单波长X荧光硅含量分析仪的主要用途
石油炼制过程中，有时会加入一些含有硅化合物的实际，或在燃油炼制完成后将一些废溶剂掺入到汽油造成汽油中含有硅元素。汽油中，即使硅含量很低，但仍然会造成像氧气传感器失效，以及发动机故障。长期使用劣质燃油，胶质和无法完全燃烧的物质会在气门、进气道、燃烧室内堆积，慢慢形成坚硬的积炭。这类物质会对汽油有吸附作用，造成混合气体，影响发动机的工作。故此国际上规定，成品汽油柴油，硅含量小于4-5ppm。......阅读全文
单波长X荧光硅含量分析仪的主要用途
石油炼制过程中，有时会加入一些含有硅化合物的实际，或在燃油炼制完成后将一些废溶剂掺入到汽油造成汽油中含有硅元素。汽油中，即使硅含量很低，但仍然会造成像氧气传感器失效，以及发动机故障。长期使用劣质燃油，胶质和无法完全燃烧的物质会在气门、进气道、燃烧室内堆积，慢慢形成坚硬的积炭。这类物质会对汽油有吸附作
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理
由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集由硅元素激发出的波长为0.713nm的KαX射线荧光，并被
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理和用途
单波长X荧光硅含量分析仪工作原理： 由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集
单波长X荧光硅含量分析仪与传统仪器的性能比较
石油炼制过程中，有时会加入一些含有硅化合物的实际，或在燃油炼制完成后将一些废溶剂掺入到汽油造成汽油中含有硅元素。汽油中，即使硅含量很低，但仍然会造成像氧气传感器失效，以及发动机故障。长期使用劣质燃油，胶质和无法完全燃烧的物质会在气门、进气道、燃烧室内堆积，慢慢形成坚硬的积炭。这类物质会对汽油有吸附作
单波长X荧光硫含量分析仪的应用介绍
在石油加工过程中，各种含硫化合物受高温影响均能分解产生H2S，H2S与水共存时，对金属设备造成严重腐蚀，如常减压装置中，高温重油部位的腐蚀主要集中在常压塔底。如果石油中既含硫又含盐，则对金属设备的腐蚀就更为严重。 石油产品中的硫化物，在使用及储存过程中同样会腐蚀金属；同时含硫燃料燃烧产生的二氧化硫
X荧光硅铝分析仪的主要用途
X荧光硅铝分析仪是采用X射线激发样品，检测所生产的二次特征X射线，即可以获得硅铝定性和定量分析结果。产品广泛应用于冶金、采矿、建材等工业中。用于水泥厂中，主要测量生料、熟料、石灰石、粘土等物料中的SiO2、Al2O3的百分含量。由于它的分析速度快（1分钟），因此可实时监控生产过程中SiO2、Al2O
单波长X荧光氯分析仪的分析原理
随着原油的重质化和劣质化，原油中的氯含量呈不断增加的趋势，其腐蚀强度与硫腐蚀均已受到足够重视。原油中氯的存在形式分为有机氯和无机氯两种，其中有机氯主要以低分子氯代烃的形式存在，它们溶解于原油之中，而无机氯则以无机盐的形式存在，一般溶解在原油乳化水中或者以悬浮固体的形式存在于原油中。 在炼油加工过程
便携式单波长X荧光硫含量分析仪的特点和参数
便携式单波长X荧光硫含量分析仪的产品特点： 采用MWDXRF单波长色散X荧光技术，超低背景； 检测下限(LOD)可达0.7ppm； 简易样品制备及仪器操作过程，检测速度快； 无需样品损耗或转化，无需消耗气体及高温操作； 超低维护量，较少的校准频率； 体积小巧，可放置于任何实验室，即插即用； 分析
单波长X荧光氯分析仪与传统仪器相比的优点
原油及其炼制而成的石油产品中通常含有氯化物（包括有机氯和无机氯），氯元素可造成炼油生产装置腐蚀、氯化铵盐堵塞、催化剂中毒、发动机腐蚀及环境污染问题等。在汽油炼制及化工生产过程中，若进料中含有微量氯，对催化剂消耗以及产品质量有重大影响，故需对生产中的成品、半成品进行氯含量分析，为质量控制提供科学依据。
单波长色散X荧光总硫分析仪的使用注意事项
1、在使用单点校准措施时，要应当选择与试样成分非常接近的标准品完成校准。 2、使用者应定期观察裂化管出入口端及往后的气路中有没有积炭问题，若裂化管中有积炭堆积，可利用在高温必要条件下充入O2点燃消除，若管道中有积炭，则立即换掉新管道。 3、进样全过程中严格把控进样快慢，以防石英管积炭，破坏膜干燥
单波长能量色散X射线荧光分析技术
单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术，将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降
X荧光硅铝分析仪的性能特点
1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合节能要求。 6、数据存储量大，含量结果、仪器
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
X荧光硅铝分析仪的技术指标
X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4
X荧光硅铝分析仪的技术指标
技术指标 1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100% 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08% 3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通过标定工作曲线选定。
X荧光硅铝分析仪的主要特点
主要特点 1、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。 2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用为方便。 3、分析时间短，1分钟即能测出SiO2%、Al2O3%。 4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。 5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。 6、数据存
单波长X射线荧光光谱仪原理与应用
一、 概述 单波长X射线荧光光谱仪（Monochromatic Excitation X-ray Fluorescence Spectrometer: ME XRF），也可称为单色化激发X射线荧光光谱仪，其通过单色化光学器件将X射线管出射谱某单一波长（对应单一能量）衍射取出并照射样品，由于消除
X荧光硫元素分析仪的主要用途
主要用途1.测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油、等油品中的总硫质量百分比含量;2.测量煤化工产品,例如初级苯中总硫含量;3.测量固体细粉末样品中总硫或硫化物含量,如阳碳块、石油焦、改质沥青等碳素类材料；4.测量润滑油、石油添加剂中总硫或硫化物含量的测量；5.测量其它液体中总硫或硫化物含量
单波长色散X射线荧光光谱仪技术指标
符合ASTM 7039，GB/T 11140和SH/T 0842标准要求，硫重复性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm)； 检测范围0.15ppm至3000ppm， 样品杯容积4mL,分析时间30至300秒；即插即用，样品准备快速，无
单波长色散型X荧光光谱仪原理及优缺点
单波长色散X射线荧光光谱仪应该称作单波长激发—波长色散X射线荧光光谱仪。 单波长色散型X荧光光谱仪原理： 用全聚焦型双曲面弯晶将微焦斑X线管(可看作点光源)发射的原级X射线的某个波长(通常选取出射谱中的特征X射线)的X射线单色化并聚焦于样品测试表面，激发样品中元素的荧光X射线。由
单波长单光束、单波长双光束、双波长双光束的异同
相同点：都是通过光束通过样品溶液，通过测定溶液的吸光度，来测定溶液的浓度。不同点：1、单波长单光束分光光度计是经单色器分光后的一束平行光,轮流通过参比溶液和样品溶液,以进行吸光度的测定。2、单波长双光束分光光度计是经单色器分光后经反射镜分解为强度相等的两束光，一束通过参比池，一束通过样品池。光度计能
波长色散荧光光谱仪是X射线荧光分析仪的一种吗
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。能
波长X荧光测硫仪仪器特点介绍
波长X荧光测硫仪主要特点1、MWD XRF （单波长色散） X 荧光总硫分析2、有效分析范围：0.15到 3000 ppm 及3000 ppm到10%3、检测时间： 30 秒到 5 分钟，由用户设置4、没有消耗件，无需载气或高温部件5、超低维护量6、模块化设计用于即插即用的维护7、开始可进行实验室分
波长色散X射线荧光光谱仪
我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，
X荧光硫钙分析仪的主要用途，特点和技术指标
一、主要用途KL3200型X荧光硫钙分析仪是辐射安全的、能量色散型X荧光分析仪(不含放射源),采用物理分析方法，快30秒能同时检测出水泥、石膏等物料中的SO3、CaO的百分含量，还同时估算出水泥中混合材的掺入量。通过快速测定熟料、水泥中CaO的百分含量，能让水泥企业为生产合格的某标号的水泥，做到既不
荧光分析仪的主要用途
1.接近欧盟海关的测试方法 2.欧盟海关是采用X荧光的检测方法，进行快速通关检测。对于X荧光检测合格的产品，其可以快速放行。对怀疑的或者超标的样品，再次作化学分析。因此，X荧光模拟了欧盟的通关筛选过程。 3. 便于工厂品质检验加大抽样量，做到对产品的环保指标心中有数，环保判定更可靠。 4.
波长干扰波长色散X射线光谱分析仪的介绍
①X射线管 由X射线管发射出来的干扰线，首先，可能来自靶材本身，包括靶元素及有关杂质（例如钨靶中的铜）的发射线，其次，在x射线管的长期使用中，可能由于灯丝及其它有关构件（包括银焊料）的升华喷溅或其它原因，造成靶面或管窗的玷污，也是产生干扰线的一种来源。再次，由于x射线管构件受激发或阴极电子束
铁矿石类鉴别系统Oreids技术方案：单波长－X－射线荧光光谱仪
一、应用概述 我国80%的铁矿石需求来自进口，2020年铁矿石进口量达到创纪录的11.7亿吨。随着我国对进口“洋垃圾”的明令禁止，若在大宗进口铁矿石中掺杂废渣与尾渣等各类固体废物，对海关监管带来新的风险与挑战。 铁矿石除了品位之外，还要充分考虑其物质组成和利用价值，铁矿石类样品在物相组成
X荧光分析仪的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色