分析所不能提供的试样微区质谱。由于它能对固体物质作微区、微量及深度成分分析，在某些条件下检测灵敏度可达ppb数量级，因此被广泛地应用于半导体、冶金、地质和生物研究等部门。其原理是利用聚焦的高能一次离子束轰击试样表
集成电路失效分析步骤
1、开封前检查，外观检查，X光检查，扫描声学显微镜检查。2、开封显微镜检查。3、电性能分析，缺陷定位技术、电路分析及微探针分析。4、物理分析，剥层、聚焦离子束(FIB)，扫描电子显微镜(SEM)，透射电子显微镜(SEM)、VC定位技术。一、无损失效分析技术1、外观检查，主要凭借肉眼检查是否有明显缺陷
离子注入机的结构组成
离子注入机由5部分组成：离子源、离子引出和质量分析器、加速管、扫描系统、工艺腔。 1、离子源 离子注入机利用离子源中灯丝产生的热电子在电场的作用下轰击气体分子，使之电离。待注入的杂质源如果是气态，便可以直接引入到离子源的电场中，如果是固态，则还需加热蒸发，变为气相后引入到这个电场中。气相的杂